Système d’inspection CIX100

Name: Système de contrôle de la propreté et d’analyse de particules CIX100 | Evident Scientific | Olympus
Brand: Evident
SKU: cix100
Availability: InStock

Le système d’inspection CIX100 est une solution clé en main dédiée aux fabricants respectant les normes de qualité les plus élevées en matière de propreté technique des composants manufacturés. Acquérir, traiter et documenter rapidement des données d’inspection de la propreté technique afin de se conformer aux normes de l’entreprise et aux normes internationales.

Solution idéale pour les laboratoires à rendement élevé, le CIX100, associé au logiciel PRECiV™ CIX, offre une analyse de propreté technique fiable, à une vitesse inégalée dans l’industrie. L’interface guide les utilisateurs à chaque étape, permettant même aux opérateurs novices d’acquérir rapidement et facilement des données de propreté technique. Les résultats conformes sont adaptés, en un seul clic, aux normes de l’entreprise et du secteur, telles que ISO 16232 et VDA 19.

Système d’inspection CIX100

Simplifiez votre propreté technique

La propreté des composants, des liquides et des pièces est essentielle à chaque étape de la fabrication, car même des particules de taille micrométrique peuvent réduire la durée de vie des composants ou compromettre leurs performances. Des directives internationales et nationales strictes définissent la manière dont il convient de mesurer et documenter la contamination, exigeant une connaissance détaillée du nombre de particules, de leur distribution granulométrique et de leurs caractéristiques.

Le système d’inspection CIX100 permet de réaliser ce processus en toute confiance ; il offre une solution clé en main à haut débit qui répond facilement aux normes de propreté modernes. Grâce à une IA d’apprentissage profond avancée, il améliore l’identification des particules, révélant des informations qui aident les équipes à garantir la qualité dès le départ.

Processus d’analyse de la propreté technique

Procédure standard d’inspection de la propreté : préparation (étapes 1 à 3) et investigation (étapes 4 à 6)

Système d’inspection de propreté technique CIX100

Solution clé en main fiable pour la propreté technique

Le système CIX100 est une solution clé en main conçue pour répondre aux besoins des inspections automatisées de la propreté. Chaque composant est optimisé pour la précision, la reproductibilité, la répétabilité et une intégration transparente, afin de garantir des données fiables dans un système à haut débit. L’automatisation des tâches critiques permet d’accélérer les inspections tout en minimisant les erreurs humaines et le risque de contamination de l’échantillon.

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Excellente qualité optique

Nos objectifs UIS2 offrent des performances optiques élevées pour une excellente précision de mesure et d’analyse. Une source lumineuse dédiée maintient une température de couleur constante, optimisée pour l’inspection de la propreté. Cette performance permet des inspections rapides de zones d’échantillonnage circulaires et rectangulaires.

Objectifs UIS2 utilisés pour l’analyse de la propreté technique

Stabilité mécanique

L’alignement de la trajectoire optique, la tourelle porte-objectifs motorisée et la caméra sont protégés par un cache afin d’éviter toute modification accidentelle. Pour une plus grande stabilité, toutes les pièces mobiles ont été retirées de la trajectoire optique.

Vérification régulière du système

Le système préconfiguré et pré-étalonné comporte des rappels pour les vérifications autonomes automatiques du système grâce à la lame d’étalonnage intégrée qui contribue à assurer une vérification régulière du système.

Lame d’étalonnage intégrée utilisée dans l’analyse de la propreté technique

Reproductibilité et répétabilité

Le système préconfiguré et pré-étalonné, la gestion des droits des utilisateurs et les vérifications autonomes régulières du système contribuent à garantir l’exactitude des paramètres des données d’inspection reproductibles, indépendamment de l’opérateur ou de l’instrument. Cela permet à plusieurs services et sites d’appliquer les mêmes normes de qualité à différents endroits.

Polyvalence pour les méthodes d’échantillonnage courantes

Le système CIX100 prend en charge les techniques d’échantillonnage avec des zones d’inspection circulaires ou rectangulaires. Vous avez le choix entre des porte-échantillons à fond blanc ou noir pour membranes filtrantes de 25 mm, 47 mm et 55 mm de diamètre, des porte-échantillons pour prélèvement sur ruban adhésif, des porte-échantillons à surface plane pour les applications métallurgiques et des porte-échantillons pour pièges à particules.

Porte-échantillons circulaires et rectangulaires utilisés pour l’analyse de la propreté technique

En haut et au milieu : porte-échantillons circulaires à fond blanc et noir pour membranes filtrantes de 25 mm, 47 mm et 55 mm de diamètre. En bas à gauche : porte-échantillon circulaire pour pièges à particules. En bas à droite : porte-échantillon rectangulaire pour prélèvement sur ruban adhésif.*

^{*La disponibilité du support pour prélèvement sur ruban adhésif peut varier selon la région.}

Guidage intuitif

logiciel PRECiV CIX pour analyse de la propreté technique

Simple, quelle que soit l’expérience

Le logiciel PRECiV™ CIX fournit des instructions étape par étape, facilitant les inspections de propreté technique quel que soit le niveau d’expérience. Des processus intuitifs et une gestion des droits des utilisateurs améliorent la confiance dans les résultats tout en réduisant le temps de cycle, le coût par test et les erreurs des utilisateurs. Il en résulte un système optimisé pour la productivité et répondant à des normes de qualité élevées.

Processus guidés

Un processus intuitif guide les utilisateurs à travers trois étapes : inspection de l’échantillon, analyse des résultats et rédaction d’un rapport. De la numérisation de l’échantillon à la création de rapports conformes, l’automatisation maximale améliore la facilité d’utilisation afin que les utilisateurs de tous niveaux puissent effectuer des inspections efficaces et produire des données fiables.

Processus guidé pour l’analyse de la propreté technique

Processus intuitif avec de grands boutons faciles sur lesquels il est facile de cliquer à l’aide d’une souris ou d’appuyer sur l’écran tactile. Étapes du processus de gauche à droite : montage de l’échantillon, modification des paramètres, lancement de l’inspection, analyse des résultats et création du rapport.

Outils de gestion des droits des utilisateurs

Les administrateurs peuvent contrôler quels utilisateurs ont accès aux différentes parties du système, aidant ainsi les utilisateurs débutants à rester concentrés sur leur tâche. Cela permet également d’empêcher toute modification accidentelle des paramètres critiques, tels que l’étalonnage et les données sélectionnées pour le rapport généré automatiquement..

Mode microscope PRECiV CIX

Exemple de solution d’analyse de matériaux utilisée dans le logiciel PRECiV CIX

Microscopie de pointe

Le mode microscope PRECiV CIX* vous permet de quitter le processus dédié à l’inspection de la propreté pour effectuer une imagerie microscopique, y compris l’imagerie à mise au point étendue (EFI) et la mesure 2D.

Élargissez les capacités du mode microscope grâce aux solutions d’analyse de matériaux en option, telles que le dimensionnement du grain, la fonte et l’analyse de phase. Si nécessaire, ces solutions peuvent être améliorées avec des fonctions personnalisées pour chaque utilisateur ou application.

^{*Le mode microscope est une solution en option dans PRECiV CIX.}

Analyse rapide

Analyse en temps réel des particules métalliques et non métalliques

Analyse et évaluations rapides en temps réel

Grâce à une méthode de polarisation innovante, le système CIX100 assure l’acquisition d’images et une analyse en direct précise des particules réfléchissantes (métalliques) et non réfléchissantes (non métalliques), allant de 2,5 µm à 42 mm, le tout en un seul balayage.

Les particules comptées et triées sont affichées en direct et classées par taille pendant le balayage, ce qui permet de prendre des décisions rapides en cas d’échec du test.

Balayage tout-en-un pour haut débit

La méthode de polarisation innovante, basée sur la séparation des longueurs d’onde et la couleur, détecte à la fois les particules réfléchissantes (métalliques) et non réfléchissantes (non métalliques) en un seul balayage, offrant de multiples avantages pour les laboratoires à haut débit :

Détection des particules réfléchissantes et non réfléchissantes deux fois plus rapidement que les méthodes traditionnelles qui nécessitent deux images distinctes.
Élimination des composants mobiles de la trajectoire optique, comme le polariseur, qui pourraient affecter la stabilité du système et entraîner des résultats incorrects.
Augmentation du nombre de particules inspectées, réduisant ainsi le coût par test.

Le système d’illumination du CIX100 sépare les particules réfléchissantes (métalliques) et non réfléchissantes (non métalliques) en un seul balayage.

Le système d’illumination innovant sépare les particules réfléchissantes (métalliques) et non réfléchissantes (non métalliques) en un seul balayage.

Analyse des particules en couleur réelle

Activez le mode couleurs réelles pour observer les particules dans leurs couleurs authentiques, ce qui offre davantage d’informations pour déterminer si la particule est métallique ou non métallique.

Le balayage tout-en-un montre que toutes les particules réfléchissantes apparaissent en bleu sous polarisation, indiquant qu’elles sont métalliques. En mode couleur réelle, la couleur bleue des particules réfléchissantes est absente, révélant les véritables couleurs de toutes les particules dans l’image en champ clair. Les matériaux qui sont réellement bleus restent bleus, tandis que les métaux présentent leur éclat métallique et les reflets caractéristiques du matériau.

Ces images utiles vous aident à mieux comprendre la nature de chaque particule et à confirmer rapidement le type de particule.

À gauche : Particule observée par le système CIX100 lors de la détection et de l’analyse. À droite : La même particule observée en couleur réelle.

Particule telle qu’observée par le système lors de la détection et de l’analyse. La couleur bleue indique que cette particule est métallique. La même particule observée en mode analyse, en couleur réelle, avec le filtre U-ANT et le mode de correction des couleurs. La particule est confirmée comme étant métallique.

Les particules de grande taille sont automatiquement combinées et analysées.

Gestion intelligente des particules

Le CIX100 offre un traitement et une classification en direct des petites et grandes particules (de 2,5 μm à 42 mm) selon les normes internationales et reconstruit automatiquement les images des particules de grande taille. Il est possible d’analyser les particules sombres sur un fond clair, et inversement.

Identification de la couverture du filtre

L’image d’ensemble de l’échantillon est créée au début de l’inspection et affiche l’ensemble du filtre à faible grossissement, permettant ainsi d’identifier la couverture du filtre ou les amas de particules avant le début de l’inspection. Le système informe automatiquement les utilisateurs si l’affectation du filtre est supérieure au niveau souhaité afin qu’ils puissent réagir rapidement.

L’image d’aperçu identifie l’occupation du filtre et les amas de particules.

Retour direct des résultats

Les contaminants sont automatiquement analysés et triés en classes de taille définies par la norme sélectionnée, puis codés par couleur pour indiquer la classe dépassant une limite prédéfinie. Les nombres de particules acceptables par classe de taille sont affichés, permettant une validation rapide de l’échantillon (OK) ou son rejet (NOK), avant même que toute la membrane soit balayée.

Conformément aux exigences des industries de la mobilité électrique et des dispositifs médicaux, le logiciel PRECiV CIX vous permet d’évaluer les limites d’approbation pour chaque type de particule. Un signal sonore peut être activé pour avertir les utilisateurs lorsque l’approbation indique « NOK » ou lorsque l’inspection est terminée.

Analyse allant au-delà des algorithmes classiques

Grâce à la technologie d’apprentissage profond TruAI intégrée, le système CIX100 peut analyser des images au-delà des algorithmes classiques. Appliquez un réseau neuronal entraîné à vos échantillons pour une analyse plus reproductible et plus robuste. La solution TruAI vous permet de faire la distinction entre différents types de particules, comme les particules réfléchissantes et non réfléchissantes.

Solution TruAI sur le système d’inspection CIX100

Outils intuitifs pour la révision des données d’inspection de propreté sur le système CIX100

Aperçus des données pour des décisions plus rapides

Le système CIX100 combine des outils intuitifs pour la révision des données d’inspection avec une analyse rapide et guidée des particules. La reclassification en un clic garantit la flexibilité et prend en charge les normes internationales. Les images miniatures des contaminants détectés permettent d’accéder directement aux mesures de taille afin de faciliter l’analyse des données.

Les résultats relatifs aux contaminants sont automatiquement mis à jour pour toutes les vues et classes de taille pendant le processus d’analyse. Cela permet de gagner du temps grâce à des représentations claires de tous les résultats d’inspection pertinents.

Analyse des tendances

L’analyse statistique des données peut être effectuée dans le temps et affichée graphiquement.

Aperçu rapide des données d’inspection sur le système d’inspection CIX100

Aperçu des données d’inspection

Présentation claire des images, des données et des résultats pour une prise de décision immédiate concernant le retraitement.
Affichage des données d’inspection en un coup d’œil dans différentes vues sélectionnables
Les images des particules sont organisées de la plus grande à la plus petite pour tous les types de particules (réfléchissantes ou non réfléchissantes).

Analyse, correction et recalcul

Lors d’une inspection de la propreté technique, il est généralement recommandé de procéder à une vérification et à une analyse manuelles des résultats ; l’interface permet une correction interactive rapide et facile des données relatives aux particules.

Correction interactive des données relatives aux particules sur le système d’inspection CIX100

Solution de mesure de hauteur

Le système CIX100 offre une fonction d’imagerie à mise au point étendue (EFI) qui capture des images de contaminants et de particules dont la hauteur dépasse la profondeur de champ de l’objectif et les empile pour créer une image entièrement nette.

Améliorez encore le système CIX100 grâce à notre solution de mesure de hauteur, composée d’un objectif 20X* et d’un logiciel spécial, pour répondre aux exigences VDA 19 en matière de mesures de hauteur. Pour certaines particules, la mesure est effectuée soit automatiquement, soit manuellement. La valeur calculée est ajoutée en tant que champ de données supplémentaire dans la feuille de résultats.

^{*À commander séparément de la licence de solution de mesure de hauteur.}

Résultats conformes

Rapports conformes et personnalisables pour l’analyse de la propreté technique

Les rapports peuvent être personnalisés pour répondre à chaque besoin.

Documentation numérique en un clic

Générez des rapports professionnels en un clic grâce à des modèles prédéfinis conformes aux normes de l’industrie, comme ISO et VDA, et adaptez facilement les modèles et les rapports aux réglementations de l’entreprise.

Exportez les résultats vers Microsoft Word ou exportez-les directement au format PDF pour faciliter le partage des données par e-mail. Le système CIX100 peut également archiver les rapports et les données afin de tenir de registres et analyser les tendances.

Exportation aisée des données

Créez des rapports au format Microsoft Word ou PDF, selon votre préférence, et exportez facilement les résultats des particules et de leur classification ainsi que l’analyse des tendances vers Microsoft Excel. La taille des fichiers de rapport est optimisée pour un partage efficace des données.

Il est possible d’acquérir et de traiter des images de contaminants pour confirmer des mesures manuelles et améliorer la documentation.

Stockage à long terme des données

Accédez rapidement à tous les échantillons archivés ainsi qu’à leurs données et rapports associés pour révision ou diffusion. Tous les rapports et données d’inspection sont automatiquement enregistrés et archivés pendant une période déterminée.

Caractéristiques techniques

Matériel

Microscope	CIX100	Mise au point motorisée	Mise au point motorisée coaxiale avec joystick à trois axes Course de mise au point 25 mm Course fine de 100 μm par rotation Hauteur maximale de montage du support de platine : 40 mm Vitesse de mise au point 200 μm/s Mise au point automatique logicielle activée Carte de mise au point multipoint personnalisable
		Système d’illumination	Éclairage LED intégré Mécanisme d’éclairage innovant avec détection simultanée des particules réfléchissantes et non réfléchissantes Intensité lumineuse contrôlable par logiciel
		Dispositif d’imagerie	Caméra couleur CMOS USB 3.0 Taille des pixels sur puce : 2,2 × 2,2 µm
		Taille de l’échantillon	L’échantillon standard est une membrane filtrante d’un diamètre de 47 mm ; des porte-filtres pour membranes de 25 mm ou 55 mm de diamètre, ainsi que des porte-échantillons personnalisés, sont disponibles.
Tourelle porte-objectifs	Type motorisé	Tourelle porte-objectifs motorisée	Tourelle porte-objectifs motorisée à six positions avec trois objectifs UIS2 préinstallés PLAPON 1,25X utilisé pour l’aperçu Le MPLFLN 5X est utilisé pour détecter les particules de plus de 10 µm Le MPLFLN 10X est utilisé pour détecter les particules de plus de 2,5 µm
Tourelle porte-objectifs	Type motorisé	Contrôlé par logiciel	Le grossissement de l’image et la relation entre les pixels et la taille sont connus à chaque instant. Les objectifs sélectionnés sont utilisés à des étapes spécifiques du processus de mesure, et leur positionnement est automatique.
Platine	Platine motorisée X, Y	Platine motorisée X, Y	Mouvement contrôlé par des moteurs pas à pas Plage maximale : 130 × 79 mm Vitesse maximale : 240 mm/s (pas de vis à billes 4 mm) Répétabilité : < 1 µm Résolution : 0,01 µm Contrôlable avec un joystick à trois axes
	Platine motorisée X, Y	Contrôlé par logiciel	La vitesse de balayage dépend du grossissement utilisé ; avec un grossissement x10, le temps de balayage est inférieur à 10 minutes. L’alignement de la platine est effectué lors de l’assemblage en usine
	Guide-objet	Porte-échantillon	Le porte-membrane est spécialement conçu pour éviter toute rotation indésirable de la membrane lors de l’installation. La membrane est aplatie mécaniquement par le porte-membrane Aucun outil n’est nécessaire pour fixer le cache Porte-échantillon pour membranes filtrantes de 25 mm, 47 mm et 55 mm de diamètre Porte-échantillon pour pièges à particules, consommables pour pièges à particules et échantillons par prélèvement sur ruban adhésif
	Guide-objet	Dispositif standard pour particules (PSD)	Échantillon de référence utilisé pour valider la mesure du système Échantillon utilisé dans la fonction intégrée du système de vérification pour contrôler le bon fonctionnement du CIX100 Le PSD est toujours attribué à l’emplacement 2 sur la platine.
	Insert de platine	Insert de platine à 2 positions	Insert de platine dédié au positionnement correct du porte-échantillon et du PSD
Contrôleur	Poste de travail	Poste de travail haute performance préinstallé	HP Z4G4, Windows 10 Professionnel 64 bits (anglais) 16 Go de RAM, 256 Go de SSD et 4 To de stockage Adaptateur vidéo 2 Go Microsoft Office 2019 (anglais) installé Fonctionnalités réseau, clavier QWERTY anglais, souris optique 1 000 dpi
		Cartes d’extension	Contrôleur motorisé, RS232 série et USB 3.0
		Choix de la langue	La langue par défaut du système d’exploitation et de Microsoft Office peut être modifiée par l’utilisateur
	Affichage à panneau tactile	Écran mince de 23 pouces	Résolution 11 920 × 1 080 optimisée pour une utilisation avec le logiciel CIX
Alimentation		Puissance nominale	Adaptateur secteur (2), contrôleur et châssis de microscope (4 prises nécessaires) Entrée : 100-240 Vc.a. 50/60 Hz, 10 A
Alimentation		Consommation électrique	Contrôleur : 700 W ; écran : 56 W ; microscope : 5,8 W ; boîte de commande 7,4 W Total : 769.2 W
Dessin		Dimensions (L × P × H)	Environ 1 300 mm × 800 mm × 510 mm (51,2 po × 31,5 po × 20,1 po)
Dessin		Poids	44 kg (97 lb)

Limitations environnementales du système

Utilisation normale	Température	10 °C à 35 °C (50 °F à 95 °F)
Utilisation normale	Humidité	30 à 80 %
Pour les réglementations de sécurité	Environnement	Usage intérieur
	Température	5 °C à 40 °C (41 °F à 104 °F)
	Humidité	Maximum 80 % (jusqu’à 31 °C [88 °F]) (sans condensation) L’humidité utilisable diminue linéairement à mesure que la température augmente au-dessus de 31 °C (88 °F) 70 % (34 °C [93 °F]) à 60 % (37 °C [98 °F]) à 50 % (40 °C [104 °F])
	Altitude	Jusqu’à 2 000 m (6 562 pi)
	Niveau horizontal	Jusqu’à ±2°
	Stabilité de l’alimentation et de la tension	±10%
	Niveau de pollution (CEI 60664)	2
	Catégorie de tension globale (CEI 60664)	II

Logiciel

Logiciel	PRECiV CIX 3.1	Logiciel de processus dédié à l’inspection de la propreté technique
Langues	Interface graphique	Interface graphique : anglais, français, allemand, espagnol, japonais, chinois simplifié et coréen
Langues	Aide en ligne	Aide en ligne : anglais, français, allemand, espagnol, japonais, chinois simplifié et coréen
Gestion des licences		Licence logicielle activée par carte de licence (déjà activée lors de l’installation)
Gestion des utilisateurs		Le système peut être connecté à un réseau pour l’administration du domaine La gamme de fonctions peut être sélectionnée en fonction de l’utilisateur authentifié
Image en temps réel	Affichage en mode couleur	Les particules sont analysées en bleu pour les particules métalliques, tandis que les particules non métalliques conservent leur couleur d’origine.
	Méthode d’ajustement à la fenêtre	L’image est toujours affichée en pleine page.
	Détection en temps réel	Les particules sont analysées dès leur capture afin d’accélérer le traitement. L’utilisateur peut interrompre le processus si le résultat de la mesure n’est pas satisfaisant.
	Classification en direct	Les particules sont classées dès leur détection. Les classes granulométriques sont identifiées sur l’interface utilisateur pendant l’acquisition en direct.
	Mode microscope	Le mode microscope est accessible pour l’imagerie microscopique. Accès facultatif aux solutions d’analyse des matériaux (non incluses).
Capture d’images et mesures manuelles	Collecte de clichés utilisateur	En mode d’analyse, il est possible d’acquérir des images individuelles à partir de n’importe quelle position sur l’échantillon, ainsi que d’acquérir des images en mode d’observation en direct (à partir d’une image directe) ou en mode de visualisation de l’échantillon (à partir de données enregistrées). Les images peuvent être enregistrées dans des fichiers .tif, .jpg ou .png avec une résolution standard de 1 000 × 1 000 pixels. Les clichés peuvent être associés à la particule détectée et utilisés ultérieurement dans le rapport d’analyse. Des clichés de particules peuvent être acquis automatiquement en mode EFI (imagerie à mise au point étendue). Les enregistrements effectués en mode EFI peuvent être utilisés dans le rapport analytique.
	Mesures manuelles	Il est possible d’effectuer des mesures de distance arbitraires sur une image acquise. Les mesures arbitraires peuvent être renommées et leur couleur modifiée. Des mesures arbitraires et une échelle graphique sont incrustées dans l’image lors de son enregistrement.
Contrôle matériel	Platine motorisée XY	Fonctionnement et contrôle du joystick par le logiciel Inspection des zones d’échantillonnage circulaires et rectangulaires Repositionnement automatique ou manuel sur des particules sélectionnées
	Tourelle porte-objectifs motorisée	Sélection par logiciel uniquement
	Mise au point motorisée	Contrôle par joystick Mise au point automatique par logiciel disponible Mise au point automatique prédictive utilisant une carte de mise au point multipoint
Contrôle du système	Vérification du système	Le système est vérifié en mesurant les paramètres du dispositif standard de particules. Une valeur de qualité OK ou NOK est produite.
	Objectif sélectionnable	Le contrôle du système ne peut être effectué qu’avec l’objectif de travail (au moins un objectif doit être sélectionné). Le contrôle du système est effectué avec des objectifs 5X ou 10X, ou les deux.
Normes de propreté technique	Normes prises en charge :	ASTM E1216-11:2016, ISO 4406:2021 ; ISO 4407:1999 ; ISO 4407:2002 [cumulatif et différentiel] ; ISO 11218:2017 ; ISO 12345:2013 ; ISO 14952:2003 ; ISO 16232-10:2007 (A, N, et V) ; ISO 16232:2018 (A, N et V) ; ISO 21018:2008 ; DIN 51455:2020 [70 % et 85 %] ; NAS 1638:1964 ; NF E 48-651:1986 ; NF E 48-655:1989 ; SAE AS4059:2020 ; VDA 19.1:2015 (A, N et V) ; VDA 19.2:2015
	Totalement conforme aux recommandations VDA 19.1 et VDA 19.2	Les seuils sont automatiquement réglés sur les valeurs VDA recommandées.
	Identification de la famille de particules	Les particules peuvent être classées selon leur type (non réfléchissantes, réfléchissantes, fibres ou autres). Possibilité de classer les particules détectées grâce à la technologie d’apprentissage profond (IA).
	Normes personnalisées	Les normes définies par l’utilisateur peuvent être facilement définies. Les paramètres de mesure des particules comprennent la taille des particules filiformes et la taille des particules compactes selon la norme DT 55-83.
	Configuration d’inspection	Le système permet aux utilisateurs de charger, définir, copier, renommer, supprimer et enregistrer une configuration d’inspection. Les normes et les modèles de rapports peuvent également être stockés et rappelés. Il est possible d’inverser le seuil de détection afin de détecter des particules brillantes sur un fond sombre. Il est possible d’acquérir plusieurs échantillons en séquence. Il est possible de fixer des limites d’approbation pour chaque type de particule. Il est possible d’étendre les CCC (codes de classe de contamination) pour les différents types de particules. Chaque échantillon peut être inspecté selon une configuration particulière.
Vue mosaïque des particules	Affiche les particules détectées sous forme de mosaïque pour une meilleure navigation	La position de chaque particule peut être récupérée en double-cliquant sur la mosaïque. Chaque mosaïque est adaptée à la taille réelle des particules.
Stockage de la membrane entière	Le filtre complet est stocké	L’analyse hors ligne permet aux utilisateurs de sélectionner une norme différente pour l’affichage des résultats.
Exportation de données	Sauvegarde des données	Les données d’inspection peuvent être exportées vers un tableau Excel (.xlsx). Tous les tableaux disponibles dans le logiciel peuvent également être exportés dans Excel.
Analyse des tendances	Analyse des tendances sur plusieurs échantillons (outil SQC intégré)	Les données par classe de taille peuvent être affichées. Les données peuvent être représentées graphiquement en fonction du temps, de l’échantillon et de l’identifiant de mesure. L’échelle peut être sélectionnée (log-normale, log-log). Les points de données peuvent être extraits et exportés vers une feuille de calcul. Le tableau peut être exporté au format Q-DAS (.dfq). Tous les tableaux disponibles dans le logiciel peuvent également être exportés dans Excel.
Modification de particules	Les particules peuvent être modifiées lors de la révision.	Ajouter, supprimer, fusionner ou diviser des particules à l’aide de lignes ou de polylignes. Modifier le type de particule.
Rapports dynamiques	Des rapports analytiques professionnels peuvent être produits à l’aide d’Office 2024 et de Microsoft 365 Home and Business (licence non incluse)	Les modèles sont personnalisables avec précision Les utilisateurs peuvent choisir de placer les images après le tableau ou de les regrouper lorsqu’ils sélectionnent différentes familles de particules.

Solution de mesure de hauteur

PV-CIX-S-HM

Mesure automatique ou manuelle de la hauteur des particules sélectionnées

Solution logicielle en option qui pilote le système de mise au point motorisé du sommet à la base des particules sélectionnées. La hauteur de la particule est ensuite calculée à partir de la différence entre les coordonnées Z supérieure et inférieure.
Commander un objectif MPLFLN 20X séparément.
Il est possible de sélectionner plusieurs particules pour une mesure automatique de la hauteur à plusieurs positions.

Fonctions de microscopie avancée

●: fonctionnalité standard ; ○ : fonctionnalité en option

Acquisition d’image

Amélioration étendue de l’image grâce au HDR

●

Amélioration de l’image en direct grâce à Live AI

●

Enregistrement vidéo

●

EFI automatique utilisant des dispositifs motorisés, y compris le mode à balayage rapide

●

Panorama automatique grâce à des dispositifs motorisés

●

Navigation dans l’échantillon et gestion de liste de positions à l’aide de dispositifs motorisés

●

Combinaison des modes EFI et panoramique automatiques grâce à des dispositifs motorisés

●

Outils d’imagerie et de personnalisation

Interface utilisateur avec fonctions regroupées par finalité

●

Interface utilisateur personnalisable (mode EZ)

●

Superposition d’informations (échelle graphique, pointeur en croix, réticule numérique)

●

Grossissement à l’écran

●

Gestionnaire de macro

●

Mesures/analyse d’images

Mesure interactive de base (mesure de point, ligne arbitraire, ligne horizontale, ligne verticale, polyligne, cercle à 3 points, rectangle, rectangle incliné, angle à 3 points, angle à 4 points, ligne perpendiculaire, distance entre lignes parallèles, aire de polygone, distance XY, distance entre deux lignes croisées, distance entre deux cercles, règle linéaire)

●

Mesure du profil de ligne 3D et mesure simple en 3D

●

Mesures interactives avancées, incluant la détection automatique des contours et des lignes auxiliaires (règle d’angle, cercle à deux points, ellipse pivotée, polygone fermé, fonction baguette magique, polygone interpolé, lignes perpendiculaires multiples, lignes d’asymétrie, épaisseur de l’apothème)

●

Étiquetage par réseau neuronal

●

Filtres d’amélioration de l’image (filtre matrice, réglage de la couleur et du contraste)

●

Création de rapports

Exportation des données vers un classeur Evident

●

Exportation des données vers Microsoft Excel

●

Création de rapports et de présentations dans Microsoft 365 ou 2021

●

Modules en option

Comptage et mesure

○

Fonte

○

Dimensionnement du grain

○

Inclusions non métalliques

○

Épaisseur de couche

○

Porosité

○

Distribution des particules

○

Épaisseur du revêtement

○

Analyse des phases

○

Entraînement des réseaux neuronaux

○

Distance entre les branches des dendrites

○

Séquence de mesure

○

Comparaison graphique selon certaines normes pour la taille de grains, le dimensionnement du graphite, les inclusions non métalliques et les métaux durs

○

Lois et réglementations environnementales

Europe	Directive 2014/35/UE relative aux basses tensions
	Directive 2014/30/UE relative à la CEM
	Directive 2011/65/UE RoHS
	Règlement REACH n° 1907/2006
	Directive 94/62/CE relative aux emballages et aux déchets d’emballages
	Directive 2012/19/UE relative aux DEEE
	Directive 2006/42/CE relative aux machines
États-Unis	UL 61010-1:2010 Édition 3
États-Unis	FCC 47 CFR Partie 15 Sous-partie B
Canada	CAN/CSA-C22.2 (N° 61010-1-12)
Australie	Loi sur les communications radio de 1992, Loi sur les télécommunications de 1997
Australie	Réglementation sur la conservation de l’énergie AS/NZS 4665-2005
Japon	Loi sur la sécurité des appareils et matériaux électriques (PSE)
Corée	Loi sur le contrôle de la sécurité des appareils électriques
	Réglementation relative à l’étiquetage et aux normes d’efficacité énergétique
	Règlements sur la CEM et les télécommunications sans fil (Avis 2913-5)
Chine	RoHS chinois
	Loi PL chinoise
	Règlement relatif aux manuels

Ressources

Insights

Comment utiliser les pièges à particules pour contrôler la propreté de l’environnement

/fr/insights/how-to-use-particle-traps-to-monitor-environmental-cleanliness

Qu’est-ce que l’échantillonnage par prélèvement sur ruban adhésif ?

/fr/insights/what-is-tape-lift-sampling

Filtration directe des liquides : pratiques de référence à adopter pour l’échantillonnage de liquides lors de contrôles de propreté

/fr/insights/direct-liquid-filtration-best-practices-for-fluid-sampling-in-cleanliness-analysis

Description générale de la méthode de lavage utilisée lors des contrôles de la propreté des composants

/fr/insights/an-overview-of-the-washing

Une image vaut mille mots lors des contrôles de la propreté des composants

/fr/insights/picture-component-cleanliness-inspections

Techniques d’échantillonnage courantes pour la réalisation de contrôles de la propreté des composants

/fr/insights/common-sampling-techniques-for-technical-cleanliness-inspections

Observez les particules contaminantes dans leurs couleurs réelles pour vérifier leur nature métallique

/fr/insights/see-particle-contamination-in-real-color-to-verify-metallic-particles

Contamination et analyse de l’huile : conseils d’experts sur un problème invisible

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Réalisez une analyse efficace de la propreté des composants avec trois nouvelles fonctionnalités

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Guide de référence pour des contrôles rapides de la propreté des composants

/fr/insights/the-essential-guide-to-fast-technical-cleanliness-inspections

Sept fonctionnalités qui facilitent les contrôles de la propreté des composants pour les utilisateurs débutants

/fr/insights/7-capabilities-that-make-technical-cleanliness-inspections-easy-for-novice-operators

Cinq caractéristiques qui permettent au système d’inspection de la propreté des composants OLYMPUS CIX100 d’offrir des résultats reproductibles

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Démystification du processus de contrôle de la propreté des composants – Partie 5 : Séparation des particules métalliques/non métalliques et identification des fibres

/fr/insights/breaking-down-the-technical-cleanliness-workflow-part-5

Démystification du processus de contrôle de la propreté des composants – Partie 4 : Détermination du niveau de contamination

/fr/insights/breaking-down-the-technical-cleanliness-workflow-part-4

Démystification du processus de contrôle de la propreté des composants – Partie 3 : Classification granulométrique et extrapolation et normalisation du nombre de particules

/fr/insights/breaking-down-the-technical-cleanliness-workflow-part-3

Démystification du processus de contrôle de la propreté des composants – Partie 2 : Acquisition des images et mesure des particules

/fr/insights/breaking-down-the-technical-cleanliness-workflow-part-2

Démystification du processus de contrôle de la propreté des composants – Partie 1 : Préparation

/fr/insights/breaking-down-the-technical-cleanliness-workflow-preparation

Optimisation du processus d’inspection de la propreté des composants

/fr/insights/optimizing-the-technical-cleanliness-inspection-workflow

L’importance croissante de contrôler la propreté des composants

/fr/insights/increasing-importance-technical-cleanliness

Une solution clés en main pour la propreté des composants

/fr/insights/turnkey-solution-technical-cleanliness

Vidéos

https://adobeassets.evidentscientific.com/dam/video/videolibrary/videos/CIX100_Filter_Sample_Holder_Particle_trap_fv_0.3.mp4

Accessoires du système d’inspection de la propreté des composants CIX100 : pièges à particules

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/videolibrary/videos/CIX100_Filter_Sample_Holder_tape_lift_fv_0.3.mp4

CIX100 Cleanliness Inspection System Hardware Accessories: Holder for 50 mm and 19 mm Wide Adhesive Tape Rolls

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/videolibrary/videos/BM_CIX100_Filter_Sample_Holders_General_fv_0.7.mp4

CIX100 Cleanliness Inspection System Hardware Accessories: Sample Holders for Common Cleanliness Applications

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/videolibrary/videos/CIX100_Filter_Sample_Holder_Filter_Menbranes_fv_0.5.mp4

Accessoires du système d’inspection de la propreté des composants CIX100 : membranes filtrantes

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/videolibrary/videos/cix100_product_video_fv(2)_480.mp4

CIX100 - Technical Cleanliness Inspection System

Ressources produit

Brochures

https://evidentscientific.com/fr/downloads/brochures?product=cix100

Manuel

https://evidentscientific.com/fr/downloads/manuals?product=cix100