CIX100 검사 시스템

CIX100 검사 시스템은 제조된 구성 요소의 고품질 청정도 표준을 유지하려는 제조업체를 위한 전용 턴키 솔루션입니다. 기업 및 국제 표준을 준수하려면 기술적 청정도 검사 데이터를 빠르게 획득, 처리 및 문서로 작성하세요. 시스템의 직관적인 소프트웨어는 초보 작업자라도 청정도 데이터를 빠르고 쉽게 획득할 수 있도록 사용자를 프로세스의 각 단계를 통해 안내합니다.

CIX100

개요

CIX100 검사 시스템은 제조된 구성 요소의 고품질 청정도 표준을 유지하려는 제조업체를 위한 전용 턴키 솔루션입니다. 기업 및 국제 표준을 준수하려면 기술적 청정도 검사 데이터를 빠르게 획득, 처리 및 문서로 작성하세요. 시스템의 직관적인 소프트웨어는 초보 작업자라도 청정도 데이터를 빠르고 쉽게 획득할 수 있도록 사용자를 프로세스의 각 단계 내내 안내합니다.

CIX100 검사 시스템: 기술 청정도 간소화

구성 요소, 부품 및 유체의 청정도는 제조 프로세스의 핵심입니다. 다음과 같은 경우, 미크론 단위의 크기인 경우가 많은 오염물과 이물질을 세고 분석하고 분류할 때 높은 표준을 충족하는 것이 중요합니다.

  • 개발
  • 제조
  • 생산
  • 최종 제품 품질 관리

청정도 검사의 표준 프로세스: 준비(1~3단계) 및 조사(4~6단계). 1단계: 추출, 2단계: 여과, 3단계: 무게 측정, 4단계: 검사, 5단계: 검토, 6단계: 결과.

이러한 입자가 부품 및 구성 요소의 수명에 직접 영향을 미치기 때문에, 국제 및 국내 지침은 필수 가공 부품의 입자 오염을 측정하기 위한 방법 및 문서 요건에 대해 설명합니다. 현재 표준은 입자의 수, 입자 크기 분포 및 입자 특성과 같은 오염의 성격에 대한 상세한 정보를 요구합니다.

CIX100 청정도 검사 시스템은 현대 산업과 국내 및 국제 지침의 청정도 요건을 충족하도록 설계되었으며, 딥 러닝 AI 기술을 활용하여 입자 분류의 가능성을 넓힙니다.

간단하고 믿을 수 있음

하드웨어와 소프트웨어의 원활히 통합해 믿을 수 있고 정확한 데이터를 전달하는 지속적인 높은 처리량 시스템을 제공합니다.

  • 자동 턴키 솔루션의 쉬운 설정
  • 안정적인 측정 시스템 설정의 반복 가능한 결과
  • 탁월한 광학 성능 및 재현 가능한 이미징 조건
  • 통합된 보정 장치를 통한 자동 시스템 자가 점검
  • 모든 하드웨어 구성 요소의 자동 제어를 위한 전체 시스템 통합
  • 다양한 원형 및 직사각형 샘플 홀더 지원

최대 생산성을 위한 직관적 지침

  • 간단한 전용 워크플로로 사용자 작업을 최소화하고 작업자 및 경험 수준과 관계없이 믿을 수 있는 데이터 제공
  • 사용자 친화적 도구로 검사 데이터 변경 용이
  • 단계별 지침으로 생산성 향상 및 검사 시간 단축
  • 사용자 권한 관리를 통해 기능을 제한하여 인적 오류 최소화
  • 클릭하기 쉬운 커다란 버튼으로 터치스크린 지원
  • 효율적인 문서 작성을 위한 규정 준수 원 클릭 보고
  • 모든 데이터가 자동으로 저장되며, 데이터를 쉽게 내보내고 공유할 수 있음
  • 재료 분석 솔루션(옵션)으로 별도의 현미경 모드 제공
  • CIX100 TruAI 솔루션은 딥 러닝 기술을 기반으로 이미지 분석을 지원함

빠른 실시간 분석

혁신적인 올인원 스캔 솔루션은 두 개의 별도 이미지를 요구하는 기존 방법보다 두 배 빠르게 반사(금속) 및 비반사 입자를 검출합니다. 개수를 세고 정렬된 입자의 즉각적인 피드백은 빠른 결정을 내리는 데 도움이 됩니다.

  • 필터 적용 범위, 입자 클러스터링 또는 최악의 입자를 빠르게 식별하기 위한 개요 이미지
  • 2.5μm부터 42mm까지의 오염물 입자를 자동으로 실시간 처리 및 분류
  • 높은 처리량: 시스템에서 한 번 스캔으로 반사 및 비반사 입자 검출
  • 실시간 분석을 통해 결과에 즉각 대응 가능
  • 선택한 산업 표준에 맞게 규정 준수 결과가 구성됨

효율적인 데이터 평가

청정도 검사를 위한 기업 및 국제 표준을 지원하는 강력하고 사용하기 쉬운 도구로 검사 데이터를 변경하세요. 관련된 모든 검사를 명확하게 재현하여 시간이 절약됩니다.

  • 효율적인 데이터 검토를 위한 이미지와 데이터 정리
  • 즉각적인 입자 식별을 위해 선택 가능한 다양한 보기
  • 입자 위치 및 썸네일이 실시간 이미지에 연결됨
  • 검사 데이터의 쉬운 재분류, 검토, 변경 및 재계산
  • 전체 청정도 규정, 입자 및 분류표를 실시간으로 표시
  • 시간이 지남에 따라 잠재적인 측정 편차를 식별하기 위한 트렌드 분석
  • 전체 검사 데이터를 하나의 보기에 표시

규정 준수 보고서 생성

원클릭 보고는 국제 표준에 명시된 요건과 방법을 충족합니다. 보고서 맞춤 구성(예: 입자 변형 포함)으로 기업 표준을 충족하기가 쉽습니다.

  • 사전 정의된 규정 준수 템플릿으로 전문 보고서 생성
  • 산업 및 기업 규정을 충족하기 위한 템플릿 및 보고서 채택 용이
  • MS Word 및 PDF 등 다양한 출력 형식 지원
  • 손쉬운 결과 공유를 위해 보고서 파일 크기를 최적화
  • 훗날 결정을 뒷받침하는 이유를 찾을 수 있도록 장기 데이터 보관

Software Compatibility with Microsoft Office

신뢰성

믿을 수 있는 턴키 시스템 솔루션: 높은 재현성을 위한 자동화 및 정확성

CIX100 시스템은 자동 청정도 검사 요구를 충족하기 위해 설계된 턴키 솔루션입니다. 각 구성 요소는 높은 처리량 시스템에서 믿을 수 있는 데이터의 정확도, 재현성, 반복성 및 원활한 통합을 목표로 최적화되었습니다. 이 시스템은 원형 및 직사각형 샘플 영역을 빠르게 검사할 수 있도록 탁월한 광학 성능을 제공합니다. 중요한 작업의 자동화는 인적 오류와 샘플 오염 위험을 줄이면서 검사 속도를 높이는 데 도움이 됩니다.

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1. 재현 가능한 이미징 조건(카메라 커버)

원치 않는 오정렬을 방지하기 위해 보호된 카메라 정렬을 통한 최고의 재현성.

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2. 혁신적인 편광법(검출 장치)

단일 스캔에서 반사(금속) 및 비반사 입자를 모두 검출합니다.

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3. 재현 가능한 측정 조건

자동 초점 드라이브는 검출된 오염물을 쉽게 재조사할 수 있도록 재현 가능한 위치 지정을 지원합니다.

4. 입증된 내구성(스테이지/스테이지 인서트)

스테이지 인서트는 안전한 멤브레인 위치를 유지하고, 통합된 보정 도구 또는 두 번째 샘플의 추가 인서트가 특징입니다.

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5. 탁월한 광학 품질(현미경)

잘 알려진 UIS2 대물렌즈와 고해상도 카메라는 탁월한 이미지 품질과 정확한 측정 기능을 제공합니다.

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6. 사용 용이성(소프트웨어)

사용하기 쉬운 소프트웨어는 전체 검사 프로세스 내내 사용자를 안내하며, 생산성 향상 및 오류 최소화에 도움이 됩니다. 인터페이스에는 마우스로 클릭하기 쉬운 커다란 버튼 또는 터치스크린 모니터가 있습니다.

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7. 고성능(워크스테이션)

샘플을 스캔하는 동안, 시스템이 오염물을 분류 및 계수하여 색상 변화를 통해 시각적인 피드백을 직접 제공합니다. 시스템은 경우에 따라 제한치를 초과할 경우 청각 경고 신호를 방출할 수 있습니다.

시스템 다용성을 높여주는 샘플 홀더

CIX100 시스템은 원형 또는 직사각형 검사 영역을 갖춘 다양한 샘플 홀더를 지원합니다. 여기에는 직경이 25mm, 47mm, 55mm인 필터 멤브레인용 흰색 또는 검은색 배경의 홀더가 포함됩니다(테이프 리프트 샘플링용 홀더, 야금 분야용 평평한 표면이 있는 홀더, 입자 트랩용 홀더).

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직경 25mm(왼쪽), 47mm(가운데) 및 55mm(오른쪽)인 필터 멤브레인을 위한 흰색 및 검은색 배경의 원형 샘플 홀더.

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입자 트랩용 샘플 홀더

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테이프 리프트 샘플링을 위한 샘플 홀더

일괄 스캔 후 여러 샘플을 직접 검토

CIX100 시스템은 한 번에 여러 샘플을 검사할 수 있는 배치 모드를 제공합니다. 각 샘플을 유사한 검사 설정으로 스캔하거나 개별 설정으로 스캔할 수 있습니다. 검사 후 각 샘플의 결과를 개별적으로 검토하고 보고서를 생성할 수 있습니다.

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재현성 및 반복성

청정도 검사 워크플로는 쉽기 때문에 경험이 없는 작업자도 정확하고 반복 가능한 결과를 달성할 수 있습니다. 사전 구성 및 보정된 시스템, 사용자 권한 관리 및 정규 시스템 자가 점검은 작업자나 시스템과 관계없이 재현 가능한 검사 데이터에 대한 설정이 올바른지 확인하는 데 도움이 됩니다. 결과적으로 다수의 부서 및 현장은 다른 위치에서 동일한 품질 표준을 적용할 수 있습니다.

도표는 프로세스 성능 지수(Ppk)를 사용해 측정 안정성과 반복성을 검증하여 CIX100 시스템의 정밀도를 보여줍니다. 5배 및 10배 배율에서 동일한 샘플을 10번 측정하고 일반적인 크기 등급에서 입자 수를 추출했습니다. 도표는 E 등급(50~100μm)에서 Cpk 및 Ppk 평가를 보여줍니다.

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탁월한 광학 품질

당사의 UIS2 대물렌즈는 탁월한 측정 및 분석 정확도를 위해 높은 광학적 성능을 제공합니다. 전용 광원은 청정도 검사에 최적화된 색온도를 일관되게 유지합니다.

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최적화된 재현성

사전 구성되고 사전 보정된 본 시스템에는 정규 시스템 검증을 지원하는 통합된 보정 슬라이드가 포함된 자동 시스템 자가 점검 미리 알림 기능이 있습니다.

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안정적인 측정 시스템

광학 경로 정렬, 전동식 노즈피스 및 카메라는 의도치 않게 수정되는 것을 방지하기 위해 커버로 보호됩니다. 더 큰 안정성을 위해 모든 이동식 부품이 광학 경로에서 제거됩니다.

직관적

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최대 생산성을 위한 직관적 지침

CIX100 시스템은 전체 검사 프로세스를 통해 개선된 성능 및 생산성을 제공하므로 경력 수준에 상관없이 모든 작업자가 기술 청정도 검사를 쉽게 수행할 수 있습니다. 이 소프트웨어는 청정도 검사 전체에 대한 단계별 안내를 제공합니다. 직관적인 워크플로와 사용자 권한 관리는 주기 시간, 테스트당 비용 및 사용자 오류를 줄이면서 생산성 및 결과에 대한 자신감을 향상시킵니다. 그 결과는 고품질 표준에 최적화된 시스템입니다.

사용자 인터페이스가 명확하게 구성되어 청정도 검사를 반복 및 재현할 수 있을 뿐만 아니라 전문가와 비전문가 모두 쉽게 이를 수행할 수 있습니다.

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단계별 워크플로

직관적 워크플로에 따라 사용자는 다음과 같은 세 가지 쉬운 단계로 검사 프로세스를 진행할 수 있습니다. 샘플 검사, 결과 검토, 보고서 생성. 샘플 스캔부터 규정 준수 보고서 생성까지 최대한 자동화되어 각 단계에서 사용 편의성이 향상되었으므로 경험이 많든 적든 상관없이 모든 사용자가 효율적으로 검사를 수행하고 신뢰할 수 있는 데이터를 생성할 수 있습니다.

직관적인 인터페이스는 검사 프로세스 내내 작업자를 단계적으로 안내합니다. 그 결과는 빠르고 생산적인 워크플로입니다.

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사전 구성 및 사전 보정된 시스템

사전 구성 및 보정된 시스템이 직관적인 사용자 인터페이스와 결합하여 모든 경력의 작업자가 청정도 검사를 쉽게 수행할 수 있습니다.

정밀한 결과를 위해 시스템에서 정기적으로 자동 시스템 점검을 수행하도록 알려주며, 사전 구성된 맞춤형 시스템 구성으로 작업자의 일상적인 작업을 지원합니다.

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고급 현미경 관찰

현미경 모드를 사용하면 전용 청정도 검사 워크플로를 중지하고 현미경 이미징을 수행할 수 있습니다. 다음과 같은 선택 사항인 재료 분석 솔루션을 사용하여 현미경 모드 기능을 확장할 수 있습니다.

  • 결정립 인터셉트(Grain Intercept)
  • 결정립 면적 측정(Grain Planimetric)
  • 주철(Cast Iron)
  • Inclusion Worst Field
  • 레이어 두께
  • 수지상 가지 간격(Dendrite Arm Spacing)
  • 위상 분석
  • 다공성(Porosity)
  • 코팅 두께

이 기능은 개별 사용자의 요구사항에 따라 맞춤화된 특별한 기능으로 확장할 수 있습니다.

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딥 러닝 기술 기반 이미지 분석

TruAI 딥 러닝

TruAI 딥 러닝 기술이 통합된 CIX100 시스템은 전통적인 알고리즘을 능가하는 이미지 분석을 제공합니다. 훈련된 신경망을 샘플에 적용하여 재현성을 높이고 더 확실하게 분석할 수 있습니다. CIX100 TruAI 솔루션으로 시스템은 입자 유형(예: 반사 및 비반사) 측면에서 검출된 입자를 식별할 수 있습니다.

TruAI 딥 러닝에 대해 자세히 알아보기

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보관 및 공유

모든 데이터는 자동으로 저장됩니다. 사용자는 수정 또는 배포를 위해 보관된 모든 샘플뿐만 아니라 관련 데이터 및 보고서에 빠르게 액세스할 수 있습니다.

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관리자는 전체 시스템 설정(상단)에 액세스할 수 있지만, 경험이 없는 사용자는 기본적인 워크플로(하단)만 사용가능

관리 도구

관리자는 어떤 사용자가 시스템의 여러 부분에 액세스할 수 있을지를 제어할 수 있습니다. 따라서 경험이 없는 사용자가 작업에 집중하도록 지원할 수 있습니다. 중요한 것은, 이러한 사용자도 자동으로 생성된 보고서를 위해 선택된 보정 및 데이터와 같은 중요한 매개 변수에 영향을 줄 수 없습니다.

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터치 기술을 통한 고성능 구현

터치스크린

인터페이스에는 마우스로 클릭하기 쉬운 커다란 버튼 또는 터치스크린 모니터가 있습니다.

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검사 설정

검사 설정은 입자, 설정 중인 입자군 및 유형의 특성화 규칙을 포함하여 샘플 검사를 위한 모든 매개 변수를 지정하는 데 사용됩니다.

CIX100 시스템은 배송 시 이미 설정 및 보정되어 있지만 사용자의 응용 분야 및 요구 사항에 맞게 쉽게 수정하고 맞춤 구성할 수 있습니다.

빠름

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빠른 실시간 분석 및 검토

한 곳에 표시되는 모든 관련 데이터

CIX100 시스템은 특허받은* 편광법 덕분에 고성능 이미지 획득을 제공하고, 단일 스캔에서 2.5μm부터 최대 42mm까지 반사 입자와 비반사 입자 모두에 대한 정밀한 실시간 분석을 제공합니다. 이러한 일체형 솔루션을 사용하면 기존 방법(Inspector 시리즈)보다 두 배 더 빨리 스캔을 완료할 수 있습니다. 계수 및 분류된 입자는 실시간으로 표현되고 스캔을 획득하는 동안 크기 등급으로 분류되어 직접적인 의사 결정을 지원하며 테스트가 실패할 경우 빠른 대응을 보장합니다.

모든 관련 데이터가 검사 중 단일 화면에 실시간으로 표시되므로 테스트가 실패할 경우 작업자는 검사를 중지하거나 중단할 수 있습니다.

단일 스캔으로 데이터 캡처

파장 분리 및 색상에 기반한 혁신적인 편광법은 단일 스캔에서 반사(금속) 및 비반사 입자를 모두 검출합니다. 현미경 프레임에 통합된 높은 처리량이 구현된 설계는 기존 방법(Inspector 시리즈)보다 두 배 더 빨리 스캔을 완료할 수 있으며, 편광기와 같이 시스템의 안정성에 부정적 영향을 끼쳐 잘못된 결과를 초래할 수 있는 움직이는 구성 요소를 광학 경로에서 제거할 수 있습니다. 이 올인원 스캔 기법은 검사되는 입자 수를 증가시켜 테스트당 비용을 줄여주고 테스트가 실패할 경우 대응 시간을 단축합니다.

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1: 기존 방법, 2: 단일 스캔 방법

(1-1: 비반사 입자의 첫 번째 이미지, 1-2: 반사 입자의 두 번째 이미지, 2: 단일 스캔 솔루션: 결합)

혁신적인 편광법은 단일 스캔에서 반사(금속) 및 비반사 입자를 모두 검출합니다.

실제 색상으로 입자 검토

실제 색상 모드를 활성화하면 입자를 실제 색상으로 볼 수 있고, 입자 유형을 금속 또는 비금속으로 식별할 수 있는 추가 정보를 제공합니다.

이 일체형 스캔은 모든 반사 입자를 편광에서 파란색으로 보여주므로 이 입자들이 금속임을 나타냅니다. 리얼 컬러 모드에서는 반사 입자의 파란색이 사라지고, 모든 입자의 진짜 색상이 명시야 이미지로 표시됩니다. 실제 색상이 파란색인 재료는 파란색으로 보이지만, 금속은 금속성 광택과 금속 재료 특유의 반사 현상을 보여줍니다.

사용자는 이 유용한 형상을 통해 각 입자의 성격을 더 잘 이해하고 입자 유형을 빠르게 확인할 수 있습니다.

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검출 및 분석 중 시스템에 표시된 입자. 파란 색상은 이 입자가 금속임을 나타냅니다.
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검토 모드 중 U-ANT 필터와 색상 보정 모드를 사용하여 실제 색상으로 표시된 동일한 입자입니다. 입자가 금속으로 확인됩니다.
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필터 적용 범위 식별

샘플 개요 이미지는 샘플 검사 초기에 생성되며, 전체 필터를 저배율로 표시합니다. 개요 이미지는 샘플 검사를 시작하기 전에 필터 적용 범위나 입자 클러스터를 식별하는 데 도움이 됩니다.

필터 할당이 원하는 수준보다 높을 경우 사용자는 자동으로 알림을 받고 이에 따라 대응할 수 있습니다.

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샘플 정보 개요

검사 구성은 샘플 검사를 위한 모든 매개 변수를 지정하는 데 사용됩니다.

샘플 정보 영역에는 가장 중요한 데이터가 나열됩니다.

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실시간 결과를 위한 실시간 분석

오염물은 자동으로 분석되어 선택한 표준에서 결정한 크기 등급 저장소로 정렬되고, 사전 정의된 한계를 초과하는 크기 등급을 명확히 나타내도록 색상 코드가 매겨집니다. 통계 관리 차트 기능은 안정성 개선을 위해 입자 등급 준수 수준을 시각적으로 보여줍니다.

크기 등급에 따라 사전 정의된 허용 입자 개수가 표시되고, 샘플은 완전한 멤브레인을 획득하기 전에 검증(OK) 또는 거부(NOK)될 수 있습니다.

전기 이동 장비 산업과 의료기기 산업에 필요한 CIX100 v. 1.6 소프트웨어로 사용자는 개별 입자 유형의 승인 한계를 평가할 수 있습니다.

음향 신호는 승인이 NOK로 판독되거나 검사가 완료되면 켤 수 있습니다.

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어둡고, 밝고, 작고, 큰 입자 검출

국제 표준(2.5μm부터 42mm까지)에 따른 작은 입자와 큰 입자 모두의 실시간 처리 및 분류.

이미지 정합은 큰 입자의 이미지를 자동으로 재구성합니다.

밝은 배경에서 어두운 입자를 스캔하거나 그 반대로 하세요.

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시간 정보

샘플 수집에 남은 시간을 분명하게 확인할 수 있습니다.

정보성

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모든 입자와 분류표, 전체 청정도 규정, 입자 위치 및 사용된 표준이 하나의 보기에 표시됩니다.

평가 및 변경에 유연

CIX100 시스템은 검사 데이터를 수정하기 위한 강력하고 사용하기 쉬운 도구를 빠른 안내식 입자 검토 기능과 결합합니다. 원클릭 재분류 기능은 유연하고 국제 표준을 지원합니다. 시스템에서 검출한 모든 오염물의 썸네일 이미지는 치수 측정과 연결되어 데이터 검토가 쉬워집니다. 오염물 정보 검색은 간단합니다. 검토 프로세스 동안 결과가 업데이트되고 모든 보기와 크기 분류통에 자동으로 표시됩니다. 이렇게 하면 관련된 모든 검사 결과가 명확히 재현되어 시간이 절약됩니다.

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다양한 입자(예: 가장 큰 반사 또는 비반사 입자) 보기의 시각화.

직접 식별을 위한 심층적 데이터 통찰력

즉시 재처리에 대한 결정을 내릴 수 있도록 이미지, 데이터, 결과를 분명하게 정비. 선택 가능한 다양한 보기로 모든 검사 데이터를 한눈에 볼 수 있도록 표시. 모든 종류의 입자(반사 또는 비반사)에 대해 가장 큰 입자부터 가장 작은 입자까지 구성된 입자 이미지 보기.

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검사 데이터 변경

보관된 입자 위치 정보를 기반으로, 스테이지는 확장된 초점 이미지(올인포커스 이미지, EFI) 또는 높이 측정을 위한 맞춤형 솔루션을 사용하는 것처럼 추가 조사 및 변경을 위해 선택한 입자 위치에 직접 재배치됩니다.

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트렌드 분석

데이터 통계 분석은 오랜 시간 동안 진행하며 그래픽으로 표시할 수 있습니다.

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입자 스냅샷 문서

오염물의 개별 이미지를 가져와 수동 측정 확인 및 문서화 개선을 위해 처리할 수 있습니다.

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모든 종류의 입자(반사 또는 비반사)에 대해 가장 큰 입자부터 가장 작은 입자까지 구성된 입자 이미지 보기.

간편한 데이터 검토

오염물의 썸네일 이미지는 편리하게 오염물의 위치 및 치수와 연결됩니다. 썸네일을 선택하면 시스템이 자동으로 이 오염물로 이동합니다.

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선택한 표준에 따라 분류 및 입자 표에 결과가 나열됩니다.

신뢰할 수 있는 결과

선택한 표준 및 입자 데이터에 따라 분류 및 입자 표에 각각 결과가 나옵니다.

지원되는 표준

다음을 포함하여 자동차 및 항공우주 산업에서 사용되는 모든 주요 국제 표준에 따라 평가가 수행됩니다.

ASTM E1216-11:2016

ISO 4406:2021

ISO 4407:1999

ISO 4407:2002[누적 및 차등]

ISO 11218:2017

ISO 12345:2013

ISO 14952:2003

ISO 16232-10:2007(A, N 및 V)

ISO 16232:2018 (A, N 및 V)

ISO 21018:2008

DIN 51455:2020[70% 및 85%]

NAS 1638:1964; NF E 48-651:1986

NF E 48-655:1989

SAE AS4059:2020

VDA 19.1:2015 (A, N, and V)

VDA 19.2:2015

CIX 표준 설명(PDF) 다운로드

기업은 또한 자체 평가 기준을 유연하게 설정할 수 있습니다. 귀사의 요구를 충족하기 위해 보고서를 쉽게 수정할 수 있습니다.

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선택된 표준을 기반으로 한 전반적인 분류 결과가 계산되고 표시됩니다.

직접적인 피드백

이 소프트웨어는 선택된 표준에 따른 전체 분류 오염 등급 코드(CCC)를 즉시 계산하여 제시합니다. 필요한 경우 이를 제한하여 입자 유형을 선택할 수 있습니다.

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다양한 청정도 규정

정밀 준수

클릭 한 번으로 모든 표준에 맞춰 결과를 재계산할 수 있습니다.

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빠르고 쉬운 검토, 수정, 재계산

검사 데이터를 쉽게 수정할 수 있습니다. 일반적으로 기술 청정도 검사 시 수동으로 결과를 점검하고 검토할 것을 권장합니다. 이 소프트웨어는 상호작용을 토대로 쉽고 빠르게 입자 데이터를 보정합니다.

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높이 측정 솔루션

CIX100 시스템의 EFI(Extended Focus Imaging) 기능은 높이가 대물렌즈의 초점 심도를 넘어 확장되는 샘플의 이미지를 캡처하고 이를 함께 스태킹하여 올인포커스 이미지를 생성합니다. 이 시스템은 20배율 대물렌즈 및 특수 소프트웨어로 구성된 높이 측정 솔루션으로 더욱 개선되어 높이 측정을 위한 VDA 19 요구사항을 충족할 수 있습니다. 선택한 입자의 경우, 높이 측정이 자동 또는 수동으로 수행됩니다. 계산된 높이 값이 결과 시트에서 추가 데이터 필드로 나열됩니다.

기업 표준 정의

자동차 및 항공우주 산업에서 사용된 모든 주요 국제 표준에 따라 평가가 수행됩니다. 기업은 또한 자체 평가 기준을 유연하게 설정할 수 있습니다.

규정 준수

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국제 표준을 준수하는 보고서입니다.

효율적인 보고서 생성

스마트하고 정교한 보고 도구를 통해 클릭 한 번으로 손쉽게 검사 결과를 디지털 문서화할 수 있습니다. 보고서는 산업 표준을 준수하는 사전 정의된 템플릿을 사용하므로 귀사의 요구 사항에 맞게 쉽게 수정할 수 있습니다. 결과를 Microsoft Word로 내보내거나 PDF로 직접 내보내 이메일로 데이터를 쉽게 공유할 수 있습니다. 보고 템플릿과 데이터 공유 도구로 경험이 없는 작업자도 간편하고 정확하게 전문적인 문서를 만들고 배포할 수 있습니다. 또한 CIX100 시스템은 기록 저장 및 트렌드 분석을 위해 보고서와 데이터를 보관할 수도 있습니다.

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사용이 간편한 사전 정의된 템플릿

보고서는 산업 표준을 준수하는 사전 정의된 템플릿을 사용하므로 귀사의 요구 사항에 맞게 쉽게 수정할 수 있습니다.

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분석 보고서는 분석 중 사용된 표준을 준수합니다.

효율성 및 간편성

사용 가능한 템플릿 목록은 분석 중 사용된 표준에 따라 표시되고, 초보 작업자도 규정 준수 보고서를 빠르게 작성할 수 있습니다.

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소프트웨어는 MS Word, PDF 또는 Excel과 같은 출력 형식을 지원합니다.

간편한 데이터 내보내기

보고서 내보내기는 마우스를 클릭하는 것만큼 쉽습니다. 원하는 방식에 따라 Microsoft Word 또는 PDF 형식으로 보고서를 만들고 입자 및 분류 결과 그리고 트렌드 분석을 Microsoft Excel로 쉽게 내보낼 수 있습니다. 보고서 파일 크기는 효율적으로 데이터를 공유하도록 최적화되어 있습니다.

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장기 데이터 보관

수정 또는 배포를 위해 보관된 모든 샘플뿐만 아니라 관련 데이터 및 보고서에 간편하게 액세스할 수 있습니다. 모든 검사 데이터 및 보고서는 일정 기간 동안 자동으로 저장 및 보관됩니다.

따라서 의사 결정의 근거를 제시해야 할 때 언제든지 필요한 정보를 쉽게 찾을 수 있습니다.

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보고서의 정보 페이지

샘플 정보 영역

보고서의 이 영역은 고객, 검사자, 주문 번호, 검사일과 같은 샘플에 대한 정보로 구성되어 있습니다. 모든 데이터는 자동으로 입력됩니다.

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스캔 중 검출된 가장 큰 입자는 주요 관심 사항이기 때문에, 이 보고서 섹션에는 검사 중 발견된 10개의 가장 큰 입자가 나열됩니다.

분류표

보고서의 이 섹션에는 사용된 표준에 따라 검사 중 계산된 데이터가 포함되며 크기 등급과 범위 정보뿐만 아니라 검출된 입자의 절대 수치와 오염 등급 같은 정보도 표시됩니다.

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가장 큰 입자 이미지를 보여주는 결과 페이지.

가장 큰 입자 이미지

가장 큰 입자의 썸네일이 입자 매개 변수 및 입자 등급과 함께 표시됩니다. 썸네일은 또한 더 작은 이미지를 함께 정합하여 재구성된 오염물의 이미지를 보여줍니다.

사양

하드웨어

현미경 CIX100 전동식 초점
  • 3-축 조이스틱 포함 동축 전동식 미세 초점
  • 초점 스트로크: 25 mm
  • 미세 스트로크: 100µm / 회전
  • 스테이지 홀더 장착 최대 높이: 40 mm
  • 초점 속도: 200µm/초
  • 소프트웨어 자동초점 지원
  • 맞춤화 가능한 다지점 포커스 맵
조명
  • 내장형 LED 조명
  • 반사 및 비반사 입자의 동시 검출을 포함한 혁신적인 조명 메커니즘
  • 소프트웨어로 조도 제어 가능
이미징 장치
  • 컬러 CMOS USB 3.0 카메라
  • 온 칩 픽셀 크기 2.2× 2.2µm
샘플 크기
  • 표준 샘플은 직경이 47mm인 필터 멤브레인입니다. 멤브레인 직경이 25mm 또는 55mm인 필터 홀더 또는 맞춤형 샘플 홀더를 사용할 수 있습니다.
노즈피스 전동식 전동식 노즈피스
  • 3개의 UIS2 대물렌즈가 사전 설치된 6지점 전동식 노즈피스
  • 미리보기에 사용되는 PLAPON 1.25X
  • 10µm보다 큰 입자를 검출하는 데 사용되는 MPLFLN 5X
  • 2.5µm보다 큰 입자를 검출하는 데 사용되는 MPLFLN 10X
소프트웨어 제어
  • 이미지 확대와 픽셀 및 크기 간 관계는 항상 인식됩니다.
  • 선택한 대물렌즈는 측정 프로세스의 특정 단계에서 사용되며, 대물렌즈의 위치는 자동으로 지정됩니다.
스테이지 전동식 스테이지 X, Y 전동식 스테이지 X, Y
  • 스텝 모터 제어 운동
  • 최대 범위: 130 × 79mm
  • 최대 속도: 240mm/s(4 mm 볼 스크류 피치)
  • 반복성: < 1µm
  • 해상도: 0.01µm
  • 3축 조이스틱으로 제어 가능
소프트웨어 제어
  • 스캐닝 속도는 사용된 배율에 따라 다르며, 10배에서 스캐닝 시간은 10분 미만입니다.
  • 스테이지 정렬은 공장 조립 중 수행됩니다.
표본 홀더 샘플 홀더
  • 멤브레인 홀더는 장착 중 멤브레인의 원치 않는 회전을 피하기 위해 특별히 고안
  • 멤브레인은 멤브레인 홀더에 의해 기계적으로 평평해짐
  • 커버를 고정하는 데 도구가 필요치 않음
  • 직경이 25mm, 47mm, 55mm인 필터 멤브레인용 샘플 홀더
  • 입자 트랩, 입자 트랩 소모품, 테이프 리프트 샘플링용 샘플 홀더
입자 표준 장치(PSD)
  • 시스템 측정을 검증하는 데 사용되는 참조 샘플
  • CIX100의 고유한 기능을 제어하기 위해 점검 시스템의 내장 기능에 사용되는 샘플
  • PSD는 항상 스테이지의 슬롯 2에 할당됨
스테이지 인서트 2지점 스테이지 인서트
  • 샘플 홀더 및 PSD의 올바른 위치 지정을 위한 스테이지 인서트
컨트롤러 워크스테이션 사전 설치된 고성능 워크스테이션
  • HP Z4G4, Windows 10, 64비트 Professional(영어)
  • 16GB RAM, 256GB SSD 및 4TB 데이터 저장소
  • 2GB 비디오 어댑터
  • Microsoft Office 2019(영어) 설치됨
  • 네트워킹 기능, 영어 qwerty 키보드, 1,000dpi 광마우스
애드인 보드
  • 전동식 컨트롤러, RS232 시리얼 및 USB 3.0
언어 선택
  • 사용자가 운영 시스템 및 Microsoft Office 기본 언어를 변경할 수 있음
터치패널 디스플레이 23인치 슬림 화면
  • CIX 소프트웨어와 함께 사용하도록 최적화된 11920×1080 해상도
전력 정격
  • AC 어댑터(2), 컨트롤러 및 현미경 프레임(플러그 4개 필요)
  • 입력: 100–240V AC 50/60Hz, 10A
전력 소비
  • 컨트롤러: 700W, 모니터: 56W, 현미경: 5.8W, 컨트롤 박스 7.4W
  • 전체: 769.2W
도면 치수(가로 × 세로 × 높이) 약 1300mm × 800mm × 510mm(51.2인치 × 31.5인치 × 20.1인치)
중량 44kg(97lb)

시스템 환경 제한 사항

정상 사용 온도 10°C~35°C(50°F~95°F)
습도 30~80%
안전 규정 환경 실내용
온도 5 °C~40 °C(41 °F~104 °F)
습도
  • 최대 80%(최대 31°C[88°F])
    (응축물 없음)
  • 온도가 31°C(88°F) 이상 오를 때 사용 가능 습도가 비례하여 낮아짐
  • 70%(34°C[93°F])~60%(37°C[98°F])~50%(40°C[104°F])
고도 최대 2,000m(6,562피트)
수평 수준 최대 ±2°
전원 공급 및 전압 안정성 ±10%
오염 수준(IEC60664) 2
전체 전압 범주(IEC60664) II

소프트웨어

소프트웨어 CIX-ASW-V1.6
  • 기술적 청정도 검사를 위한 전용 워크플로 소프트웨어
언어 GUI
  • GUI: 영어, 프랑스어, 독일어, 스페인어, 일본어, 중국어 간체자 및 한국어
온라인 도움말
  • 온라인 도움말: 영어, 프랑스어, 독일어, 스페인어, 일본어, 중국어 간체자 및 한국어
라이선스 관리
  • 라이선스 카드로 활성화된 소프트웨어 라이선스(설치 시 이미 활성)
사용자 관리
  • 시스템을 도메인 관리 네트워크에 연결할 수 있음
  • 기능 범위는 승인된 사용자에 따라 선택 가능합니다.
실시간 이미지 컬러 모드로 표시
  • 금속 입자는 파란색으로 표시되고 비금속 입자는 본래 색상으로 표시됨
윈도우 핏 방법
  • 이미지가 항상 전체 보기로 표시됨
실시간 검출
  • 입자가 향상된 속도로 캡처되자마자 검출됨
  • 사용자는 측정 결과가 양호하지 않을 경우 프로세스를 중지할 수 있습니다.
실시간 분류
  • 입자가 검출되자마자 분류됩니다.
  • 입자 크기 등급은 실시간 획득 중 사용자 인터페이스에서 식별됩니다.
현미경 모드
  • 현미경 모드는 현미경 이미징을 위해 사용할 수 있습니다.
  • 재료 분석 솔루션(옵션이며 미포함)을 사용할 수 있습니다.
이미지 캡처 및 수동 측정 사용자 스냅샷 수집
  • 검토 모드에서는 샘플의 어떠한 위치에서도 단일 이미지를 획득할 수 있고, 실시간 관찰 모드(직접 이미지에서) 또는 샘플 보기 모드(기록된 데이터에서)로도 이미지를 획득 가능
  • 표준 해상도가 1,000 × 1,000픽셀인 이미지는 .tif, .jpg 또는 .png 파일로 저장 가능
  • 스냅샷은 검출된 입자에 연결하여 나중에 분석 보고서에 사용 가능
  • 입자 스냅샷은 EFI(Extended Focus Imaging) 모드에서 자동으로 획득 가능
  • EFI 모드에서 수행된 기록은 분석 보고서에 사용 가능
수동 측정
  • 획득한 스냅샷에서 임의의 거리 측정 수행 가능
  • 임의 측정은 이름을 변경할 수 있고 색상을 입힐 수 있음
  • 임의의 측정 및 축척 막대는 저장 시 이미지로 저장됨
하드웨어 제어 XY 전동식 스테이지
  • 소프트웨어를 이용한 조이스틱 작동 및 제어
  • 원형 및 직사각형 샘플 영역 검사
  • 선택한 입자의 자동 및 수동 재배치
전동식 노즈피스파
  • 소프트웨어를 이용한 선택만 가능
전동식 초점 조정
  • 조이스틱을 이용한 제어
  • 소프트웨어 자동초점 사용 가능
  • 다지점 포커스 맵을 사용한 예측 가능한 자동초점
시스템 검사 시스템 검증
  • 시스템은 입자 표준 장치 매개 변수를 측정하여 검증됨
  • OK 또는 NOK 품질 가치가 산출됨
선택 가능한 개체
  • 시스템 검사는 작동하는 개체를 사용해서만 수행 가능(1개 이상의 개체를 선택해야 함)
  • 검사 시스템은 5배 또는 10배 대물렌즈(또는 둘 다 사용)로 수행됨
기술적 청정도 표준 지원되는 표준
  • ASTM E1216-11:2016; ISO 4406:2021; ISO 4407:1999; ISO 4407:2002[누적 및 차등]; ISO 11218:2017; ISO 12345:2013; ISO 14952:2003; ISO 16232-10:2007(A, N 및 V); ISO 16232:2018 (A, N 및 V); ISO 21018:2008; DIN 51455:2020 [70% 및 85%]; NAS 1638:1964; NF E 48-651:1986; NF E 48-655:1989; SAE AS4059:2020; VDA 19.1:2015 (A, N 및 V); VDA 19.2:2015; VDI 2083-21
VDA19:2016 권장 사항을 정밀하게 준수
  • 임계값이 VDA 권장 값으로 자동 설정됨
입자군 식별
  • 입자는 입자군(섬유, 반사, 반사 섬유 등)으로 분류 가능
  • AI를 기반으로 입자 유형 측면에서 검출된 입자 식별 가능
맞춤형 표준
  • 사용자 정의 표준을 쉽게 정의할 수 있음
  • 입자 측정 매개 변수에는 실 모양 입자 크기와 DT 55-83에 따른 소형 입자 크기가 포함됨
검사 설정
  • 사용자는 시스템을 통해 검사 설정을 불러오기, 정의, 복사, 이름 변경, 삭제 및 저장 가능
  • 표준 및 보고서 템플릿도 보관 및 회수 가능
  • 검출 임계값을 뒤집어 어두운 배경에서 밝은 입자를 검출 가능
  • 여러 샘플을 연속적으로 획득 가능
  • 개별 입자 유형의 승인 한계를 설정할 수 있음
  • 다양한 입자 유형에 대해 오염 등급 코드(CCC) 확장 가능
  • 각 샘플을 특정 구성을 사용하여 검사 가능
입자 타일 보기 탐색을 개선하기 위해 검출된 입자를 타일로 표시
  • 타일을 더블클릭하면 모든 입자의 위치를 검색할 수 있음
  • 모든 타일이 실제 입자 크기에 맞춰 조정됨
전체 멤브레인 보관 완전한 필터가 보관됨
  • 사용자는 오프라인 분석을 통해 결과 표시를 위한 다른 표준을 선택 가능
데이터 내보내기 데이터 저장
  • 검사 데이터를 Excel(.xlsx) 표로 내보낼 수 있음
  • 소프트웨어에서 사용 가능한 모든 표를 Excel로 내보낼 수 있음
트렌드 분석 여러 샘플에 대한 트렌드 분석(내장된 SQC 도구)
  • 크기 등급별 데이터 표시 가능
  • 데이터를 시간, 샘플, 측정 ID별로 플로팅 가능
  • 배율 선택 가능(로그-정상, 로그-로그)
  • 데이터 포인트를 추출하여 스프레드시트로 내보낼 수 있음
  • 표를 Q-DAS(.dfq) 형식으로 내보낼 수 있음. 소프트웨어에서 사용 가능한 모든 표를 Excel로 내보낼 수 있음
입자 편집 입자는 변경 프로세스 중에 편집할 수 있습니다.

다음이 가능합니다.

  • 라인이나 폴리라인으로 입자 추가, 삭제, 병합 또는 분할
  • 입자 유형 변경
동적 보고서 Microsoft Word 2019를 사용하여 전문 분석 보고서를 생성할 수 있음
  • 템플릿을 사용자 정의할 수 있음
  • 사용자는 다른 입자군을 선택할 때 함께 그룹화된 사진 또는 표 뒤에 사진을 배치하도록 선택 가능

CIX-S-HM 솔루션(옵션)

높이 측정
선택한 입자의 자동 및 수동 높이 측정
  • 선택한 입자의 상단에서 하단까지 전동식 초점 드라이브를 구동하는 옵션 소프트웨어 솔루션입니다. 그런 다음 입자 높이가 상단과 하단 Z 좌표 사이의 차이에서 처리됩니다.
  • 추가 대물렌즈(20X MPLFLN)와 설치 시 활성화되어야 하는 라이선스 카드가 포함됩니다.
  • 여러 위치에서 자동 높이 측정을 위해 복수의 입자를 선택할 수 있습니다.

환경 법률 및 규정

유럽 저전압 지침 2014/35/EU
EMC 지침 2014/30/EU
RoHS 지침 2011/65/EU
REACH 규정 번호 1907/2006
포장 및 포장 폐기물 지침 94/62/EC
WEEE 지침 2012/19/EU
기계류 지침 2006/42/EC
미국 UL 61010-1:2010 Edition 3
FCC 47 CFR Part15 SubPartB
캐나다 CAN/CSA-C22.2(No. 61010-1-12)
호주 무선통신법 1992, 전자통신법 1997
에너지 보존 규정 AS/NZS 4665-2005
일본 전자제품 및 재료안전법(PSE)
대한민국 전기용품 안전관리법
에너지 효율 라벨링 및 규격에 관한 규정
EMC 및 무선 통신 규정(고지 2913-5)
중국 China RoHS
China PL 법
매뉴얼 규정

자료

Insights

비디오

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