Chargeur de wafers AL120

Idéal pour des inspections en dernière étape de production à moindre coût, le système d’analyse de wafers AL120-20 consiste en un microscope d’inspection de semi-conducteurs compatible à la fois avec les FOUP (boîtes unifiées à ouverture frontale) et les FOSB (caisses d’expédition à ouverture frontale). Grâce à une conception sûre et économique, le système permet à l’opérateur de travailler en toute sécurité tout en assurant un transfert efficace des wafers, y compris pour des wafers minces et déformés.