Anwendungshinweisen
Messung der Oberflächenrauheit von Edelstahl/Messung der Oberflächenrauheit im Mikrobereich mit einem Lasermikroskop
Anwendungsbereich
Edelstahl wird in großem Umfang für eine Vielzahl von Konsum- und Industriegütern verwendet, beispielsweise für Gehäuse, Küchengeräte, Kochutensilien, Automobile und Elektrogeräte. Die Oberfläche des Stahls wird je nach Verwendungszweck unterschiedlich behandelt; glänzende oder matte Oberflächen sollen die sichtbare Textur verändern oder dem Produkt rutschfeste, korrosionsbeständige oder oxidationshemmende Eigenschaften verleihen.
Die Qualität der Behandlung lässt sich nur durch Messung der Oberflächenrauheit des Edelstahls nach der Behandlung beurteilen. Die Oberflächenbehandlung wird schon durch sehr kleine Unregelmäßigkeiten beeinträchtigt, sodass hochauflösende Prüfmethoden erforderlich sind, um die Qualität genau zu beurteilen.
Die Lösung von Olympus
Das LEXT 3D-Laser-Scanning-Mikroskop von Olympus erleichtert die Beobachtung dreidimensionaler Oberflächenunregelmäßigkeiten im Mikrometerbereich. Mit seinem 405-nm-Laser lassen sich berührungslos sowohl zweidimensionale lineare Rauheitsmessungen (ähnlich wie mit einem herkömmlichen Messgerät mit Messtaster) als auch dreidimensionale Rauheitsmessungen durchführen, die die Messdaten einer Oberfläche erfassen und mehr Informationen für die Analyse liefern. Wie bei einem herkömmlichen Messtastersystem sind die Messwerte rückverfolgbar und genau.
Zur Prüfung einer glänzenden, ebenen Oberfläche eignet sich ein Laser-Differentialinterferenz-Mikroskop als effektives Werkzeug. Unregelmäßigkeiten in der Größenordnung von Nanometern im zweistelligen Bereich auf der Oberfläche von Edelstahl können anschaulich dargestellt werden.
Mattierung
Glanz-Behandlung
Objektiv 100X, Zoom 1X
Objektiv 100X, Zoom 1X
Verwendete Produkte
LEXT OLS5100
Das OLS5100 Laser-Mikroskop wurde für die Fehleranalyse und werkstofftechnische Forschung entwickelt und kombiniert hervorragende Messgenauigkeit und optische Leistung mit intelligenten Werkzeugen, die die Verwendung des Mikroskops vereinfachen. Schnelle und effiziente Messung der Form und Oberflächenrauheit im Submikrometerbereich ermöglichen einen vereinfachten Workflow mit zuverlässigen Daten.