概览
提供全聚焦方式（TFM）的OmniScan X3相控阵探伤仪
探测和定义更小的高温氢致（HTHA）裂纹
早期可靠地探测HTHA极具挑战性，因此通常需要同时使用多种检测方法，以尽可能提高检出率。衍射时差（TOFD）、聚焦相控阵（PA）和全聚焦法（TFM），特别是使用双晶线阵（DLA）探头，已被证明是适合这种应用的特别有效的检测技术。OmniScan X3 64探伤仪完全支持这些方法以及创新的相位相干成像（PCI），后者可增强微小缺陷和裂纹尖端。OmniScan X3系列仪器还提供各种机载软件工具，以简化设置和分析工作流程。
- 集成DLA探头配置和扫描仪配置
- 高分辨率全聚焦方式（TFM）图像（高达1024 × 1024点）
- 优化TFM检测过程的软件工具，从设置到分析（带AIM模型的扫描计划、自动TCG、稀疏点火、软增益和调色板滑块、实时TFM包络和图像过滤器、闸门和警报）
- 64晶片PA和TFM孔径（OmniScan X3 64装置）以及扩展TFM孔径（OmniScan X3 32:128装置）
- 相干成像可增强微小缺陷和裂纹尖端的可视化（仅限OmniScan X3 64装置）
- 同时采集多达8个TOFD和相控阵组，实现高效过滤
- 同时采集和显示多达4个TFM和PCI组
- 可使用TFM和PCI进行平面波成像（PWI）（使用带线性阵列探头的OmniScan X3 64装置）
探头
用于HTHA的高灵敏度探头
更早、更可靠地探测高温氢致
尽可能扩大焊缝和热影响区的角度声束覆盖范围
A38和A28双晶线阵角度声束探头
- 采用间距捕捉配置的高灵敏度10 MHz双阵列
- 晶片间距小，可实现清晰的TFM成像，以及焊缝和热影响区的广角覆盖
- 获得专利的旋转外壳可让阵列更紧密地定位，从而扩大探头的厚度覆盖范围
- 专用的楔块系列，可以覆盖直径从4英寸到48英寸的范围外径和厚度达95毫米的管道
- A38 DLA的64晶片阵列可实现更清晰、更深入的聚焦，充分释放OmniScan X3 64探伤仪的潜力
- A28 DLA的32晶片阵列楔块占地面积较小，便于接近焊缝并进行耦合
快速扫描母体材料，可靠探测HTHA
零度REX1双晶线阵探头
- 10 MHz，64个晶片，双晶阵列
- 声束宽度覆盖范围高达30毫米
- 可以调节的稳固和硬质合金防磨装置，可以紧密地贴合在外径小至101.6毫米的管道表面上
- 整合型楔块可以覆盖从4毫米到95毫米的厚度范围
- 在与一个编码器或扫查器配套使用时，可以提供清晰的C扫描图像
利用多种检测方法实现可靠的HTHA检测
专为HTHA优化的A31和A32脉冲回波探头
- 这些10 MHz 64晶片线性探头拥有高清晰度，针对高效TFM和PWI检测进行了优化
- A31探头的晶片间距较小，可实现焊缝和热影响区的广角覆盖
- A32探头更宽的总孔径可实现更高的分辨率和更深入的聚焦
技术规格
工件编号/说明
订购编号
频率（MHz）
晶片配置
晶片数量
晶片间距（毫米）
激活孔径（毫米）
晶片高度（毫米）
屋顶角（度数）
厚度范围（毫米）
10DL32-9.6X5-A28
（FD25楔块）
（FD25楔块）
Q3301742
10
双晶32
64
0.3
9.6
5
根据楔块而定
4–45
10DL32-9.6X5-A28
（FD60楔块）
（FD60楔块）
Q3301742
10
双晶32
64
0.3
9.6
5
根据楔块而定
45–95
10DL64-19.2X5-A38
（FD25楔块）
（FD25楔块）
Q3302412
10
双晶64
128
0.3
19.2
5
根据楔块而定
4–45
10DL64-19.2X5-A38
（FD60楔块）
（FD60楔块）
Q3302412
10
双晶64
128
0.3
19.2
5
根据楔块而定
45–95
10DL64-32X5-1DEG-REX1-PR
Q3301737
10
双晶64
128
0.5
32
5
1
30–95
10DL64-32X5-5DEG-REX1-PR
Q3301733
10
双晶64
128
0.5
32
5
5
4–30
10L64-19.84X10-A31
Q3301607
10
线性
64
0.31
19.84
10
不适用
3–90
10L64-32X10-A32
Q3300429
10
线性
64
0.5
32
10
不适用
8–110
用于A38和A28探头的楔块
A38和A28 DLA探头的专用角度声束楔块系列经过优化，非常适用于焊缝体积和热影响区的检测。楔块角度经过设置，可以在钢中以65度标称入射角生成纵波。这些楔块都有一个屋顶角，屋顶角根据范围在101.6毫米到1220毫米的每个AOD直径而计算。
SA38和SA28楔块有两种聚焦深度（FD），可覆盖从4毫米到95毫米的宽厚度范围。这些楔块可使您充分利用A38探头的扩展聚焦功能。
资源库
博客
相位相干成像(PCI)的主要应用
/zh/insights/advantageous-applications-for-phase-coherence-imaging-pci
OmniScan X3探伤仪的TFM功能及其他主要优势特性：一位客户的评论
/zh/insights/tfm-and-other-major-advantages-of-the-omniscan-x3-flaw-detector-for-ndt-inspectorsa-customer-review
藏匿缺陷，显露无遗！全聚焦方式成像功能，令人信服！
/zh/insights/all-your-flaws-revealed-tfm-imaging-that-you-can-trust
加强新款OmniScan X3探伤仪性能的3个首要FMC/TFM功能
/zh/insights/top-3-fmc-tfm-enhancements-of-the-new-omniscan-x3-flaw-detector-explained
更新换代检测设备，改用OmniScan X3探伤仪的5个原因
/zh/insights/-5-reasons-to-make-the-switch-to-the-omniscan-x3-flaw-detector
视频
使用OmniScan X3 64仪器的TFM和PCI模式对高温氢致（HTHA）缺陷进行检测的比较
/zh/video/comparison-between-tfm-and-pci-on-htha-with-the-omniscan-x3-64-flaw-detector/
Using the OmniScan® X3 Flaw Detector for HTHA and Other Micro-Fissuring Applications
/zh/video/using-the-omniscan-x3-flaw-detector-for-htha-and-other-micro-fissuring-applications/
FMC（全矩阵捕获）和TFM（全聚焦方式）的基本原理
/zh/fmc-tfm-basic-principles/
OmniScan X3 带有TFM/FMC
/zh/omniscan-x3-phased-array-instrument-with-tfm/fmc/
信息图表
工作原理：全矩阵捕获（FMC）和全聚焦方法（TFM）
/zh/downloads/detail/?0[downloads][id]=276828859
在线研讨会
用于HTHA检测的先进超声方法（由Inspectioneering.com提供)
/zh/videos/2024-05-30/11109/advanced-ultrasound-methods-for-htha-inspection/
Total Focusing Method (TFM) vs Phased Array (PAUT)—When to Use Each Method
/zh/resources/webinars/tfm-vs-paut-when-to-use-each-method/
Acoustic Influence Map (AIM)—The Modeling Tool for Your TFM Inspection
/zh/resources/webinar/acoustic-influence-map/
The Basics of the Total Focusing Method (TFM)
/zh/resources/webinars/the-basics-of-the-total-focusing-method-tfm/
Confidence You Can See—Introducing the OmniScan™ X3 PAUT/TFM Flaw Detector
/zh/resources/webinars/confidence-you-can-see-introducing-the-omniscan-x3-paut-tfm-flaw-detector/
产品信息说明册
高温氢致缺陷（HTHA）超声检测解决方案
/zh/downloads/detail/?0[downloads][id]=276828967
OmniScan X3 Phased Array Flaw Detector
/zh/downloads/detail/?0[downloads][id]=276828621
白皮书
Advanced Phased Array Inspection for Early Detection of HTHA
/zh/resources/white-papers/advanced-phased-array-inspection-early-detection-htha/
划在进行全聚焦方式检测的过程中显示声学影响图（AIM）
/zh/resources/white-papers/tfm-acoustic-influence-map/
常见问题
有关全聚焦方式（TFM）的常见问题解答
/zh/resources/faqs/frequently-asked-questions-about-tfm/
手册
OmniScan X3 Getting Started Guide
/zh/downloads/detail/?0[downloads][id]=276828779