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Utilité de l’imagerie proche infrarouge pour l’inspection des composants électroniques et des semi-conducteurs
By Robert Bellinger - 21 mars, 2023
Acquisition d’images de haute qualité à travers le silicium sans endommager le produit fini
By Robert Bellinger - 12 septembre, 2017
Expertise balistique : les microscopes confocaux à balayage laser pour l'identification des empreintes de la tranche de culasse
By Robert Bellinger - 11 juillet, 2017
Utilisation d’un logiciel d’analyse d’images pour détecter automatiquement les particules dans le tellurure de cadmium-zinc
By Robert Bellinger - 16 mai, 2017
Microscopie numérique pour l’assurance et le contrôle de la qualité : repousser les limites de l’inspection
By Robert Bellinger - 13 décembre, 2016