Microscopio vertical polarizado BX53P
El microscopio de polarización BX53 P brinda un rendimiento excepcional en observaciones con luz polarizada gracias a sus objetivos avanzados UIS2 de corrección al infinito y a su diseño óptico exclusivo. Versátil y ampliable, el microscopio acepta una amplia variedad de compensadores y accesorios dedicados a la observación y medición en diversas aplicaciones.
BX53-P
Descripción
Una nueva referencia para observaciones bajo luz polarizada
El microscopio de polarización BX53-P ofrece un rendimiento superior en aplicaciones de luz polarizada mediante la combinación del sistema óptico de corrección infinita UIS2 y un diseño óptico exclusivo. Una amplia línea de compensadores compatibles dota al microscopio de polarización BX53-P de versatilidad suficiente para controlar las observaciones y aplicaciones de medición en prácticamente cualquier campo.
La óptica UIS2 ofrece excelentes posibilidades de ampliación
Maximizar las ventajas de la corrección infinita permite que el sistema óptico UIS2 prevenga el deterioro del rendimiento del microscopio, y elimina los factores de magnificación, incluso cuando en la trayectoria de la luz se introducen accesorios de polarización como analizadores, placas retardadoras o compensadores. El microscopio BX53-P también acepta accesorios intermedios disponibles para los microscopios de la serie BX3, como también cámaras y sistemas de creación de imágenes.
Estructura zonal de plagioclasa en diorita de cuarzo.
*Las escalas indican el tamaño real de las muestras
Textura óptica de MBBA
*Las escalas indican el tamaño real de las muestras
Lente de Bertrand para observaciones de tipo conoscópico y ortoscópico
Con un accesorio auxiliar para la observación conoscópica, el cambio entre una observación de tipo ortoscópico y conoscópico es simple. De tipo enfocable, esta observación permite visualizar claramente los patrones de interferencia del plano focal posterior. La lente de Bertrand es enfocable para visualizar claramente los patrones de interferencia del plano focal posterior. Gracias al tope de campo es posible obtener constantemente imágenes nítidas de tipo conoscópico.
Amplia variedad de compensadores y placas de onda
Existen seis compensadores diferentes para medir la birrefringencia en secciones finas de rocas y minerales. Los niveles de retraso de medición varían de 0 a 20λ. Para facilitar la lectura de las mediciones y obtener un alto contraste de las imágenes, los compensadores Berek y Senarmont pueden ser usados para cambiar el nivel de retraso en el campo de visión completo.
MEASURING RANGE OF COMPENSATORS
| Compensator | Measurement Range | Applications |
|---|---|---|
| Thick Berek (U-CTB) | 0–11000 nm (20λ) |
Measurement of high retardation level (R*>3λ), (crystals, macromolecules,fi ber, etc.) |
| Berek (U-CBE) | 0–1640 nm (3λ) |
Measurement of retardation level (crystals,macromolecules, living organisms, etc.) |
| Senarmont Compensator (U-CSE) | 0–546 nm (1λ) |
Measurement of retardation level (crystals, living organisms, etc.); enhancement of image contrast (living organisms,etc.) |
| Brace-Koehler Compensator1/10λ (U-CBR1) | 0–55 nm (1/10λ) |
Measurement of low retardation level (living organisms, etc.) |
| Brace-Koehler Compensator1/30λ (U-CBE2) | 0–20 nm (1/30λ) |
Measurement of image contrast (living organisms,etc.) |
| Quartz Wedge (U-CWE2) | 500–2200 nm (4λ) |
Approximate measurement of retardation level (crystal, macromolecules, etc.) |
*R = retardation level
For more accurate measurement, we recommend that compensators (except U-CWE2) be used together with the interference fi lter 45-IF546
Mínima tensión óptica
Nuestros objetivos de luz polarizada reducen la tensión interna al mínimo. Esto significa un valor de factor de extinción (EF) aún más elevado para un óptimo contraste de imagen.
Platina giratoria robusta y precisa
El mecanismo de centrado y rotación que se encuentra instalado en la platina giratoria permite girar la muestra cómodamente. Además, se ha incorporado un mecanismo de parada por cada 45 grados para obtener medidas precisas. Con la platina opcional de mecanismo dual, es posible efectuar desplazamientos seguros en dos ejes (X e Y).
Platina mecánica dual
Especificaciones
| Método de observación | Campo claro | ✓ | |
| Luz polarizada | ✓ | ||
| Luz polarizada simple | ✓ | ||
| Enfoque | Mecanismo de enfoque | Enfoque de platina | ✓ |
| Platina | Mecánica | Platina giratoria de precisión | Rotación: 360 grados |
| Condensador | Manual | Condensador polarizador | A. N. 0,9/D. T. 1,3 mm (cristal deslizante 1,5 mm) (de 4X a 100X) |
| Tubos de observación | Campo amplio (FN 22) | Trinocular | ✓ |
| Trinocular inclinable | ✓ | ||
| Dimensiones (ancho × profundidad × altura) | 274 (A) x 436 (P) x 535 (Al.) mm | ||
| Peso | 16 kg | ||