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Olympus Solutions for Academic Research
Academic researchers benefit from advanced nondestructive testing technologies, including XRF and XRD for material chemistry and mineralogy and microscopes for observing objects under high magnification.
Identifying the chemical makeup of pigments used to paint an Ancient Egyptian sarcophagus, authenticating historical art objects, obtaining the quantitative mineralogy of Martian soil, and measuring the mechanics of tiny wings on a robot are just some of the ways academic researchers employ nondestructive testing technology.
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Articles de blogue (23)
Deux façons dont la technologie XRF peut jeter une lumière nouvelle sur les textes anciens
Cercle arctique : tenter de comprendre les changements climatiques au moyen d’un analyseur XRF à main
Démystification du processus de contrôle de la propreté des composants – Partie 5 : Séparation des particules métalliques/non métalliques et identification des fibres
Expertise balistique : les microscopes confocaux à balayage laser pour l'identification des empreintes de la tranche de culasse
Notes d’application (81)
L’analyseur XRF Vanta™ pour classer rapidement et précisément les alliages d’aluminium à faible teneur en magnésium
Latérites nickélifères : la technologie XRF portable au service des travaux d'exploration, du contrôle de nuance et du traitement
Evaluating the surface profile (roughness) of coated abrasives / Non-contact 3D shape measurement using a laser microscope
Interprétation géologique dans le dépôt de carottes à l’aide de l’analyseur XRD portable TERRA
Utilisation du microscope confocal à balayage laser OLS5000 d’Olympus pour mesurer la rugosité de surface des cartes de circuits imprimés
Preserving a Legend - Industrial Microscopy and Artifact Conservation at the Walt Disney Family Museum
Multi-Scale Analysis: Evaluating Measured Topographies on Surfaces Made by Additive Manufacturing (3D Printing)
Utilisation des analyseurs par diffraction des rayons X d’Olympus pour l’enseignement en laboratoire et la recherche universitaire
Quantifying Microwear: The Effectiveness of LSCM and ReIA for Surface Roughness Analysis of Experimental Mistassini Quartzite Scrapers
Enquêtes criminelles : la microscopie optique au service de la recherche criminalistique à l’université d’Abertay
Gaining the Edge: The Design and Development of a Device Equipped to Create 3D Ski Edge Measurements
Analyse rapide et facile des formulations d’aliments pour animaux et d’engrais au moyen de l’analyseur de paillasse BTX
Appareils XRF portables pour le secteur de l’agriculture : évaluations de la qualité environnementale sur le terrain
Portable XRF Technology for Archaeometry and Authentication and Conservation of Art Objects
Mesure des différentes couches de matériaux dans les récipients de cuisson en métal plaqué
Mesure des modules d’élasticité à l’aide d’appareils de recherche de défauts et de mesure d’épaisseur
Moulage à la cire perdue : mesurer l’épaisseur des modèles afin d’obtenir des moules aux dimensions exactes
Mesure de l’épaisseur des coutures déchirables sur les couvercles de coussins gonflables d’automobiles
Études de cas (1)
Vidéos (40)
Vanta — Tutoriels techniques — Accessoires pour l’analyseur : établi d’analyse, écran de protection de sonde et support au sol
Vanta — Tutoriels techniques — Installation de la cale d’isolation thermique et du masque de soudure
Vanta — Tutoriels techniques — Personnalisation d’un profil utilisateur à partir du gestionnaire de parc
« Roughness for Science and Conservation » – Conférence du professeur Christopher Brown (WPI) donnée à la Smithsonian Institution
Webinaires (3)
