Microscope droit polarisant BX53P
Le microscope polarisant BX53-P offre des performances exceptionnelles en observation en lumière polarisée grâce à ses composants optiques UIS2 corrigés à l’infini et à son design optique unique. Polyvalent et évolutif, il prend en charge une vaste gamme de compensateurs et d’accessoires pour l’observation et la mesure dans des applications variées.
BX53-P
Vue d’ensemble
Une nouvelle norme pour l'observation de la lumière polarisée
Le microscope polariseur BX53-P offre une excellente performance dans les applications en lumière polarisée grâce à la combinaison du système optique corrigé à l’infini UIS2 et de la conception optique particulière. La vaste gamme de compensateurs compatibles rend le microscope BX53-P suffisamment polyvalent pour assurer des applications d’observations et de mesure dans pratiquement tous les domaines.
Les optiques UIS2 offrent une expansibilité exceptionnelle
En optimisant les avantages de la correction à l’infini, le système optique UIS2 évite la détérioration des performances optiques du microscope et élimine les facteurs de grossissement, même lorsque des éléments polarisants comme des analyseurs, des plaques d’étain ou des compensateurs sont introduits dans la trajectoire optique. Le microscope BX53-P peut aussi être équipé des accessoires intermédiaires offerts pour les microscopes de la série BX3, ainsi que de caméras et de systèmes d’imagerie.
Structure de zone de plagioclase en diorite de quartz.
*Les échelles indiquent la taille réelle des échantillons
Texture optique de MBBA
*Les échelles indiquent la taille réelle des échantillons
Lentille de Bertrand pour les observations orthoscopiques et conoscopiques
Grâce à l’accessoire d’observation conoscopique, il est facile de basculer entre les observations orthoscopiques et conoscopiques. Le focus de cet accessoire peut être ajusté pour le visionnement clair des motifs d’interférence du plan focal arrière. Le focus de la lentille de Bertrand est ajustable pour le visionnement clair des motifs d’interférence du plan focal arrière. Le diaphragme de champ permet de toujours obtenir des images conoscopiques nettes.
Gamme complète de compensateurs et de lames d’onde
Six compensateurs différents sont offerts pour les mesures de la biréfringence dans les sections minces des roches et des minéraux. Les niveaux de retard varient de 0 à 20λ. Pour simplifier les mesures et obtenir des images à contraste élevé, vous pouvez utiliser des compensateurs de Berek ou de Senarmont qui changent le niveau de retard dans tout le champ d’observation.
MEASURING RANGE OF COMPENSATORS
| Compensator | Measurement Range | Applications |
|---|---|---|
| Thick Berek (U-CTB) | 0–11000 nm (20λ) |
Measurement of high retardation level (R*>3λ), (crystals, macromolecules,fi ber, etc.) |
| Berek (U-CBE) | 0–1640 nm (3λ) |
Measurement of retardation level (crystals,macromolecules, living organisms, etc.) |
| Senarmont Compensator (U-CSE) | 0–546 nm (1λ) |
Measurement of retardation level (crystals, living organisms, etc.); enhancement of image contrast (living organisms,etc.) |
| Brace-Koehler Compensator1/10λ (U-CBR1) | 0–55 nm (1/10λ) |
Measurement of low retardation level (living organisms, etc.) |
| Brace-Koehler Compensator1/30λ (U-CBE2) | 0–20 nm (1/30λ) |
Measurement of image contrast (living organisms,etc.) |
| Quartz Wedge (U-CWE2) | 500–2200 nm (4λ) |
Approximate measurement of retardation level (crystal, macromolecules, etc.) |
*R = retardation level
For more accurate measurement, we recommend that compensators (except U-CWE2) be used together with the interference fi lter 45-IF546
Système optique à contrainte minimale
Les objectifs à lumière polarisée réduisent au minimum la contrainte interne. La valeur d’extension de zone est ainsi augmentée, créant un excellent contraste dans l’image.
Platine tournante robuste et précise
Le mécanisme de centrage rotatif fixé à la platine circulaire tournante permet la rotation en douceur d’un échantillon. De plus, un mécanisme d’arrêt à déclic placé à tous les 45 degrés assure la précision des mesures. La platine mécanique double en option rend possible des mouvements X-Y discrets.
Platine mécanique double
Caractéristiques techniques
| Méthode d’observation | Fond clair | ✓ | |
| Lumière polarisée | ✓ | ||
| Lumière polarisée simple | ✓ | ||
| Mise au point | Mécanisme de mise au point | Mise au point par la platine | ✓ |
| Platine | Mécanique | Platine rotative de précision | Rotation : 360 degrés |
| Condenseur | Manuel | Condenseur polarisant | Ouverture numérique : 0,9 / Distance de travail : 1,3 mm (lamelle en verre de 1,5 mm) (x4-x100) |
| Tête d’observation | Grand champ (numéro de champ : 22) | Trinoculaire | ✓ |
| Trinoculaire inclinable | ✓ | ||
| Dimensions (L × P × H) | 274 (W) x 436 (D) x 535 (H) mm | ||
| Poids | 16 kg | ||