Über die Oberflächenrauheit―Rauheitsbewertungsparameter

Mikroskop-Lösungen

Überblick

Bewertung der Unebenheiten (Sq, Sa, Sz, Sp, Sv)

Auswertung der Höhenverteilung (Ssk, Sku, Histogramm)

Bewertung der Feinheit (Sal, Sdq, Sdr)

Auswertung der Orientierung (Std, Str, Richtungsdiagramm)

Bewertung der Periodizität (PSD)

Bewertung der dominanten Merkmalkomponente (PSD)

Bewertung der Spitzendichte und des arithmetischen mittleren Spitzenkrümmung auf der Oberfläche (Spd, Spc)

Bewertung der Abweichungen vor/nach dem Abrieb (Sk, Spk, Svk)

Startseite/ Produkte/ Konfokale Lasermikroskope/ Über die Oberflächenrauheit/ Über die Oberflächenrauheit―Rauheitsbewertungsparameter