Prüfmikroskop für Wafer MX63/MX63L
Die Mikroskopsysteme MX63 und MX63L sind für hochqualitative Prüfungen von Wafern bis zu einer Größe von 300 mm optimiert. Sie sind mit Flachbildschirmen, Leiterplatten und anderen großen Mustern kompatibel und dank der modularen Bauweise können die benötigten Komponenten ausgewählt werden, um das System an die Anwendung anzupassen.
