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Möglichkeiten der NIR-Bildgebung für die Prüfung von elektronischen Bauteilen und Halbleitern
By Robert Bellinger - 21 März, 2023
/de/insights/acquiring-high-quality-images-through-silicon
Aufnahme qualitativ hochwertiger Bilder durch Silizium ohne Beschädigung des Endprodukts
By Robert Bellinger - 12 September, 2017
/de/insights/identifying-breech-face-markings
Mikroskopie in der Ballistik: Konfokale Laser-Scanning-Mikroskope helfen bei der Identifizierung von Stoßbodenspuren
By Robert Bellinger - 11 Juli, 2017
/de/insights/automatically-detect-particles-in-cadmium-zinc-telluride
Verwendung der Bildanalysesoftware zur automatischen Erkennung von Partikeln in Cadmiumzinktellurid
By Robert Bellinger - 16 Mai, 2017
/de/insights/digital-microscopy-in-qa-qc
Digitalmikroskopie für die Qualitätssicherung und Qualitätskontrolle: die Grenzen der Prüfung erweitern
By Robert Bellinger - 13 Dezember, 2016