Microscopio rovesciato GX53
Il microscopio rovesciato GX53 assicura un'eccezionale nitidezza dell'immagine e un'eccellente risoluzione con alti ingrandimenti. Attraverso accessori come un revolver codificato e un software, il design modulare del microscopio facilita la personalizzazione delle tue esigenze.
Microscopio metallurgico invertito GX53
Veloce analisi di componenti di spessore e grandezza elevati
Progettato per un impiego in diversi settori come quello dell'acciaio, automobilistico, dell'elettronica e di altre industrie manifatturiere, il microscopio GX53 fornisce delle immagini nitide che possono essere difficili da acquisire mediante i metodi di osservazione con microscopia convenzionale. Quando combinato con il software di analisi delle immagini PRECiV, il microscopio facilita il processo di ispezione, dalla fase di osservazione a quella di analisi delle immagini e di creazione dei report.
Veloci ispezioni, funzionalità avanzate
Capacità di osservare, misurare e analizzare le strutture metallurgiche in modo veloce.
Strumenti avanzati di analisi
1. Metodi di osservazione combinati sono in grado di produrre delle immagini eccezionali
2. Facile creazione di immagini panoramiche
3. Creazione di immagini completamente a fuoco
4.Acquisizione delle aree chiare e scure
Ottimizzato per le scienze dei materiali
1. Software progettato per le scienze dei materiali
2. Analisi metallurgica conforme alle norme industriali
Facile uso
Anche gli operatori inesperti possono effettuare le osservazioni, analizzare i risultati e creare i report in modo confortevole.
1. Facile ripristino delle configurazioni del microscopio
2. Guida dell'utente per contribuire alla semplificazione delle analisi avanzate
3. Efficiente creazione di report
Tecnologia di imaging avanzata
Le nostre collaudate ottiche e tecnologie di imaging assicurano immagini nitide e ispezioni affidabili.
1. Prestazioni ottiche affidabili: Controllo dell'aberrazione del fronte d'onda
2. Immagini chiare: Correzione delle ombreggiature dell'immagine
3. Colore temperatura costante: Illuminazione a LED bianco ad alta intensità
4.Misure precise: Taratura automatica
Modulare
Possibilità di scelta delle componenti necessarie per la propria applicazione.
1. Personalizzazione del sistema: Sistema completamente personalizzabile con diversi componenti opzionali
Osservazione
Strumenti avanzati di analisi
Le diverse funzionalità di osservazione del microscopio GX53 assicurano immagini chiare e nitide, così da poter rilevare i difetti dei campioni in modo affidabile. Le nuove tecniche di illuminazione e opzioni di acquisizione delle immagini del software di analisi delle immagini PRECiV offrono maggiori possibilità di valutazione dei campioni e di documentazione delle analisi.
Combinazione di alta apertura numerica e lunga distanza di lavoro
Le lenti degli obiettivi sono fondamentali per le prestazioni di un microscopio. I nuovi obiettivi MXPLFLN aggiungono profondità alla serie MPLFLN per imaging con epi-illuminazione, massimizzando, allo stesso tempo, l'apertura numerica e la distanza di lavoro. Delle maggiori risoluzioni con ingrandimenti di 20X e 50X in genere si traducono in distanze di lavoro più brevi, obbligando a ritrarre il campione o l'obiettivo durante la sostituzione dell'obiettivo. In molti casi, la distanza di lavoro di 3 mm della serie MXPLFLN elimina questo problema, permettendo delle ispezioni più veloci con meno probabilità che l'obiettivo urti il campione.
L'invisibile reso visibile: Tecnologia MIX
La tecnologia MIX combina il campo scuro con un altro metodo di osservazione come il campo chiaro o la polarizzazione, per permettere di visualizzare i campioni che sono difficili da osservare con i microscopi convenzionali. L'illuminatore circolare al LED integra una funzionalità con campo scuro direzionale attraverso la quale uno o più quadranti sono illuminati in un determinato momento, in modo da ridurre l'alone del campione e meglio visualizzare la tessitura superficiale.
Sezione trasversale di un circuito stampato
Campo chiaro
Gli strati del substrato e il foro passante non sono visibili.
Campo scuro
Le tracce non sono visibili.
MIX: Campo chiaro + Campo scuro
Tutte le componenti sono rappresentate chiaramente.
Acciaio inossidabile
Campo chiaro
La tessitura non è osservabile.
Quadrante del campo scuro
L'informazione relativa al colore è eliminata
Quadrante MIX: Campo chiaro + Campo scuro
Il colore del materiale e la tessitura sono visibili.
Facile creazione di immagini panoramiche: MIA istantanea
Attraverso la funzionalità Multiple image alignment (MIA) è possibile unire (stitching) le immagini insieme muovendo semplicemente le manopole XY sul tavolino manuale (il tavolino motorizzato è opzionale). Il software PRECiV utilizza la funzionalità di riconoscimento del pattern per generare un'immagine panoramica, ideale per l'ispezione delle condizioni di carburazione e di flusso del metallo.
Flusso del metallo di un bullone
Regolazione della posizione del tavolino mediante la manopola XY.
È osservabile la condizione complessiva del flusso del metallo.
Creazione di immagini completamente a fuoco: EFI
La funzione Extended focus imaging (EFI) del software PRECiV permette di acquisire le immagini dei campioni la cui altezza si estende oltre la profondità di campo. L'EFI sovrappone queste immagini per creare una singola immagine del campione completamente a fuoco. Anche quando si analizza la sezione trasversale di un campione con superficie irregolare, l'EFI è in grado di creare delle immagini completamente a fuoco.
L'EFI funziona con un asse Z manuale o motorizzato ed è in grado di creare una mappatura delle altezze per la visualizzazione delle strutture.
Componenti in resina
Regolazione dell'altezza dell'obiettivo con la manopola di messa a fuoco.
L'EFI acquisisce e sovrappone automaticamente immagini multiple per creare una singola immagine del campione completamente a fuoco.
Creazione di un'immagine completamente a fuoco.
Acquisizione delle aree chiare e scure mediante HDR
Mediante operazioni di elaborazione di immagini avanzata, la funzione HDR (High Dynamic Range - elevato campo dinamico), regola le differenze di luminosità di un'immagine per ridurre i riflessi. Inoltre contribuisce a aumentare il contrasto nelle immagini a basso contrasto. L'HDR può essere usato per osservare delle strutture di ridotte dimensioni nei dispositivi elettronici e identificare i limiti intergranulari dei metalli.
Placcatura d'oro
Alcune aree hanno dei riflessi.
Aree chiare e scure hanno un'esposizione ottimale mediante l'HDR.
Rivestimento a diffusione di cromo
Basso contrasto e nitidezza limitata.
Contrasto migliorato mediante l'HDR.
Applicazioni
Questi sono solo alcuni degli esempi di cosa è possibile realizzare mediante diversi metodi di osservazione.
Campione lucidato di AlSi (Campo chiaro / Campo scuro)
Campo chiaro
Campo scuro
Campo chiaro: Comune metodo di osservazione per osservare la luce riflessa da un campione illuminandola direttamente. Campo scuro: Metodo di osservazione con luce diffusa o diffratta dal campione, in modo che si evidenzino graffi o difetti di ridotte dimensioni.
Ghisa a grafite sferoidale (Campo chiaro / DIC)
Campo chiaro
Osservazione DIC
Il contrasto DIC è una tecnica di osservazione dove l'altezza del campione è visibile in rilievo, in modo simile alle immagini 3D con contrasto migliorato; è ideale per le ispezioni di campioni che hanno differenze minime di altezze come i minerali e le strutture metallurgiche.
Lega in alluminio (Campo chiaro / Luce polarizzata)
Campo chiaro
Osservazione a luce polarizzata
Luce polarizzata: Tecnica che evidenzia la tessitura del materiale e le condizioni del cristallo per osservare le strutture metallurgiche come il pattern di crescita della grafite nella ghisa nodulare e nei minerali.
Dispositivo elettrico (Campo chiaro / Osservazione MIX)
Campo chiaro
MIX: Campo chiaro + Campo scuro
Osservazione MIX: Combina il campo chiaro e campo scuro per mostrare il colore e la struttura del campione.
La precedente immagine di osservazione MIX riproduce chiaramente il colore e la tessitura del dispositivo, oltre alle condizioni dello strato adesivo.
Analisi
Software PRECiV – Ottimizzato per le scienze dei materiali
La combinazione del microscopio GX53 e del software PRECiV permette di supportare i metodi di analisi metallurgiche in conformità a diverse norme industriali. Attraverso una guida passo a passo per l'operatore, gli utenti possono analizzare i campioni in modo facile e veloce.
> Cliccare qui per maggior informazioni sul PRECiV
Analisi delle particelle: Soluzione Count-Measure
La soluzione Count-Measure utilizza degli avanzati metodi delle soglie per dividere in modo affidabile oggetti, come particelle e graffi, dallo sfondo. Sono disponibili più di 50 differenti parametri di misura e classificazione degli oggetti come le proprietà relative a forma, dimensione, posizione e pixel.
Software convenzional
Limiti intergranulari indefiniti
Microstruttura dell'acciaio inciso
(immagine originale)
PRECiV
Rilevamento definito dei limiti intergranulari
Risultati della classificazione dei grani
Misura dei grani in una microstruttura
Permette di misurare la dimensione dei grani e di analizzare le microstrutture di alluminio, le strutture cristalline d'acciaio, oltre alla ferrite, l'austenite e altri metalli.
Norme supportate: ISO, GOST, ASTM, DIN, JIS e GB/T
Microstruttura di grani ferritici
Soluzione Grain sizing intercept
Soluzione Grain sizing planimetric con fase secondaria
Valutazione della nodularità della grafite
Permette la valutazione della nodularità della grafite e del contenuto nei campioni in ghisa (nodulare e vermicolare). Consente la classificazione della forma, distribuzione e dimensioni dei nodi in grafite.
Norme supportate: ISO, NF, ASTM, KS, JIS e GB/T
Ghisa duttile con grafite nodulare
Soluzione Cast iron
Valutazione delle inclusioni non metalliche in acciai ad elevata purezza
Permette di classificare inclusioni non metalliche mediante l'immagine del campo peggiore o l'immagine dell'inclusione peggiore individuata nel campione.
Norme supportate: ISO, EN, ASTM, DIN, JIS, GB/T e UNI
Acciaio con inclusioni non metalliche
Soluzione Inclusion worst field
Confronto delle immagini del campione e delle immagini di riferimento
Permette di confrontare delle immagini live o statiche con immagini di riferimento ridimensionate automaticamente. Questa soluzione include immagini di riferimento in conformità con diverse norme (immagini di riferimento supplementari possono essere acquistate separatamente). Sono supportate diverse modalità come la visualizzazione overlay live e il confronto in parallelo.
Norme supportate: ISO, EN, ASTM, DIN e SEP
Acciaio con inclusioni non metalliche
Microstruttura con grani ferritici
Specifiche della soluzione del materiale
Condivisione
Ispezioni semplici e efficienti
Utilizzare il microscopio GX53 e il software PRECiV per acquisire immagini di diversi campioni, eseguire diversi tipi di analisi e creare report professionali.
> Cliccare qui per maggior informazioni sul PRECiV
Facile ripristino delle configurazioni del microscopio: Hardware codificato
Le funzioni codificate integrano le configurazioni hardware del microscopio con il software di analisi delle immagini PRECiV Il metodo di osservazione, l'intensità di illuminazione e l'ingrandimento possono essere salvati e archiviati con le immagini associate. Le configurazioni sono riprodotte facilmente in modo che diversi operatori possono realizzare le stesse ispezioni di elevata qualità con una formazione limitata.
Diversi operatori usano diverse configurazioni.
Recuperare le configurazioni del dispositivo con il software PRECiV.
Diversi operatori possono usare le stesse configurazioni.
Guida dell'utente per contribuire alla semplificazione delle analisi avanzate
Il software guida gli utenti passo a passo attraverso un processo di ispezione conforme alla norma industriale scelta. Gli operatori possono realizzare le analisi avanzate semplicemente seguendo la guida sulla schermata.
Efficiente creazione di report
I tempi di creazione di un report possono risultare spesso maggiori rispetto a quelli necessari per l'acquisizione di immagini e la presa di misure. Il software PRECiV permette un'intuitiva creazione di report per produrre ripetutamente report sofisticati in base a modelli predefiniti.
Specifiche tecniche
Cambio manuale stop di campo/stop di apertura con centramento
Generatore di luce: LED bianco (con Gestione dell'intensità luminosa) /12 V, lampada alogena da 100 W /lampada al mercurio da 100 W/guidaluce
Modalità di osservazione: campo chiaro, campo scuro, contrasto interferenziale (DIC)*1, polarizzazione semplice*1, osservazione MIX (4 campo scuro direzionale)*2
*1 Richiesta la slitta per l'uso esclusivo di questa osservazione. *2 Richiesta la configurazione di osservazione MIX.
Alimentazione a LED integrata per illuminazione a luce riflessa
Controllo dell'intensità della luce variabile in modo continuo
Ingresso nominale 5 V DC, 2,5 A (alimentatore 100–240 V, AC 0,4 A, 50 Hz/60 Hz)
Illuminazione a luce trasmessa (richiede l'alimentazione opzionale BX3M-PSLED)
Controllo dell'intensità della luce variabile in modo continuo per tensione
Ingresso nominale 5 V DC, 2,5 A (alimentatore 100–240 V, AC 0,4 A, 50 Hz/60 Hz)
Interfaccia esterna (richiede l'opzionale unità di controllo BX3M-CBFM)
× 1 connettore per revolver codificato
×2 connettore per Slitta MIX (U-MIXR)
×1 connettore per comando (BX3M-HS)
×1 connettore per comando (U-HSEXP)
× 1 connettore RS-232C, × 1 connettore USB 2.0,
Manopola coassiale manuale macrometrica e micrometrica; corsa di messa a fuoco di 9 mm (2 mm al di sopra e 7 mm al di sotto della superficie del tavolino)
Corsa micrometrica manopola per rotazione: 100 μm (scala min.: 1 μm)
Corsa macrometrica manopola per rotazione: 7 mm
Con anello di regolazione della coppia per la messa a fuoco macrometrica
Con finecorsa superiore per la messa a fuoco macrometrica
Foro campo chiaro/campo scuro: Da 5 a 6 pcs, Tipo: Manuale/Codificato, Centramento: Attivato/Disattivato
Flessibile tavolino con manopola a destra, tavolino con manopola sinistra breve (ognuno con corsa X/Y: 50 × 50 mm, max. carico di 1 kg)
Tavolino scorrevole (carico max. di 1 kg)
Una serie di tipi a goccia e a foro lungo
・Temperatura ambiente: da 5 a 40 °C (da 45 a 100 °F)
・Umidità relativa massima: 80% per temperature fino a 31 °C (88 °F) (senza condensa)
Per temperature superiori a 31 °C (88 °F), l'umidità relativa diminuisce in maniera lineare: 70% a 34 °C (93 °F), 60% a 37 °C
(99 °F) e 50% a 40 °C (104 °F).
・Grado di inquinamento: 2 (in conformità a IEC60664-1)
・Categoria di installazione/sovratensione: II (conforme alla norma IEC60664-1)
・Fluttuazione della tensione di alimentazione: ±10 %
Risorse
Note delle applicazioni
Video
Improving Materials Analysis Inspections with MX Plan Semi-Apochromat Objectives