Perfilómetro óptico 3D LEXT OLS5500
Superficies ilimitadas, resultados confiables
Un perfilómetro óptico 3D híbrido que integra la microscopía de escaneo láser (LSM), la interferometría de luz blanca (WLI) y la microscopía de variación de enfoque (FVM) en una sola plataforma, lo que ofrece detalles de superficie precisos, exactitud trazable y una experiencia de usuario intuitiva para optimizar los flujos de trabajo desde el descubrimiento hasta la toma de decisiones.
- Product Status: Este producto reemplaza al LEXT OLS5100 y a los modelos anteriores de la serie OLS.
Perfilómetro óptico 3D LEXT OLS5500
Aplicaciones industriales
Imágenes de precisión excepcional
Superficies ilimitadas, resultados confiables
El galardonado LEXT™ OLS5500 le permite identificar características sutiles y variaciones superficiales con una claridad inigualable; utilice LSM, WLI y FVM para detectar defectos, confirmar diseños y tomar decisiones con confianza.
Precisión en todas las superficies
Los objetivos diseñados internamente mantienen la nitidez y la fidelidad de la forma en todo el campo de visión, incluso con muestras muy inclinadas, reflectantes o complejas. A diferencia de las lentes convencionales que distorsionan en la periferia, las lentes LEXT ofrecen mediciones precisas desde el centro hasta el borde.
Objetivos de interferometría de luz blanca
Ideal para superficies lisas e inclinadas, el sistema mide escalones a escala nanométrica con un rendimiento fiable de altura constante a cualquier aumento del objetivo.
Imágenes comparativas de una muestra de lente Fresnel obtenidas con un objetivo WLI convencional de 20X (izquierda, 0,4 NA) y con el objetivo WLI de 20X de Evident (derecha, 0,6 NA).
Mediciones confiables
Exactitud garantizada para imágenes en mosaico
Para mediciones de grandes áreas, el OLS5500 garantiza datos de imágenes en mosaico fiables gracias a la combinación de una platina motorizada con un módulo de medición de longitud integrado y una coincidencia avanzada de patrones. Este enfoque ofrece datos en mosaico trazables y de alta confianza en LSM y WLI bajo condiciones de platina específicas.
Flujo de trabajo más inteligente
Automatización inteligente para una precisión sin esfuerzo
Las herramientas inteligentes de automatización y flujo de trabajo del OLS5500 están diseñadas para facilitar y agilizar el análisis de superficies para usuarios de todos los niveles. Con la asistencia para el ajuste de inclinación, la corrección de la inclinación se vuelve sencilla. Con un solo clic, el software indica la cantidad exacta de ajuste necesaria para nivelar la superficie de la muestra.
La WLI mejora el rendimiento hasta 42 veces.
La WLI del OLS5500 mejora el rendimiento hasta 42 veces en comparación con la LSM convencional. Mida texturas superficiales a escala nanométrica –tradicionalmente visibles solo a los altos aumentos de un microscopio confocal de escaneo láser (LSM)– sin estar limitado por la magnificación del objetivo.
Muestra: Altura de escalón de 60 nm, área de medición: 1280 µm. LSM: Tiempo de adquisición de datos: 630 s; imagen compuesta de 6×6 adquirida con un objetivo LSM 50X (0,95 NA). WLI: Tiempo de adquisición de datos: 15 s; una sola imagen adquirida con un objetivo WLI 10X (0,3 NA).
Muestra con una altura de 83 nm estándar VLSI (MPLFLN10LEXT).
Algoritmo PEAK para la reconstrucción 3D rápida y precisa
El algoritmo PEAK proporciona datos de superficie 3D muy precisos en aumentos que van de bajos a altos, a la vez que acelera considerablemente la adquisición. Para medir la altura y la forma de los escalones, omite de forma inteligente el escaneo del rango Z no esencial para obtener resultados precisos con mayor rapidez.
Aplicaciones
Recursos
Material informativo sobre los productos
Videos
OLS5100 - Administrador inteligente de experimentos: Evaluación de tolerancia
OLS5100 - Gestor de experimentos inteligente: Cambie su flujo de trabajo sobre la marcha
OLS5100 - Automatización del flujo de trabajo con la función macro
OLS5100 Experiment Total Assist
OLS5100 Smart Scan II
OLS5100 Mapeo macrométrico en tiempo real