CIX100 검사 시스템

CIX100 검사 시스템은 제조 부품의 청정도에 대해 최고 품질 기준을 유지하는 제조업체를 위한 전용 턴키 솔루션입니다. 기업 및 국제 표준을 준수하기 위해 기술적 청정도 검사 데이터를 신속하게 획득, 처리, 문서화할 수 있습니다.

PRECiV™ CIX 소프트웨어와 함께 사용하면 CIX100은 업계 최고 속도로 신뢰할 수 있는 기술적 청정도 분석을 제공하여, 처리량이 많은 실험실에 이상적입니다. 인터페이스가 각 단계를 안내하여, 초보자도 청정도 데이터를 빠르고 쉽게 획득할 수 있습니다. 규정 준수 결과는 ISO 16232 및 VDA 19를 포함한 회사 및 산업 표준에 맞춰 단 한 번의 클릭으로 맞춤 설정됩니다.

CIX100 검사 시스템

기술적 청정도 작업을 단순화하세요

부품, 유체, 및 구성 요소의 청정도는 제조의 모든 단계에서 매우 중요하며, 미세한 마이크론 단위 입자조차도 부품 수명을 단축시키거나 성능을 저하시킬 수 있습니다. 엄격한 국제 및 국내 지침은 오염이 어떻게 측정되고 문서화되어야 하는지를 규정하며, 입자 수, 크기 분포 및 특성에 대한 상세한 분석을 요구합니다.

CIX100 검사 시스템은 이 과정에 신뢰성을 제공합니다. 현대적인 청정도 기준을 손쉽게 충족하는 턴키 고처리량 솔루션입니다. 첨단 딥러닝 AI를 활용하여 입자 식별을 한층 더 발전시켜, 팀이 처음부터 품질을 지킬 수 있도록 돕는 통찰력을 제공합니다.

기술적 청정도 분석 워크플로

청결 검사 표준 프로세스: 준비 단계(1~3) 및 조사 단계(4~6)

CIX100 기술적 청정도 검사 시스템

기술적 청정성을 위한 신뢰할 수 있는 턴키 솔루션

CIX100은 자동화된 청정도 검사의 요구를 충족하도록 설계된 턴키 솔루션입니다. 각 구성 요소는 고처리량 시스템에서 신뢰할 수 있는 데이터를 제공하기 위해 정확성, 재현성, 반복성 및 원활한 통합을 위해 최적화되어 있습니다. 핵심 작업의 자동화는 검사를 속도감 있게 진행하면서도 사람의 실수와 샘플 오염 위험을 최소화하는 데 도움이 됩니다.

브로셔를 다운로드

뛰어난 광학 품질

당사의 UIS2 대물렌즈는 뛰어난 측정 및 분석 정확도를 위한 높은 광학 성능을 제공합니다. 전용 광원은 청결 검사에 최적화된 일관된 색 온도를 유지합니다. 이러한 성능은 원형 및 사각형 시료 영역 모두에 대한 신속한 검사를 지원합니다.

기술적 청정도 분석에 사용되는 UIS2 렌즈
CIX100 검사 시스템의 기계적 안정성

기계적 안정성

광학 경로 정렬 장치, 전동식 노즈피스, 그리고 카메라는 우발적인 변경을 방지하기 위해 커버로 보호되어 있습니다. 안정성을 더욱 높이기 위해 광학 광로 내의 모든 가동 부품을 제거했습니다.

정기적인 시스템 검증

사전 구성 및 사전 보정된 이 시스템은 통합된 보정 슬라이드를 사용한 자동 시스템 자가 점검 알림 기능을 제공하여 정기적인 시스템 검증을 유지하는 데 도움을 줍니다.

기술적 청정도 분석에 사용되는 통합 교정 슬라이드

재현성 및 반복성

사전 구성 및 사전 보정된 시스템, 사용자 권한 관리, 그리고 정기적인 시스템 자가 점검은 작업자나 장비에 관계없이 재현 가능한 검사 데이터를 얻을 수 있도록 설정의 정확성을 보장합니다. 그 결과, 여러 부서와 지점에서 동일한 품질 기준을 다양한 장소에서 적용할 수 있습니다.

일반 샘플링 방법을 위한 다재다능성

CIX100은 원형 또는 사각형 검사 영역을 사용하는 샘플링 기법을 지원합니다. 지름 25mm, 47mm, 55mm 필터 멤브레인용 흰색 또는 검은색 배경 홀더, 테이프 리프트 샘플링용 홀더, 금속 분석용 평면 홀더, 입자 트랩용 홀더 중에서 선택할 수 있습니다.

기술적 청정도 분석에 사용되는 원형 및 직사각형 샘플 홀더

상단과 중간: 직경 25mm, 47mm, 55mm 필터 멤브레인용 흰색 및 검은색 배경의 원형 샘플 홀더. 좌측 하단: 입자 트랩용 원형 샘플 홀더. 오른쪽 하단: 테이프 리프트 샘플링용 직사각형 샘플 홀더.*

*테이프 리프트 홀더의 제공 여부는 지역에 따라 다를 수 있습니다.

직관적 안내

기술적 청정도 분석용 PRECiV CIX 소프트웨어

모든 경험 수준에서 쉽게 사용 가능

PRECiV™ CIX 소프트웨어는 단계별 안내를 제공하여 모든 숙련 수준에서 기술적 청정도 검사를 쉽게 수행할 수 있도록 합니다. 직관적인 워크플로우와 사용자 권한 관리는 결과에 대한 신뢰도를 높이는 동시에 검사 주기, 검사당 비용, 사용자 오류를 줄여줍니다. 그 결과, 생산성과 높은 품질 기준에 최적화된 시스템이 구현됩니다.

안내 워크플로

직관적인 워크플로우가 사용자를 세 단계로 안내합니다. 시료 검사, 결과 검토 및 보고서 작성. 샘플 스캔에서 규정 준수 보고서 작성까지, 최대한의 자동화는 사용 편의성을 높여 모든 수준의 사용자가 효율적인 검사를 수행하고 신뢰할 수 있는 데이터를 생성할 수 있도록 합니다.

기술적 청정도 분석용 안내형 워크플로우

마우스나 터치스크린으로 쉽게 클릭할 수 있는 큰 버튼을 갖춘 직관적인 워크플로우입니다. 워크플로 단계(왼쪽에서 오른쪽 순): 샘플 장착, 설정 편집, 검사 실행, 결과 검토, 보고서 작성.

사용자 권한 관리 도구

관리자는 시스템의 각 영역에 대한 사용자 접근 권한을 제어할 수 있어, 초보 사용자가 작업에 집중할 수 있도록 돕습니다. 또한 보정값이나 자동 생성 보고서에 선택된 데이터와 같은 중요한 매개변수의 우발적인 변경을 방지합니다.

청정도 분석 워크플로우용 사용자 권한 관리 도구

PRECiV CIX 현미경 모드

PRECiV CIX 소프트웨어에서 사용되는 소재 분석 솔루션 예시

고급 현미경 검사

PRECiV CIX 현미경 모드*를 사용하면 전용 청정도 검사 워크플로우를 벗어나 확장 초점 이미징(EFI)과 2D 측정을 포함한 현미경 이미징을 수행할 수 있습니다.

입도 분석, 주철 분석, 상 분석과 같은 선택적 소재 분석 솔루션을 통해 현미경 모드 기능을 확장할 수 있습니다. 필요에 따라, 이러한 솔루션은 개별 사용자나 적용 분야에 맞춘 특수 기능으로 확장할 수 있습니다.

*현미경 모드는 PRECiV CIX에서 선택 사항입니다.

빠른 분석

금속 및 비금속 입자의 실시간 분석:

실시간 빠른 분석 및 검토

혁신적인 편광 방식을 통해 CIX100은 단일 스캔으로 2.5µm에서 42mm까지의 반사(금속) 및 비반사(비금속) 입자를 모두 이미지로 획득하고 정밀한 실시간 분석을 제공합니다.

계수 및 분류된 입자는 스캔 중 실시간으로 표시되며, 크기별로 분류되어 시험 실패 시 신속한 의사결정을 지원합니다.

고속 처리를 위한 올인원 스캔

파장 분리와 색상을 기반으로 한 혁신적인 편광 방식은 단일 스캔으로 반사(금속) 및 비반사(비금속) 입자를 모두 감지하며, 고속 처리 실험실에 다음과 같은 여러 가지 이점을 제공합니다.

CIX100의 조명 시스템은 단일 스캔으로 반사(금속) 및 비반사(비금속) 입자를 구분합니다.

혁신적인 조명 시스템은 단일 스캔으로 반사(금속) 및 비반사(비금속) 입자를 구분합니다.

실제 색상으로 입자를 검토

실제 색상 모드를 활성화하면 입자의 실제 색상을 확인할 수 있어, 금속인지 비금속인지 입자 유형을 식별하는 데 더 많은 정보를 제공합니다.

올인원 스캔에서는 모든 반사 입자가 편광에서 파란색으로 표시되어 금속임을 나타냅니다. 실제 색상 모드에서는 반사 입자의 파란색 표시가 생략되어 밝은 시야 이미지에서 모든 입자의 실제 색상을 확인할 수 있습니다. 실제 파란색 재료는 그대로 파란색으로 표시되며, 금속은 금속 광택과 재료 특유의 반사가 나타납니다.

이러한 시각적 정보는 각 입자의 특성을 보다 잘 이해하고 입자 유형을 신속하게 확인하는 데 도움을 줍니다.

왼쪽: CIX100 시스템에서 감지 및 분석 중에 관찰되는 입자. 오른쪽: 같은 입자를 실제 색상으로 관찰한 모습.

시스템이 감지 및 분석 중에 관찰한 입자 모습. 파란색은 이 입자가 금속임을 나타냅니다. 검토 모드에서 U-ANT 필터와 색상 보정 모드를 사용하여 실제 색상으로 관찰한 같은 입자. 입자가 금속성임이 확인되었습니다.

큰 입자는 자동으로 결합되어 분석됩니다.

큰 입자는 자동으로 결합되어 분석됩니다.

입자의 지능형 처리

CIX100은 국제 기준에 따라 작은 입자와 큰 입자(2.5 μm에서 42 mm)를 실시간으로 처리하고 분류하며, 큰 입자의 이미지를 자동으로 재구성합니다. 밝은 배경 위의 어두운 입자와 그 반대의 경우도 분석할 수 있습니다.

I필터 점유 범위 식별

샘플 개요 이미지는 샘플 검사가 시작될 때 생성되며, 전체 필터를 낮은 배율로 표시하여 검사 시작 전에 필터 덮개 상태나 입자 군집을 확인할 수 있습니다. 필터 할당이 원하는 수준을 초과하면 시스템이 자동으로 사용자에게 알림을 제공하여 신속하게 대응할 수 있습니다.

개요 이미지는 필터 점유 상태와 입자 군집을 확인할 수 있습니다.

개요 이미지는 필터 점유 상태와 입자 군집을 확인할 수 있습니다.

CIX100 검사 시스템에서 직접 결과 피드백 제공

즉각적인 결과 피드백

오염물은 선택된 기준에 따라 크기별로 자동 분석 및 분류되며, 설정된 한도를 초과하는 크기는 색상으로 표시됩니다. 각 크기 등급별 허용 입자 수가 표시되어, 전체 멤브레인을 스캔하기 전에도 샘플의 조기 검증(OK) 또는 거부(NOK)가 가능합니다.

전기 이동성 및 의료기기 산업 요구에 따라, PRECiV CIX 소프트웨어는 개별 입자 유형의 허용 한도를 평가할 수 있도록 합니다. 승인 결과가 NOK이거나 검사가 완료되면 사용자에게 알리기 위해 음향 신호를 켤 수 있습니다.

고전적 알고리즘을 뛰어넘는 분석

통합된 TruAI 딥러닝 기술을 통해 CIX100은 기존 알고리즘을 넘어선 이미지 분석이 가능합니다. 학습된 신경망을 샘플에 적용하여 보다 재현 가능하고 안정적인 분석을 수행할 수 있습니다. TruAI 솔루션을 통해 반사 입자와 비반사 입자 등 서로 다른 입자 유형을 구분할 수 있습니다.

CIX100 검사 시스템의 TruAI 솔루션
CIX100 시스템에서 청정도 검사 데이터를 검토할 수 있는 직관적인 도구

데이터 인사이트로 신속한 의사 결정

CIX100은 검사 데이터를 검토할 수 있는 직관적인 도구와 빠른 단계별 입자 검토 기능을 결합합니다. 원클릭 재분류 기능으로 유연성을 보장하며 국제 표준을 지원합니다. 감지된 오염물의 썸네일 이미지는 치수 측정과 직접 연결되어 데이터 검토를 용이하게 합니다.

검토 과정 동안 오염물 결과는 모든 뷰와 크기 등급에서 자동으로 업데이트됩니다. 모든 관련 검사 결과를 명확하게 보여주어 시간을 절약할 수 있습니다.

트렌드 분석

데이터 통계 분석을 시간 경과에 따라 수행하고 그래프 형태로 표시할 수 있습니다.

CIX100 검사 시스템에서 추세 분석
CIX100 검사 시스템에서 한눈에 보는 검사 데이터

검사 데이터 한눈에 보기

  • 이미지, 데이터, 결과를 명확하게 정리하여 재처리 여부를 즉시 판단할 수 있습니다.
  • 선택 가능한 다양한 뷰에서 검사 데이터를 한눈에 확인할 수 있습니다.
  • 모든 입자 유형(반사 또는 비반사)에 대해 입자 이미지는 크기 순서대로 정리됩니다.

검토, 수정 및 재계산

기술적 청정도 검사에서는 일반적으로 결과를 수동으로 확인하고 검토하는 것이 권장되며, 인터페이스를 통해 입자 데이터를 빠르고 쉽게 상호 수정할 수 있습니다.

CIX100 검사 시스템에서 입자 데이터를 상호작용 방식으로 수정
CIX100 기술적 청정도 검사 시스템의 높이 측정 솔루션

높이 측정 솔루션

CIX100은 확장 초점 이미징(EFI) 기능을 제공하여, 초점 깊이를 넘어선 높이를 가진 오염물과 입자의 이미지를 촬영하고 이를 겹쳐서 전체가 초점에 맞는 이미지를 생성합니다.

CIX100을 높이 측정 솔루션과 함께 사용하면 더욱 향상된 기능을 제공하며, 이 솔루션은 20배 배율 대물렌즈*와 특수 소프트웨어로 구성되어 VDA 19의 높이 측정 요구 사항을 충족할 수 있습니다. 선택한 입자에 대해 측정은 자동 또는 수동으로 수행됩니다. 계산된 값은 결과 시트에 추가 데이터 필드로 표시됩니다.

*높이 측정 솔루션 라이선스와 별도로 주문해야 합니다.

규격 준수 결과

기술적 청정도 분석을 위한 규격 준수 및 맞춤형 보고서

보고서는 개별적인 필요에 맞게 조정할 수 있습니다.

원클릭 디지털 문서화

산업 표준(예: ISO, VDA)을 준수하는 미리 정의된 템플릿을 사용하여 원클릭으로 전문 보고서를 생성하고, 템플릿과 보고서를 쉽게 조정하여 회사 규정을 충족시킬 수 있습니다.

결과를 Microsoft Word로 내보내거나 PDF로 직접 내보내어 이메일을 통한 데이터 공유를 용이하게 할 수 있습니다. CIX100은 보고서와 데이터를 기록 보관 및 추세 분석을 위해 아카이브할 수도 있습니다.

쉬운 데이터 내보내기

보고서를 Microsoft Word 또는 PDF 형식으로 생성하고, 입자 및 분류 결과와 추세 분석을 쉽게 Microsoft Excel로 내보낼 수 있습니다. 보고서 파일 크기는 효율적인 데이터 공유를 위해 최적화되어 있습니다.

오염물의 개별 이미지를 촬영하고 처리하여 수동 측정 확인 및 향상된 문서화를 할 수 있습니다.

오염물의 개별 이미지를 촬영하고 처리하여 수동 측정 확인 및 향상된 문서화를 할 수 있습니다.

청정도 검사 데이터의 장기 저장

장기 데이터 보관

모든 보관된 샘플과 관련 데이터 및 보고서를 빠르게 접근하여 검토하거나 배포할 수 있습니다. 모든 검사 데이터와 보고서는 일정 기간 동안 자동으로 저장 및 보관됩니다.

사양

하드웨어

현미경 CIX100 전동식 초점 조절
  • 3축 조이스틱이 장착된 공축 전동 미세 초점 조절
  • 초점 스트로크 25 mm
  • 미세 스트로크 100 μm / 회전
  • 스테이지 홀더 장착 최대 높이: 40 mm
  • 초점 속도 200 μm/초
  • 소프트웨어 자동 초점 지원
  • 사용자 맞춤형 다점 초점 맵
조명
  • 내장형 LED 조명
  • 반사 및 비반사 입자를 동시에 검출하는 혁신적인 조명 메커니즘
  • 소프트웨어로 조절 가능한 광 강도
이미징 장치
  • 컬러 CMOS USB 3.0 카메라
  • 온칩 픽셀 크기 2.2 × 2.2 µm
샘플 크기
  • 표준 시료는 직경 47 mm의 필터 멤브레인이며, 직경 25 mm 또는 55 mm 멤브레인용 필터 홀더나 맞춤형 시료 홀더를 사용할 수 있습니다
노즈피스 모터 구동형 전동식 노즈피스
  • 세 가지 UIS2 대물렌즈가 사전 장착된 6위치 전동식 노즈피스
  • 미리보기용 PLAPON 1.25X
  • 10 µm 이상의 입자 검출용 MPLFLN 5X
  • 2.5 µm 이상의 입자 검출용 MPLFLN 10X
소프트웨어 제어
  • 이미지 배율과 픽셀과 실제 크기 간의 관계가 항상 알려져 있음
  • 선택된 대물렌즈는 측정 과정의 특정 단계에서 사용되며, 대물렌즈는 자동으로 위치가 조정됨
스테이지 전동식 스테이지 X, Y 전동식 스테이지 X, Y
  • 스테퍼 모터 제어 이동
  • 최대 범위: 130 × 79 mm
  • 최고 속도: 240 mm/s (4 mm 볼 스크류 피치)
  • 반복성: < 1 µm
  • 해상도: 0.01 µm
  • 3축 조이스틱으로 제어 가능
소프트웨어 제어
  • 스캔 속도는 사용된 배율에 따라 달라지며, 10배 배율에서는 스캔 시간이 10분 미만임
  • 스테이지 정렬은 공장 조립 시 수행됨
표본 홀더 샘플 홀더
  • 멤브레인 홀더는 장착 중 멤브레인이 원하지 않게 회전하는 것을 방지하도록 특별히 설계됨
  • 멤브레인은 멤브레인 홀더에 의해 기계적으로 평탄화됨
  • 덮개 고정에 도구가 필요 없음
  • 직경 25 mm, 47 mm, 55 mm 필터 멤브레인용 시료 홀더
  • 입자 트랩, 입자 트랩 소모품, 테이프 리프트 시료용 시료 홀더
입자 표준 장치(PSD)
  • 시스템 측정을 검증하는 데 사용되는 기준 시료
  • CIX100의 정상 작동을 확인하는 내장 기능 점검용 시료
  • PSD는 항상 스테이지의 슬롯 2에 배치됨
스테이지 삽입 2위치 스테이지 삽입
  • 시료 홀더와 PSD의 정확한 위치 지정을 위한 스테이지 삽입물
컨트롤러 워크스테이션 고성능 사전 설치 워크스테이션
  • HP Z4G4, Windows 10, 64비트 프로페셔널 (영문)
  • 16GB RAM, 256GB SSD, 4TB 데이터 저장 용량
  • 2GB 비디오 어댑터
  • Microsoft Office 2019 (영문) 설치됨
  • 네트워킹 기능, 영문 QWERTY 키보드, 1000 dpi 광학 마우스
애드인 보드
  • 전동 컨트롤러, RS232 시리얼 및 USB 3.0
언어 선택
  • 운영체제 및 Microsoft Office 기본 언어는 사용자가 변경 가능
터치 패널 디스플레이 23인치 슬림 스크린
  • CIX 소프트웨어 사용에 최적화된 해상도 11920×1080
전력 정격
  • AC 어댑터(2개), 컨트롤러 및 현미경 프레임(4개의 플러그 필요)
  • 입력: 100~240V 교류(AC), 50/60Hz, 10A
소비 전력
  • 컨트롤러: 700 W; 모니터: 56 W; 현미경: 5.8 W; 컨트롤 박스 7.4 W
  • 총: 769.2 W
도면 치수 (가로 × 세로 × 높이) 약 1300 mm × 800 mm × 510 mm (51.2 in. × 31.5 in. × 20.1 in.)
중량 44 kg(97 파운드)

시스템 환경 제한사항

일반적인 사용 온도 10 °C ~ 35 °C (50 °F ~ 95 °F)
습도 30~80%
안전 규정을 위해 환경 실내용
온도 5 ~ 40 ºC (41 ~ 104 °F)
습도
  • 최대 80%(최대 31°C [88°F]) (결로 없음)
  • 사용 가능한 습도는 온도가 31°C(88°F) 이상일 때 선형적으로 감소함
  • 70% (34°C [93°F]) → 60% (37°C [98°F]) → 50% (40°C [104°F])
고도 최대 2,000 m(6,562 피트)
수평도 최대 ±2°
전원 공급 및 전압 안정성 ±10%
오염도 수준 (IEC60664) 2
전체 전압 등급 (IEC60664) II

소프트웨어

소프트웨어 PRECiV CIX 3.1
  • 기술적 청정도 검사용 전용 워크플로 소프트웨어
언어 GUI
  • GUI: 영어, 프랑스어, 독일어, 스페인어, 일본어, 중국어 간체, 한국어
온라인 도움말
  • 온라인 도움말: 영어, 프랑스어, 독일어, 스페인어, 일본어, 중국어 간체, 한국어
라이선스 관리
  • 소프트웨어 라이선스는 라이선스 카드로 활성화됨(설치 시 이미 활성화됨)
사용자 관리
  • 시스템을 네트워크에 연결하여 도메인 관리 가능
  • 인증된 사용자에 따라 기능 범위를 선택할 수 있습니다.
실시간 이미지 컬러 모드 디스플레이
  • 입자는 금속일 경우 파란색으로, 비금속일 경우 원래 색상으로 분석됩니다.
창 맞춤 방법
  • 이미지는 항상 전체 화면으로 표시됨.
실시간 감지
  • 입자는 캡처되는 즉시 검출되어 속도가 향상됩니다.
  • 사용자는 측정 결과가 좋지 않을 경우 프로세스를 중단할 수 있습니다.
실시간 분류
  • 입자가 감지되는 즉시 분류됩니다.
  • 입자 크기 등급은 실시간 측정 중 사용자 인터페이스에서 확인할 수 있습니다.
현미경 모드
  • 현미경 이미징을 위해 현미경 모드에 접근할 수 있습니다.
  • 재료 분석 솔루션을 선택적으로 이용할 수 있습니다(포함되지 않음).
이미지 캡처 및 수동 측정 사용자 스냅샷 수집
  • 검토 모드에서는 샘플의 어느 위치에서든 단일 이미지를 획득할 수 있으며, 실시간 관찰 모드(직접 이미지) 또는 샘플 뷰 모드(기록된 데이터)에서 이미지를 획득할 수도 있습니다.
  • 이미지는 표준 해상도 1000 × 1000 픽셀로 .tif, .jpg 또는 .png 파일 형식으로 저장할 수 있습니다.
  • 스냅샷은 감지된 입자와 연결할 수 있으며, 이후 분석 보고서에 활용할 수 있습니다.
  • 입자 스냅샷은 EFI(확장 초점 이미징) 모드에서 자동으로 획득할 수 있습니다.
  • EFI 모드에서 촬영한 기록은 분석 보고서에 활용할 수 있습니다.
수동 측정
  • 획득한 스냅샷에서 임의의 거리 측정을 수행할 수 있습니다.
  • 임의로 수행한 측정은 이름을 변경할 수 있으며, 색상을 지정할 수 있습니다.
  • 임의 측정값과 눈금 막대는 이미지를 저장할 때 함께 저장됩니다.
하드웨어 제어 전동 XY 스테이지
  • 소프트웨어를 통한 조이스틱 조작 및 제어
  • 원형 및 직사각형 샘플 영역 검사
  • 선택한 입자에 대한 자동 또는 수동 재위치 조정
전동식 노즈피스
  • 오직 소프트웨어로만 선택 가능
모터 구동 초점 조정
  • 조이스틱 제어
  • 소프트웨어 자동 초점 지원
  • 다중 초점 맵을 이용한 예측 자동 초점
시스템 점검 시스템 검증
  • 입자 표준 장치의 매개변수를 측정하여 시스템을 검증합니다.
  • OK 또는 NOK 품질 값이 생성됩니다.
선택 가능한 대물렌즈
  • 시스템 점검은 작동 중인 대물렌즈에서만 수행할 수 있으며, 최소한 하나의 대물렌즈가 선택되어 있어야 합니다.
  • 시스템 점검은 5배 또는 10배 대물렌즈, 또는 두 가지 모두를 사용하여 수행됩니다.
기술적 청정도 기준 지원 표준:
  • ASTM E1216-11:2016, ISO 4406:2021; ISO 4407:1999; ISO 4407:2002 [누적 및 미분]; ISO 11218:2017; ISO 12345:2013; ISO 14952:2003; ISO 16232-10:2007 (A, N,

및 V); ISO 16232:2018 (A, N, 및 V); ISO 21018:2008; DIN 51455:2020 [70% 및 85%];

NAS 1638:1964; NF E 48-651:1986; NF E 48-655:1989; SAE AS4059:2020; VDA 19.1:2015 (A, N, 및 V); VDA 19.2:2015

VDA 규정을 정확히 준수함

19.1 및 VDA 19.2

권장 사항

  • 임계값은 VDA 권장 값으로 자동 설정됩니다.
입자 계열 식별
  • 입자는 입자 유형(비반사, 반사, 섬유 또는 기타)별로 분류할 수 있습니다.
  • 딥러닝(AI) 기술을 기반으로 감지된 입자를 유형별로 분류할 수 있습니다.
맞춤형 표준
  • 사용자 정의 기준을 손쉽게 설정할 수 있습니다.
  • 입자 측정 매개변수에는 DT 55-83에 따른 필라형 입자 크기와 조밀 입자 크기가 포함됩니다.
검사 구성
  • 시스템은 사용자가 검사 구성을 불러오고, 정의하고, 복사하고, 이름을 변경하고, 삭제하며, 저장할 수 있도록 지원합니다.
  • 기준 및 보고서 템플릿도 저장하고 불러올 수 있습니다.
  • 검출 임계값을 반전시켜 어두운 배경에서 밝은 입자를 감지할 수 있습니다.
  • 여러 샘플을 순차적으로 측정할 수 있습니다.
  • 개별 입자 유형에 대한 승인 한계를 설정할 수 있습니다.
  • 다양한 입자 유형에 대해 CCC를 확장할 수 있습니다.

각 샘플은 특정 구성으로 검사할 수 있습니다.

입자 타일 보기 탐지된 입자를 타일 형식으로 표시하여 탐색을 용이하게 합니다.
  • 각 입자의 위치는 타일을 더블 클릭하여 확인할 수 있습니다.
  • 각 타일은 실제 입자 크기에 맞게 조정됩니다.
전체 멤브레인을 저장 필터 전체가 저장됩니다.
  • 오프라인 분석을 통해 사용자는 결과 표시를 위해 다른 기준을 선택할 수 있습니다.
데이터 내보내기 데이터 저장
  • 검사 데이터를 Excel(.xlsx) 표로 내보낼 수 있습니다.
  • 소프트웨어에서 사용 가능한 모든 표도 Excel로 내보낼 수 있습니다.
트렌드 분석 여러 샘플에 대한 추세 분석(내장 SQC 도구)
  • 크기 등급별 데이터를 표시할 수 있습니다.
  • 데이터를 시간, 샘플, 측정 ID별로 그래프로 나타낼 수 있습니다.
  • 척도를 선택할 수 있습니다(로그-노멀, 로그-로그).
  • 데이터 포인트를 추출하여 스프레드시트로 내보낼 수 있습니다.
  • 표를 Q-DAS(.dfq) 형식으로 내보낼 수 있습니다. 소프트웨어에서 사용 가능한 모든 표도 Excel로 내보낼 수 있습니다.
파티클 편집 입자는 검토 과정에서 편집할 수 있습니다.
  • 입자를 선 또는 다각선으로 추가, 삭제, 병합 또는 분할할 수 있습니다.
  • 입자 유형을 변경할 수 있습니다.
동적 보고서 Office 2024 및 Microsoft 365 Home과 Business를 사용하여 전문 분석 보고서를 작성할 수 있습니다(라이선스 미포함).
  • 템플릿을 정확하게 맞춤 설정할 수 있습니다.
  • 사용자는 서로 다른 입자 계열을 선택할 때, 표 뒤에 그림을 배치할지 또는 모든 그림을 한데 모아 배치할지 선택할 수 있습니다.

높이 측정 솔루션

PV-CIX-S-HM 선택된 입자의 자동 또는 수동 높이 측정
  • 선택적 소프트웨어 솔루션으로, 선택한 입자의 상단에서 하단까지 전동 초점 구동을 제어할 수 있습니다. 입자 높이는 상단과 하단 Z좌표의 차이로 계산됩니다.
  • 20배 MPLFLN 대물렌즈는 별도로 주문해야 합니다.
  • 여러 위치에서 자동 높이 측정을 위해 여러 입자를 선택할 수 있습니다.

고급 현미경 검사 기능

●: 표준 기능; ○: 옵션 기능

이미지 획득
HDR을 이용한 확장 이미지 향상
Live AI를 이용한 실시간 이미지 향상
동영상 녹화
모터 구동 장치를 이용한 자동 EFI(빠른 스캔 모드 포함)
모터 구동 장치를 사용한 자동 파노라마
모터 구동 장치를 사용한 위치 목록 관리 및 샘플 탐색
모터 구동 장치를 이용한 자동 EFI와 파노라마의 결합
이미지 및 사용자 정의 도구
기능이 목적별로 그룹화된 사용자 인터페이스
사용자 맞춤형 인터페이스(EZ 모드)
정보 오버레이 레이어(눈금 막대, 십자선, 디지털 레티클)
화면 확대
매크로 매니저
측정 / 이미지 분석
기본 상호작용 측정(점 측정, 임의 선, 수평선, 수직선, 다각선, 3점 원, 직사각형, 회전 직사각형, 3점 각, 4점 각, 수직선, 평행선 거리, 다각형 면적, XY 거리, 두 십자선 간 거리, 원 간 거리, 직선자)
3D 선형 프로파일 측정 및 간단한 3D 측정
고급 상호작용 측정, 자동 에지 감지 및 보조선 포함(각도자, 2점 원, 회전 타원, 닫힌 다각형, 매직 완드, 보간 다각형, 다중 수직선, 비대칭선, 협부 두께)
신경망 라벨링
이미지 향상 필터(매트릭스 필터, 색상 및 대비 조정)
보고
데이터를 Evident 통합 문서로 내보내기
데이터를 Microsoft Excel로 내보내기
Microsoft 365 또는 2021에서 보고서 및 프레젠테이션 작성
모듈 옵션
계수 및 측정
주철
결정립 크기 측정
비금속 개재물
층 두께
다공성
입자 분포
코팅 두께
상 분석
신경망 훈련
수지상 가지 간격
측정 시퀀스
곡립도, 흑연 크기, 비금속 포함물, 경금속에 대한 선택 기준표 비교

환경법 및 규정

유럽 저전압 지침 2014/35/EU
EMC 지침 2014/30/EU
RoHS 지침 2011/65/EU
REACH 규정 제1907/2006호
포장 및 포장폐기물 지침 94/62/EC
WEEE 지침 2012/19/EU
기계 지침 2006/42/EC
미국 UL 61010-1:2010 3판
FCC 47 CFR Part15 SubPartB
캐나다 CAN/CSA-C22.2 (No. 61010-1-12)
호주 전파통신법 1992, 전기통신법 1997
에너지 절약 규정 AS/NZS 4665-2005
일본 전기용품 및 재료 안전법(PSE)
대한민국 전기용품 안전관리법
에너지 효율 표시 및 기준 규정
EMC 및 무선통신 규정(고시 2913-5)
중국 중국 RoHS
중국 PL 법
매뉴얼 규정

자료

블로그

비디오

제품 관련 자료