Misura della ruvidità superficiale del substrato di circuiti stampati flessibili mediante microscopio confocale a scansione laser Olympus OLS4100

Introduzione

Col progredire dell'elettronica verso prodotti sempre più piccoli e sofisticati si assiste a una continua crescita nella domanda di circuiti stampati flessibili miniaturizzati. Per realizzare un circuito stampato flessibile si attaccano dei fogli di rame a un substrato dielettrico di resina. Il figlio di rame viene poi inciso per creare i pattern desiderati per i cavi. Prima che questo venga applicato al substrato, la superficie del rame viene resa ruvida per favorire l'adesione. Se la superficie del rame non presenta abbastanza ruvidità, la resina non aderirà con sufficiente forza da superare il duro processo di produzione. Ciò provoca difetti e guasti dei dispositivi elettronici. Di conseguenza, la ruvidità del rame deve essere misurata con attenzione.

Le soluzioni Olympus

Il microscopio laser Olympus LEXT 3D è in grado di misurare la ruvidità della superficie con valori di risoluzione rispettivi di piano e irregolarità di 0,12 μm e 5 nm. Poiché il microscopio possiede una densità di pixel estremamente elevata è possibile misurare con precisione anche l'irregolarità della superficie. Dal momento che il microscopio LEXT utilizza una misure della ruvidità senza contatto, la pellicola morbida di rame non subirà alcun danno.

Caratteristiche del prodotto

Il microscopio LEXT Olympus consente di effettuare osservazioni in 3D con risoluzione estremamente elevata e un'elevata densità di pixel. Il microscopio è sensibile alle inclinazioni e ciò consente di effettuare misure accurate di strutture geometriche complesse dai lati molto ripidi. La funzione di misura della ruvidità senza contatto garantisce che le superfici sensibili del rame vengano misurate senza subire danni.

Immagine

Figura 1: immagine ad alta risoluzione e modello in 3D di una superficie in rame