Prüfsystem für technische Sauberkeit jetzt als digitales Mikroskop einsetzbar

Mikroskopische Bildgebung gibt Herstellern von Komponenten mehr Flexibilität

WALTHAM, Massachusetts, USA, (13. Juli 2021) – Das neueste Software-Update des Prüfsystems OLYMPUS CIX100 für technische Sauberkeit beinhaltet einen neuen Mikroskopmodus, der Herstellern von Komponenten eine umfassende Bildgebungslösung für Partikelanalysen und Mikroskopinspektionen bietet.

Das CIX100 System ist eine schlüsselfertige Lösung für die Prüfung der technischen Sauberkeit mit einem geführten Arbeitsablauf, Analysetools und integrierten Industriestandards. Dank der optimierten Autofokus-Routine und des optionalen Übersichtsscans in der CIX Softwareversion 1.5 erfolgt die automatisierte Analyse noch schneller und Sie erhalten noch einfacher schnell wiederholfähige Ergebnisse. Mit dem neuen Mikroskopmodus können Anwender neben dem spezifischen Arbeitsablauf der Sauberkeitsprüfung auch mikroskopische Untersuchungen für andere Anwendungen durchführen.

Mikroskopmodus mit Materialanalyselösungen

Die Funktionen des Mikroskopmodus können mit einer Reihe optionaler Materialanalyselösungen erweitert werden – von interaktiver Mikroskopie über Schichtdickenmessung in Oberflächenbeschichtungen bis hin zur automatischen Auswertung von Korngrößen, sodass die Anwender das System problemlos an ihre Bedürfnisse anpassen können.

Software-Erweiterungen für die Sauberkeitsprüfung

Das Update umfasst einen optimierten Arbeitsablauf für Routine-Sauberkeitsprüfungen, für die kein Übersichtsscan erforderlich ist. Anwender profitieren von einer schnelleren Abtastung mit einer Deaktivierungsoption sowie einem verbesserten Autofokus und einer verbesserten Faserklassifizierung.

Neue Standards

Das OLYMPUS CIX100 System unterstützt nun die Norm ASTM E1216-11, einschließlich der Berechnung des Oberflächensauberkeitsindex (SCI).

SQL-Server-Update

Neue OLYMPUS CIX100 Systeme sind mit der CIX Softwareversion 1.5 und Microsoft SQL Server 2017 ausgestattet.

Update auf CIX Software Version 1.5

Alle Kunden, die bereits mit CIX100 gearbeitet haben,* können ihre bestehende Lizenz für ein kostenloses Update auf die CIX Softwareversion 1.5 verwenden. Für Materialanalyselösungen im Mikroskopmodus muss eine separate Lizenz erworben werden. Informationen zu allen Materiallösungen für den Mikroskopmodus finden Sie unter Olympus-IMS.com/Microscope/CIX100.

Weitere Informationen über das Prüfsystem OLYMPUS CIX100 für technische Sauberkeit und andere industrielle Lösungen finden Sie unter Olympus-IMS.com.

_{* Die Software wird in den kommenden Monaten in Japan freigegeben.}

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