Prüfsystem CIX100

Name: Prüfsystem CIX100 | Evident Scientific | Olympus
Brand: Evident
SKU: cix100
Availability: InStock

Das Inspektionssystem CIX100 ist eine speziell entwickelte Komplettlösung für Hersteller, die höchste Qualitätsstandards hinsichtlich der Reinheit ihrer Bauteile gewährleisten. Es ermöglicht die schnelle Erfassung, Verarbeitung und Dokumentation von Daten zur technischen Reinheitsprüfung gemäß Unternehmens- und internationalen Normen.

In Kombination mit der Software PRECiV™ CIX liefert das CIX100 zuverlässige Analysen der technischen Reinheit in branchenführender Geschwindigkeit und ist damit ideal für Labore mit hohem Probendurchsatz. Die intuitive Benutzeroberfläche führt Anwender Schritt für Schritt durch den Prozess, sodass auch unerfahrene Bediener schnell und einfach Reinheitsdaten erfassen können. Die Ergebnisse werden mit nur einem Klick an Unternehmens- und Branchenstandards, einschließlich ISO 16232 und VDA 19, angepasst.

Inspektionssystem CIX100

Vereinfachen der technischen Reinheit

Die technische Reinheit von Komponenten, Flüssigkeiten und Teilen ist in jeder Phase der Fertigung von entscheidender Bedeutung, da selbst Partikel im Mikrometerbereich die Lebensdauer von Bauteilen verkürzen oder deren Leistung beeinträchtigen können. Strenge internationale und nationale Richtlinien definieren, wie Verunreinigungen gemessen und dokumentiert werden müssen und erfordern detaillierte Einblicke in Partikelanzahl, Größenverteilung und Eigenschaften.

Das Inspektionssystem CIX100 schafft Vertrauen in diesen Prozess – eine schlüsselfertige Lösung mit hohem Durchsatz, die moderne Reinheitsstandards mühelos erfüllt. Mit fortschrittlicher Deep-Learning-KI wird die Partikelidentifizierung weiterentwickelt und es werden Erkenntnisse gewonnen, die Teams dabei helfen, die Qualität von Anfang an zu sichern.

Workflow der technischen Reinheitsanalyse

Standardverfahren für die Reinheitsprüfung: Vorbereitung (Schritte 1–3) und Untersuchung (Schritte 4–6)

CIX100 System zur technischen Reinheitsprüfung

Zuverlässige Komplettlösung für technische Reinheit

Das CIX100 ist eine schlüsselfertige Lösung, die entwickelt wurde, um die Anforderungen automatisierter Reinheitsprüfungen zu erfüllen. Jede Komponente ist für höchste Genauigkeit, Reproduzierbarkeit, Wiederholbarkeit und nahtlose Integration ausgelegt, um zuverlässige Daten in einem System mit hohem Durchsatz zu gewährleisten. Die Automatisierung kritischer Aufgaben trägt dazu bei, Inspektionen zu beschleunigen und gleichzeitig menschliche Fehler sowie das Risiko einer Kontamination der Probe zu minimieren.

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Ausgezeichnete optische Qualität

Unsere UIS2-Objektive bieten eine hohe optische Leistung für eine hervorragende Mess- und Analysegenauigkeit. Eine dedizierte Lichtquelle hält eine gleichbleibende Farbtemperatur aufrecht, die für die Reinheitsprüfung optimiert ist. Diese Leistung ermöglicht schnelle Inspektionen sowohl kreisförmiger als auch rechteckiger Probenbereiche.

UIS2-Objektive zur Analyse der technischen Reinheit

Mechanische Stabilität

Die Ausrichtung des optischen Strahlengangs, der motorisierte Objektivrevolver und die Kamera sind durch eine Abdeckung geschützt, um unbeabsichtigte Änderungen zu verhindern. Zur Erhöhung der Stabilität wurden alle beweglichen Teile aus dem optischen Lichtweg entfernt.

Regelmäßige Systemüberprüfung

Das vorkonfigurierte und vorkalibrierte System erinnert automatisch an Selbstüberprüfungen des Systems mit dem integrierten Kalibrierungsobjektträger, die dazu beitragen, die regelmäßige Verifizierung des Systems aufrechtzuerhalten.

Integrierter Kalibrierungsobjektträger für die technische Reinheitsanalyse

Reproduzierbarkeit und Wiederholbarkeit

Das vorkonfigurierte und vorkalibrierte System, die Verwaltung der Anwenderrechte und regelmäßige automatische Selbstüberprüfungen des Systems gewährleisten, dass die Einstellungen für reproduzierbare Inspektionsdaten unabhängig vom Bediener oder Gerät korrekt sind. Dadurch können mehrere Abteilungen und Standorte die gleichen Qualitätsstandards an verschiedenen Orten anwenden.

Vielseitigkeit für gängige Probenahmeverfahren

Das CIX100 unterstützt Probenahmetechniken mit kreisförmigen oder rechteckigen Inspektionsbereichen. Zur Auswahl stehen Halter mit weißem oder schwarzem Hintergrund für Filtermembranen mit einem Durchmesser von 25 mm, 47 mm und 55 mm, Halter für die Klebebandprobenahme, Halter mit ebener Oberfläche für metallurgische Anwendungen und Halter für Partikelfallen.

Runde und rechteckige Probenhalter für die technische Reinheitsanalyse

Oben und Mitte: Runde Probenhalter mit weißem und schwarzem Hintergrund für Filtermembranen mit Durchmessern von 25 mm, 47 mm und 55 mm. Unten links: Runder Probenhalter für Partikelfallen. Unten rechts: Rechteckiger Probenhalter für die Klebebandprobenahme.*

^{* Die Verfügbarkeit des Klebebandhalters kann je nach Region variieren.}

Intuitive Benutzerführung

PRECiV CIX Software für die technische Reinheitsanalyse

Einfach für alle Erfahrungsstufen

Die PRECiV™ CIX Software bietet eine schrittweise Anleitung und macht technische Reinheitsprüfungen für alle Erfahrungsstufen einfach. Intuitive Workflows und die Verwaltung von Anwenderrechten verbessern das Vertrauen in die Ergebnisse und reduzieren gleichzeitig Zykluszeit, Kosten pro Test und Anwenderfehler. Das Ergebnis ist ein System, das auf Produktivität und hohe Qualitätsstandards optimiert ist.

Geführte Workflows

Ein intuitiver Workflow führt die Anwender durch drei Schritte: Probe untersuchen, Ergebnisse auswerten und Bericht erstellen. Vom Scannen der Probe bis zum Erstellen normgerechter Berichte verbessert die maximale Automatisierung die Benutzerfreundlichkeit, sodass Anwender aller Erfahrungsstufen effiziente Inspektionen durchführen und verlässliche Daten liefern können.

Geführter Workflow für die technische Reinheitsanalyse

Intuitiver Workflow mit großen Schaltflächen, die sich leicht mit der Maus oder auf dem Touchscreen-Monitor bedienen lassen. Workflow-Schritte von links nach rechts: Probe montieren, Einstellungen bearbeiten, Inspektion durchführen, Ergebnisse auswerten und Bericht erstellen.

Tools zur Verwaltung von Anwenderrechten

Administratoren können festlegen, welche Anwender Zugriff auf verschiedene Bereiche des System haben, damit unerfahrene Anwender fokussiert arbeiten können. Außerdem wird die versehentliche Änderung kritischer Parameter verhindert, wie zum Beispiel der Kalibrierung und der für den automatisch generierten Bericht ausgewählten Daten.

PRECiV CIX Mikroskopmodus

Beispiel einer Materialanalyselösung, die in der PRECiV CIX Software verwendet wird

Fortgeschrittene Mikroskopie

Mit dem PRECiV CIX Mikroskopmodus* können Sie den dedizierten Workflow der Reinheitsprüfung verlassen, um mikroskopische Bildgebung durchzuführen, einschließlich Extended Focus Imaging (EFI) und 2D-Messung.

Erweitern Sie die Möglichkeiten des Mikroskopmodus mit optionalen Materialanalyselösungen wie Korngrößenbestimmung, Gusseisen und Phasenanalyse. Bei Bedarf können diese Lösungen um individuell angepasste Funktionen für einzelne Anwender oder Anwendungen erweitert werden.

^{* Der Mikroskopmodus ist eine optionale Lösung in PRECiV CIX.}

Schnelle Analyse

Live-Analyse von metallischen und nichtmetallischen Partikeln

Schnelle Live-Analyse und Auswertungen

Dank seiner innovativen Polarisationsmethode ermöglicht das CIX100 die Bildaufnahme und präzise Live-Analyse sowohl von reflektierenden (metallischen) als auch nicht reflektierenden (nichtmetallischen) Partikeln im Größenbereich von 2,5 µm bis 42 mm – alles in einem einzigen Scan.

Gezählte und sortierte Partikel werden live angezeigt und während des Scans in Größenklassen eingeteilt, was schnelle Entscheidungen im Falle eines fehlgeschlagenen Tests ermöglicht.

All-in-One-Scan für hohen Durchsatz

Das innovative Polarisationsverfahren, das auf Wellenlängentrennung und Farbe basiert, erkennt sowohl reflektierende (metallische) als auch nicht reflektierende (nichtmetallische) Partikel in einem einzigen Scan und bietet damit zahlreiche Vorteile für Labore mit hohem Probendurchsatz:

Erkennt reflektierende und nicht reflektierende Partikel doppelt so schnell wie herkömmliche Methoden, die zwei separate Bilder benötigen.
Eliminiert bewegliche Komponenten aus dem optischen Strahlengang, wie zum Beispiel den Polarisator, die die Systemstabilität beeinträchtigen und zu fehlerhaften Ergebnissen führen könnten.
Erhöht die Anzahl der untersuchten Partikel und senkt die Kosten pro Test.

Das Beleuchtungssystem des CIX100 trennt reflektierende (metallische) und nicht reflektierende (nichtmetallische) Partikel in einem einzigen Scan.

Das innovative Beleuchtungssystem trennt reflektierende (metallische) und nicht reflektierende (nichtmetallische) Partikel in einem einzigen Scan.

Partikel in Echtfarbe betrachten

Aktivieren Sie den Realfarbmodus, um die Partikel in ihren tatsächlichen Farben anzuzeigen. Dies liefert mehr Informationen zur Identifizierung des Partikeltyps als metallisch oder nichtmetallisch.

Der All-in-One-Scan zeigt alle reflektierenden Partikel in der Polarisation blau an, was darauf hindeutet, dass sie metallisch sind. Im Realfarbmodus wird die blaue Farbe reflektierender Partikel ausgeblendet, wodurch die wahren Farben aller Partikel im Hellfeldbild sichtbar werden. Materialien, die tatsächlich blau sind, bleiben blau, während Metalle ihren metallischen Glanz und die für das Material typischen Reflexionen zeigen.

Diese hilfreichen Visualisierungen helfen Ihnen, die Beschaffenheit der einzelnen Partikel besser zu verstehen und den Partikeltyp schnell zu bestätigen.

Links: Das Partikel, wie es vom CIX100 System während der Detektion und Analyse dargestellt wird. Rechts: Das gleiche Partikel in Echtfarbe.

Das Partikel, wie es vom System während der Detektion und Analyse dargestellt wird. Die blaue Farbe zeigt an, dass dieses Partikel metallisch ist. Das gleiche Partikel, wie es im Betrachtungsmodus in Echtfarbe mit dem U-ANT-Filter und dem Farbkorrekturmodus dargestellt wird. Das Partikel wurde als metallisch bestätigt.

Große Partikel werden automatisch zusammengefasst und analysiert.

Intelligente Handhabung von Partikeln

Das CIX100 bietet Live-Verarbeitung und Klassifizierung von kleinen und großen Partikeln (2,5 μm bis 42 mm) nach internationalen Standards und rekonstruiert automatisch Bilder von großen Partikeln. Es können sowohl dunkle Partikel auf hellem Hintergrund als auch helle Partikel auf dunklem Hintergrund analysiert werden.

Identifizierung der Filterabdeckung

Das Übersichtsbild der Probe wird zu Beginn der Probeninspektion erstellt und zeigt den gesamten Filter bei geringer Vergrößerung, wodurch die Identifizierung der Filterabdeckung oder von Partikelansammlungen vor Beginn der Inspektion ermöglicht wird. Das System informiert die Anwender automatisch, wenn die Filterbelegung höher als gewünscht ist, damit sie schnell reagieren können.

Das Übersichtsbild zeigt die Filterbelegung und Partikelansammlungen an.

Direktes Ergebnisfeedback

Verunreinigungen werden automatisch analysiert und nach den im gewählten Standard definierten Größenklassen sortiert und farblich markiert, um anzuzeigen, wenn eine Klasse einen voreingestellten Grenzwert überschreitet. Akzeptable Partikelanzahlen pro Größenklasse werden angezeigt, wodurch eine frühzeitige Probenvalidierung (OK) oder -ablehnung (NOK) ermöglicht wird – noch bevor die gesamte Membran gescannt ist.

Wie von der Elektromobilitäts- und Medizinproduktbranche gefordert, ermöglicht die PRECiV CIX Software die Bewertung der Zulassungsgrenzen für einzelne Partikelarten. Ein akustisches Signal kann aktiviert werden, um die Anwender zu benachrichtigen, wenn die Freigabe mit „NOK“ bewertet wird oder die Inspektion abgeschlossen ist.

Analyse jenseits klassischer Algorithmen

Mit der integrierten TruAI Deep-Learning-Technologie kann das CIX100 Bilder über die Möglichkeiten klassischer Algorithmen hinaus analysieren. Wenden Sie ein trainiertes neuronales Netzwerk auf Ihre Proben an, um eine reproduzierbarere und robustere Analyse zu erhalten. Die TruAI-Lösung ermöglicht es Ihnen, zwischen verschiedenen Partikeltypen zu unterscheiden, z. B. zwischen reflektierenden und nicht reflektierenden Partikeln.

Die TruAI-Lösung am Inspektionssystem CIX100

Intuitive Werkzeuge zur Überarbeitung von Reinheitsinspektionsdaten am CIX100 System

Dateneinblicke für schnellere Entscheidungen

Das CIX100 kombiniert intuitive Werkzeuge zur Überarbeitung von Inspektionsdaten mit einer schnellen, geführten Partikelauswertung. Ein-Klick-Neuklassifizierung gewährleistet Flexibilität und unterstützt internationale Standards. Miniaturansichten der erkannten Verunreinigungen verlinken direkt zu den Dimensionsmessungen, um eine einfache Datenauswertung zu ermöglichen.

Ergebnisse zur Kontaminationserkennung werden während des Auswertungsprozesses automatisch über alle Ansichten und Größenklassen hinweg aktualisiert. Das spart Zeit, da alle relevanten Prüfergebnisse übersichtlich dargestellt werden.

Trendanalyse

Die Daten können im Zeitverlauf statistisch analysiert und grafisch dargestellt werden.

Inspektionsdaten auf einen Blick

Klare Übersicht über Bilder, Daten und Ergebnisse für sofortige Entscheidungen zur Aufbereitung
Übersichtliche Darstellung der Inspektionsdaten in verschiedenen wählbaren Ansichten
Die Bilder der Partikel sind für alle Partikeltypen (reflektierend oder nicht reflektierend) von der größten zur kleinsten Größe geordnet.

Überprüfen, Überarbeiten und Neuberechnen

Bei der technischen Reinheitsprüfung wird generell eine manuelle Überprüfung der Ergebnisse empfohlen, und die Benutzeroberfläche ermöglicht eine schnelle und einfache interaktive Korrektur der Partikeldaten.

Interaktive Korrektur der Partikeldaten am Inspektionssystem CIX100

Lösung zur Höhenmessung

Das CIX100 bietet eine Extended Focus Imaging (EFI)-Funktion, die Bilder von Verunreinigungen und Partikeln aufnimmt, deren Höhe über die Schärfentiefe des Objektivs hinausgeht, und sie übereinanderstapelt, um ein vollständig scharfes Bild zu erzeugen.

Erweitern Sie das CIX100 mit unserer Höhenmesslösung, bestehend aus einem 20x-Objektiv* und spezieller Software, um die VDA 19-Anforderungen für Höhenmessungen zu erfüllen. Bei ausgewählten Partikeln wird die Messung entweder automatisch oder manuell durchgeführt. Der berechnete Wert wird als zusätzliches Datenfeld im Ergebnisblatt aufgeführt.

^{* Muss separat von der Lizenz für die Höhenmesslösung bestellt werden.}

Konforme Ergebnisse

Konforme und anpassbare Berichte für die technische Reinheitsanalyse

Die Berichte können an individuelle Bedürfnisse angepasst werden.

Digitale Dokumentation auf Knopfdruck

Erstellen Sie professionelle Berichte mit nur einem Klick anhand vordefinierter Vorlagen, die Branchenstandards wie ISO und VDA entsprechen, und passen Sie Vorlagen und Berichte ganz einfach an firmenspezifische Vorgaben an.

Exportieren Sie die Ergebnisse in Microsoft Word oder direkt als PDF, um Daten einfach per E-Mail weiterzugeben. Das CIX100 kann außerdem Berichte und Daten zur Dokumentation und Trendanalyse archivieren.

Einfacher Datenexport

Erstellen Sie Berichte im Microsoft Word- oder PDF-Format, je nach Ihren Präferenzen, und exportieren Sie die Partikel- und Klassifizierungsergebnisse sowie die Trendanalyse ganz einfach nach Microsoft Excel. Die Berichtsdateigrößen sind für effizientes Teilen von Daten optimiert.

Einzelne Bilder von Verunreinigungen können aufgenommen und zur manuellen Messwertbestätigung und besseren Dokumentation verarbeitet werden.

Einzelne Bilder von Verunreinigungen können aufgenommen und zur manuellen Messbestätigung und verbesserten Dokumentation verarbeitet werden.

Langfristige Speicherung von Reinheitsprüfdaten

Langfristige Datenspeicherung

Schneller Zugriff auf alle archivierten Proben und die zugehörigen Daten und Berichte zur Überarbeitung oder Weitergabe. Alle Prüfdaten und Berichte werden automatisch für einen bestimmten Zeitraum gespeichert und archiviert.

Technische Angaben

Hardware

Mikroskop	CIX100	Motorgesteuerte Scharfeinstellung	Koaxialer motorisierter Feinfokus mit Drei-Achsen-Joystick Fokushub: 25 mm Feinhub: 100 μm/Umdrehung Maximale Höhe der Tischhaltermontage: 40 mm Fokussiergeschwindigkeit 200 μm/s Software-Autofokus aktiviert Anpassbare Mehrpunkt-Fokuskarte
		Beleuchtung	Eingebaute LED-Beleuchtung Innovativer Beleuchtungsmechanismus mit gleichzeitiger Erkennung von reflektierenden und nicht reflektierenden Partikeln Lichtintensität per Software steuerbar
		Bildgebendes Gerät	CMOS-Farbkamera mit USB 3.0 On-Chip-Pixelgröße 2,2 × 2,2 µm
		Probengröße	Die Standardprobe ist eine Filtermembran mit 47 mm Durchmesser. Filterhalter für Membranen mit 25 mm oder 55 mm Durchmesser sowie individuell angefertigte Probenhalter sind ebenfalls erhältlich.
Objektivrevolver	Motorisierter Objektivrevolver	Motorisierter Objektivrevolver	Motorisierter Objektivrevolver mit sechs Positionen und drei vorinstallierten UIS2-Objektiven PLAPON 1.25x zur Vorschau MPLFLN 5X zur Detektion von Partikeln größer als 10 µm MPLFLN 10X zur Detektion von Partikeln größer als 2,5 µm
Objektivrevolver	Motorisierter Objektivrevolver	Über Software gesteuert	Die Bildvergrößerung und das Verhältnis zwischen Pixelgröße und Objektgröße sind zu jedem Zeitpunkt bekannt. Ausgewählte Objektive werden bei ausgewählten Schritten des Messprozesses verwendet und automatisch positioniert.
Tisch	Motorisierter Tisch (X, Y)	Motorisierter Tisch (X, Y)	Schrittmotorgesteuerte Bewegung Maximaler Verfahrweg: 130 × 79 mm Höchstgeschwindigkeit: 240 mm/s (Kugelgewinde mit 4 mm Steigung) Wiederholbarkeit: < 1 µm Auflösung: 0,01 µm Steuerbar mit einem Drei-Achsen-Joystick
	Motorisierter Tisch (X, Y)	Über Software gesteuert	Die Scangeschwindigkeit hängt von der verwendeten Vergrößerung ab; bei 10x beträgt die Scanzeit weniger als 10 Minuten. Die Ausrichtung der Tischs erfolgt während der Werksmontage.
	Objekthalter	Probenhalter	Der Membranhalter ist speziell konstruiert, um eine ungewollte Drehung der Membran während der Montage zu verhindern. Die Membran wird durch den Membranhalter mechanisch abgeflacht. Zum Anbringen der Abdeckung wird kein Werkzeug benötigt. Probenhalter für Filtermembranen mit Durchmessern von 25 mm, 47 mm und 55 mm Probenhalter für Partikelfallen, Verbrauchsmaterialien für Partikelfallen und Klebebandabzugsproben
	Objekthalter	Partikelstandardgerät (PSD)	Referenzprobe zur Validierung der Systemmessung Probe, die in der integrierten Prüffunktion des Prüfsystems zur Kontrolle der ordnungsgemäßen Funktion des CIX100 verwendet wird. Dem PSD wird immer Position 2 auf der Tisch zugewiesen.
	Tischeinsatz	2-Positionen-Tischeinsatz	Tischeinsatz zur korrekten Positionierung des Probenhalters und des PSD
Controller	Workstation	Hochleistungsfähige, vorinstallierte Workstation	HP Z4G4, Windows 10, 64-Bit Professional (Englisch) RAM 16 GB, SSD 256 GB und Datenspeicher 4 TB Grafikkarte 2 GB Microsoft Office 2019 (Englisch) vorinstalliert Vernetzungsfähig, englische Tastatur (qwerty), optische Maus, 1000 dpi
		Zusätzliche Platinen	Motorgesteuerte Steuereinheit, serial RS232 und USB 3.0
		Sprache der Bedienerführung	Die Standardsprache von Betriebssystem und Microsoft Office können vom Benutzer geändert werden.
	Touch-Panel-Display	Schmaler 23 Zoll-Bildschirm	Auflösung: 11920 × 1080, für den Einsatz mit der CIX-Software optimiert
Stromversorgung		Nennbetrieb	Netzteile (2), Controller und Mikroskopstativ (4 Stecker erforderlich) Eingang: 100–240 V AC, 50/60 Hz, 10 A
Stromversorgung		Leistungsaufnahme	Controller: 700 W, Bildschirm: 56 W, Mikroskop: 5,8 W, Steuergerät: 7,4 W Insgesamt: 769.2 W
Zeichnung		Abmessungen (B × T × H)	Ca. 1300 mm × 800 mm × 510 mm (51,2 Zoll × 31,5 Zoll × 20,1 Zoll)
Zeichnung		Gewicht	44 kg (97 lb)

Systemumgebungsbeschränkungen

Normalgebrauch	Temperatur	10 °C bis 35 °C (50 °F bis 95 °F)
Normalgebrauch	Luftfeuchtigkeit	30 bis 80 %
Für Sicherheitsvorschriften	Umgebung	Nutzung nur in Innenräumen
	Temperatur	5 ℃ bis 40 °C (41 °F bis 104 °F)
	Luftfeuchtigkeit	Maximal 80 % (bis zu 31 °C [88 °F]) (keine Kondensation) Die nutzbare Luftfeuchtigkeit nimmt linear ab, wenn die Temperatur über 31 °C (88 °F) steigt. 70 % (34 °C [93 °F]) bis 60 % (37 °C [98 °F]) bis 50 % (40 °C [104 °F])
	Höhe über NN	Bis zu 2.000 m (6.562 ft)
	Horizontniveau	Bis zu ±2°
	Stromversorgung und Spannungsstabilität	±10%
	Verschmutzungsgrad (IEC60664)	2
	Gesamtüberspannungskategorie (IEC60664)	II

Software

Software	PRECiV CIX 3.1	Dedizierte Workflow-Software für die technische Reinheitsprüfung
Sprachen	Grafische Benutzeroberfläche	GUI: Englisch, Französisch, Deutsch, Spanisch, Japanisch, Vereinfachtes Chinesisch und Koreanisch
Sprachen	Onlinehilfe	Onlinehilfe: Englisch, Französisch, Deutsch, Spanisch, Japanisch, Vereinfachtes Chinesisch und Koreanisch
Lizenzverwaltung		Softwarelizenz durch Lizenzkarte aktiviert (bereits bei der Installation aktiviert)
Benutzerverwaltung		System kann zur Domänenverwaltung mit einem Netzwerk verbunden werden. Der Funktionsumfang kann abhängig vom authentifizierten Anwender ausgewählt werden.
Live-Bild	Anzeige im Farbmodus	Partikel werden für die Analyse bei metallischen Partikeln in Blau und bei nichtmetallischen Partikeln in ihrer Originalfarbe dargestellt.
	Fensteranpassungsmethode	Das Bild wird immer in vollständiger Ansicht angezeigt.
	Live-Erkennung	Partikel werden analysiert, sobald sie erfasst werden, um die Geschwindigkeit zu verbessern. Der Anwender kann den Vorgang abbrechen, wenn das Messergebnis nicht zufriedenstellend ist.
	Live-Klassifizierung	Partikel werden klassifiziert, sobald sie entdeckt werden. Die Partikelgrößenklassen werden während der Live-Datenerfassung auf der Anwenderoberfläche bestimmt und angezeigt.
	Mikroskopmodus	Der Mikroskopmodus kann für mikroskopische Bildgebung aufgerufen werden. Optionaler Zugriff auf Materialanalyselösungen (nicht inbegriffen).
Bildaufnahme und manuelle Messungen	Momentaufna-hmen sammeln	Im Überprüfungsmodus können Einzelbilder von jeder beliebigen Position der Probe aufgenommen werden, ebenso wie Bilder im Live-Beobachtungsmodus (aus dem Direktbild) oder im Probenansichtsmodus (aus aufgezeichneten Daten). Bilder können in .tif-, .jpg- oder .png-Dateien mit einer Standardauflösung von 1000 × 1000 Pixeln gespeichert werden. Momentaufnahmen können mit den detektierten Partikeln verknüpft und anschließend im Analysebericht verwendet werden. Partikel-Momentaufnahmen können automatisch im EFI-Modus (Extended Focus Imaging) erfasst werden. Aufzeichnungen, die im EFI-Modus erstellt wurden, können im Analysebericht verwendet werden.
	Manuelle Messungen	Es ist möglich, beliebige Distanzmessungen an einer aufgenommenen Momentaufnahme durchzuführen. Beliebige Messungen können umbenannt und die Farbe geändert werden. Beliebige Messungen und ein Maßstab werden beim Speichern in das Bild eingebrannt.
Hardware-Steuerung	Motorisierter XY-Tisch	Joystick-Bedienung und -Steuerung per Software Inspektion kreisförmiger und rechteckiger Probenbereiche Automatische oder manuelle Neupositionierung auf ausgewählten Partikeln
	Motorisierter Objektivrevolver	Auswahl ausschließlich durch Software
	Motorisierte Scharfeinstel-lung	Steuerung per Joystick Software-Autofokus verfügbar Prädiktiver Autofokus mit Mehrpunkt-Fokuskarte
System überprüfen	Systemver-ifizierung	Das System wird durch Messung der Parameter des Partikelstandardgeräts verifiziert. Es wird ein Qualitätswert (OK oder NOK) erzeugt.
	Wählbares Objektiv	Die Systemprüfung kann nur mit dem Arbeitsobjektiv durchgeführt werden (mindestens ein Objektiv sollte ausgewählt werden). Die Systemprüfung wird entweder mit dem 5x- oder 10x-Objektiv oder mit beiden durchgeführt.
Technische Reinheit-snormen	Unterstützte Standards:	ASTM E1216-11:2016, ISO 4406:2021, ISO 4407:1999, ISO 4407:2002 [kumulativ und differentiell], ISO 11218:2017, ISO 12345:2013, ISO 14952:2003, ISO 16232-10:2007 (A, N, und V), ISO 16232:2018 (A, N und V), ISO 21018:2008, DIN 51455:2020 [70 % und 85%], NAS 1638:1964, NF E 48-651:1986, NF E 48-655:1989, SAE AS4059:2020, VDA 19.1:2015 (A, N und V), VDA 19.2:2015
	Vollständig VDA-konform VDA 19.1 und VDA 19.2 Empfehlungen	Die Schwellenwerte werden automatisch auf die von der VDA empfohlenen Werte eingestellt.
	Identifizierung der Partikelfamilie	Partikel können nach Partikeltypen klassifiziert werden (nicht reflektierend, reflektierend, Fasern oder andere). Möglichkeit zur Typisierung der erkannten Partikel mithilfe von Deep-Learning-Technologie (KI).
	Kundenspe-zifische Standards	Anwenderdefinierte Standards lassen sich leicht definieren. Zu den Partikelmessparametern gehören die Größe fadenförmiger Partikel und die Größe kompakter Partikel gemäß DT 55-83.
	Inspektions-konfiguration	Das System ermöglicht es den Anwendern, eine Inspektionskonfiguration zu laden, zu definieren, zu kopieren, umzubenennen, zu löschen und zu speichern. Standards und Berichtsvorlagen lassen sich ebenfalls speichern und abrufen. Es ist möglich, die Detektionsschwelle umzukehren, um helle Partikel auf dunklem Hintergrund zu detektieren. Es ist möglich, mehrere Proben in einer Sequenz zu erfassen. Es ist möglich, Zulassungsgrenzen für einzelne Partikelarten festzulegen. Möglich ist eine Erweiterung um CCCs für die verschiedenen Partikeltypen. Jede Probe kann mit einer bestimmten Konfiguration untersucht werden.
Partikelka-chelansicht	Zeigt die erkannten Partikel zur besseren Navigation in Kachelansicht an	Die Position jedes Partikels kann durch Doppelklicken auf die Kachel abgerufen werden. Jede Kachel ist an die tatsächliche Partikelgröße angepasst.
Die vollständige Membran speichern	Der vollständige Filter wird gespeichert	Mit der Offlineanalyse können Anwender einen anderen Standard für die Anzeige der Ergebnisse auswählen.
Datenexport	Daten speichern	Die Inspektionsdaten können in eine Excel-Tabelle (.xlsx) exportiert werden. Alle in der Software verfügbaren Tabellen können auch als Excel-Tabelle exportiert werden.
Trendanalyse	Trendanalyse über mehrere Proben (integriertes SQC-Tool)	Es können Daten nach Größenklassen angezeigt werden. Daten können nach Zeit, Probe und Mess-ID grafisch dargestellt werden. Die Skala kann ausgewählt werden (log-normal, log-log). Datenpunkte können extrahiert und in eine Tabellenkalkulation exportiert werden. Die Tabelle kann im Q-DAS-Format (.dfq) exportiert werden. Alle in der Software verfügbaren Tabellen können auch als Excel-Tabellen exportiert werden.
Partikelb-earbeitung	Partikel können während des Überarbeitu-ngsprozesses bearbeitet werden.	Mit Linien oder Polylinien können Partikel hinzugefügt, gelöscht, zusammengeführt oder geteilt werden. Der Partikeltyp kann geändert werden.
Dynamische Berichte	Professionelle Analyseberichte können mit Office 2024 und Microsoft 365 Home and Business erstellt werden (Lizenz nicht enthalten)	Vorlagen sind präzise anpassbar. Anwender können wählen, ob die Bilder nach der Tabelle eingefügt werden oder ob alle Bilder zusammengefasst angezeigt werden, wenn verschiedene Partikelfamilien ausgewählt werden.

Lösung zur Höhenmessung

PV-CIX-S-HM

Automatische oder manuelle Höhenmessung ausgewählter Partikel

Optionale Softwarelösung, die den motorisierten Fokusantrieb vom oberen zum unteren Ende der ausgewählten Partikel bewegt. Die Partikelhöhe wird dann aus der Differenz zwischen der oberen und unteren Z-Koordinate berechnet.
Ein 20X MPLFLN-Objektiv muss separat bestellt werden.
Es ist möglich, mehrere Partikel zur automatischen Höhenmessung an verschiedenen Positionen auszuwählen.

Erweiterte Mikroskopiefunktionen

●: Standardfunktion; ○: Optionale Funktion

Bildaufnahme
Erweiterte Bildverbesserung mittels HDR	●
Live-Bildoptimierung mit Live-KI	●
Videoaufnahme	●
Automatische EFI mit motorisierten Geräten, inklusive Quick Scan-Modus	●
Automatische Panorama-Funktion mit motorisierten Geräten	●
Probennavigation und Positionslistenverwaltung mit motorisierten Geräten	●
Kombination von automatischen EFI- und Panoramaaufnahmen mit motorisierten Geräten	●
Bildgebungs- und Anpassungswerkzeuge
Anwenderoberfläche mit nach Zweck gruppierten Funktionen	●
Anpassbare Anwenderoberfläche (EZ-Modus)	●
Informations-Overlay (Maßstableiste, Fadenkreuz, digitale Fadenkreuz)	●
Bildschirmvergrößerung	●
Makro-Manager	●
Messungen/Bildanalyse
Grundlegende interaktive Messung (Punktmessung, beliebige Linie, horizontale Linie, vertikale Linie, Polylinie, 3-Punkt-Kreis, Rechteck, gedrehtes Rechteck, 3-Punkt-Winkel, 4-Punkt-Winkel, senkrechte Linie, Abstand zwischen parallelen Linien, Polygonfläche, XY-Abstand, Abstand zwischen zwei Kreuzlinien, Abstand von Kreis zu Kreis, lineares Lineal)	●
3D-Linienprofilmessung und einfache 3D-Messung	●
Erweiterte interaktive Messung, einschließlich automatischer Kantenerkennung und Hilfslinien (Winkelmesser, 2-Punkt-Kreis, gedrehte Ellipse, geschlossenes Polygon, Zauberstab, interpoliertes Polygon, mehrere Senkrechtlinien, Asymmetrielinien, Maßdicke)	●
Kennzeichnung mittels neuronaler Netze	●
Bildverbesserungsfilter (Matrixfilter, Farb- und Kontrastanpassung)	●
Berichterstellung
Datenexport in eine Evident-Arbeitsmappe	●
Datenexport nach Microsoft Excel	●
Erstellung von Berichten und Präsentationen in Microsoft 365 oder 2021	●
Optionale Module
Count and Measure (Zählen und Messen)	○
Gusseisen	○
Korngrößenbestimmung	○
Nichtmetallische Einschlüsse	○
Schichtdicke	○
Porosität	○
Partikelverteilung	○
Beschichtungsdicke	○
Phasenanalyse	○
Training neuronaler Netze	○
Dendritenarmabstand	○
Messsequenz	○
Diagrammvergleich ausgewählter Standards für Korngröße, Graphitgröße, nichtmetallische Einschlüsse und Hartmetalle.	○

Umweltgesetze und -bestimmungen

Europa	Niederspannungsrichtlinie 2014/35/EU
	EMV-Richtlinie 2014/30/EU
	RoHS-Richtlinie 2011/65/EU
	REACH-Verordnung Nr. 1907/2006
	Richtlinie 94/62/EG über Verpackungen und Verpackungsabfälle
	WEEE-Richtlinie 2012/19/EU
	Maschinenrichtlinie 2006/42/EG
USA	UL 61010-1:2010 Ausgabe 3
USA	FCC 47 CFR Teil 15 Abschnitt B
Kanada	CAN/CSA-C22.2 (Nr. 61010-1-12)
Australien	Funkkommunikationsgesetz 1992, Telekommunikationsgesetz 1997
Australien	Verordnung zur Energieeinsparung AS/NZS 4665-2005
Japan	Gesetz über die Sicherheit elektrischer Geräte und Materialien (PSE)
Korea	Gesetz über die Sicherheit elektrischer Geräte
	Verordnung über Energieeffizienzkennzeichnung und -standards
	Vorschriften für EMV und drahtlose Telekommunikation (Bekanntmachung 2913-5)
China	China RoHS
	China PL-Gesetz
	Vorschrift für Handbücher

Informationsmaterialien

Blog

Wie werden Partikelfallen zur Überwachung der Sauberkeit eingesetzt?

/de/insights/how-to-use-particle-traps-to-monitor-environmental-cleanliness

Wie funktioniert die Probenahme mit Klebeband?

/de/insights/what-is-tape-lift-sampling

Direkte Flüssigkeitsfiltration: Bewährte Verfahren zur Entnahme von Flüssigkeitsproben bei der Sauberkeitsanalyse

/de/insights/direct-liquid-filtration-best-practices-for-fluid-sampling-in-cleanliness-analysis

Ein Überblick über das Spülverfahren bei der Prüfung der technischen Sauberkeit von Bauteilen

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Das Bild einer Prüfung der technischen Sauberkeit von Bauteilen sagt mehr als tausend Worte

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Probenahmetechniken für Prüfungen der technischen Sauberkeit

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Echtfarbenmodus für Partikelverunreinigungen zur Bestätigung von metallischen Partikeln

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Verunreinigung und Analyse von Öl – Experteneinblicke in ein unsichtbares Problem

/de/insights/oil-contamination-and-analysis

Effiziente Sauberkeitsanalyse mit 3 zusätzlichen Funktionen

/de/insights/perform-an-efficient-cleanliness-analysis-with-3-added-capabilities

Der unentbehrliche Ratgeber für die Prüfung auf technische Sauberkeit

/de/insights/the-essential-guide-to-fast-technical-cleanliness-inspections

7 Systemfunktionen, die Prüfern ohne Erfahrung die Prüfung für technische Sauberkeit erleichtern

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5 Methoden des OLYMPUS CIX100 Cleanliness Inspector für reproduzierbare Ergebnisse

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Arbeitsschritte bei der Prüfung der technischen Sauberkeit – Teil 5: Identifizierung reflektierender /nicht reflektierender Partikel und Fasern

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Arbeitsschritte bei der technischen Sauberkeitsprüfung – Teil 4: Berechnung der Sauberkeitsklasse

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Arbeitsschritte bei der technischen Sauberkeitsprüfung - Teil 3: Klassifizierung der Partikelgröße und Extrapolation und Normalisierung der Partikelanzahl

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Arbeitsschritte bei der technischen Sauberkeitsprüfung – Teil 2: Bildaufnahme und Partikelmessung

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Arbeitsschritte bei der technischen Sauberkeitsprüfung - Teil 1: Vorbereitungen

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Optimierung des Arbeitsablaufs bei der Prüfung der technischen Sauberkeit

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Die zunehmende Bedeutung technischer Sauberkeit

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Eine Komplettlösung für technische Sauberkeit

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