晶粒度解决方案
对于金属和陶瓷，晶粒度是最重要的金相测量之一，因为其对机械性能存在直接影响。使用标准化的方法来计算晶粒度，例如：
使用Jeffries平面测量法测量晶粒度
测量程序：
- 选择图像（实时或已记录）
- 选择晶粒平面测量法材料方案
- 软件根据公式和测试圆计算平均晶粒度（NA）（PRECiV软件使用整个框架而不是测试圆）
- 软件计算图像中包含的所有晶粒的表面，并给出分布图
- 该软件还提供双成分微观结构的结果
解决方案亮点：
- 由于对每一个晶粒进行单独计算，结果精确（+/- 0.1 G）
- 输出是晶粒度分布，这对多相晶粒微观结构很有用
- 该方法适用于奥氏体钢和非交织晶粒
- 软件使用整个图像而不是测试圆
- 包含学术和工业环境中常用标准的最新版本，如ASTM E112、EN ISO 643、DIN 50601等
使用Heyn截点法测量晶粒度
测量程序：
- 选择图像（实时或已记录）
- 选择晶粒截点法解决方案
- 可以编辑截点
- 软件自动统计截点晶粒数量（N）和图案截点晶粒边缘数量（P）。
- 软件自动计算数值LT
- 软件给出单一数值G
解决方案亮点：
- 由于对图案长度进行平均，结果精确（+/- 0.1 G）
- 输出是平均晶粒度值
- 精度是测得图像数量的一个函数
- 该软件可以为非等轴的微观结构提供伸长值
- 包含学术和工业环境中常用标准的最新版本
使用标准评级图对比法测量晶粒度
常见的晶粒度测量包括每单位面积/体积的晶粒、平均直径或晶粒度。晶粒度可以计算出来，也可以与标准化晶粒度图进行比较。
测量程序：
- 选择图像（实时或存储的图像）
- 选择图表导航器
- 手动选择相应的图表
- 软件对所选数值进行平均，并给出一个唯一的数值
- PRECiV软件自动纠正放大倍率的差异
- 该方法的精度为（+/- 1G）
