Microscopio de inspección para obleas electrónicas MX63-MX63L

Los sistemas microscópicos MX63 y MX63L están optimizados para la inspección de alta calidad de obleas/placas electrónicas de hasta 300 mm. El diseño modular que poseen, compatible con pantallas planas, circuitos impresos y otras muestras grandes, favorece la selección de los componentes que necesita para personalizar el sistema en función de su aplicación.