STM7-BSW 측정 현미경

STM7-BSW는 측정 현미경을 위한 측정 지원 소프트웨어입니다. 디지털 카메라로 라이브 이미지를 획득하여 모니터에 표시할 수 있을 뿐만 아니라 동일한 화면을 통해 관찰, 측정, 보고서 생성도 수행할 수 있습니다. 이러한 기능은 작업 효율성을 더욱 높여줍니다.

STM7-BSW 현미경 솔루션

현미경 측정을 위한 STM7-BSW 측정 지원 소프트웨어를 사용하면 검사를 더 효율적으로 수행할 수 있습니다. 동일한 화면에서 이미지를 캡처하여 표시하고, 관찰하고 측정하며, 보고서를 작성할 수 있습니다.

복잡한 형태의 물체를 빠르고 정확하게 측정

측정 현미경의 출력 디스플레이를 쉽고 명확하게 보는 것은 매우 중요합니다. 이 소프트웨어는 출력 디스플레이를 쉽고 명확하게 볼 수 있게 하여 복잡한 측정을 더 정확하게 수행하도록 만들어졌습니다. 이 소프트웨어를 사용하면 디지털 현미경 카메라도 활용할 수 있습니다.

STM7-BSW 샘플 인터페이스

STM7-BSW 샘플 인터페이스

디지털 현미경 카메라로 깨끗하고 선명하게 이미지 캡처

빠른 라이브 디스플레이를 갖춘 고성능 제품

DP28

DP28

이미지 해상도
4104 × 2174
프레임률
15fps(최대)
PC 인터페이스
USB 3.1 1세대

DP23

DP28 이미지 해상도
3088 × 2076
프레임률
25fps(최대)
PC 인터페이스
USB 3.1 1세대

가격 대비 높은 성능으로 탁월한 가치 제공

STM7-CU

STM7-CU
이미지 해상도
2048 × 1536
프레임률
11.2fps(최대)
PC 인터페이스
USB 2.0

샘플을 배치하면 측정 시작(나란히 정렬할 필요 없음)

직접 측정

직접 측정

STM7 현미경을 통해 좌표 입력값을 수신하여 측정이 이루어집니다.

측정 불러오기

측정 불러오기 측정 및 계산된 좌표를 후속 측정 시 재사용할 수 있습니다. 그러면 동일한 작업을 두 번 수행할 필요가 없어 워크플로가 더 효율적으로 진행됩니다.

direct_measurement_example
ecall_measurement_example

가상 지점 측정

가상_지점_측정 직선과 원을 그려서 교차 지점, 중심 지점, 길이 및 기타 측정 범위를 표시한 후, 인식한 샘플 이미지에서 참조 지점으로 유지되도록 설정할 수 있습니다.

정렬 측정

정렬_측정_목록 원축과 X축이 모두 샘플에 대해 설정되어 있어, 샘플이 스테이지에 대해 정렬되지 않은 경우에도 측정할 수 있습니다.

원래의 축

원래의 축

새로운 축

새로운 축

XZ 평면 측정

XZ 평면 측정
기존 측정 현미경은 위에서 직접 XY 평면을 측정합니다.그러나 저희는 사용자의 요구를 받아들여, STM7-BSW에 XZ 평면 측정 기능을 통합하여 측면에서 보는 단면 측정을 가능하게 했습니다. 반구형 물체의 수직 단면 반경을 측정하거나 물체의 바닥이 곡면일 때 홈의 깊이를 기준선과 비교하여 측정하는 경우와 같이 이전에는 어려웠던 측정 작업이 이제 훨씬 쉬워졌습니다.

반구형 샘플의 반경 측정

반구형 샘플의 반경 측정

물체의 바닥과 기준선에서 홈의 높이 측정

물체의 바닥과 기준선에서 홈의 높이 측정

정기적으로 사용되는 측정 절차 기록

매크로 등록

자주 사용하는 정렬 및 기타 측정 절차를 결합하여 단일 매크로 버튼에 할당할 수 있으므로 현미경을 설정할 때마다 처음부터 다시 설정을 등록할 필요가 없습니다.

반복 측정

소프트웨어 프롬프트에 따라 스테이지의 이동과 좌표를 입력하기만 하면 기록된 워크플로를 바탕으로 측정을 쉽게 반복할 수 있습니다. 이 기능은 동일한 샘플에서 또는 동일한 샘플의 다른 버전에서 동일한 측정을 반복적으로 수행할 때 사용할 수 있습니다.
또한 기록된 워크플로에 설정값과 허용 오차가 설정되어 있으면 측정이 실패한 시점을 소프트웨어에서 자동으로 식별할 수 있습니다.

반복 측정_List
반복 측정_Result

반복 측정을 위한 측정 지점 탐색

이 기능은 다음 측정 지점까지의 방향과 거리를 표시하여 작업자의 혼란을 최소화합니다. 또한 이 기능을 사용하면 매번 다이어그램의 다음 측정 지점을 확인할 필요가 없어, 일련의 반복 측정을 통해 워크플로 속도가 빨라집니다.

반복_측정을_위한_측정_지점_탐색_개념도
반복_측정을_위한_측정_지점_안내

측정 주관성을 없애는 편리한 기능

자동 에지 검출

이 기능은 샘플의 에지를 검출하고 자동으로 좌표를 인식하고 측정합니다. 결과적으로 더 이상 좌표를 지정할 필요가 없어 주관성을 최소화할 수 있습니다. 또한 자동 에지 검출에서는 지정된 시간에 좌표를 인식하도록 돕는 타이머를 사용할 수 있고 작업자가 스테이지 핸들에서 손을 떼지 않고도 측정 작업에 집중할 수 있게 해주는 풋 스위치도 사용할 수 있습니다.

원 내부 자동 에지 검출

원 내부 자동 에지 검출

다지점 자동 에지 검출

다지점 자동 에지 검출

이상 지점 제거

에지 검출 중에 금속 버 및 기타 이상 지점을 자동으로 제외할 수 있습니다. 이렇게 하면 샘플의 상태에 관계없이 측정값을 일관되게 계산할 수 있습니다. 이상 지점이어서 제외되는 지점을 화면에 다른 색상으로 표시할 수도 있습니다.

이상 지점이 있는 샘플

이상 지점이 있는 샘플

이상 지점 제거

이상 지점 제거

조명 제어

조명_제어
정확한 소프트웨어 제어로 현미경의 광도를 유지할 수 있습니다. 또한 반복 측정을 위한 워크플로를 기록할 때 광도 설정을 저장할 수 있으므로 반복 또는 자동 에지 검출 중에 동일한 조건하에 측정할 수 있습니다.

자동 배율 인식(옵션, 코딩 회전 노즈피스 구성에만 해당)

코딩 회전 노즈피스를 사용하여, 대물렌즈를 교체할 때 이전에 설정된 보정 값을 자동으로 불러옵니다. 이렇게 하면 적절한 스케일이 표시된다는 확신을 가질 수 있습니다.

자동 배율 인식

사용자 지정 가능한 보고서 생성

원클릭 보고서 생성

클릭 한 번으로 측정 결과를 Excel 형식으로 출력할 수 있으므로 전사 중에 실수를 방지할 수 있습니다.측정 결과와 함께 이미지를 붙여 넣을 수도 있어 더 효율적으로 보고서를 생성할 수 있습니다.

원클릭 보고서 생성

보고서 샘플

고급 인식기능

MIA(다중 이미지 정렬, Multiple Image Alignment)(옵션)

여러 이미지를 타일링하여 넓은 영역의 고배율 이미지 하나를 캡처합니다. 이 이미지는 좌표 데이터를 기반으로 타일링되기 때문에 매우 신뢰할 만한 이미지를 생성할 수 있습니다.

다중_이미지_정렬_시퀀스
인식_후_다중_이미지_정렬

EFI(확장 초점 이미지, Extend Focus Image)(옵션)

EFI 기능은 표면 형태가 고르지 않고 복잡한 샘플 전체에서 초점이 잘 맞는 이미지를 얻는 데 효과적입니다. 모든 위치에서 초점이 맞춰진 하나의 이미지를 생성합니다.
Z축을 이동하면서 초점 위치가 다른 여러 이미지를 간단히 처리할 수도 있고 전동식 모델을 사용하여 이미지 합성을 자동화할 수도 있습니다.

확장_초점_이미지_시퀀스
확장_초점_이미지_시퀀스

사양

STM7-BSW 시스템 요구 사항

품목
시스템 구성
CPU
STM7-CU 카메라의 경우 Intel Core i3 프로세서 3GHz 이상, DP23/DP28 카메라의 경우 Intel Core i5 이상
메모리
STM7-CU 카메라의 경우 4GB 이상, DP23/DP28 카메라의 경우 8GB 이상(16GB 권장)
사용 가능한 HD 공간
설치를 위한 100GB 이상의 하드 디스크 여유 공간
고속 이미지 인식을 위해 SSD 하드 디스크가 권장됨
그래픽 카드
1980 x 1080 해상도 및 32비트 컬러를 사용할 수 있는 그래픽 카드
드라이브
DVD 드라이브
PC 입력 장치
2버튼 마우스(휠이 있는 3버튼 마우스 권장) 키보드
운영 체제
Windows 10 Pro/Pro for Workstations 64비트
웹 브라우저
Internet Explorer 11

* Microsoft Office 32비트 또는 64비트 2013/2016/2019/2021/365(SAC)도 지원됩니다.

자료

비디오

리소스