Notes d’application
Utilisation du microscope confocal à balayage laser OLS5000 d’Olympus pour mesurer la rugosité de surface des cartes de circuits imprimés
Contexte
Plus les équipements électroniques sont petits et sophistiqués, plus la demande de cartes de circuits imprimés miniatures augmente. Une partie essentielle de la fabrication des cartes de circuits imprimés consiste à lier des fils de cuivre à un substrat diélectrique en résine. Pour assurer une bonne adhérence des fils de cuivre, la surface de la résine est rendue rugueuse pour augmenter sa surface utile. Si la surface est trop rugueuse, elle crée une impédance électrique qui influence négativement l’appareil électronique. Il faut donc mesurer la rugosité de surface pour s’assurer qu’elle reste dans les limites optimales.
Solution proposée par Olympus
Le microscope laser de mesure 3D LEXT d’Olympus est conçu pour mesurer la rugosité de surface avec une résolution planaire de 0,12 µm et une résolution d’irrégularité de 5 nm, idéales pour les applications de contrôle de la rugosité des cartes de circuits imprimés. Grâce à une densité de pixels élevée et une très grande sensibilité aux inclinaisons, il vous permet de mesurer les surfaces ayant de fines irrégularités et des angles abrupts. Le microscope LEXT utilise une technologie de mesure de la rugosité sans contact de sorte à ne pas endommager la surface du substrat contrôlé.
Caractéristiques du microscope
Le microscope LEXT produit des images en ultra-haute résolution avec une densité de pixels élevée pour des observations en 3D précises. Il a une sensibilité élevée aux inclinaisons et mesure de manière fiable les échantillons ayant des angles abrupts. Comme la mesure de la rugosité de surface se fait sans aucun contact, le substrat en résine est protégé. Le microscope LEXT satisfait aux exigences pour la mesure de la rugosité de surface des normes JIS/ISO.
Image
Figure 1 : image 3D illustrant la mesure de la rugosité d’un substrat en résine
Productos para la aplicación
LEXT OLS5500
Perfilómetro óptico 3D híbrido
- Mediciones de superficie trazables de nanómetros a micrómetros
- Microscopía de escaneo láser (LSM), interferometría de luz blanca (WLI) y microscopía de variación de enfoque (FVM) en una sola plataforma premiada
- Primer perfilómetro óptico 3D que ofrece precisión y repetibilidad* garantizadas para mediciones LSM y WLI.
- El modo WLI ofrece una capacidad de procesamiento de mediciones hasta 40 veces superior a la de la LSM convencional.
- Precisión excepcional en todas las superficies gracias a óptica de ingeniería propia
- Interfaz intuitiva y automatización inteligente que agilizan la operación para usuarios de todos los niveles
- Flujos de trabajo de alta capacidad de procesamiento optimizados con IA mediante la integración con el software PRECiV™
* Basado en la investigación interna de Evident a octubre de 2025. La exactitud y repetibilidad garantizadas solo se aplican si el dispositivo se ha calibrado según las especificaciones del fabricante y se encuentra libre de defectos. La calibración la debe llevar a cabo un técnico de Evident o un especialista autorizado por Evident.
LEXT OLS5100
El microscopio de escaneo láser LEXT™ OLS5100 combina precisión y rendimiento óptico a un nivel excepcional junto con herramientas inteligentes que facilitan su uso. Las tareas de medición precisa y submicrométrica con respecto a la forma y la rugosidad superficial son rápidas y eficientes, lo que simplificará su flujo de trabajo y proporcionará datos de alta calidad en los que puede confiar.