LEXT OLS5500 3D Optical Profilometer

Das hybride 3D Optical Profilometer LEXT™ OLS5500 vereint Laser-Scanning-Mikroskopie (LSM), Weißlichtinterferometrie (WLI) und Fokusvariationsmikroskopie (FVM) in einer einzigen, ausgezeichneten Plattform. Entwickelt für Forschungs-, Qualitätssicherungs- und Qualitätskontrollteams bietet es präzise Oberflächendetails, nachvollziehbare Messgenauigkeit und eine intuitive Benutzererfahrung für optimierte Arbeitsabläufe. Präzise Optik, überprüfbare Kalibrierung und intelligente Automatisierung liefern verlässliche Daten, mit denen Labore nahtlos von der ersten Erkenntnis zur finalen Entscheidung gelangen.

Das OLS5500 bietet eine außergewöhnliche 3-in-1-Präzisionsbildgebung mit LSM, WLI und FVM in einem benutzerfreundlichen System und liefert einen bis zu 40-mal schnelleren Durchsatz als herkömmliche LSM-Systeme mit WLI. Es ist außerdem das weltweit erste optische 3D-Profilometer, das sowohl für LSM- als auch für WLI-Messungen garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit* gewährleistet.

• Product Status: • Dieses Produkt ersetzt das LEXT OLS5100 und frühere Systeme der OLS-Serie.