Modulare Mikroskope

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Unsere modularen Mikroskope bieten leistungsstarke optische Module, die in anspruchsvolle Prüfsysteme integriert werden können. Es besteht eine große Auswahl an manuellen und motorgesteuerten Komponenten.

BXC-Serie

Die BXC-Serie bietet die bewährten und zuverlässigen Mikroskopkomponenten von Evident, in einer kompakten, montierbaren und konfigurierbaren Form. Diese optisch-mechanischen Standardeinheiten lassen sich in alle wissenschaftlichen Geräte integrieren.

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BXFM

Das BXFM-System ist unser vielseitigstes Fokussierungssystem und mit vielen Optiken und Beleuchtungskomponenten kompatibel. Durch die Möglichkeit, Hochleistungs-Vertikalbeleuchtungen einzusetzen, ergibt sich eine maximale optische Vielseitigkeit für zahlreiche Anwendungen. Die Fokushalterung lässt sich aufgrund ihres kompakten Designs und der praktischen Montagefläche bequem an einer optischen Bank oder einem einfachen Stativ anbauen oder in Ihr System integrieren.

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BXFM-S

Das BXFM-S-System ist ein kostengünstiges, platzsparendes Fokussierungssystem für die Hellfeld-Mikroskopie. Die Fokushalterung kann aufgrund ihres kompakten Designs und der praktischen Montagefläche bequem mit einer optischen Bank, einem einfachen Stativ oder einer Systemintegration verwendet werden. Kompatibel mit vielen Objektiven mit Standard- oder großem Arbeitsabstand.

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Verwandte Anwendungen

Räumliche 3D-Analyse beim Hochdurchsatz-Screening von Arzneimitteln

Die Beurteilung der Leistung eines Arzneimittels anhand von dreidimensionalen Krebs-Sphäroiden ist wichtig, da Sphäroide die komplexe Mikroumgebung von Krebstumoren widerspiegeln. Dies ermöglicht es Wissenschaftlern, die Wirkung eines Arzneimittels unter Parametern zu bewerten, die der natürlichen Umgebung eines Tumors ähnlicher sind. Um ein Hochdurchsatz-Arzneimittel-Screening mit Sphäroiden durchzuführen, müssen ein einfaches Protokoll, ein halbautomatisches Hochdurchsatz-Imaging-Verfahren und eine Multi-Well-3D-Analyse angewendet werden.

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Schaltkreisstruktur-Prüfung bei Wafer-Proben

Wenn sowohl die Schaltkreisstruktur als auch die Farbe einer Wafer-Probe mikroskopisch untersucht werden sollen, ist bei der konventionellen Methode eine Dunkelfeldbeleuchtung für die erste und eine Hellfeldbeleuchtung für die zweite Untersuchung erforderlich, wobei wiederholt zwischen den beiden Verfahren umgeschaltet werden muss. Dieses Mikroskopieverfahren ist zeitaufwendig, da bei der Erstellung eines Berichts für jedes Verfahren eine Bilderfassung erforderlich ist.

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Genaue und effiziente Mikroskopie-Bildanalyse mit TruAI und Deep Learning

Untersuchungen erfordern häufig Daten von Mikroskopbildern. Zur genauen Bildanalyse ist eine Segmentierung wichtig, um den Zielbereich der Analyse aus dem Bild zu extrahieren. Eine gängige Segmentierungsmethode ist die Anwendung von Schwellenwerten für die Intensität oder die Farbe des Bildes.

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