Spettrometro USPM RU W
Il microspettrofotometro USPM-RU-W NIR di Evident permette di eseguire una veloce e precisa spettrometria nell'ambito di numerose lunghezze d'onda: dalla luce visibile alle lunghezze d'onda in prossimità dell'infrarosso. La capacità di misurare in modo semplice la riflessività di aree di dimensioni molto ridotte o di superfici curve che non possono essere misurate mediante i normali spettrofotometri, rende l'USPM-RU-W adatto per l'analisi di elementi ottici o di componenti elettroniche miniaturizzate.
USPM-RU-W Industrial Microscopes
Microspettrofotometro in prossimità dell'infrarosso
■ Riflettività, spessore della pellicola, colore dell'oggetto e trasmittanza misurata in secondi
■ Ampio intervallo di lunghezze d'onda da 380 a 1050 nm
■ Misura della riflettività su superfici curve senza contatto
Misura della riflettività
Misura della riflettività di un'area di ridotte dimensioni variabile tra 17 e 70 μm
Esempio di misura della riflettività: lente
Esempio di misura della riflettività: curvatura della lente
Screenshot della misura dello spessore della pellicola
Misura dello spessore della pellicola
Utilizza i dati di riflettività per misurare lo spessore di pellicole monostrato o multistrato di di un valore approssimativo compreso tra 50 nm e 10 μm.
Screenshot della misura del colore dell'oggetto
Misura del colore dell'oggetto
Visualizza un diagramma di cromaticità XY, un diagramma di cromaticità L*a*b* e dei valori numerici correlati in base ai dati di riflettività.
Misura dei livelli di trasmissione (disponibile come opzione)
Misura la trasmittanza di un campione piano trasmettendo dei fasci luminosi paralleli 2 mm attraverso il campione fino agli elementi di analisi della spettrometria.
Percorso ottico della misura della trasmittanza
Misura della riflettività con un angolo di 45°（disponibile come opzione）
Misura la riflettività con un angolo di 45° riflettendo dei fasci luminosi paralleli 2 mm fino agli elementi di analisi della spettrometria.
Percorso ottico della misura della riflettività a 45°
Veloce misura di superfici curve e di aree di ridotte dimensioni
Immagine del sistema ottico
Misura ad alta velocità
In pochi secondi è possibile realizzare delle veloci misure ad alta ripetibilità mediante un reticolo a campo piano, un sensore lineare e una spettrometria a alte velocità.
Immagine di misura della riflettività
Eccellente per la misura della riflettività di componenti e lenti di dimensioni estremamente ridotte
Olympus ha progettato una nuova lente per obiettivi che fornisce delle misure senza contatto in un'area con diametro compreso tra 17 e 70 μm. La nuova lente fornisce un'elevata ripetibilità anche su superfici curve o componenti elettroniche di ridotte dimensioni.
Principio dell'eliminazione del riflesso nella parte posteriore
Anti-reflection Processing is Not Required on the Back of the Sample
Accurate measurement of surface reflectivity can be performed without the costly steps needed to prevent rear surface reflection. Rear surface-reflected light is reduced by means of special optics that block all out-of-focus light reflection similar to a confocal system. Whether your optical component is spherical,aspherical or flat, the USPM-RU-W does not require sample preparation through anti-reflection treatments.
Disponibili metodi di misura dello spessore di pellicole
Lo spessore della pellicola monostrato o multistrato può essere analizzato in base ai dati di riflettività spettrali misurati. È possibile scegliere il metodo di misura ottimale per l'applicazione.
Risultato di analisi dello spessore di pellicole con il metodo picchi-valli
Metodo picchi-valli
Questo metodo è usato per calcolare lo spessore della pellicola in base ai periodi tra i picchi e le valli del valore di riflettività spettrale misurata ed è efficace per la misura della pellicola monostrato. Sono richieste delle configurazioni non complicate pertanto risulta facile la misura dello spessore delle pellicola.
Risultato di analisi dello spessore di pellicole con il metodo Trasformata di Fourier
Metodo della Trasformata di Fourier
Questo metodo è usato per calcolare lo spessore delle pellicole in base ai periodi compresi tra i valori di riflettività spettrale misurati ed è efficace per la misura di pellicole monostrato e multistrato. Il metodo della Trasformata di Fourier elimina il rumore, così da rendere l'analisi possibile quando è difficile rilevare i valori dei picchi e delle valli.
Risultato di analisi dello spessore di pellicole con l'adattamento della curva
Metodo di adattamento della curva
Questo metodo è usato per calcolare lo spessore della pellicola valutando quale struttura possiede la minore differenza tra la riflettività spettrale misurata e la riflettività calcolata per quella specifica struttura. Inoltre è efficace per misurare pellicole monostrato e multistrato. In aggiunta il metodo di adattamento della curva permette l'analisi di una pellicola sottile nella quale i valori dei picchi e delle valli non sono apparenti.
Applicazioni diverse
Diverse esigenze di misura soddisfatte con alta velocità e precisione
Valutazione del rivestimento di lenti in riferimento a riflettività, colore e spessore della pellicola.
Lenti per fotocamere per smartphone
Lenti per proiettori
Lenti per fotocamere digitali
Lenti a contatto
Analisi della riflettività e dello spessore di pellicole di componenti elettroniche di ridotte dimensioni.
Pacchetti LED
Schede a circuito stampato
Misura della riflettività, dello spessore di pellicole e della trasmittanza di elementi ottici planari.
Filtri a colori LCD
Pellicole ottiche
Riflettività di elementi ottici con un angolo di incidenza di 45°
Prismi
Specchi
Specifiche tecniche
Microspettrofotometro USPM-RU-W NIR
| Misura della riflettività | Misura della trasmittanza*1 | Misura della riflettività per 45°*1 | ||
| Nome | Micro-spettrofotometro NIR | Misura della trasmittanza definita per il Micro-spettrofotometro NIR |
Misura della riflettanza a 45° per il Micro-spettrofotometro NIR |
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| Modello | USPM-RU-W | |||
| Lunghezza d'onda misurata | Da 380 a 1050 nm | |||
| Metodo di misura | Confrontato con un campione di riferimento per la misura | Trasmissività misurata con il 100% come standard | Confrontato con un campione di riferimento per la misura | |
| Intervallo di misura | Riferirsi alle specifiche del seguente obiettivo | Circa 2,0 mm di diametro | ||
| Misura della ripetibilità (3s) *2 | Misura della riflettività | Durante l'uso di obiettivi 10x e 20X | ±0,02% o inferiore (da 430 a 1010 nm) ±0.2% o inferiore (eccetto come descritto precedentemente) |
±0,3% o inferiore (da 430 a 1010 nm) ±1.0% o inferiore (eccetto come descritto precedentemente) |
| Durante l'uso di un obiettivo 40x | ±0,05% o inferiore (da 430 a 950 nm) ±0.5% o inferiore (eccetto come descritto precedentemente) |
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| Misura di spessore di pellicole | ±1% | - | ||
| Risoluzione della visualizzazione della lunghezza d'onda | 1 nm | |||
| Accessori di illuminazione | Generatore di luce alogeno dedicato, JC12V 55 W (durata di vita media: 700 ore) | |||
| Tavolino traslabile | Dimensione della superficie di caricamento: 200 (Largh.) x 200 (Lungh.) mm Carico con stativo: 3 kg Intervallo operativo: (XY) ±40 mm, (Z) 125 mm |
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| Tavolino inclinabile | － | Dimensione della superficie di caricamento: 140 (Largh.) x 140 (Lungh.) mm Carico con stativo: 1 kg Intervallo operativo: (XY) ±1*, (YT) ±1* |
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| Peso | Corpo principale: Circa 26 kg (computer non incluso) | Corpo principale: Circa 31 kg (computer non incluso)*3 | ||
| Unità di controllo alimentazione: Circa 6,7 kg | ||||
| Dimensioni | Corpo principale: 360 (Largh.) x 446 (Lungh.) x 606 (Altez.) mm | Corpo principale: 360 (Largh.) x 631 (Lungh.) x 606 (Altez.) mm | ||
| Unità di controllo alimentazione: 250 (Largh.) x 270 (Lungh.) x 125 (Altez.) mm (parti sporgenti non incluse) | ||||
| Specifiche di alimentazione | Specifiche dell'ingresso: CA 100-240V (110V) 50/60Hz | |||
| Ambiente operativo | Posizione orizzontale non soggetta a vibrazioni Temperatura: Da 15 ºC a 30 ºC Umidità: Da 15% a 60% di umidità relativa (senza condensa) |
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*1 Unità opzionale *2 Misurato nelle condizioni tipiche per la nostra azienda. *3 Il peso totale del set di misura di trasmissività e del set di misura di riflettività a 45° installati è di circa 33 kg.
Obiettivi
*4 Differisce dall'NA dell'obiettivo.
*5 Diametro punto
Software
Il software di analisi spettrale è dotato di un'interfaccia utente di semplice uso
Esempio di layout GUI
Schermata di facile lettura
È possibile cambiare il layout oltre alla posizione, la dimensione e la visibilità di ogni finestra , in base allo scopo della misura e alle esigenze dell'utente.
Grafico di riflettività/trasmittanza, testo di riflettività/trasmittanza e diagramma di cromaticità XY/L*a*b*
Risultati di misura diversi
Il testo e il grafico di riflettività/trasmittanza spettrale, oltre alla misura cromatica (diagrammi di cromaticità XY e L*a*b*) e ai vlaori di misura dello spessore possono essere visualizzati su una schermata per facilitarne la comprensione.
Facile regolazione della posizione e della messa a fuoco
Il posizionamento del punto di misura risulta facile utilizzando la finestra di messa a fuoco per l'allineamento dell'asse Z e la finestra di centratura (CT) per l'allineamento dell'asse X e Y.
Messa a fuoco
Regolazione della posizione
Configurazione del lavoro, configurazione dello strato , configurazione del grafico e configurazione del parametro
Flessibilità per tutte le applicazioni
Il software USPM-RU-W può essere configurato per ottenere le prestazioni ottimali per uno specifico campione.
Esempio di misura della riflettività con la funzione di configurazione della tolelranza
Funzione di configurazione della tolleranza dell'automatica determinazione Idoneo/Non idoneo (Pass/Fail)
Il sistema può essere configurato per fornire automaticamente una valutazione Idoneo/ Non idoneo (Good/No good).