Spectrophotomètre USPM-RU-W
Le micro-spectrophotomètre NIR USPM-RU-W d’Evident peut réaliser une spectrométrie rapide et précise sur une large gamme de longueurs d’onde, allant de la lumière visible au proche infrarouge. Sa capacité à mesurer facilement la réflectivité de zones extrêmement petites ou de surfaces courbes qui ne peuvent pas être mesurées avec des spectrophotomètres classiques fait de l’USPM-RU-W un appareil parfaitement adapté à l’analyse d’éléments optiques ou de minuscules composants électroniques.
Microscopes industriels USPM-RU-W
Microspectrophotomètre proche infrarouge
■ Réflectivité, épaisseur de films, couleurs d’objets et transmittance mesurées en quelques secondes
■ Large plage de longueurs d’onde allant de 380 à 1050 nm
■ Mesure la réflectivité d’une surface courbe sans contact
Mesurez la réflectivité
Mesurez la réflectivité d’une minuscule surface d’un diamètre compris entre 17 et 70 µm.
Exemple de mesure de réflectivité : lentille
Exemple de mesure de réflectivité : courbure de lentille
Captures d’écran enregistrées lors de la mesure de l’épaisseur d’un film
Mesurez l’épaisseur de films
Utilisez les données de réflectivité pour mesurer l’épaisseur des films monocouches ou multicouches d’environ 50 nm à 10 μm.
Captures d’écran enregistrées lors de la mesure de la couleur d’un objet
Mesurez la couleur d’objets
Affichez un diagramme de chromaticité XY, un diagramme de chromaticité L*a*b*, ainsi que les valeurs numériques correspondantes à partir des données de réflectivité.
Mesurez les niveaux de transmission (fonction disponible en option)
Mesurez la transmittance d’un échantillon plan en faisant passer des faisceaux de lumière parallèles de 2 mm à travers l’échantillon jusqu’aux éléments de réception du spectrophotomètre.
Trajet optique pour la mesure de transmittance
Mesurez la réflectivité à un angle d’incidence de 45 degrés （fonction disponible en option）
Mesurez la réflectivité à un angle d’incidence de 45 degrés en utilisant des faisceaux lumineux parallèles de 2 mm qui, après réflexion sur l’échantillon, seront dirigés vers les éléments de réception du spectrophotomètre.
Trajet optique pour la mesure de la réflectivité à 45 degrés
Mesure rapide de surfaces courbes ou minuscules
Image du système optique
Mesure à grande vitesse
Des mesures rapides et hautement répétables peuvent être effectuées en quelques secondes grâce à un réseau de diffraction à champ plat, à un capteur linéaire et à une spectrophotométrie à grande vitesse.
Image de la mesure de la réflectivité
Optimisé pour la mesure de la réflectivité de pièces et de lentilles extrêmement petites
Evident a conçu un nouvel objectif dédié qui permet la prise de mesures sans contact sur des surfaces de 17 à 70 μm de diamètre. Cet objectif garantit une excellente répétabilité, y compris sur des surfaces courbes ou des composants électroniques de très petite taille.
Principe de l’élimination des réflexions de la surface arrière
Traitement antireflet non requis au dos de l’échantillon
Il est possible de prendre une mesure précise de la réflectivité d’une surface sans recourir aux étapes coûteuses habituellement nécessaires pour empêcher les réflexions de la surface arrière. La lumière réfléchie par la surface arrière est atténuée grâce à des optiques spéciales qui bloquent toute réflexion hors foyer, de manière similaire à un système confocal. Peu importe le type de composant optique que vous utilisez – sphérique, asphérique ou plat –, l’USPM-RU-W ne nécessite aucune préparation de l’échantillon par traitement antireflet.
Méthodes disponibles pour la mesure de l’épaisseur de films
L’épaisseur d’un film monocouche ou multicouche peut être analysée à partir des données de réflectivité spectrale mesurées. Vous pouvez sélectionner la méthode de mesure la plus adaptée à votre application.
Résultats de l’analyse de l’épaisseur d’un film à l’aide de la méthode des pics et des vallées
Méthode des pics et des vallées
Cette méthode permet de calculer l’épaisseur d’un film à partir des intervalles entre les pics et les vallées de la réflectivité spectrale mesurée. Elle est efficace pour la mesure des films monocouches. Aucun réglage complexe n’est requis, ce qui rend la mesure de l’épaisseur simple et rapide.
Résultats de l’analyse de l’épaisseur d’un film à l’aide de la méthode de la transformée de Fourier
Méthode de la transformée de Fourier
Cette méthode permet de calculer l’épaisseur d’un film à partir des intervalles entre les valeurs mesurées de réflectivité spectrale. Elle est efficace pour la mesure des films monocouches et multicouches. En supprimant le bruit, la transformée de Fourier permet l’analyse lorsque la détection des pics et des vallées est difficile.
Résultats de l’analyse de l’épaisseur d’un film à l’aide de la méthode de mise en correspondance de courbes
Méthode de mise en correspondance de courbes
Cette méthode permet de calculer l’épaisseur d’un film en identifiant la structure dont la réflectivité calculée correspond le plus étroitement à la réflectivité spectrale mesurée. Elle est efficace pour la mesure des films monocouches et multicouches. La mise en correspondance de courbes permet également d’analyser les films minces lorsque les pics et les vallées ne sont pas clairement visibles.
Diverses applications
Le système répond à divers besoins de mesure avec une grande rapidité et une haute précision.
Évaluation de la réflectivité, de la couleur et de l’épaisseur des films de revêtements de lentilles
Lentilles de téléphones portables
Lentilles de projecteurs
Lentilles d’appareils photo numériques
Verres de lunettes
Analyse de la réflectivité et de l’épaisseur des films de composants électroniques miniatures
Boîtiers LED
Circuits imprimés
Mesure de la réflectivité, de l’épaisseur des films et de la transmittance d’éléments optiques planaires
Filtres colorés pour écrans LCD
Films optiques
Réflectivité des éléments optiques à un angle d’incidence de 45 degrés
Prismes
Miroirs
Caractéristiques techniques
Microspectrophotomètre proche infrarouge USPM-RU-W
| Mesure de la réflectivité | Mesure de la transmittance*1 | Mesure de la réflectivité pour 45 degrés*1 | ||
| Nom | Microspectrophotomètre proche infrarouge | Ensemble de mesure de la transmittance pour microspectrophotomètre proche infrarouge |
Ensemble de mesure de la réflectance à 45 degrés pour microspectrophotomètre proche infrarouge |
|
| Modèle | USPM-RU-W | |||
| Longueur d’onde mesurée | De 380 à 1050 nm | |||
| Méthode de mesure | Comparaison avec un échantillon de référence pour mesure | Transmissivité mesurée en prenant 100 % comme étalon | Comparaison avec un échantillon de référence pour mesure | |
| Plage de mesure | Voir les caractéristiques techniques de l’objectif ci-dessous | Environ 2,0 mm de diamètre | ||
| Répétabilité des mesures (3σ) *2 | Mesure de réflectivité | Avec des objectifs 10x et 20x | ±0,02 % ou moins (entre 430 et 1010 nm) ±0,2 % ou moins (sauf comme indiqué ci-dessus) |
±0,3 % ou moins (entre 430 et 1010 nm) ±1,0 % ou moins (sauf comme indiqué ci-dessus) |
| Avec un objectif 40x | ±0,05 % ou moins (entre 430 et 950 nm) ±0,5 % ou moins (sauf comme indiqué ci-dessus) |
|||
| Mesure de l’épaisseur d’un film | +/- 1 % | - | ||
| Résolution de l’affichage des longueurs d’onde | 1 nm | |||
| Accessoire d’éclairage | Source de lumière halogène spécifique, JC12V 55 W (Durée de vie moyenne : 700 heures) | |||
| Platine de déplacement | Dimensions de la surface de charge (L x P) : 200 x 200 mm Charge admissible avec support : 3 kg Course : (XY) ±40 mm, (Z) 125 mm |
|||
| Platine inclinable | － | Dimensions de la surface de charge (L x P) : 140 x 140 mm Charge admissible avec support : 1 kg Course : (XT) ±1*, (YT) ±1* |
||
| Poids | Partie principale : environ 26 kg (PC non inclus) | Partie principale : environ 31 kg (PC non inclus)*3 | ||
| Boîtier de commande de l’alimentation électrique : environ 6,7 kg | ||||
| Dimensions | Partie principale (L x P x H) : 360 x 446 x 606 mm | Partie principale (L x P x H) : 360 x 631 x 606 mm | ||
| Boîtier de commande de l’alimentation électrique (L x P x H) : 250 x 270 x 125 mm (pièces saillantes exclues) | ||||
| Caractéristiques techniques relatives à l’alimentation électrique | Entrée : 100-240 V c.a. (110 V), 50/60 Hz | |||
| Environnement de fonctionnement | Emplacement horizontal non sujet aux vibrations Température : de 15 à 30 °C Humidité : HR de 15 à 60 % (sans condensation de rosée) |
|||
*1 Unité en option * 2 Mesure réalisée dans les conditions de mesure de notre entreprise *3 Le poids total de l’installation de mesure de la transmissivité et de l’installation de mesure de la réflectivité à 45 degrés est d’environ 33 kg.
Objectif
*4 Différent de l’ouverture numérique de l’objectif
*5 Diamètre du faisceau
Logiciel
Logiciel d’analyse spectrale avec interface d’utilisation conviviale
Exemple de disposition d’écrans sur l’interface graphique
Interface facile à comprendre
Personnalisez l’interface (position, taille, visibilité des fenêtres) selon vos besoins en matière de mesure et vos préférences.
Graphique de réflectivité/transmittance, données numériques de réflectivité/transmittance, diagramme de chromaticité XY/L*a*b*
Résultats de mesure variés
Les graphiques et les données de réflectivité ou de transmissivité spectrale, les mesures colorimétriques (diagrammes de chromaticité XY et L*a*b*), ainsi que les valeurs d’épaisseur de film peuvent être affichés simultanément sur un même écran pour une compréhension facilitée.
Réglage facile de la position et de la mise au point
Le positionnement du point de mesure est simplifié grâce à l’utilisation d’une fenêtre de mise au point pour l’alignement sur l’axe Z et d’une fenêtre de centrage (CT) pour l’alignement sur les axes X et Y.
Mise au point
Réglage de la position
Configuration du travail, des calques, des graphiques et des paramètres
Une grande flexibilité pour toute application
Le logiciel USPM-RU-W peut être configuré pour assurer des performances optimales pour votre échantillon spécifique.
Exemple de mesure de la réflectivité avec fonction de réglage de la tolérance
Fonction de réglage de la tolérance pour la détermination automatique du résultat (réussite/échec)
Le système peut être configuré pour attribuer automatiquement les désignations « bon » ou « mauvais ».