Microscopes de mesure STM7-BSW
Le STM7-BSW est un logiciel d’aide à la mesure conçu pour les microscopes de mesure. Non seulement vous pouvez acquérir des images en cours d’acquisition au moyen d’une caméra numérique et l’afficher sur un moniteur, mais sur le même écran, vous pouvez aussi observer l’échantillon, prendre des mesures et produire des rapports. Vous pouvez ainsi travailler plus efficacement.
STM7-BSW Microscopes industriels
Le logiciel d’analyse STM7-BSW pour microscopes de mesure augmente l’efficacité de vos observations. Vous pouvez acquérir et afficher des images, faire des observations et des mesures, et créer des rapports depuis un même écran.
Mesure rapide et précise d’objets de forme complexe
Il est essentiel que vous puissiez voir clairement et facilement l’objet affiché par votre microscope de mesure. C’est dans ce but précis que ce logiciel a été créé : afficher des images claires pour permettre des mesures complexes avec une plus grande précision. Le logiciel vous permet également de tirer parti des caméras des microscopes numériques.
Interface de mesure des échantillons du logiciel STM7-BSW
Obtenez des images claires et nettes avec nos caméras de microscope numériques
Hautes performances avec affichage en direct rapide
DP28
Résolution d’image
4104 × 2174
Cadence d’images
15 ips (max.)
Interface PC
USB 3.1 Gen 1
DP23
Résolution d’image
3088 × 2076
Cadence d’images
25 ips (max.)
Interface PC
USB 3.1 Gen 1
Excellent rapport qualité/prix
STM7-CU
2048 × 1536
Cadence d’images
11,2 ips (max.)
Interface PC
USB 2.0
Placez l’échantillon et commencez à mesurer – aucun alignement parallèle n’est requis
Mesure directe
Les mesures sont effectuées au moyen des coordonnées fournies par le microscope STM7.
Mesure de rappel
Une fois mesurées et calculées, les coordonnées peuvent être réutilisées pour des mesures ultérieures. Il n’est donc plus nécessaire de faire deux fois le même travail, ce qui augmente l’efficacité du processus d’analyse.
Mesure de point virtuel
Des intersections, des points centraux, des longueurs et une gamme d’autres mesures peuvent être effectués en dessinant des lignes droites et des cercles, qui peuvent ensuite être définis pour rester comme points de référence sur les images échantillons acquises.
Mesure d’alignement
L’axe d’origine et l’axe X sont définis par rapport à l’échantillon, ce qui permet de mesurer l’échantillon même s’il n’est pas aligné avec la platine.
Axe d’origine
Nouvel axe
Mesure de plan XZ
Mesure du rayon d’un échantillon hémisphérique
Mesure de la hauteur d’une rainure à partir de sa base et de la ligne de référence
Enregistrement des procédures de mesure utilisées régulièrement
Enregistrement macro
La procédure d’alignement et les autres procédures de mesure fréquemment utilisées peuvent être combinées et affectées à un seul bouton macro, éliminant ainsi le besoin de recommencer à zéro à chaque fois que le microscope est configuré.
Répétition des mesures
On peut facilement répéter les mesures à partir d’un processus d’analyse enregistré en entrant simplement le mouvement de la platine et les coordonnées correspondantes dans le logiciel. Cette fonction peut être utilisée pour effectuer à plusieurs reprises la même mesure sur le même échantillon ou sur différentes versions du même échantillon.
En outre, si une valeur et une tolérance sont définies dans le processus d’analyse enregistré, le logiciel identifie automatiquement l’échec d’une mesure.
Déplacement au point de mesure pour la répétition des analyses
Cette fonction affiche la direction et la distance jusqu’au point de mesure suivant, ce qui limite le risque d’erreur de l’opérateur. Cette fonction élimine en outre la nécessité de vérifier chaque fois le point de mesure suivant sur le schéma, accélérant ainsi le processus d’analyse grâce à une série de mesures répétées.
Fonctionnalités efficaces qui éliminent la subjectivité des mesures
Détection automatique des bords
Cette fonction détecte les bords de l’échantillon, puis acquiert et mesure automatiquement ses coordonnées. Il n’est donc plus nécessaire de préciser les coordonnées, ce qui réduit la subjectivité des mesures. La détection automatique des bords comporte également une minuterie qui permet d’acquérir des coordonnées dans un temps spécifié. Elle est compatible avec l’utilisation d’une pédale de commande permettant à l’utilisateur de se concentrer sur les opérations de mesure sans retirer ses mains des poignées de la platine.
Détection automatique des bords à l’intérieur du cercle
Détection automatique des bords multipoints
Élimination des points anormaux
Les bavures métalliques et autres points anormaux peuvent être exclus automatiquement lors de la détection des bords. Cela permet un calcul cohérent des valeurs mesurées, quel que soit l’état de l’échantillon. Les points exclus comme anormaux peuvent également être affichés à l’écran dans des couleurs différentes.
Échantillon avec point anormal
Élimination des points anormaux
Contrôle de l’éclairage
Reconnaissance automatique du grossissement (en option, avec configuration de tourelle porte-objectifs rotative codée uniquement)
Avec l’utilisation de la tourelle porte-objectifs rotative codée, les valeurs d’étalonnage précédemment définies sont automatiquement reproduites lors du changement d’objectif. Grâce à cela, vous savez que les données affichées sont à la bonne échelle.
Production de rapports personnalisables
Production de rapports en un clic
Les résultats de mesure peuvent être exportés au format Excel en un seul clic, éliminant les erreurs commises lors de la transcription. Les images peuvent également être insérées avec les résultats de mesure, augmentant ainsi l’efficacité de la création de rapports.
Exemple de rapport
Fonctions d’acquisition avancées
Alignement d’images multiples (MIA) (en option)
Associez plusieurs images en mosaïque pour obtenir une seule image couvrant une grande surface à fort grossissement. Puisque les images sont assemblées sur la base des données de coordonnées, le système est capable de produire des images hautement fiables.
Imagerie à profondeur de champ étendue (EFI) (en option)
La fonction d’imagerie à profondeur de champ étendue (EFI) est efficace pour obtenir des images correctement mises au point sur des échantillons dont la surface a une forme complexe et inégale. Générez une seule image avec des points focaux alignés dans toutes les positions.
Traitez simplement plusieurs images avec différentes positions de point focal tout en déplaçant l’axe Z, ou utilisez le modèle motorisé pour la composition automatique des images.
Caractéristiques techniques
Configuration système requise pour le logiciel STM7-BSW
Un disque dur SSD est recommandé pour l’acquisition d’images à haute vitesse.
* Microsoft Office 32 bits ou 64 bits 2013/2016/2019/2021/365 (SAC) sont également pris en charge.
