Microscopio invertido GX53
El microscopio invertido GX53 presenta una claridad de imagen excepcional y una excelente resolución con grandes aumentos. Con accesorios que incluyen un revólver codificado y un software, el diseño modular del microscopio facilita la adaptación a sus necesidades.
Microscopio metalúrgico invertido GX53
Analice rápidamente materiales gruesos y de gran dimensión
Desarrollado para su uso en los sectores industriales de acero, automoción, electrónica, entre otros, el microscopio GX53 ofrece imágenes nítidas que pueden ser difíciles de captar con los métodos de observación convencionales de microscopía. Cuando se combina con el software de análisis de imágenes PRECiV, el microscopio agiliza el proceso de inspección desde la observación hasta el análisis de imágenes y la elaboración de informes.
Inspecciones rápidas y funciones avanzadas
Observe, mida y analice rápidamente estructuras metalúrgicas
Herramientas de análisis avanzadas
1. Métodos de observación combinados dedicados a proporcionar imágenes excepcionales
2. Fácil creación de imágenes panorámicas
3. Creación de imágenes de enfoque «todo en uno»
4. Captura de áreas tanto claras como oscuras
Optimizado para la ciencia de materiales
1. Software desarrollado para la ciencia de los materiales
2. Análisis metalúrgicos que cumplen con los estándares industriales
Intuitivo
Es posible llevar a cabo sus observaciones, análisis de resultados e informes de forma cómoda incluso si es un operador principiante.
1. Fácil recuperación de parámetros para la configuración del microscopio
2. Guía del usuario que ayuda a simplificar análisis avanzados
3. Eficiente generación de informes
Tecnología avanzada para procesamiento de imágenes
La reconocida tecnología óptica y de procesamiento de imágenes brinda imágenes claras y resultados fiables.
1. Rendimiento óptico fiable: Control de la aberración de frente de onda
2. Imágenes claras: corrección de sombreado en la imagen
3. Temperatura de color uniforme: Iluminación con LED blanco de alta intensidad
4. Mediciones de precisión: Calibración automática
Configuración modular
Seleccione los componentes que requiere para su aplicación.
1. Formar el sistema a su manera: Sistema completamente personalizable con una variedad de componentes opcionales
Observación
Herramientas de análisis avanzadas
Las diversas capacidades de observación del microscopio GX53 proporcionan imágenes claras y nítidas para que detecte con fiabilidad los defectos de sus muestras. Las nuevas técnicas de iluminación y opciones de adquisición de imágenes del software de análisis de imágenes PRECiV le ofrecen más opciones para evaluar sus muestras y documentar sus hallazgos.
Combinación de alta apertura numérica y larga distancia de trabajo
Las lentes de objetivos son cruciales para el rendimiento de un microscopio. Los nuevos objetivos MXPLFLN añaden profundidad a la serie MPLFLN, ya que llevan un procesamiento de imágenes de iluminación episcópica mediante la maximización al mismo tiempo de la apertura numérica y la distancia de trabajo. Las resoluciones más altas con magnificaciones de 20X y 50X por lo general significan distancias de trabajo más cortas, lo que conlleva a que una muestra o un objetivo se retraiga durante el intercambio de objetivos. En muchos casos, la distancia de trabajo de 3 mm de la serie MXPLFLN elimina este problema, lo que permite inspecciones más rápidas con menos posibilidades de que el objetivo entre en contacto con la muestra.
Lo invisible se hace visible: Tecnología MIX
La tecnología MIX combina el campo oscuro con otro método de observación, como el campo luminoso o la polarización, para permitirle observar muestras que son difíciles de ver con los microscopios convencionales. El iluminador LED circular se dota de una función de campo oscuro direccional que lleva la iluminación a uno o más cuadrantes en un momento específico, lo que reduce el halo de una muestra para examinar mejor la textura superficial.
Corte transversal de una placa de circuito impreso
Campo luminoso
Capas del sustrato y agujero pasante invisibles.
Campo oscuro
Trazos visibles.
MIX: Campo luminoso + Campo oscuro
Todos los componentes son representados de forma clara.
Acero inoxidable
Campo luminoso
Textura no observable.
Cuadrante de campo oscuro
Información de color eliminada.
MIX: Cuadrante de campo luminoso + campo oscuro
Tanto el color del material como la textura son visibles.
Fácil creación de imágenes panorámicas: MIA instantánea
Mediante la alineación de múltiples imágenes (MIA), es posible unir imágenes con tan solo mover los tornillos XY de la platina manual (la platina motorizadas es opcional). El software PRECiV utiliza el reconocimiento de patrones para generar una imagen panorámica, por lo que es ideal para inspeccionar las condiciones de carburación y flujo del metal.
Flujo metálico de un perno
La posición de la platina se ajusta con el mando tornillo (perilla) XY.
Es posible observar la condición completa del flujo de metal.
Cree unas imágenes totalmente enfocadas: EFI
La función de imagen de enfoque extendido (EFI) del software PRECiV captura imágenes de muestras cuya altura se extiende más allá de la profundidad de enfoque. La función EFI permite apilar esta imágenes juntas para crear una imagen focal «todo en uno» de la muestra. Incluso al analizar una muestra transversal con una superficie irregular, la función EFI crea imágenes totalmente enfocadas.
La función EFI se ejecuta a través de un eje Z manual o motorizado y crea un mapa de alturas para visualizar las estructuras.
Piezas de resina
Se ajusta la altura del objetivo con el tornillo (perilla) de enfoque.
La función EFI captura y apila de forma automática múltiples imágenes para crear una sola imagen de la muestra enfocada totalmente.
Se crea una imagen completamente enfocada.
Captura tanto de áreas claras como oscuras: HDR
Al usar el procesamiento de imágenes avanzado, el alto rango dinámico (HDR, siglas en inglés) ajusta las diferencias en el brillo dentro de una imagen para reducir los destellos (o deslumbramiento). Además, ayuda a potenciar el contraste en imágenes de bajo contraste. El alto rango dinámico (HDR) puede ser usado para observar estructuras diminutas en dispositivos electrónicos y observar límites de grano metálico.
Lingote de oro
Algunas áreas presentan deslumbramiento.
Algunas áreas oscuras y brillantes están siendo expuestas de forma clara gracias al HDR.
Recubrimiento de cromo por difusión
Presenta bajo contraste y desenfoque.
Contraste potenciado con el HDR.
Aplicaciones
Estos son sólo algunos ejemplos de lo que puede obtener al utilizar los diferentes métodos de observación.
Muestra pulida de AlSi (campo luminoso / campo oscuro)
Campo luminoso
Campo oscuro
Campo uminoso: método de observación común para observar la luz reflejada de una muestra iluminándola directamente. Campo oscuro: método usado para observar la luz dispersa o difractada de una muestra; de esta manera, las imperfecciones, como pequeños rasguños o defectos, destacan claramente.
Fundición de grafito esferoidal (campo luminoso / DIC)
Campo luminoso
Observación DIC
Contraste de interferencia diferencial (DIC): método de observación donde la altura de una muestra es visualizada como un relieve, similar a una imagen 3D con un contraste mejorado. Es ideal para las inspecciones de muestras que tienen diferencias de altura muy pequeñas, entre las que se incluyen las estructuras metalúrgicas y los minerales.
Aleación de aluminio (campo luminoso / luz polarizada)
Campo luminoso
Observación de luz polarizada
Luz polarizada: método de observación que resalta la textura y el estado de los cristales de un material para observar las estructuras metalúrgicas, como el patrón de crecimiento del grafito en la fundición nodular y los minerales.
Dispositivo eléctrico (observación de campo luminoso / MIX)
Campo luminoso
MIX: Campo luminoso + Campo oscuro
MIX: método de observación que combina las técnicas de campo luminoso y el campo oscuro para mostrar el color y la estructura de una muestra.
La imagen observada bajo el previo modo MIX reproduce de forma clara el color y la textura del dispositivo, así como el estado de la capa adhesiva.
Análisis
Software PRECiV - Optimizado para la ciencia de los materiales
Juntos, el microscopio GX53 y el software PRECiV admiten métodos de análisis metalúrgicos que cumplen con diferentes normas industriales. Gracias a la guía del usuario paso a paso, es posible analizar las muestras de forma rápida y sencilla.
> Haga clic aquí para obtener detalles sobre PRECiV
Análisis de partículas: Solución para recuento y medición
La solución Count and Measure (para recuento y medición) aplica métodos de umbral avanzados para clasificar objetos —como partículas y rasguños— a partir del fondo y de manera fiable. Existen más de 50 parámetros de medición y clasificación disponibles para diferentes objetos que envuelven propiedades de forma, tamaño, posición y píxeles.
Software convencional
Límites de grano imprecisos
Microestructuras de acero grabada
(imagen original)
PRECiV
Límites de grano que son detectados con claridad
Resultados de clasificación de granos
Dimensionamiento de grano en una microestructura
Mida la dimensión/tamaño de grano y analice la microestructura del aluminio, estructuras de cristal del acero —como la ferrita y la austenita— u otros metales.
Estándares soportados: ISO, GOST, ASTM, DIN, JIS, GB/T
Microestructura de granos ferríticos
Solución de intersección para el dimensionamiento de grano
Solución de planimetría para el dimensionamiento de granos
Evaluación de la nodularidad del grafito
El software evalúa la nodularidad y el contenido de grafito en muestras de hierro fundido (nodular y vermicular). A continuación, clasifica la forma, distribución y tamaño de los nodos de grafito.
Estándares soportados: ISO, NF, ASTM, KS, JIS, GB/T
Fundición dúctil de hierro que muestra grafito nodular
Solución para la fundición de hierro
Clasificación de inclusiones no metálicas contenidas en acero de alta pureza
Es posible clasificar las inclusiones no metálicas que han sido halladas manualmente en la muestra con una imagen del campo más dañado o de peor inclusión.
Estándares soportados: ISO, EN, ASTM, DIN, JIS, GB/T, UNI
Acero con inclusiones no metálicas
Solución para el campo de peor inclusión
Comparación de imágenes de la muestra con las imágenes de referencia
Es posible comparar fácilmente imágenes en vivo o fijas con imágenes de referencia a modo de escala automática. Esta solución comprende imágenes de referencia de conformidad con varios estándares; es posible adquirir imágenes de referencia adicionales por separado. Varios modos son soportados, como la superposición en vivo y la comparación lado a lado.
Estándares soportados: ISO, EN, ASTM, DIN, SEP
Acero con inclusiones no metálicas
Microestructura con granos ferríticos
Especificaciones de la solución material
Uso compartido
Inspecciones simples y eficientes
Utilice el microscopio GX53 y el software PRECiV para adquirir imágenes de diversas muestras, realizar diversos análisis y generar informes profesionales.
> Haga clic aquí para obtener detalles sobre PRECiV
Fácil recuperación de la configuración del microscopio: Hardware (instrumentación codificada)
Las funciones codificadas integran los ajustes de hardware del microscopio con el software de análisis de imágenes PRECiV. Tanto el método de observación, la intensidad de la iluminación como la magnificación pueden ser registrados y almacenados con las imágenes asociadas. Los parámetros se reproducen fácilmente para que diferentes operadores puedan llevar a cabo las mismas inspecciones de calidad mediante una pequeña capacitación.
Los operadores usan diferentes parámetros.
Recuperar la configuración del dispositivo con el software PRECiV.
Todos los operadores pueden usar y aplicar la misma configuración.
Guía del usuario que ayuda a simplificar análisis avanzados
El software guía a los usuarios paso a paso a través de un proceso de inspección que cumple con el estándar industrial seleccionado. Los operadores pueden llevar a cabo análisis avanzados con tan sólo seguir la guía proporcionada en la pantalla.
Eficiente generación de informes
A menudo, la creación de un informe puede llevar más tiempo que capturar la imagen y adquirir las medidas. El software PRECiV proporciona una creación de informes intuitiva para producir repetidamente informes sofisticados basados en plantillas predefinidas.
Especificaciones
Conmutador de parada de campo/apertura manual con centrado
Fuente de luz: LED blanco (con Control de intensidad de luz [Light Intensity Manager]) / 12 V, lámpara halógena de 100 W/lámpara de mercurio de 100 W/fuente de guía de luz
Modo de observación: campo luminoso, campo oscuro, contraste de interferencia diferencial (DIC)*1, polarización simple*1, observación MIX (campo oscuro de cuatro direcciones)*2
*1 Se requiere el deslizador para uso exclusivo en esta observación. *2 Se requiere la configuración de observación MIX.
Fuente de alimentación LED integrada destinada a la iluminación de luz reflejada
Disco de intensidad de luz continuamente variable
Clasificación de entrada 5 V CC, 2,5 A (adaptador de CA de 100 a 240 V, CA de 0,4 A, 50 Hz / 60 Hz)
Iluminación de luz transmitida (requiere la fuente de alimentación opcional BX3M-PSLED)
Disco de intensidad de luz continuamente variable por voltaje
Clasificación de entrada 5 V CC, 2,5 A (adaptador de CA de 100 a 240 V, CA de 0,4 A, 50 Hz / 60 Hz)
Interfaz (comunicación) externa: requiere la caja de control opcional BX3M-CBFM.
Conector de portaobjetivos codificado × 1
Conector MIX Slider (U-MIXR-2) × 1
Conector de auricular (BX3M-HS) × 1
Conector de auricular (U-HSEXP) × 1
Conector RS-232C × 1, conector USB 2.0 × 1
Empuñadura de ajuste grueso (macrométrico) y fino (micrométrico); recorrido de enfoque de 9 mm (2 mm por encima y 7 mm por debajo de la superficie de la platina)
Carrera de empuñadura fina por rotación: 100 μm (escala mínima: 1 μm)
Recorrido de tornillo macrométrico (grueso) por rotación: 7 mm
Con anillo de ajuste de torsión para enfoque grueso
Con tope de límite superior para enfoque grueso
Muesca de campo luminoso/campo oscuro: de 5 a 6 piezas; tipo: manual/codificado; centrado: activado/desactivado
Platina de empuñadura derecha flexible; platina de empuñadura corta izquierda (cada recorrido X/Y: 50 × 50 mm, carga máxima 1 kg)
Platina deslizante (carga máx. 1 kg)
Conjunto de muescas de lágrima y largas
Temperatura ambiente: de 5 a 40 °C (de 45 a 100 °F)
Humedad relativa máxima: 80 % para temperaturas de hasta 31 °C (88 °F) [sin condensación]
En caso de más de 31 °C (88 °F), la humedad relativa disminuye de modo lineal a un 70 % con 34 °C (93 °F), 60 % con 37 °C
(99 °F), y 50 % con 40 °C (104 °F).
・Nivel de contaminación: 2 (conforme a la normativa IEC60664-1)
・Categoría de instalación/sobretensión: II (conforme a la normativa IEC60664-1)
・Fluctuación del voltaje de suministro: ± 10 %
Recursos
Notas de aplicación
Videos
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