편광 관측
지식
2개의 필터(분광기, 편광기)에 의해 생성된 편광을 사용하는 현미경 관찰 기술입니다. 편광각들은 서로 수직을 이룹니다. 두 필터 사이에 위치한 일부 표본들은 복굴절 속성과 방향(예: 연마된 아연 구조 표본)에 따른 특유의 대비 또는 착색을 가집니다. 편광기는 수직 조도 이전의 광경로에 위치하며 분광기는 아이피스 이전 관측 경로에 삽입됩니다. 야금 구조물(예: 구상흑연주철 상의 흑연 성장 패턴), 무기물, 액정(LCD), 반도체 소재에 적합합니다.
실리콘 웨이퍼
