Microscope à balayage laser LEXT OLS5100

Conçu pour l’analyse des défaillances et la recherche en ingénierie des matériaux, le microscope à balayage laser OLS5100 combine des mesures d’une très grande exactitude, des performances optiques exceptionnelles et des outils intuitifs qui le rendent facile à utiliser. La possibilité de mesurer précisément, rapidement et efficacement la forme et la rugosité des surfaces à l’échelle submicronique simplifie votre processus de travail et vous permet d’obtenir des données d’une grande fiabilité.

LEXT OLS5100 Microscopes industriels

Microscope à balayage laser pour l’analyse des matériaux

Procédures optimisées, expériences accélérées

Conçu pour l’analyse des défaillances et la recherche en ingénierie des matériaux, le microscope à balayage laser OLS5100 combine des mesures d’une très grande exactitude, des performances optiques exceptionnelles et des outils intuitifs qui le rendent facile à utiliser. La possibilité de mesurer précisément, rapidement et efficacement la forme et la rugosité des surfaces à l’échelle submicronique simplifie votre processus de travail et vous permet d’obtenir des données d’une grande fiabilité.

Microscope 3D

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/videolibrary/videos/OLS5100-promotion-video.mp4

Series of lenses

Précision de mesure garantie

Les objectifs LEXT produisent des données de mesure d’une grande justesse. L’association de ces objectifs à la fonction « Smart Lens Advisor » permet d’acquérir des données fiables et d’une grande précision.

  • Précision de mesure garantie
  • Objectifs de 10x à 100x réduisant les aberrations à 405 nm pour permettre la visualisation de la forme correcte de votre échantillon dans tout le champ d’observation
  • Fonction « Smart Lens Advisor » vous aidant à sélectionner l’objectif adapté à vos mesures de rugosité

Conventional lenses have difficulty making accurate measurements in peripheral areas

Les objectifs classiques ne permettent pas d’effectuer des mesures précises dans les zones périphériques.

Dedicated LEXT objectives accurately measure peripheral areas

Les objectifs dédiés aux microscopes LEXT permettent de mesurer avec précision les zones périphériques.

La microscopie à balayage laser en toute facilité

Grâce au logiciel intégré intuitif, le microscope est facile à utiliser par les utilisateurs de tout niveau.

  • Production facile de données précises : il suffit de placer l’échantillon sur la platine et d’appuyer sur le bouton de démarrage
  • Garantie de performance de mesure adaptée à votre environnement opérationnel*

Les renseignements fournis sur cette page Web, y compris ceux concernant la précision garantie, sont fondés sur les conditions définies par Evident.

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/image/ie/ols5100/overview-easy-laser-scanning-microscopy.mp4
https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/image/ie/ols5100/overview-easier-material-engineering.mp4

Des expériences d’ingénierie des matériaux et d’analyse des défaillances plus faciles

L’outil « Smart Experiment Manager » simplifie vos processus d’observation 3D à l’échelle submicronique et d’analyse des défaillances en automatisant des tâches auparavant chronophages.

  • Automatisation possible de vos procédures d’analyse au moyen de fonctions macro
  • Organisation facile des données de mesure
  • Intégration automatique des données à la matrice de votre plan d’expérimentation pour réduire les risques d’erreurs de saisie manuelle
  • Affichage des résultats de mesure sous forme de liste, vous permettant de déterminer en un coup d’œil la réussite ou l’échec des mesures

Personnalisation complète en fonction de vos spécifications

Bénéficiez de toutes les fonctionnalités avancées du microscope à balayage laser OLS5100 pour l’analyse des matériaux dans le cas d’échantillons volumineux et lourds.

Apprenez-en plus

Des solutions personnalisées

Des services de maintenance et une assistance fiables

De l’étalonnage à la formation, nous proposons une vaste gamme de services pour vous aider à toujours obtenir des performances optimales de vos appareils. Les contrats de maintenance d’Evident sont :

Apprenez-en plus

Avantages

Avantages des microscopes à balayage laser

1. Observation/mesure en 3D à l’échelle submicronique

Observation de pas à l’échelle nanométrique et mesure de différences de hauteur à l’échelle submicronique

Observation de pas à l’échelle nanométrique et mesure de différences de hauteur à l’échelle submicronique

2. Mesure de rugosité de surface conforme à la norme ISO 25178

Mesure de rugosité de surface, de linéaire à planaire

Mesure de rugosité de surface, de linéaire à planaire

3. Sans contact, non destructif et rapide

Aucune préparation d’échantillon requise : il suffit de placer l’échantillon sur la platine pour commencer les mesures

Aucune préparation d’échantillon requise : il suffit de placer l’échantillon sur la platine pour commencer les mesures

Des données fiables sur simple pression d’un bouton

Fonction « Smart Scan II »

Les utilisateurs de tout niveau, même débutants, peuvent acquérir des données rapidement et facilement grâce à la fonction « Smart Scan II ». Placez l’échantillon sur la platine, appuyez sur le bouton de démarrage et le microscope fait tout le travail.

  • Algorithme PEAK – Le microscope OLS5100 intègre un algorithme PEAK pour l’affichage des données en 3D. Cet algorithme fournit des données très précises, quel que soit le grossissement, et réduit le temps d’acquisition de données.
  • Sautez les balayages inutiles – Lors de la mesure de la forme des pas sur un échantillon contenant des plans quasi verticaux, comme un composant électronique ou un MEMS, il est possible de réduire le temps d’acquisition des données en sautant les plages de balayage inutiles dans la direction Z. Un pas de 100 μm peut être mesuré en une dizaine de secondes sans impact sur l’exactitude (avec un objectif MPLAPON50XLEXT).
  • Données de forme précises – Le système de jugement automatique du microscope OLS5100 s’ajuste aux contraintes de chaque échantillon, tandis que le balayage HDR acquiert deux ensembles d’informations de forme en faisant varier la sensibilité de détection pour créer des données de forme précises.
Des données fiables sur simple pression d’un bouton

Garantie de performance de mesure adaptée à votre environnement opérationnel

Précision et répétabilité garanties
Précision et répétabilité garanties
La performance d’un outil de mesure est généralement exprimée par son exactitude, qui indique la proximité d’une valeur mesurée avec sa valeur réelle, et par sa répétabilité, qui correspond au degré de variation des mesures répétées. Nous garantissons l’exactitude et la répétabilité du microscope sur la base du système de traçabilité. Vous pouvez donc faire confiance à vos résultats de mesure.
Une métrologie de surface qui dépasse le champ d’observation

Une métrologie de surface qui dépasse le champ d’observation
Le microscope OLS5100 comprend un module de mesure de la longueur dans la platine motorisée. De plus, nous garantissons l’exactitude des données des images assemblées. Les anciens microscopes laser assemblaient les données en fonction de la correspondance des motifs. Le microscope OLS5100 ajoute les informations de position, obtenues grâce au module de mesure de la longueur, au motif correspondant pour produire des données assemblées d’une fiabilité et d’une exactitude remarquables.

* Uniquement pour OLS5100-SAF/EAF

Mode d’observation à haute résolution et à fort grossissement facile à utiliser

Mise au point automatique en continu

La mise au point automatique continue du microscope maintient la mise au point de vos images lors du déplacement de la platine ou du changement d’objectif, réduisant ainsi au minimum le besoin de réglages manuels. Le suivi permanent de la mise au point vous permet d’effectuer des observations rapidement et facilement.

continuous auto focus
continuous auto focus

Double fonction CID pour effectuer une observation en temps réel à l’échelle nanométrique

Détectez les dommages infimes de votre échantillon grâce à une observation en temps réel à l’échelle nanométrique. L’observation par contraste interférentiel différentiel (CID) vous permet de visualiser des contours de surfaces à l’échelle nanométrique généralement difficiles à observer avec le pouvoir de résolution d’un microscope laser. Grâce au mode d’observation CID avec faisceau laser, le microscope OLS5100 peut afficher des images en cours d’acquisition comparables à celles d’un microscope électronique, même en utilisant un objectif de faible grossissement 5x ou 10x.

Back surface of wafer

Surface arrière d’un wafer

Hard disk landing zone

Zone d’atterrissage du disque dur

Analyse complète

Plusieurs fonctions d’analyse sont disponibles. Ce qui suit n’est qu’un exemple ; veuillez télécharger la brochure ou contacter votre représentant Evident pour obtenir plus de détails.

Mesure de rugosité de surface conforme à la norme ISO25178

Mesure de rugosité de surface conforme à la norme ISO25178

Le microscope OLS5100 balaye la surface de l’échantillon avec un faisceau laser de 0,4 μm de diamètre et mesure la rugosité de surface d’échantillons qui ne peut pas être mesurée avec des rugosimètres par contact. La capacité d’acquérir simultanément une image en couleur, une image laser et des données de forme en 3D d’une surface non mesurable avec un rugosimètre par contact étend la portée de l’analyse.

Mesure du pas entre les points les plus hauts et les points les plus bas sur un profil de surface

Mesure du pas entre les points les plus hauts et

les points les plus bas sur un profil de surface

Mesure de profil/outil d’aide à la mesure

La fonction « Profile measurement » (mesure du profil) affiche le profil de la surface en traçant arbitrairement une ligne de mesures sur la zone à mesurer sur une image. Elle mesure également le pas entre deux points choisis arbitrairement, ainsi que la largeur, la section transversale et le rayon. Contrairement aux outils de mesure par contact, le réglage des positions de mesure est facile à exécuter. Les lignes et les points de mesures peuvent être vérifiés sur l’image. Il est donc possible de mesurer une très petite surface avec précision. Grâce à l’outil « Measurement assist tool » (aide à la mesure), le point à mesurer peut être défini à l’aide des points supérieurs, inférieurs, du milieu et/ou moyens. Lorsqu’une zone est définie dans les données acquises, les points caractéristiques sont automatiquement extraits selon les conditions indiquées.

Logiciel

La gestion des conditions d’expérimentation lors de l’analyse de nouveaux matériaux pouvant être très complexe, nous avons équipé le microscope à balayage laser OLS5100 de l’outil « Smart Experiment Manager » pour simplifier ce processus en automatisant les étapes principales, notamment la création du plan d’expérimentation.
Logiciel d’ingénierie médico-légale
Automatisez les procédures de routine

Automatisez les procédures de routine

Automatisez les procédures de routine

Fonction macro

Vous pouvez automatiser l’ensemble de la procédure d’inspection à l’aide de l’outil de production de macros. Créez et modifiez facilement des procédures, puis exécutez le fichier macro enregistré pour obtenir des résultats fiables. En association avec l’outil « Smart Experiment Manager », vous pouvez déterminer en un coup d’œil la réussite ou l’échec des mesures.

Tri rapide des données
Tri rapide des données
Même si les conditions expérimentales n’ont pas été déterminées à l’avance, elles peuvent être déterminées lors de l’acquisition des données. Les conditions peuvent être modifiées pendant l’expérience, et vous pouvez facilement ajouter des images et des données d’analyse en effectuant un simple glisser-déposer. Vous pouvez adapter vos expériences en fonction de vos procédures.
Saisie automatique des données
Saisie automatique des données
Le logiciel intègre automatiquement les valeurs à la matrice de votre plan d’expérimentation, réduisant ainsi les risques d’erreurs de saisie manuelle. Vous pouvez exporter vos données vers une feuille de calcul Excel en seulement quelques clics.

Une organisation facile des données de conditions d’expérimentation

Génération automatique de noms de fichiers

Cliquez simplement sur chaque cellule du plan d’expérimentation pour que le logiciel génère automatiquement un nom de fichier contenant les conditions d’évaluation, ce qui facilite l’archivage. Chaque fichier contient les images et les données connexes.

Conditions d’expérimentation en sciences des matériaux

Résultats de mesure rapides

Jugement de tolérance
La fonction de jugement de tolérance vous permet de vérifier la réussite/l’échec des mesures en un coup d’œil en fonction des tolérances définies. Il est possible de vérifier la tolérance en modifiant la valeur seuil en fonction du rendement de l’échantillon.
Carte de densité
Le tableau de résultats avec code de couleurs du logiciel (carte de densité) vous aide à mieux comprendre les données collectées au cours de votre expérience. Les couleurs et les pourcentages de la carte de densité sont faciles à changer. La structure intuitive des tableaux et cartes de densité permettent une visualisation rapide des données, pour vous permettre de repérer les problèmes à un stade précoce.

Analyse multidonnées

Imagerie 3D d’une analyse des défaillances
Analyse comparative des données
Vous pouvez analyser plusieurs groupes de données acquis en parallèle avec leurs échelles d’affichage et leurs angles d’affichage 3D intégrés. La correction et l’analyse des images peuvent être effectuées simultanément. Cette fonction est très utile pour analyser la forme de plusieurs échantillons aux conditions de traitement différentes ou pour analyser des défauts. Diverses images et divers profils et résultats numériques peuvent être exportés vers Excel, ce qui facilite l’organisation et la caractérisation rapides de vos données.

Caractéristiques techniques

Unité principale

Modèle
OLS5100-SAF
OLS5100-SMF
OLS5100-LAF
OLS5100-EAF
Grossissement total
De 54x à 17 280x
Champ d’observation
De 16 à 5120 µm
Principe de mesure
Système optique
Microscope confocal à balayage laser de type réflexion
Microscope confocal CID à balayage laser de type réflexion
Couleur
Couleur-CID
Élément de réception de la lumière
Laser : photomultiplicateur (2 canaux)
Couleurs : caméra couleur CMOS
Mesure de hauteur
Résolution de l’écran
0,5 nm
Étendue dynamique
16 bits
Répétabilité σn-1*1 *2 *5
5X : 0,45 μm ; 10X : 0,1 μm ; 20X : 0,03 μm ;
50X : 0,012 μm ; 100X : 0,012 μm
Précision *1 *3 *5
0,15+L/100 μm (L : longueur mesurée [μm])
Précision d’une image assemblée *1 *3 *5
10X : 5,0 + L/100 μm, 20X ou supérieur : 1,0 + L/100 μm (L : longueur d’assemblage [μm])
Bruit de mesure (quadr.) *1 *4 *5
1 nm (type)
Mesure de largeur
Résolution de l’écran
1 nm
Répétabil. 3σn-1*1 *2 *5
5X : 0,4 μm, 10X : 0,2 μm, 20X : 0,05 μm, 50X : 0,04 μm, 100X : 0,02 μm
Précision *1 *3 *5
Valeur de la mesure +/–1,5 %
Précision d’une image assemblée *1 *3 *5
10X : 24+0,5 L μm ; 20X : 15+0,5 L μm ;
50X : 9+0,5 L μm ; 100X : 7+0,5 L μm (L : longueur d’assemblage [mm])
Nombre maximal de points de mesure dans une seule mesure
4096 × 4096 pixels
Nombre maximal de points de mesure
36 mégapixels
Configuration de la platine XY
Module de mesure de longueur
S.O.
S.O.
Plage de fonctionnement
100 × 100 mm (3,9 × 3,9 po) – motorisée
100 × 100 mm (3,9 × 3,9 po) – manuelle
300 × 300 mm (11,8 × 11,8 po) – motorisée
100 × 100 mm (3,9 × 3,9 po) – motorisée
Épaisseur maximale des échantillons
100 × 100 mm
(3,9 × 3,9 po)
30 mm (1,2 po)
30 mm (1,2 po)
210 mm (8,3 po)
Source de lumière laser
Longueur d’onde
405 nm
Puissance maximale
0,95 mW
Classe laser
Classe 2 (CEI 60825-1:2007, CEI 60825-1:2014)*6
Source de lumière en couleurs
LED blanche
Puissance électrique
240 W
240 W
278 W
240 W
Poids
Corps du microscope
Env. 31 kg (68,3 lb)
Env. 32 kg (70,5 lb)
Env. 50 kg (110,2 lb)
Env. 43 kg (94,8 lb)
Console de commande
Env. 12 kg (26,5 lb)

*1 Garantie applicable lorsque l’appareil est utilisé dans un environnement où la température et le niveau d’humidité sont constants (température : 20 °C ±1 °C, humidité : 50 % ±10 %), tel que précisé dans les normes ISO 554(1976) et JIS Z-8703(1983).
*2 Pour 20x ou plus, si la mesure est prise avec des objectifs de la série MPLAPON LEXT.
*3 Lorsque mesuré avec un objectif spécialement conçu pour le LEXT.
*4 Valeur habituelle lorsque mesurée avec l’objectif MPLAPON100XLEXT. Peut différer de la valeur garantie.
*5 Garantie par le système de certificat Evident.
*6 Le microscope OLS5100 est un produit laser de classe 2. Ne pas fixer le faisceau.

** La licence SE de Windows 10 a été certifiée pour le contrôleur de microscope fourni par Evident. Par conséquent, les conditions de licence de Microsoft s’appliquent et vous les acceptez. Veuillez consulter la page Web suivante pour voir les conditions de licence de Microsoft.
https://www.microsoft.com/en-us/Useterms/Retail/Windows/10/UseTerms_Retail_Windows_10_english.htm

Objectifs

Série
Modèle
Ouverture numérique (ON)
Distance frontale (DF) [mm]
Objectif UIS2
MPLFLN2.5X
0,08
10,7
MPLFLN5X
0,15
20
Objectif dédié LEXT (10X)
MPLFLN10XLEXT
0,3
10,4
Objectif dédié LEXT (haute performance)
MPLAPON20XLEXT
0,6
1
MPLAPON50XLEXT
0,95
0,35
MPLAPON100XLEXT
0,95
0,35
Objectif dédié LEXT (grande distance frontale)
LMPLFLN20XLEXT
0,45
6,5
LMPLFLN50XLEXT
0,6
5,2
LMPLFLN100XLEXT
0,8
3,4
Objectif à très grande distance frontale
SLMPLN20X
0,25
25
SLMPLN50X
0,35
18
SLMPLN100X
0,6
7,6
Objectif à très distance frontale pour lentille LCD
LCPLFLN20XLCD
0,45
8,3-7,4
LCPLFLN50XLCD
0,7
3,0-2,2
LCPLFLN100XLCD
0,85
1,2-0,9

Logiciels d’application

Logiciels de base
OLS51-BSW
Logiciels de base
Application d’acquisition des données
Application d’analyse
(analyse simple)
Progiciel pour platine motorisée*1
OLS50-S-MSP
Application d’analyse avancée*2
OLS50-S-AA
Application de mesure d’épaisseur de film
OLS50-S-FT
Application de mesure de bords automatique
OLS50-S-ED
Application d’analyse de particules
OLS50-S-PA
Application d’assistance totale expérimentale
OLS51-S-ETA
Application d’analyse d’angles de surface de sphère/cylindre
OLS50-S-SA

*1 Inclut les fonctions d’acquisition de données par assemblage automatique et d’acquisition de données sur plusieurs zones.
*2 Inclut l’analyse de profil, l’analyse de différence, l’analyse de la hauteur des pas, l’analyse de surface, l’analyse de surface/volume, l’analyse de rugosité linéaire, l’analyse de rugosité de surface et l’analyse d’histogramme.

Microscopes à balayage laser Evident

Exemple de configuration – OLS5000-SAF

Exemple de configuration – OLS5100-SAF

OLS5100-SAF

  • Platine motorisée 100 mm
  • Hauteur max. de l’échantillon : 100 mm (3,9 po)
OLS5000-SAF
OLS5000-SAF - Dimention

OLS5100-EAF

  • Platine motorisée 100 mm
  • Hauteur max. de l’échantillon : 210 mm (8,3 po)
OLS5000-EAF
OLS5000-EAF - Dimention

OLS5100-SMF

  • Platine motorisée 100 mm
  • Hauteur max. de l’échantillon : 40 mm (1,6 po)
OLS5000-SMF
OLS5000-SMF - Dimention

OLS5100-LAF

  • Platine motorisée 300 mm
  • Hauteur max. de l’échantillon : 37 mm (1,5 po)
OLS5000-LAF
OLS5000-LAF - Dimention

Unité de commande

PC et unité de commande – Dimensions

Ressources

Notes d’application

Blogue

Vidéos

FAQ

Ressources Produit