Espectrofotómetro USPM RU W
El microespectrofotómetro con NIR USPM-RU-W de Evident brinda una espectrometría rápida y precisa a partir de una amplia serie de longitudes de onda de luz visible que va hasta el infrarrojo cercano. La capacidad de medir fácilmente la reflectividad de áreas extremadamente pequeñas o superficies curvas, cuya medición es imposible con espectrofotómetros comunes, convierte el USPM-RU W en un analizador idóneo para elementos ópticos o piezas electrónicas diminutas.
Microscopios industriales USPM-RU-W
Microespectrofotómetro con infrarrojo cercano
■ Reflectividad, espesor de película (film), color del objeto y transmitancia medidos en segundos
■ Amplia serie de longitudes de onda de 380x a 1050x
■ Mide la reflectividad en superficies curvas sin contacto.
M Medir la reflectividad
Mida la reflectividad de un área diminuta con un diámetro que varía entre 17 y 70 µm.
Ejemplo de medición de reflectividad para lente
Ejemplo de medición de reflectividad para curvatura de lente
Captura de pantalla relativa a la medición de espesor de película (
film
)
Medir el espesor de película (film)
Emplee los datos de reflectividad para medir el espesor de películas de una o varias capas desde aproximadamente 50 nm hasta 10 μm.
Captura de pantalla relativa a la medición cromática del objeto
Medir cromáticamente el objeto
Proyecte un diagrama de cromaticidad XY, un diagrama de cromaticidad L*a*b*, como también sus valores numéricos que se basan en los datos de reflectividad.
Medir los niveles de transmisión (disponible como opción)
Mida la transmitancia de una muestra plana por medio de la emisión de haces de luz paralelos de 2 mm que atraviesan la muestra hasta los elementos de aceptación de espectrofotometría.
Trayectoria óptica de la medición de transmitancia
Medir la reflectividad en ángulo de incidencia de 45° disponible como opción）
Mida la reflectividad en un ángulo de incidencia de 45 grados por medio de la reflexión de haces de luz paralelos en los elementos de aceptación de espectrofotometría.
Trayectoria óptica de la medición de reflectividad de 45°
Mediciones rápidas de superficies curvas y áreas diminutas
Ilustración que explica el sistema óptico
Proporcionar medidas a alta velocidad
Es posible desarrollar mediciones rápidas, con alta repetibilidad en segundos, utilizando una rejilla de campo plano, un sensor de línea y la espectrofotometría de alta velocidad.
Ilustración que explica la medición de reflectividad
Idóneo para la medición de reflectividad de piezas y lentes extremadamente pequeñas
Evident ha diseñado una lente de objetivo especializada que favorece mediciones sin contacto en un área de 17 a 70 μm de diámetro. Esta lente proporciona una alta repetibilidad incluso en superficies curvas o piezas electrónicas diminutas.
Principio de eliminación de la reflexión de fondo
No se requiere un procesamiento antirreflejo desde el fondo de la muestra
Es posible llevar a cabo mediciones precisas relativas a la reflectividad de la superficie sin pasar por costosos pasos que se requieren para evitar la reflexión de la superficie de fondo. La luz reflejada en la superficie de fondo disminuye gracias a una óptica especial dedicada a bloquear todo reflejo de luz fuera de foco (algo parecido a un sistema confocal). Independientemente del componente óptico, ya sea esférico, asférico o plano, el USPM‑RU‑W no requiere la preparación de muestras por tratamientos antirreflejos.
Métodos de medición disponibles para el espesor de películas
El espesor de una película monocapa o multicapa puede analizarse según los datos espectrales de reflectividad medidos. Es posible seleccionar el método de medición adecuado para su aplicación.
Resultado analítico de valores máximo y mínimo relativos al espesor de película
Método de valores máximo y mínimo (pico-valle)
Este método sirve para calcular el espesor de una película (film) en función de los períodos entre los valores altos y bajos espectrales de la reflectividad medida; es eficaz para medir películas de una sola capa (monocapa). No requiere una configuración compleja, por tanto, medir el espesor de películas resulta fácil.
Resultado analítico de la transformada de Fourier relativo al espesor de película
Método de la transformada de Fourier
Este método sirve para calcular el espesor de una película (film) basándose en los períodos entre los valores espectrales de reflectividad medidos; es eficaz para medir películas de una sola capa (monocapa) y varias capas (multicapa). El método de la transformada de Fourier elimina el ruido, lo que posibilita análisis cuando es difícil detectar los valores máximo y mínimo.
Resultado analítico de ajuste a curva relativo al espesor de película
Método de ajuste a curva
Este método sirve para calcular el espesor de una película (film) por medio de la estimación de qué estructura posee una menor diferencia entre la reflectividad espectral medida y la reflectividad calculada para tal estructura; es eficaz para medir películas de una sola capa (monocapa) y varias capas (multicapa). El método de ajuste a curva también permite analizar películas delgadas en las que los valores máximo y mínimo no son claros.
Diversas aplicaciones
Satisface diversas necesidades de medición a alta velocidad y con alta precisión.
Evaluar el revestimiento de lente según la reflectividad, el color y el espesor de película
Lentes para cámaras de teléfonos móviles
Lentes para proyectores
Lentes para cámaras digital
Lentes para anteojos (gafas/lentes)
Examinar la reflectividad y el espesor de película en piezas electrónicas diminutas
Paquetes de LED
Tarjetas de circuito impreso
Medir la reflectividad, el espesor de película y la transmitancia de elementos ópticos planos.
Filtros de color LCD
Películas ópticas
Reflectividad de elementos ópticos en un ángulo de incidencia de 45°.
Prismas
Espejos
Specifications
USPM-RU-W NIR Micro-Spectrophotometer
| Medición de la reflectividad | Medición de la transmitancia*1 | Medición de la reflectividad en 45 grados*1 | ||
| Nombre | Microespectrofotómetro con NIR | Conjunto de medición de transmitancia dedicado al microespectrofotómetro con NIR | Conjunto de medición de reflectancia de 45° dedicado al microespectrofotómetro con NIR | |
| Modelo | USPM-RU-W | |||
| Longitud de onda medida | De 380 a 1050 nm | |||
| Método de medición | Usa la comparación con una muestra de referencia para la medición | La transmisividad se mide al 100 % como estándar | Usa la comparación con una muestra de referencia para la medición | |
| Rango de medición | Consulte las características técnicas de la lente de objetivo a continuación | Aprox. 2,0 mm de diámetro | ||
| Repetibilidad de la medición (3σ) *2 | Medición de la reflectividad | Al usar las lentes de objetivo de 10x y 20x | ±0,02 % o menos (de 430 a 1010 nm) ±0,2 % o menos (a excepción de lo descrito a continuación) |
±0,3 % o menos (de 430 a 1010 nm) ±1,0 % o menos (a excepción de lo descrito a continuación) |
| Al usar la lente de objetivo 40x | ±0,05 % o menos (de 430 a 950 nm) ±0,5 % o menos (a excepción de lo descrito a continuación) |
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| Medición del espesor de película (film) | ±1 % | - | ||
| Resolución de pantalla asociada a longitud de onda | 1 nm | |||
| Accesorio de iluminación | Fuente de luz halógena dedicada, JC12V 55W (vida útil promedio: 700 horas) |
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| Platina de desplazamiento | Tamaño de la superficie de carga: 200 (ancho) x 200 (profundidad) mm Carga soportada: 3 kg Rango de funcionamiento: (XY) ±40 mm, (Z) 125 mm |
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| Platina inclinada | － | Tamaño de la superficie de carga: 140 (ancho) x 140 (profundidad) mm Carga soportada: 1 kg Rango de funcionamiento: (XT) ±1*, (YT) ±1* |
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| Peso | Estructura principal: Aprox. 26 kg (no incluye el/la PC) | Estructura principal: Aprox. 31 kg (no incluye el/la PC)*3 | ||
| Caja de alimentación de control. Aprox. 6,7 kg | ||||
| Dimensiones | Estructura principal: 360 (ancho) x 446 (profundidad) x 606 (alto) mm | Estructura principal: 360 (ancho) x 631 (profundidad) x 606 (alto) mm | ||
| Unidad de control/alimentación: 250 (anch.) x 270 (prof.) x 125 (alt.) mm. Las partes que sobresalen no están incluidas. | ||||
| Especificaciones de la fuente de alimentación | Especificaciones de entrada: CA de 100 a 240 V (110 V), 50/60 Hz | |||
| Entorno operativo | Posicionamiento horizontal no sujeto a vibraciones Temperatura: de 15 ºC a 30 ºC Humedad: de 15 % a 60 % de humedad relativa (HR) [ausencia de condensación de rocío] |
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*1 Unidad opcional. *2 Medido según las condiciones de medición de nuestra empresa. *3 El peso total entre el conjunto de medición de la transmisividad y el conjunto de medición de la reflectividad de 45°, que están instalados, es de aprox. 33 kg.
Lente de objetivo
*4 Difiere de la A. N. de la lente de objetivo
*5 Diámetro del punto.
Software
Software de análisis espectral dotado de una interfaz del usuario fácil de usar
Ejemplo de un diseño en la interfaz del usuario
Visualización inteligible
Cambie el diseño, la posición, el tamaño y la visibilidad de cada ventana según sus fines de medición y las necesidades de los usuarios.
Gráfico de reflectividad/transmitancia, texto de reflectividad/transmitancia, diagrama de cromaticidad XY/L*a*b*
Diversos resultados de medición
Es posible visualizar en una sola pantalla los valores de los gráficos espectrales y texto relativos a la reflectividad/transmitancia, de la medición cromática (a través de diagramas de cromaticidad XY y L*a*b*) y de la medición de espesor de película, con el fin de favorecer un mejor entendimiento.
Fácil ajuste de posición y ajuste de enfoque
Posicionar el punto de medición es fácil mediante el uso de una ventana de enfoque, para la alineación del eje Z, y la ventana de centrado (CT) para la alineación de los ejes X e Y.
Enfoque
Ajuste de posición
Parámetros dedicados al trabajo, capas, gráficos y configuración
Flexibilidad en cada aplicación
El software USPM‑RU‑W puede configurarse de manera a alcanzar un rendimiento óptimo para muestras específicas.
Ejemplo de la medición de reflectividad con la función de configuración de tolerancia
Función de configuración de tolerancia para una aceptación o rechazo de modo automatizado
El sistema puede ser configurado para proporcionar automáticamente indicaciones de aceptación y rechazo (pasa/no pasa).