Outils de mesure et de contrôle des dispositifs 5G
Mesure précise et sans contact de la rugosité de surface
Feuille de cuivre pour circuits imprimés
Image d’une coupe transversale d’un circuit imprimé
Wafers de dispositifs à ondes acoustiques de surface
Enjeux relatifs aux mesures de rugosité
Les mesures de rugosité traditionnellement effectuées à l’aide d’un stylet de contact peuvent endommager la surface de l’échantillon et ne sont pas assez sensibles pour détecter d’infimes changements de rugosité.
Mesure de rugosité au microscope laser
Le microscope laser 3D OLS5100 permet la mesure très précise et sans contact de la rugosité de surface de feuilles et de wafers en cuivre. Il est capable de mesurer la rugosité de surface à haute résolution dans de très petites zones sans endommager la surface de l’échantillon.
Mesure 3D d’une feuille de cuivre
Feuille de cuivre pour moyennes et basses fréquences
Feuille de cuivre pour hautes fréquences (5G)
Image à haute résolution de la surface d'une feuille de cuivre
Image 3D de la surface d’une feuille de cuivre
Mesure de la rugosité de la face arrière d’un wafer de tantalate de lithium après rugosification du cuivre
L’image de la rugosité peut être immédiatement obtenue.
Acquisition de données précises basées sur la rugosité de surface