CIX100 Inspection System

CIX100は高い信頼性と高速性を両立したコンタミネーション解析の専用システムです。工業規格に沿った顕微鏡検査や検査結果のレビュー、レポート出力が、オペトレ不要な簡単操作で行えます。

CIX100

概要

CIX100は高い信頼性と高速性を両立したコンタミネーション解析の専用システムです。工業規格に沿った顕微鏡検査や検査結果のレビュー、レポート出力が、オペトレ不要な簡単操作で行えます。

コンタミネーション解析専用システムCIX100:

顕微鏡検査のワークフローを工業規格に沿ってトータルにサポート

自動車などの安全性や耐久性、品質向上に伴いコンタミ管理の重要度が増しています。フィルターでろ過した付着異物を従来の計量 (重量法) のみで評価するだけでは、製品の機能や性能、信頼性のキーとなるパーツやユニット、液体の品質を管理することは難しくなってきています。

最近は顕微鏡などで捉えた微小異物を粒子としてカウントし、クラス分類の結果を基に分析する『顕微鏡法』の必要性が高まっています。この手法は既に各種の工業規格で、検査条件やクラス分類の方法が明示されており、検出粒子の数などによって工程管理が行えます。さらに、より厳密なコンタミネーション管理や問題の原因特定には、粒子サイズの分布や組成などの解析も求められます。高い信頼性と高速性を両立したCIX100を使えば工業規格に沿った顕微鏡検査や検査結果のレビュー、レポート出力が、オペトレ不要な簡単操作で行えます。さらにディープラーニングAI技術を活用した画像解析により粒子分類の機能を拡張します。

コンタミネーション解析の標準プロセス:準備(ステップ1~3)および調査(ステップ4~6)

信頼性

微細なコンタミを見逃さない光学性能と作業性を追求したソフトウェア。CIX100はあらゆる工業規格に対応し、高速かつ安定した検査結果を得ることができる、コンタミネーション解析の専用システムです。

  • コンタミネーション解析に専用設計された筐体により高い光学性能を実現
  • コンタミネーション解析用のアルゴリズムにより粒子を逃さず検出
  • 粒子標準デバイスを用いた使用前の日常点検が可能
  • 従来の円形メンブレンフィルターに加え長方形のサンプルに対応

操作性

検査プロセスに特化したユーザーインターフェース。サンプルをセットしたら顕微鏡に触れる必要がなく、検査開始から異物のレビュー、レポート出力までソフトウェアだけで最小限の操作で行えます。

  • 検査プロセスに特化したユーザーインターフェース
  • 電動ユニットを採用し操作のすべてが画面上で完結
  • 対象の規格を選択するだけで検査条件の設定が完了
  • マテリアルソリューションを備えた顕微鏡モード(オプション)による機能拡張が可能
  • 画像解析にディープラーニング技術を活用したCIX100 TruAIソリューション

高速性

圧倒的なスピードで高感度検出。金属・非金属を1スキャンで高精度に分類します。高い信頼性を維持した検査結果がスキャン中でも逐次更新される機能によって早期の合否判定もできるので、検査全体の効率化を図ることが可能です。

  • 金属異物と非金属異物を1度のスキャンで検出
  • 観察視野からはみ出す粒子は自動貼り合わせ機能により1つの粒子としてカウント
  • オーバービュー機能によりフィルター全体のコンタミネーション結果がマッピング表示可能
  • 工業規格・社内規格に基づいた検査結果の確認が可能

レビュー

CIX100でスキャンしたサンプルはデータに自動保存され検出したコンタミネーションをライブラリ表示、結果のレビューを行うができます。また、同じサンプルを別の工業規格で評価したい場合は、画面上で規格を変更するだけで結果出力が可能です。

  • ライブラリから検出したコンタミネーションが選択可能
  • 規格で決められた粒子サイズのランク別に一覧表示可能
  • 選択した粒子解析は高さ測定などで詳細解析が可能

レポート

各種の工業規格に対応。検査やレビュー、レポート出力で規格に沿った結果が得られます。さらに一度検査した画像があれば検査条件や規格の設定を変更し、複数の検査結果やレポートを出力することも簡単に行えます。

  • コンタミ解析に関する、ISO, NF, VDAなどの規格に対応
  • レポートテンプレートはMS-Word形式
  • レポート出力はMS-Word/PDF形式を選択可能

Software Compatibility with Microsoft Office

信頼性

微細なコンタミを見逃さない光学性能と作業性を追求したソフトウェア

CIX100はあらゆる工業規格に対応し、高速かつ安定した検査結果を得ることができる、コンタミネーション解析の専用システムです。

コンタミネーション解析に専用設計された筐体により高い光学性能を実現

コンタミネーション解析用のアルゴリズムにより粒子を逃さず検出

粒子標準デバイスを用いた使用前の日常点検が可能

従来の円形メンブレンフィルターに加え長方形のサンプルに対応

Automated and Accurate For High Reproducibility

1. 保護カバー

カメラをカバーで保護することにより、位置ズレを防止。セットアップ時の調整状態を維持します。

2. 当社独自の特殊な偏光観察モード

1回のスキャンで金属粒子と非金属粒子を同時に検出します。

3. 電動ユニット

電動フォーカスユニットで高い位置決め再現性を実現します。

4. 耐久性(ステージ/ステージインサート)

ステージ上の専用サンプルホルダーで決まった位置に検査サンプルのメンブレンフィルターを固定できます。

5. UIS2対物レンズ

光学性能で最も重要な収差のバラつきが少ないUIS2対物レンズを搭載。

6. ユーザーインターフェース

ユーザーインターフェースはワークフローに応じて必要な機能だけを表示するように階層化されています。オペレーターは知識や経験がなくても操作で迷ったりミスすることはありません。

7. 専用ソフトウェア

画像貼り合わせや粒子検出、分類などの画像処理で先進のソフトウェア技術を駆使し信頼性の高い検査結果を得ることができます。

豊富なサンプルホルダーでシステムの汎用性を向上

円形、長方形のサンプルホルダーに対応しています。メンブレンフィルター用ホルダーは直径25mm、47mmおよび55mm、背景色は黒もしくは白をお選びいただけます。また、テープリフトサンプリング用のホルダー、金属工学アプリケーション用の表面が平らなホルダー、パーティクルトラップ用のホルダーをご利用できます。

背景色が白と黒の直径25mm(左)、47mm(中)、55mm(右)のメンブレンフィルター用の円形サンプルホルダー

パーティクルトラップ用サンプルホルダー

テープリフトサンプリング用サンプルホルダー

バッチスキャン後に複数のサンプルを直接確認

CIX100では、複数のサンプルを一度に検査するバッチモードをご用意しています。バッチモードでは、各サンプルに対して同じ検査設定または、個別に設定できます。検査後に各サンプルの結果を個別に確認、レポート作成も可能です。

Reproducibility and Repeatability

高い再現性と繰り返し性を実現

CIX100システムは使い方が簡単なので、経験の浅い検査官でも信頼性の高いデータが得られます。

設定済みで最適化されたハードウェアと専用のシステムソリューションにより、ユーザーは正しく設定することができ、再現可能な検査結果が得られます。

この図は、工程性能指数(PPk)を使用して測定安定性と繰り返し性を検証することで、CIX100の精度を示します。同一サンプルを5倍と10倍の倍率で10回測定し、標準サイズクラスの粒子数を抽出しました。図は、クラスE(50~100 μm)に対するCpkとPpkの評価を示します。

高い光学性能

CIXが採用した工業顕微鏡の筐体は実体顕微鏡とは異なり、計測に適した高解画像の撮像が可能なだけでなく、ピント位置がずれた時に測定結果がばらつかない光学系を搭載しています。さらに、高品質UIS2対物レンズや高解像度カメラ、光学コンポーネントなどの組み合わせによって高品質の検査画像を得られます。

Optimized Reproducibility

検査結果の安定性を実現

ステージ上にセットできる粒子標準デバイスを用いた定期確認で検査結果の安定性を実現します。

Secure Setup

検査条件の設定ミスを防止

光路の補正、電動レボルバー、そしてカメラをカバーで保護することにより、望ましくないズレを防止します。保護カバーによってシステム間で機差がない調整されたカメラに触れることがないため、誤った補正を防止して高い再現性を維持します。

操作性

ウィンドウにタスクバーのないフルスクリーン表示により、最大スペースが得られることでオペレーターの操作効率が高まります。

検査プロセスに特化したユーザーインターフェース

コンタミ解析専用システムのCIX100は検査プロセスの検査前準備~検査~結果レビューといったワークフロー全体で快適な操作環境を提供することが出来ます。サンプルをセットした後は、本体に触れることなく画面のガイダンスに従って操作するだけでフィルター全体の検査が完了します。

検査プロセスに特化したユーザーインターフェース

電動ユニットを採用し操作のすべてが画面上で完結

対象の規格を選択するだけで検査条件の設定が完了

マテリアルソリューションを備えた顕微鏡モード(オプション)による機能拡張が可能

直感的なインターフェース

説明なしでも使いやすいユーザーインターフェースにより、不慣れなオペレーターでも数クリックで完全な検査が可能。毎日の検査と処理の時間を最小限に抑えられます。

Easy for Every Experience Level

キャリブレーション

必要最小限の設定で定期校正を実施することができます。また、前回の実施時期が表示されているので、定期校正を忘れることを防止します。

Advanced Microscopy

Advanced Microscopy

充実した顕微鏡モード

CIX100はコンタミネーション解析だけでなく、デジタルマイクロスコープのアプリケーションに使用することもできます。

粒子解析(切断法)、 粒子解析(計数法)、鋳鉄解析、最悪視野の非金属介在物解析、レイヤー厚計測、アルミニウムDAS(デンドライトアームスペーシング)測定、 フェーズ分析、 気孔率解析、皮膜厚さ測定など、オプションで幅広いマテリアルソリューションを提供します。

ディープラーニング技術による画像解析

TruAIディープラーニング

CIX100は、TruAIディープラーニング技術を活用した、従来のアルゴリズムを越えた画像解析が可能です。学習データを測定したい画像に適用することで、より検出安定性の高い解析が可能になります。CIX100 TruAIソリューションでは、検出された粒子を粒子タイプ(反射と非反射など)で区別できます。

TruAIディープラーニングの詳細はこちら

保存と共有

すべてのデータは自動的に保存されます。アーカイブされたすべての標本、その関連データ、レポートに直接アクセスして、編集や情報の配布ができます。

左:システムを熟知したパワーユーザー向け設定例(ハードウェア再調整、ユーザー権限設定以外の操作が可能)

右:ルーチン作業を行うオペレーター向けの設定例

必要な作業に集中できるユーザー管理機能

CIX100では3つレベルのユーザー権限を管理できます。システム管理者はオペレーターレベルに応じて必要な機能を自由に割り当てることができます。パワーユーザーにはほぼすべてのシステム設定にアクセスできる権限を持たせたり、経験の少ないユーザーには基本的なワークフローにしかアクセスさせない、といったことも可能です。オペレーターは迷ったり、誤っりすることなく必要な機能の操作に集中できるので、検査作業自体の生産性が高められるだけでなく、作業者のレベルによらず信頼性のに高い検査結果を得ることができます。

タッチパネルに対応

CIX100ソフトウェアはボタンが大きく、効率的なタッチパネルでの作業に適しています。

検査条件の設定ミスを防止

検査で使用するすべてのパラメーターを指定します。このパラメーターには、粒子の特徴づけのルールや粒子群とタイプの設定などが含まれます。

高速性

検査領域全体のオーバービューや判定結果の表示など検査中に必要な情報が一目瞭然に確認できます。

圧倒的なスピードで高感度検出

CIX100は高い光学技術とハイスピードな電動ステージ、コンタミネーション解析専用のアルゴリズムなどにより、検査基準の厳しい工業規格でも高速かつ安定した検査結果を得ることができます。さらに検査によるステージ動作中でも、コンタミ解析結果がリアルタイムで反映されます。そのため検査の途中にNGとなった場合は途中で検査を終了し、次のサンプルに交換することで検査全体の効率化を図ることが可能です。

金属異物と非金属異物を1度のスキャンで検出

観察視野からはみ出す粒子は自動貼り合わせ機能により1つの粒子としてカウント

オーバービュー機能によりフィルター全体のコンタミネーション結果がマッピング表示可能

工業規格・社内規格に基づいた検査結果の確認が可能

1度のスキャンでさまざまな異物を

波長分離と色検出に基づく新しい偏光方法により、1度のスキャンで高い反射率の粒子 (金属) と低い反射率の粒子 (非金属) を検出します。CIX100はこの手法を使って従来の検査システム(インスペクターシリーズ)に比べて2倍の速さでスキャンを完了させることができます。更に異なる条件で2回スキャンする為に行う、偏光素子の設定変更が不要なので繰り返しの変更操作に伴う累積誤差や単純なオペレーションミスなどで検査結果がばらつくことは一切ありません。

1:従来の方法、2:CIX100独自の新方式(1-1:非金属粒子、1-2:金属粒子、2:2種類の粒子を同時検出)

リアルカラーでの観察画像

リアルカラー画像モードにより、粒子が実際に何であるかが判断しやすくなります。反射粒子は偏光で青く見えますが、このモードを用いることで、 粒子が金属であるかの確認が可能になり、粒子の種類について適切で有効な解析が行えます。

Particle as seen by the system during detection and analysis. The blue color indicates that this particle is metallic.

検出および解析時に表示される粒子。

青い色はこの粒子が、反射を起こす金属であることを示します。

Particle as seen during the review mode, in real color using the U-ANT filter and the color correction mode. Confirmation of the particle nature.

レビューモード中に見られる粒子。

U-ANTフィルターと色補正モードにより、実際の色合いに近い表示が行え、粒子の種類の判断に役立ちます。

オーバービュー表示で検出粒子を確認

標本のオーバービュー画像は、その標本の検査開始時に作成され、フィルター全体が低い倍率で表示されます。オーバービュー画像により、検査の開始前にフィルターのカバレージや粒子のクラスタリングを識別できます。

フィルターの割り当てが必要以上に高い場合、ユーザーに自動的に通知されます。

検査条件の表示

工業規格や社内の業務標準などを含めた検査条件を表示します。

検査結果表示

クラス分類ごとに検出した粒子が設定した合否判定閾値を超えているか検査中に確認できます。

CIX100 v. 1.6ソフトウェアでは、電気自動車や医療機器業界で必要とされる個々の粒子タイプの承認限界を評価することができます。

CIX100は大きな粒子の画像を自動的に再構築できます。

スキャン範囲を超えた粒子も検出可能

工業規格に準拠して2.5μm~最大42mmの範囲で、最小および最大粒子をライブで処理およびクラス分類します。

検査の残り時間

検査処理の終了までの残り時間を表示します。

レビュー

Flexible for Evaluation and Revision

粒子と分類テーブル、全体のCCC (Component Cleanliness Code) コード、粒子の位置、使用されている規格が 1つのビューに表示されます。

直感操作と多彩な機能で効率的にレビューできます

CIX100でスキャンしたサンプルはデータに自動保存され検出したコンタミネーションをライブラリ表示、結果のレビューを行うができます。また、同じサンプルを別の工業規格で評価したい場合は、画面上で規格を変更するだけで結果出力が可能です。

  • ライブラリから検出したコンタミネーションが選択可能
  • 規格で決められた粒子サイズのランク別に一覧表示可能
  • 選択した粒子解析は高さ測定などで詳細解析が可能

例えば反射する粒子や反射しない粒子など、あらゆる種類の粒子を大きい順に並べて表示します。

詳細な解析が可能

検査処理で取得した各粒子の画像を選択するだけで、高さ計測結果が分かる自動計測モードやフィルターの基準面からフォーカス移動を行い粒子のピント位置を指定するマニュアル計測モードでも計測可能です。

Revise Inspection Data

スピーディーな解析

粒子の位置、サムネイル、データが相互にリンクしているため、さまざまな角度からアプローチできます。

Trend analysis

統計解析

検査データを基に統計管理を行うことで分析結果の傾向把握ができます。

Particle Snapshots Documentation

スナップショットと簡易計測

任意の粒子の画像を撮影することができ、画面内で簡易計測ができます。

Easy Data Review

あらゆる種類の粒子(反射粒子や非反射粒子)を大きい順に並べて、画像を表示できます。

簡単なデータレビュー

コンタミネーションのサムネイル画像は、それぞれの位置や寸法にリンクしているため便利です。サムネイルを選択すると、自動的にそのコンタミネーションに飛ぶことができます。

選択した規格に応じて、クラス分類と粒子の表に結果が一覧表示されます。

信頼性の高い結果

選択した規格と粒子データに応じて、クラス分類と粒子の表に結果がそれぞれ一覧表示されます。

対応する工業規格の一覧

CIX100は以下の工業規格に沿った検査が可能です。

ASTM E1216-11:2016

ISO 4406:2021

ISO 4407:1999

ISO 4407:2002 [Cumulative and Differential]

ISO 11218:2017

ISO 12345:2013

ISO 14952:2003

ISO 16232-10:2007 (A, N, and V)

ISO 16232:2018 (A, N, and V)

ISO 21018:2008

DIN 51455:2020 [70%and 85%]

NAS 1638:1964; NF E 48-651:1986

NF E 48-655:1989

SAE AS4059:2020

VDA 19.1:2015 (A, N, and V)

VDA 19.2:2015

VDI 2083-21

CIXの工業規格の説明(PDF)をダウンロード

Direct Feedback

レビュー結果表示

選択した規格に準拠してライブで計算され、全体のコンタミネーション解析結果が表示されます。

必要に応じて、粒子タイプを限定することができます。

Precisely Compliant

レビュー条件の選択

結果はマウスをクリックするだけで、あらゆる規格に合わせて再計算できます。

Quick and Easy: Review, Revise, and Recalculate

迅速で簡単な画像編集機能

オペレーターは自分の検査データを簡単に編集できます。削除、分割、統合などのパワフルなソフトウェアツールにより、簡単にデータの編集ができます。

Height Measurement Solution

高さ計測でさらに詳細な解析が可能

検査処理で取得した各粒子の画像を選択するだけで、高さ計測結果が分かる自動計測モードやフィルターの基準面からフォーカス移動を行い粒子のピント位置を指定するマニュアル計測モードでも計測可能です。

社内の業務標準にも柔軟に対応

社内の業務標準に従った評価に必要な条件を簡単に作成&登録できます。レビュー時には、工業規格を含めた複数の基準で評価することも簡単です。

レポート

工業規格や社内の業務標準に準拠したレポート

規格に準拠したレポート出力や先進のデータ共有

CIX100はドイツ、フランスを含めた各種グローバルな工業規格に対応したレポート作成が可能です。社内の業務標準に対応するためのカスタマイズや多拠点の共有だけでなくなども容易なテンプレートを利用したレポート作成も可能です。また、過去に検査した結果データの検索、再レビューやそれに伴うレポートの再編集なども簡単な操作で行うことができます。

  • コンタミ解析に関する、ISO、NF、VDAなどの規格に対応
  • レポートテンプレートはMS-Word形式
  • レポート出力はMS-Word/PDF形式を選択可能
  • データ容量を最適化する専用のデータストレージ搭載

既に作成済みの添付テートリストから選択するだけ

工業規格や社内の業務標準に準拠したレポート

CIX100のスマートで洗練されたレポート作成ツールでは、初期設定のテンプレートを利用することによって経験の浅いオペレーターでも短時間でプロ仕様のレポートを作成できます。利用可能なすべてのテンプレートが明確に表示されます。

効率的なレポート作成

従来、レポート作成には、画像の撮像や測定より手間が掛かることがありました。CIX100でレポート作成するには画面に表示されるリストから必要な工業規格のテンプレートを選択するだけ。特に知識や経験がなくてもスマートで洗練されたレポートを迅速、簡単に繰り返し作成できます。編集も簡単で、レポートはMS WordやPDFに保存できます。

The software supports output formats such as MS Word or PDF or Excel.

サポートされる出力フォーマットには、MS Word、PDF、Excelなどがあります。

複数の出力フォーマットを選択可能

レポートのエクスポートもマウスをクリックするだけで簡単です。オペレーターは用途や必要性に合わせて、MS WordやPDFのフォーマットなどレポートのエクスポートを選べます。

プロセスモニタリングにも利用

プロセスのモニタリングや結果の再確認など検査データやレポートは一定期間、保存する必要があります。CIX100はこれらのデータを圧縮して保存できるのでより長い期間システム内にデータを保持できます。

サンプル情報

レポートには検査条件やサンプルの情報など必要なデータを出力することができます。

工業規格に準拠

レポートには、工業規格に準拠したクラス分類に基づいた検出粒子数など詳細結果の出力も可能です。

見やすいページレイアウト

直観的なページレイアウトで印刷や電子データのレビューも効率的です。検出した粒子は大きい順に並べて出力されます。

仕様

ハードウェア

顕微鏡本体 CIX100 電動フォーカス
  • 同軸電動ファインフォーカス、3軸ジョイスティック付き
  • フォーカスストローク:25 mm
  • ファインストローク:100 µm/回転
  • ステージホルダー取り付けの最大高さ:40 mm
  • フォーカス速度:200 µm/秒
  • ソフトウェアオートフォーカス対応
  • カスタマイズ可能なマルチポイントフォーカスマップ
照明
  • 内蔵LED照明
  • 反射粒子と非反射粒子を同時検出可能な新しい照明メカニズム
  • ソフトウェアによる輝度コントロールが可能
撮像素子
  • カラーCMOS USB 3.0カメラ
  • オンチップピクセルサイズ:2.2 x 2.2 µm
サンプルのサイズ
  • 標準付属:直径47㎜のフィルターを固定するホルダー
  • オプション:直径25㎜、直径55㎜フィルター用のホルダー、直径47㎜、直径55㎜ナイロンメッシュフィルター用に白色コーティングしたホルダー
レボルバー 電動タイプ 電動レボルバー
  • 6穴付き電動レボルバー、3つのUIS2対物レンズ装着済み
  • プレビュー用:PLAPON 1.25X
  • 10 µm以上の粒子検出用:MPLFLN 5X
  • 2.5 µm以上の粒子検出用:MPLFLN 10X
ソフトウェア制御
  • 画像倍率、ピクセルとサイズの関係は常に表示
  • 選択した対物レンズについては、選択した計測プロセスの特定のステップで使用され、対物レンズは自動的に配置される
ステージ 電動X・Yステージ 電動X・Yステージ
  • ステッピングモーターによる動作制御
  • 最大範囲:130 × 79 mm
  • 最大速度:240 mm/秒(ボールネジピッチ4 mm)
  • 繰り返し性:< 1 µm
  • 分解能:0.01 µm
  • 3軸ジョイスティックによる制御可能
ソフトウェア制御
  • スキャン速度は使用する倍率によって決まり、10倍のスキャン速度は10分未満
  • ステージアライメントは工場出荷時に実施
サンプルホルダー サンプルホルダー
  • ホルダーはメンブレンフィルターが装着時に不要な回転を防止する特殊設計
  • メンブレンフィルターはホルダーによりフラットに固定される
  • カバーの固定にツールは不要
  • 25 mm径、47 mm径、55 mm径メンブレンフィルター用のサンプルホルダー
  • パーティクルトラップ、パーティクルトラップ消耗品、テープリフトサンプリング用のサンプルホルダー
粒子標準デバイス(PSD)
  • PSD 上の粒子パターンを計測してシステムを検証
  • CIXの正しい機能を制御するために、チェックシステムの内蔵機能で使用されるサンプル
  • PSDには常にステージ上のスロット2を割り当て
ステージインサート 2ポジションのステージインサート
  • サンプルホルダーの右側の位置とPSDに特化したステージインサート
コントローラー ワークステーション 高性能のプリインストールワークステーション
  • HP Z4G4、Windows 10、64 bit Professional(英語)
  • 16 GB RAM、256 GB SSD、4 TBのデータ保存
  • 2 GBのビデオアダプター
  • Microsoft Office 2019(英語)インストール済み
  • ネットワーク機能、英語QWERTY配列キーボード、1000 dpi光学式マウス
拡張ボード
  • 電動コントローラー、RS232およびUSB 3.0
言語選択
  • オペレーティングシステムおよびMicrosoft Officeのデフォルト言語はユーザーが変更可能
タッチパネルディスプレイ 23型、スリムスクリーン
  • 解像度:1920 × 1080
電源 定格
  • ACアダプター(2)、コントローラー、顕微鏡フレーム(4つのプラグが必要)
  • 入力:100-240 V AC 50/60Hz、10 A
消費電力
  • コントローラー:700 W、モニター:56 W、顕微鏡:5.8 W、コントロールボックス:7.4 W
  • 合計:769.2 W
図面 寸法(W×D×H) 約1300 mm × 800 mm × 510 mm
重量 44 kg

システム環境条件

通常使用 温度 10 °C~35 °C
湿度 30~80%
安全規制 環境 屋内使用
温度 5 °C~40 °C(41 °F~104 °F)
湿度
  • 最大80%(最高31 °C)
    (結露なきこと)
  • 使用可能な湿度は、温度が31 °Cを超えると低下
  • 70%(34 °C)~60%(37 °C)~50%(40 °C)
高度 最高2,000 m
水平度 最大±2°
電源および電圧安定度 ±10%
汚染度(IEC60664) 2
過電圧カテゴリ(IEC60664) II

ソフトウェア

ソフトウェア CIX-ASW-V1.6
  • コンタミネーション解析専用のワークフローソフトウェア
言語 GUI
  • GUI:英語、フランス語、ドイツ語、スペイン語、日本語、中国語、韓国語
オンラインヘルプ
  • オンラインヘルプ:英語、フランス語、ドイツ語、スペイン語、日本語、中国語、韓国語
ライセンス管理
  • ソフトウェアライセンスはライセンスカードにより有効化(インストール時に有効化済み)
ユーザー管理
  • システムはドメイン管理のためにネットワークに接続可能
  • 機能の範囲は認証されたユーザーに応じて選択可能
ライブ画像 カラーモード表示
  • 金属粒子は青色、非金属粒子はオリジナルの色で解析
ウィンドウフィット方法
  • 画像は常に全画面表示
ライブ検出
  • 粒子はキャプチャーされるとただちに検出されるため、作業速度がアップ
  • 計測結果が思わしくない場合、ユーザーはプロセスを中止できる
ライブ分類
  • 粒子は検出されるとすぐに分類が可能
  • 粒子サイズクラスはライブ取得時にユーザーインターフェースで識別可能
顕微鏡モード
  • 顕微鏡モード対応
  • マテリアルソリューションへのアクセスが可能(オプション)
画像取得と手動計測 ユーザースナップショットの収集
  • 画像取得は、ライブ観察モード(ダイレクト画像から)とサンプルビューモード(記録されたデータから)で行えるほか、レビューモードでは、サンプルのどの位置からでも単一画像を取得可能
  • 画像は標準解像度1000 × 1000ピクセルで、.tif、.jpg、または.pngファイル形式で保存可能
  • スナップショットは検出した粒子にリンクされ、後で解析レポートにおいて使用可能
  • 粒子のスナップショットは自動的にEFI(Extended Focus Imaging)モードで取得可能
  • EFIモードで取得された記録は、解析レポート内で使用可能
手動計測
  • 取得されたスナップショットに対して任意距離計測を実行可能
  • 任意計測は名前変更や色付けが可能
  • 任意計測とスケールバーは、保存時に画像へ貼り付け
ハードウェア制御 電動X・Yステージ
  • ジョイスティック操作とソフトウェアによる制御
  • 円形および長方形のサンプル領域の検査
  • 選択した粒子に対して自動または手動で再配置
電動レボルバー
  • ソフトウェアによる選択のみ
電動フォーカス
  • ジョイスティックによる制御
  • ソフトウェアによるオートフォーカス対応
  • マルチポイントフォーカスマップを使用した予測オートフォーカス
チェックシステム システム検証
  • 粒子標準デバイスでシステムを検証
  • OKまたはNOK(Not OK) での合否判定
選択可能な対物レンズ
  • チェックシステムは作動中の対物レンズのみを使用して実行可能(1つ以上の対物レンズを選択する必要あり)
  • チェックシステムの実行には、5倍または10倍、あるいはその両方の対物レンズを使用
工業用清浄度の規格 対応規格
  • ASTM E1216-11:2016、ISO 4406:2021、ISO 4407:1999、 ISO 4407:2002 [Cumulative and Differential]、 ISO 11218:2017、ISO 12345:2013、ISO 14952:2003、ISO 16232-10:2007 (A, N, and V)、ISO 16232:2018 (A, N, and V)、ISO 21018:2008、DIN 51455:2020 [70%and 85%]、NAS 1638:1964、NF E 48-651:1986、NF E 48-655:1989、SAE AS4059:2020、VDA 19.1:2015 (A, N, and V)、VDA 19.2:2015、VDI 2083-21
VDA19:2016に準拠
  • しきい値は自動的にVDA推奨値に設定
粒子群の識別
  • 粒子は粒子群(ファイバー、反射、反射ファイバー、その他)別にクラス分類が可能
規格のカスタマイズ
  • ユーザー定義の規格を簡単に設定可能
  • 粒子計測パラメーターには、DT 55-83に従って糸状粒子サイズと小粒子サイズを含有
検査設定
  • ユーザーは検査設定の読み込み、定義、コピー、名前変更、削除、保存が可能
  • 規格やレポートテンプレートも保存・呼び出しが可能
  • 検出しきい値を反対にして、暗い背景で明るい粒子を検出可能
  • 複数のサンプルを連続して取得可能
  • 個々の粒子タイプに承認限界を設定可能
  • 各粒子のタイプのコンタミネーション分類クラスコード(CCC)で拡張可能
  • 各サンプルを特定の設定で検査可能
粒子のタイル表示ビュー ナビゲートしやすいよう、検出された粒子をタイル表示
  • タイルをダブルクリックするとすべての粒子位置を取得可能
  • すべてのタイルは実際の粒子サイズに適応
全メンブレンの保存 フィルターのすべてを保存
  • オフライン解析で異なる規格を選択して結果を表示可能
データエクスポート データの保存
  • 検査データをExcel(.xlsx)表でエクスポート可能
  • ソフトウェア内で使用可能なすべての表もExcelにエクスポート可能
統計解析 複数のサンプルについての統計解析(内蔵SQCツール)
  • サイズクラスごとのデータを表示可能
  • データは時間、サンプル、計測IDについてプロット可能
  • スケールを選択可能(対数正規、両対数)
  • データポイントを抽出してスプレッドシートにエクスポート可能
  • 表をQ-DAS(.dfq)フォーマットでエクスポート可能。ソフトウェア内で使用可能なすべての表はExcelへのエクスポートも可能
粒子の編集 修正プロセス時に粒子を編集可能
  • 粒子の削除、統合、追加
  • 粒子タイプの変更
レポートシステム Microsoft Word 2019を使用して、専門的な解析レポートを作成可能
  • テンプレートを詳細にカスタマイズ可能
  • さまざまな粒子群を選択する場合、画像を表の後に配置することも、すべての画像を1つにまとめることも可能

オプションソリューションCIX-S-HM

高さ計測
選択した粒子について自動または手動の高さ計測

選択した粒子の上部から下部まで電動フォーカスを動かすオプションのソフトウェアソリューション、粒子の高さは上部および下部のZ座標間の差から処理

追加の対物レンズ(20X MPLFLN)とライセンスカード(インストール時に有効にする必要あり)が付属

複数の位置で自動高さ計測を行うために複数の粒子を選択可能

環境法と規制

ヨーロッパ Low Voltage Directive 2014/35/EU
EMC Directive 2014/30/EU
RoHS Directive 2011/65/EU
REACH Regulation No. 1907/2006
Packaging and Packaging Waste Directive 94/62/EC
WEEE Directive 2012/19/EU
Machinery Directive 2006/42/EC
アメリカ合衆国 UL 61010-1:2010 Edition 3
FCC 47 CFR Part15 SubPartB
カナダ CAN/CSA-C22.2 (No. 61010-1-12)
オーストラリア Radio communications Act 1992、Telecommunications Act 1997
Regulation on Energy conservation AS/NZS 4665-2005
日本 電気用品安全法(PSE)
韓国 Electrical Appliances Safety Control Act
Regulation on Energy Efficiency Labeling and Standards
Regulations for EMC and Wireless Telecommunication (Notice 2913-5)
中国 中国RoHS
中国PL法
Regulation for Manuals

カタログ・ビデオ・その他資料

ブログ

ビデオ

カタログ・マニュアル