Microscope d’inspection de wafers MX63-MX63L

Les systèmes de microscope MX63 et MX63L sont optimisés pour des inspections de haute qualité de wafers pouvant mesurer jusqu’à 300 mm. Compatibles avec les écrans plats, les circuits imprimés et autres échantillons de grande taille, leur conception modulaire vous permet de sélectionner les composants dont vous avez besoin pour adapter le système à votre utilisation.