Microscopio per l'ispezione di wafer MX63-MX63L

I sistemi di microscopia MX63 e MX63L sono ottimizzati per le ispezioni di alta qualità di wafer di dimensioni massime di 300 mm. Compatibili con schermi piatti, circuiti stampati e altri elementi di grandi dimensioni, le strutture modulari permettono di scegliere le componenti necessarie per adattare il sistema alla propria applicazione.