Microscopio diritto BX53M

Name: Microscopio dritto BX53M | Evident Scientific | Olympus
Brand: Evident
SKU: bx53m
Availability: InStock

Progettata per agevolare la modularità, la Serie BX3M offre la giusta versatilità in numerosi ambiti delle scienze dei materiali e delle applicazioni industriali.

Soluzioni per Microscopia BX53M

Semplificazione della microscopia avanzata

Progettata per agevolare la modularità, la Serie BX3M offre la giusta versatilità in numerosi ambiti delle scienze dei materiali e delle applicazioni industriali. Grazie alla migliore integrazione con il software PRECiV, il BX53M offre un flusso di lavoro continuo per operatori di microscopia standard e imaging digitale, dall'osservazione alla creazione di report.

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/videolibrary/videos/BX3M_SUBTITLEMASTER(3)_480.mp4

BX53M with DP75

Scegli il modello migliore

Le sei configurazioni suggerite DEL BX53M offrono tutta a flessibilità di scelta delle caratteristiche in base alle proprie esigenze.

Per uso generale: Di base, Standard e Avanzato
Per uso specifico: Fluorescenza, Infrarossi e Polarizzazione
Diverse configurazioni per soddisfare le esigenze degli utenti
Struttura modulare, personalizzazione del sistema

Pratico e facile da usare

Il BX53M semplifica le operazioni complesse dei microscopi attraverso i comandi progettati in modo ottimale e di facile uso. Gli utenti possono ottenere il massimo dal proprio microscopio senza il bisogno di partecipare a cicli formativi impegnativi. Inoltre la facilità e praticità operativa del BX53M permette di migliorare la riproducibilità minimizzando l'errore umano.

Illuminatore semplice
Comandi intuitivi del microscopio
Ottenere la messa a fuoco rapidamente
Illuminazione invariata
Funzionamento semplice ed ergonomico
Semplicità di ripristino delle configurazioni del microscopio
Funzioni di misurazione di base

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/image/ie/bx53m/movie_bx53m_overview_01.mp4

Funzionale

Il BX53M applica i convenzionali metodi di contrasto della microscopia come il campo chiaro, il campo scuro, la luce polarizzata e il contrasto interferenziale. Con lo sviluppo dei nuovi materiali, numerose problematiche, associate al rilevamento dei difetti utilizzando i normali metodi di contrasto, possono essere risolte mediante le tecniche di microscopia avanzate in modo da garantire ispezioni più precise e affidabili. Con il software di analisi delle immagini PRECiV, le nuove tecniche e opzioni di illuminazione per l'acquisizione delle immagini forniscono agli utenti diverse modalità su come analizzare i campioni e presentare i risultati.

Creazione di immagini completamente a fuoco
Semplice spostamento del tavolino per panorama
Acquisizione delle aree chiare e scure
Adattabile per assecondare le preferenze di osservazione e analisi
Può ricevere un'ampia scala di campioni

Ottiche all'avanguardia

La nostra storia nello sviluppo di ottiche avanzate ha permesso di produrre microscopi con un'eccellente precisione di misura e numerose ottiche di comprovata qualità.

Prestazioni ottiche di qualità superiore
Colore temperatura stabile e illuminazione a LED bianco ad alta intensità
Supporto per la misura di precisione
Stitching uniforme

Wave Front Aberration Control

Onda non ottimizzata (controllo dell'aberrazione del fronte d'onda)

_{Fronte d'onda non ottimizzato}

Onda ottimizzata (controllo dell'aberrazione del fronte d'onda)

_{Fronte d'onda ottimizzato (obiettivo UIS2)}

Configurazioni

Sistema modulare altamente affidabile

Le sei configurazioni suggerite per il BX53M offrono la flessibilità di scegliere le caratteristiche in base alle proprie esigenze.

Uso generale

Uso specifico

Di base

Facilità di configurazione con funzioni di base

Standard

Semplicità di utilizzo con
aggiornamenti versatili

Avanzato

Supporto di numerose funzionalità avanzate

Fluorescenza

Ideale per
osservazione in fluorescenza

Infrarossi

Progettato per l'osservazione infrarossa per ispezionare circuiti integrati

Polarizzazione

Progettato per l'osservazione di caratteristiche di birifrangenza

LCD color filter

_{Filtro a colori LCD}

^{(Trasmessa/BF)}

Microstructure with ferritic grains

_{Microstruttura con grani}
^ferritici
^{(Riflessa/DF)}

Copper wire of coil

_{Filo di rame di bobina}
^(BF+DF/MIX)

Resist on IC pattern

_{Resistenza su schema IC}
^(FL+DF/MIX)

Silicon layering IC pattern

_{Schema IC con strato di silicio}
^(IR)

Asbestos

_Amianto
^(POL)

	Di base	Standard	Avanzato	Fluorescenza	Infrarossi	Polarizzazione
Microscope frame	Riflessa o Riflessa/Trasmessa		Riflessa o Riflessa/Trasmessa		Riflessa	Trasmessa
Standard	R-BF o T-BF	R-BF o T-BF o DF	R-BF o T-BF o DF o MIX	R-BF o T-BF o DF o FL	R-BF o IR	T-BF o POL
Opzione	DIC	DIC MIX	DIC	DIC MIX	－	－
Illuminatore semplice	－			－	－	－
Legenda apertura	－				－
Hardware codificato	－				－
Indice della scala di messa a fuoco
Light Intensity Manager				－	－
Funzionamento sistema di regolazione					－	－
Osservazione MIX					－	－
Obiettivi	Scegliere tra 3 tipi di obiettivi in base all'ambito di applicazione		Scegliere tra 3 tipi di obiettivi in base all'ambito di applicazione			Obiettivi per POL

METODO DI OSSERVAZIONE

R-BF: Campo chiaro (Riflessa)
T-BF: Campo chiaro (Riflessa/Trasmessa)
DF: Campo scuro
DIC: Contrasto interferenziale/Polarizzazione semplice
MIX: COMBINATO
FL: Fluorescenza
IR: Infrarossi
POL: Polarizzazione

_{*T-BF può essere usato quando si sceglie uno stativo per microscopio a luce Riflessa/Trasmessa.}

: Standard
: Opzione

Esempi di configurazione per le scienze dei materiali

La struttura modulare permette di adottare diverse configurazioni in base alle esigenze degli utenti.
Di seguito alcuni esempi di configurazione per scienze dei materiali.

Combinazione della luce Riflessa e Riflessa/Trasmessa del BX53M

Esistono due tipi di stativi nella serie BX3M, uno esclusivamente per la luce riflessa e uno per la luce riflessa in combinazione con la luce trasmessa. Entrambi gli stativi possono essere configurati con componenti in modalità manuale, codificata e motorizzata. Gli stativi sono dotati di funzionalità ESD per proteggere i campioni dati da componenti elettroniche.

Esempio di configurazione BX53MRF-S

_{Esempio di configurazione BX53MRF-S}

Esempio di configurazione BX53MTRF-S

_{Esempio di configurazione BX53MTRF-S}

Combinazione IR del BX53M

Gli obiettivi IR possono essere usati per l'ispezione, la misura e l'elaborazione di semiconduttori dove immagini del silicio sono necessarie per analizzare lo schema. Gli obiettivi per infrarossi (IR) da 5X a 100X sono disponibili con la correzione dell'aberrazione cromatica dalle lunghezze d'onda della luce visibile all'infrarosso vicino. Per analisi che richiedono un elevato ingrandimento, ruotare il collare di correzione della serie di obiettivi LCPLNIR per le aberrazioni causate dallo spessore dei campioni. Un'immagine chiara si ottiene con un solo obiettivo.

Fare clic qui per dettagli sugli obiettivi IR

Combinazione della luce polarizzata BX53M

Le ottiche della luce polarizzata BX53M forniscono ai geologi gli strumenti ottimali per ottenere immagini a luce polarizzata ad alto contrasto. Le applicazioni come l'identificazione minerale, l'analisi delle caratteristiche ottiche di cristalli e l'osservazione di sezioni rocciose traggono vantaggio dalla stabilità del sistema e dall'allineamento ottico preciso.

Configurazione ortoscopica del BX53-P

_{Configurazione ortoscopica del BX53-P}

Configurazione ortoscopica/conoscopica del BX53-P

_{Configurazione ortoscopica/conoscopica del BX53-P}

Obiettivi Bertrand per osservazioni conoscopiche e ortoscopiche

Con un accessorio di osservazione conoscopica U-CPA risulta semplice e veloce passare tra osservazione conoscopica e ortoscopica. È focheggiabile in modo da eliminare le interferenze del piano retrofocale. Lo stop di campo Bertrand permette di ottenere in modo affidabile delle immagini conoscopiche nitide e chiare.

Ampia gamma di compensatori e lamine d'onda

Per le misure di birifrangenza di sezioni sottili di rocce e minerali sono disponibili cinque diversi tipi di compensatori. Il livello del ritardo di misura varia da 0 a 20 λ. Per facilitare le misure e ottenere un elevato contrasto delle immagini, possono essere usati i compensatori Berek e Senarmont in modo da cambiare il livello di ritardo nell'intero campo visivo.

Campo di misura dei compensatori

Compensatore

Campo di misura

Principale applicazione

Compensatore di Berek a lamina spessa (U-CTB)

Da 0 a 11.000 nm
(20 λ)

Misura del livello di ritardo alto (R^*>3λ)
(cristalli, macromolecole, fibre, ecc.)

Compensatore di Berek (U-CBE)

Da 0 a 1 640 nm
(3 λ)

Misura del livello di ritardo
(cristalli, macromolecole, organismi viventi, ecc.)

Compensatore di Senarmont (U-CSE)

Da 0 a 546 nm
(1 λ)

Misura del livello di ritardo (cristalli, organismi viventi, ecc.)
Miglioramento del contrasto delle immagini (organismi viventi, ecc.)

Compensatore di Brace-Koehler
1/30λ (U-CBE2)

Da 0 a 20 nm
(1/30 λ)

Misura del contrasto delle immagini (organismi viventi, ecc.)

Compensatore a cunei di quarzo (U-CWE2)

Da 500 a 2 200 nm
(4 λ)

Misura approssimata del livello di ritardo
(cristalli, macromolecole, ecc.)

_{*R = livello di ritardo}
_{Per misure più precise si consiglia l'uso dei compensatori (eccetto U-CWE2) in combinazione al filtro interferenziale 45-IF546.}

Ottiche strain-free

Grazie alla sofisticata struttura e alla tecnologia di produzione, gli obiettivi strain-free (liberi da tensioni) UPLFLN-P riducono le tensioni interne al minimo. Questo significa che un maggior valore EF produce un eccellente contrasto delle immagini.

Fare clic qui per dettagli sugli obiettivi UPLFLN-P

Fare clic qui per dettagli sugli obiettivi PLN-P / ACHN-P

Sistema BXFM

Il BXFM può essere adattato a applicazioni speciali o integrati in altri strumenti. La costruzione modulare fornisce un facile adattamento a ambienti specifici e permette di realizzare configurazioni con diversi illuminatori speciali di ridotte dimensioni e supporti di fissaggio.

Struttura modulare, personalizzazione del sistema

Stativi

Sono disponibili due stativi per luce riflessa; uno è inoltre per luce trasmessa. Un adattatore è disponibile per alzare l'illuminatore in modo da poter analizzare campioni più alti.

		Luce riflessa	Luce trasmessa	Altezza campione
1	BX53MRF-S	■	－	Da 0 a 65 mm
2	BX53MTRF-S	■	■	Da 0 a 35 mm
1, 3	BX53MRF-S + BX3M-ARMAD	■	－	Da 40 a 105 mm
2, 3	BX53MTRF-S + BX3M-ARMAD	■	■	Da 40 a 75 mm

Pratici accessori da usare nell'ambito della microscopia

－	HP-2	Pressa
－	COVER-018	Protezione per polvere

Supporti

Per le applicazioni di microscopia dove il campione non può essere sistemato sul tavolino, l'illuminatore e le ottiche possono essere installate su un supporto più ampio o su un'altra componente dell'apparecchiatura.

Configurazione dell'illuminatore BX53M + BXFM

1	BXFM-F	Interfaccia dello stativo installabile a parete/colonna di 32 mm
2	BX3M-ILH	Supporto dell'illuminatore
3	BXFM-ILHSPU	Contrappeso a molla per BXFM
5	SZ-STL	Ampio tavolino

Configurazione dell'illuminatore U-KMAS + BXFM

1	BXFM-F	Interfaccia dello stativo installabile a parete/colonna di 32 mm
4	BXFM-ILHS	Supporto U-KMAS
5	SZ-STL	Ampio tavolino

Tubi

Per l'osservazione di immagini in microscopi attraverso oculari o l'osservazione con fotocamere, scegliere tubi in base al tipo di immagini e la postura dell'operatore durante l'osservazione.

		FN	Tipo	Tipo d'angolo	Immagine	Numero di meccanismi di regolazione diottrica
1	U-TR30-2	22	Trioculare	Fisso	Inverso	1
2	U-TR30IR	22	Trioculare per IR	Fisso	Inverso	1
3	U-ETR-4	22	Trioculare	Fisso	Diritto	－
4	U-TTR-2	22	Trioculare	Inclinato	Inverso	－
5	U-SWTR-3	26,5	Trioculare	Fisso	Inverso	－
6	U-SWETTR-5	26,5	Trioculare	Inclinato	Diritto	－
7	U-TLU	22	Porta singola	－	－	－
8	U-SWATLU	26,5	Porta singola	－	－	－

Illuminatori

L'illuminatore proietta la luce sul campione in base al metodo di osservazione scelto. Il software si interfaccia con gli illuminatori codificati per acquisire la posizione del cubo e per riconoscere automaticamente il metodo di osservazione.

		Funzione codificata	Generatore di luce	BF	DF	DIC	POL	IR	FL	MIX	AS/FS
1	BX3M-RLAS-S	Posizione cubo 3 fissa	LED - integrato	■	■	■	■	－	－	■	■
2	BX3M-URAS-S	Posizione cubo 4 fissabile	LED	■	■	■	■	－	－	■	■
			Alogena	■	■	■	■	■	－	■	■
			Mercurio/Guida luce	■	■	■	■	－	■	■	■
3	BX3M-RLA-S		LED	■	■	■	■	－	－	■	■
3	BX3M-RLA-S		Alogena	■	■	■	■	■	－	■	■
4	BX3M-KMA-S		LED - integrato	■	－	■	■	－	－	■	－
5	BX3-ARM	Braccio meccanico per luce trasmessa
6	U-KMAS		LED	■	－	■	■	－	－	■	－
6	U-KMAS		Alogena	■	－	■	■	■	－	■	－

Generatori di luce

Generatori di luce e alimentatori per l'illuminazione dei campioni; scegliere il generatore di luce appropriato al metodo di osservazione.

Configurazione standard del generatore di luce a LED

1	BX3M-LEDR	Portalampada a LED per luce riflessa
2	U-RCV	Convertitore DF per BX3M-URAS-S, necessario per l'osservazione con DF e BF quando necessario
3	BX3M-PSLED	Alimentatore per portalampada a LED; richiede il sistema BXFM
4	BX3M-LEDT	Portalampada a LED per luce trasmessa

Configurazione del generatore di luce a fluorescenza

5	U-LLGAD	Adattatore del guida luce
2	U-RCV	Convertitore DF per BX3M-URAS-S, necessario per l'osservazione con DF quando necessario
6	U-LLG150	Guida luce, lunghezza: 1,5 m
7	U-LGPS	Generatore di luce a fluorescenza
8, 9	U-LH100HG (HGAPO)	Portalampada al mercurio per fluorescenza
2	U-RCV	Convertitore DF per BX3M-URAS-S, necessario per l'osservazione con DF quando necessario
10	U-RFL-T	Alimentatore per lampada al mercurio da 100 W

Configurazione del generatore di luce alogeno e alogeno IR

11	U-LH100IR	Halogen lamp housing for IR
12	U-RMT	Extender cable for halogen lamp housing, cable length 1.7 m (requires cable extension when necessary)
13, 14	TH4-100 (200)	100 V (200 V) specification power supply for 100 W/50 W halogen lamp
15	TH4-HS	Hand switch for light intensity of halogen (dimmer TH4-100 (200) w

Revolver

Fissaggi per obiettivi e slitte. Scegliere il numero e il tipo di obiettivo in base alle necessità; inoltre con/senza fissaggio della slitta.

		Tipo	Fori	BF	DF	DIC	MIX	ESD	Numero di fori di centratura
1	U-P4RE	Manual	4	■		■			4
2	U-5RE-2	Manual	5	■
3	U-5RES-ESD	Coded	5	■				■
4	U-D6RE	Manual	6	■		■
5	U-D6RES	Coded	6	■		■
6	U-D5BDREMC	Motorized	5	■	■	■	■
7	U-D6BDRE	Manual	6	■	■	■	■
8	U-D5BDRES-ESD	Coded	5	■	■	■	■	■
9	U-D6BDRES-S	Coded	6	■	■	■	■	■
10	U-D6REMC	Motorized	6	■		■
11	U-D6BDREMC	Motorized	6	■	■	■	■	■
12	U-D5BDREMC-VA	Motorized	5	■	■

Slitte

Scegliere la slitta a completamento della convenzionale osservazione del campo chiaro. La slitta DIC fornisce delle informazioni topografiche sul campione con opzioni per massimizzare il contrasto o la risoluzione. La slitta MIX fornisce la flessibilità dell'illuminazione con un generatore di luce LED segmentato nel percorso del campo scuro.

Slitta DIC

		Tipo	Deviazione	Obiettivi disponibili
1	U-DICR	Standard	Medio	MPLFLN^1, MPLFLN-BD^2, LMPLFLN, LMPLFLN-BD, MXPLFLN, MXPLFLN-BD, MPLAPON e LCPLFLN-LCD

*1 1,25X e 2,5X non supporta l'osservazione DIC.
*2 2,5X non supporta l'osservazione DIC.

Slitta MIX

		Obiettivi disponibili
2	U-MIXR-2	MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD, MPLN-BD e MXPLFLN-BD

Cavo

U-MIXRCBL*

Cavo U-MIXR, lunghezza del cavo: 0,5 m

*Solamente MIXR

Unità di controllo e sistemi di regolazione

Unità di controllo per interfacciare l'hardware del microscopio con un PC e i sistemi di regolazione per il controllo e la visualizzazione hardware.

Configurazione BX3M-CB (CBFM)

1	BX3M-CB	Unità di controllo per il sistema BX53M
2	BX3M-CBFM	Unità di controllo per il sistema BXFM
3	BX3M-HS	Controllo osservazione MIX, indicatore hardware codificato, tasto funzione programmabile del software (Stream)
4	BX3M-HSRE	Rotazione del revolver motorizzato

Cavo

－

BX3M-RMCBL (ECBL)

Cavo del revolver motorizzato, lunghezza del cavo: 0,2 m

Tavolini

Tavolini e piattelli per tavolini per il posizionamento di campioni. Scelta in base alla dimensione e alla forma dei campioni.

Configurazione del tavolino 150 mm × 100 mm

1	U-SIC64	Tavolino con parte superiore piana di 150 mm × 100 mm
2	U-SHG (T)	Impugnatura in silicone per il miglioramento dell'operatività (tipo spesso)
3	U-SP64	Piattello per tavolino per U-SIC64
4	U-WHP64	Piattello per wafer per U-SIC64
5	BH2-WHR43	Supporto per 4-3 in.
6	BH2-WHR65	Supporto per wafer per 6-5 in.
7	U-SPG64	Piattello in vetro per U-SIC64

Configurazione del tavolino 76 mm × 52 mm

12	U-SVR M	Tavolino con sistemi di regolazione a destra 76 mm × 52 mm
2	U-SHG (T)	Impugnatura in silicone per il miglioramento dell'operatività (tipo spesso)
13	U-MSSP	Piattello per tavolino per U-SVR (/L) M
14, 15	U-HR (L) D-4	Fermavetrino sottile per apertura a destra (sinistra)
16, 17	U-HR (L) DT-4	Fermavetrino spesso per apertura a destra (sinistra), per la pressione del vetrino sulla superficie superiore del tavolino quando il campione è difficile da sollevare

Configurazione del tavolino 100 mm × 100 mm

8	U-SIC4R 2	Tavolino con sistemi di regolazione a destra 105 mm × 100 mm
9	U-MSSP4	Piattello per tavolino per U-SIC4R (L) 2
10	U-WHP2	Piattello per wafer per U-SIC4R (L) 2
5	BH2-WHR43	Supporto per 4-3 in.
11	U-MSSPG	Piattello in vetro per U-SIC4R

Altri

18	U-SRG2	Tavolino rotante
19	U-SRP	Tavolino rotante per POL, da qualunque posizione può essere clic-stop a 45°
20	U-FMP	Tavolino meccanico per U-SRP/U-SRG2

Adattatori per fotocamera

Adattatori per l'osservazione con fotocamera. Scelta in base al campo visivo e all'ingrandimento necessari. L'attuale intervallo di osservazione può essere calcolato mediante la formula: attuale campo visivo (diagonale in mm) = campo visivo (numero visualizzato) ÷ ingrandimento dell'obiettivo.

		Ingrandimento	Regolazione della centratura	Area immagine CCD (Indice di campo) mm
		Ingrandimento	Regolazione della centratura	2/3 pollici	1/1,8 pollici	1/2 pollici
1	U-TV1x-2 with U-CMAD3	1	－	10.7	8.8	8
2	U-TV1xC	1	ø2 mm	10.7	8.8	8
3	U-TV0.63xC	0.63	－	17	14	12.7
4	U-TV0.5xC-3	0.5	－	21.4	17.6	16
5	U-TV0.35xC-2	0.35	－	－	－	22

Oculari

Oculare per la visualizzazione diretta nel microscopio. Scelto in base al campo visivo desiderato.

		FN (mm)	Meccanismo di regolazione diottrica	Reticolo a croce integrato
1	WHN10X	22
2	WHN10X-H	22	■
3	CROSS WHN10X	22	■	■
4	SWH10X-H	26,5	■
5	CROSS SWH10X	26,5	■	■

Filtri ottici

I filtri ottici convertono la luce di esposizione del campione in diversi tipi di illuminazione. Scegliere il filtro appropriato in base alle esigenze di osservazione.

BF, DF e FL

1, 2	U-25ND25,6	Filtro a densità neutrale, fattore di trasmissione 25%, 6%
3	U-25LBD	Filtro colore della luce diurna
4	U-25LBA	Filtro colore luce alogena
5	U-25IF550	Filtro verde
6	U-25L42	Filtro taglia UV
7	U-25Y48	Filtro giallo
8	U-25FR	Filtro diffusore (richiesto per il BX3M-URAS-S)

POL, DIC

9	U-AN-2	La direzione di polarizzazione è fissa
10	U-AN360-3	La direzione di polarizzazione è rotante
11	U-AN360P-2	La direzione di polarizzazione di elevata qualità è rotante
12	U-PO3	La direzione di polarizzazione è fissa
13	45-IF546	Filtro verde ø 45 mm per POL

IR

14	U-AN360IR	La direzione di polarizzazione IR è rotante (riduce gli aloni con osservazioni IR quando si usa in combinazione con U-AN360IR e U-POIR)
15	U-POIR	La direzione di polarizzazione IR è fissa
16	U-BP1100IR	Filtro passa-banda: 1100 nm
17	U-BP1200IR	Filtro passa-banda: 1200 nm

Luce trasmessa

18	43IF550-W45	Filtro verde ø 45 mm
19	U-POT	Filtro polarizzante

Altri

U-25

Filtro vuoto, da usare con i filtri di ø 25 mm

*AN e PO non sono necessari quando si usa il BX3M-RLAS-S e l'U-FDICR

Condensatori

I condensatori acquisiscono e concentrano luce trasmessa. Uso per l'osservazione di luce trasmessa.

1	U-AC2	Condensatore di Abbe (disponibile da obiettivi 5x)
2	U-SC3	Condensatore swing out (disponibile da obiettivi 1,25x)
3	U-LWCD	Condensatore per ampia distanza di lavoro per piattello in vetro (U-MSSPG, U-SPG64)
4	U-POC-2	Condensatore swing out per POL

Cubi per fluorescenza

Cubi per fluorescenza per BX3M-URAS-S. Scegliere il cubo in rapporto alle esigenze di osservazione.

1	U-FBF	Per BF, filtro ND rimovibile
2	U-FDF	Per DF
3	U-FDICR	Per POL, la posizione a Nicol incrociati è fissa
4	U-FBFL	Per BF, filtro ND integrato (è necessario usare BF* e FL)
5	U-FWUS	Per ultravioletto-FL: BP330-385 BA420 DM400
6	U-FWBS	Per Blu-FL: BP460-490 BA520IF DM500
7	U-FWGS	Per Verde-FL: BP510-550 BA590 DM570
8	U-FF	Cubo per fluorescenza vuoto

_{*Solamente per l'illuminazione episcopica coassiale}

Tubi intermedi

Diversi tipi di accessori per scopi multipli. Per l'uso tra tubo e illuminatore.

1	U-CA	Variatore di ingrandimento (1x/1,25x/1,6x/2x)
2	U-TRU	Tubo trioculare intermedio

Obiettivi UIS2

Obiettivi che ingrandiscono il campione. Scegliere l'obiettivo che corrisponda alla distanza di lavoro, alla capacità di risoluzione e al metodo di osservazione per l'applicazione.

Cliccare qui per maggiori dettagli sugli obiettivi UIS2

Facilità d'uso

Semplicità nelle tecniche tradizionali:Illuminatore semplice

L'illuminatore minimizza le operazioni complicate che sono in genere necessarie durante l'uso del microscopio. Un sistema di regolazione presente nella parte frontale dell'illuminatore permette all'utente di cambiare facilmente il metodo di osservazione. Un operatore può velocemente passare attraverso i metodi di osservazione usati più di frequente nella microscopia a luce riflesse come il campo chiaro, il campo scuro e la luce polarizzata, in modo da cambiare prontamente i diversi tipi di analisi. Inoltre la semplice osservazione a luce polarizzata è regolabile ruotando l'analizzatore.

https://adobeassets.evidentscientific.com/content/dam/video/image/ie/bx53m/movie_bx53m_overview_01.mp4

Comandi intuitivi del microscopio:FS semplice e configurazioni AS

Attraverso delle ottimali configurazioni di stop di apertura e di stop di campo è possibile ottenere un eccellente contrasto delle immagini e un pieno utilizzo dell'apertura numerica dell'obiettivo. La legenda guida l'utente nell'impostare la corretta configurazione in base al metodo di osservazione e all'obiettivo in uso.

Ottenere la messa a fuoco rapidamente

L'indice della scala di messa a fuoco sullo stativo permette un veloce raggiungimento del punto focale. Gli operatori possono regolare approssimativamente il punto focale senza vedere il campione attraverso un oculare, risparmiando tempo quando si ispezionano campioni con altezze diverse.

Hand switch for motorized nosepiece rotation

Funzionamento semplice e pratico

La struttura di un sistema influenza l'efficienza operativa dell'utente. Sia gli utenti che utilizzano unicamente i microscopi, sia quelli che utilizzano i microscopi in combinazione con il software di analisi delle immagini PRECiV beneficiano dell'uso di pratici comandi che mostrano chiaramente la posizione hardware. I semplici comandi permettono all'utente di concentrarsi sul campione e sull'ispezione che deve essere realizzata.

Per un'illuminazione invariata:Light Intensity Manager

Durante la configurazione iniziale, l'intensità dell'illuminazione può essere regolata per corrispondere a una specifica configurazione dell'hardware dell'illuminatore codificato e/o revolver codificato.

Per il ripristino delle configurazioni del microscopio:Hardware codificato

Funzioni codificate integrate nelle configurazioni del sistema BX53M con software di analisi delle immagini PRECiV. Il metodo di osservazione, l'intensità di illuminazione e l'ingrandimento vengono automaticamente registrati dal software e salvati con le immagini associate. Visto che gli operatori possono sempre effettuare delle ispezioni con le stesse configurazioni di osservazione, possono essere prodotti degli affidabili risultati di ispezione.

Funzionamento

L'invisibile reso visibile:Osservazione MIX

La tecnologia di osservazione MIX del BX53M combina i convenzionali metodi di illuminazione con l'illuminazione del campo scuro. Quando viene usata la slitta MIX l'illuminatore anulare a LED integrato illumina il campo scuro direzionale nel campione. Ha un effetto simile al campo scuro convenzionale, tuttavia permette di scegliere un quadrante di LED per orientare la luce a diversi angoli. Questa combinazione di campo scuro direzionale, campo chiaro direzionale, fluorescenza e polarizzazione viene definita illuminazione MIX. Risulta particolarmente utile per illuminare i difetti e differenziare le superfici sporgenti da quelle infossate.

Creazione di immagini completamente a fuoco: EFI

La funzione Extended Focus Imaging (EFI) del software PRECiV permette di acquisire immagini di campioni con altezze che superano la profondità di campo dell'obiettivo e di unirle insieme per creare un'immagine completamente a fuoco. La funzione EFI può essere eseguita mediante un asse Z manuale o motorizzato, inoltre crea una mappatura delle altezze facilitando la visualizzazione strutturale. In aggiunta è possibile costruire un'immagine EFI mentre si è offline con PRECiV Desktop.

Acquisizione delle aree chiare e scure: HDR

Mediante operazioni di elaborazione di immagini avanzata, la funzione HDR (High Dynamic Range - elevato campo dinamico), regola le differenze di luminosità di un'immagine per ridurre i riflessi. La funzione HDR migliora la qualità delle immagini digitali, facilitando la generazione di report dall'aspetto professionale.

Esposizione chiara per componenti scure e chiare mediante l'HDR (campione: iniettore di carburante)

_{Esposizione chiara per componenti scure e chiare mediante l'HDR (campione: iniettore di carburante)}

Miglioramento del contrasto mediante HDR (campione: sezione di magnesite)

_{Miglioramento del contrasto mediante HDR}
_{(Campione: Sezione di magnesite)}

Immagine MIA istantanea di una moneta

_{Immagine MIA istantanea di una moneta}

Semplice spostamento del tavolino per panorama: Instant MIA

Adesso è possibile unire immagini velocemente e facilmente muovendo solamente le manopole XY sul tavolino manuale; non è necessario un tavolino motorizzato. Il software PRECiV utilizza la funzione di riconoscimento dello schema per generare un'immagine panoramica fornendo agli utenti un campo visivo più ampio rispetto a una singola immagine.

Versatilità di misurazione

Funzioni di misurazione di routine o di base

PRECiV offre diverse funzioni di misura in modo che l'utente possa facilmente ottenere dati utili dalle immagini. A fini di controllo qualità e ispezioni sono spesso necessarie le funzioni di misura sulle immagini. Tutti i tipi di licenze PRECiV includono le funzioni di misura interattive come: distanze, angoli, rettangoli, cerchi, ellissi e poligoni. Tutti i risultati di misura vengono salvati con i file di immagine per successive operazioni di documentazione.

Conteggio e misura

Nell'ambito dell'imaging digitale le applicazioni più importanti sono il rilevamento degli oggetti e la misura della distribuzione dimensionale. PRECiV integra un sistema di rilevamento che utilizza i metodi delle soglie per separare in modo affidabile gli oggetti (es. particelle e graffi) dallo sfondo.

Soluzioni per le scienze dei materiali

PRECiV integra un'interfaccia intuitiva e orientata sul flusso di lavoro per l'analisi di immagini complessi. Cliccando su un pulsante è possibile eseguire le più complesse operazioni di analisi delle immagini, in modo veloce, preciso e in conformità alla maggior parte delle norme industriali. Con una significativa riduzione dei tempi di esecuzione di operazioni ripetitive, i ricercatori specializzati nei materiali possono concentrarsi sull'analisi e la ricerca. Componenti aggiuntivi modulari da utilizzare in qualsiasi momento per inclusioni e grafici delle intercette.

Vista della superficie 3D (campione di analisi della rugosità)

_{Vista della superficie 3D (campione di analisi della rugosità)}

Vista singola e misura del profilo 3D

_{Vista singola e misura del profilo 3D}

Misure di campioni in 3D

Quando si usa un sistema di controllo della messa a fuoco motorizzato esterno, un'immagine EFI può essere velocemente acquisita e visualizzata in 3D. I dati acquisiti delle altezze possono essere usate per misure 3D nel profilo o partendo dalla singola immagine della vista.

Maggior informazioni su PRECiV

Vedi altri tipi e dimensioni di campioni

Il nuovo tavolino 150 × 100 mm assicura una maggiore distanza nella direzione X rispetto ai precedenti modelli. Grazie a questa caratteristica, e al fatto di avere una struttura piana nella parte superiore, possono essere facilmente posizionati su tavolino diversi campioni o campioni di grandi dimensioni. Il piattello del tavolino integra dei fori filettati per fissare un supporto per campioni. Un tavolino di maggiori dimensioni permette agli utenti di ispezionare più campioni con un microscopio con un risparmio in termini di spazio in laboratorio. La regolazione della coppia del tavolino facilita il posizionamento preciso con un elevato ingrandimento e un campo visivo stretto.

Flessibilità per l'altezza e il peso dei campioni

I campioni con una dimensione massima di 105 mm possono essere posizionati sul tavolino con l'unità modulare opzionale. Grazie al migliore meccanismo di messa a fuoco, sul microscopio può gravare un peso totale (campione + tavolino) massimo di 6 kg. Questo significa che con il BX53M possono essere ispezionati campioni più grandi e pesanti, in modo da ridurre il numero di microscopi nel laboratorio. Posizionando in modo ottimale un supporto rotante per un decentramento di 15,24 cm (6 in.) dei wafer, gli utenti possono osservare l'intera superficie del wafer ruotando il supporto quando ci si sposta nell'ambito della corsa di traslazione di 100 mm. La regolazione della coppia del tavolino è semplice e la presa risulta ottimale in modo da facilitare l'inquadratura dell'area di interesse sul campione.

BX53MRF-S

_BX53MRF-S

BXFM

_BXFM

Flessibilità nella dimensione dei campioni

Quando i campioni sono troppo grandi per posizionarli su un convenzionale tavolino da microscopio, le componenti ottiche dei microscopi a luce riflessa possono essere sistemate in base a una configurazione modulare. Grazie a questo sistema modulare, il BXFM, può essere installato su un supporto di maggiori dimensioni attraverso un'asta o installato su un altro strumento a scelta mediante una staffa di montaggio. Questo permette agli utenti di poter utilizzare le ottiche di qualità riconosciuta, anche quando i campioni hanno dimensioni e forme eccezionali.

Protezione dei dispositivi elettronici da scariche elettrostatiche: compatibilità ESD

Il BX53M ha una capacità di dissipazione ESD in grado di proteggere i dispositivi elettronici da elettricità statica causata da fattori ambientali e umani.

Qualità dell'immagine

Una storia di ottiche all'avanguardia

Combinazione di alta apertura numerica e lunga distanza di lavoro

Le lenti degli obiettivi sono fondamentali per le prestazioni di un microscopio.
I nuovi obiettivi MXPLFLN aggiungono profondità alla serie MPLFLN per imaging con epi-lluminazione, massimizzando, allo stesso tempo, l'apertura numerica e la distanza di lavoro. Delle maggiori risoluzioni con ingrandimenti di 20X e 50X in genere si traducono in distanze di lavoro più brevi, obbligando a ritrarre il campione o l'obiettivo durante la sostituzione dell'obiettivo. In molti casi, la distanza di lavoro di 3 mm della serie MXPLFLN elimina questo problema, permettendo delle ispezioni più veloci con meno probabilità che l'obiettivo urti il campione.

Maggior informazioni sugli obiettivi MXPLFLN

table

Conventional 50X objective: NA 0.8, WD 1 mm / MXPLFLN50X: NA 0.8, WD 3mm

Prestazioni ottiche di qualità superiore:Controllo dell'aberrazione del fronte d'onda

Le prestazioni ottiche degli obiettivi influiscono direttamente sulla qualità delle immagini osservate e sui risultati dell'analisi. Gli obiettivi UIS2 ad alto ingrandimento sono studiati per ridurre le aberrazioni del fronte d'onda per offrire prestazioni ottiche affidabili.

Per maggiori informazioni sugli obiettivi UIS2

Fronte d'onda non ottimizzato

_{Fronte d'onda non ottimizzato}

Fronte d'onda ottimizzato (obiettivo UIS2)

_{Fronte d'onda ottimizzato (obiettivo UIS2)}

Temperatura del colore costante:Illuminazione a LED bianco ad alta intensità

Il BX53M utilizza un generatore di luce a LED bianca e ad alta intensità per luce trasmessa e riflessa. Il LED mantiene una temperatura del colore costante indipendentemente dall'intensità. I LED forniscono un'illuminazione duratura e efficiente che risulta ideale per le ispezioni nell'ambito delle scienze dei materiali.

Alogena: il colore varia con l'intensità luminosa.

_{Lampada alogena: Il colore varia con l'intensità luminosa}

LED: il colore rimane invariato con l'intensità luminosa e appare più chiaro rispetto all'illuminazione con luce alogena.

_{LED: il colore rimane invariato con l'intensità luminosa e appare più chiaro rispetto all'illuminazione con luce alogena.}
^{* Tutte le immagini acquisite utilizzano l'esposizione automatica}

Qualità superiore per prestazioni avanzate

Supporto per la misura di precisione:Taratura automatica

In modo simile alla microscopia digitale, la taratura automatica è disponibile quando si usa PRECiV. La taratura automatica elimina il fattore di variabilità umana nel processo di taratura, fornendo delle misure più affidabili. La taratura automatica utilizza un algoritmo che calcola automaticamente la corretta taratura in base a una media di diversi punti di misura. Questo permette di minimizzare la variabilità originata da operatori diversi e di mantenere un livello di precisione ottimale, migliorando l'affidabilità.

Wafer semiconduttore (immagine binarizzata): la correzione delle ombreggiature produce un'illuminazione uniforme nel campo visivo.

_{Wafer semiconduttore (immagine binarizzata):}
^{La correzione delle ombreggiature produce un'illuminazione uniforme nel campo visivo.}

Stitching uniforme:Correzione delle ombreggiature dell'immagine

Il software PRECiV integra la funzione di correzione dell'ombreggiatura per rimuovere le ombreggiature presenti negli angoli di un'immagine. Questa funzione permette di ottenere delle analisi più precise quando viene combinata con la definizione delle configurazioni dell'intensità delle soglie.

Maggior informazioni su PRECiV

Applicazioni

Schema IC su un wafer semiconduttore

Il campo chiaro è utilizzato per rilevare graffi o difetti di lieve entità nei campioni o per eseguire un controllo dei campioni su superfici a specchio, ad esempio i wafer.

Grazie all'illuminazione MIX, gli utenti possono visualizzare sia gli schemi che i colori.

MIX (campo chiaro + campo scuro)

_{MIX (campo chiaro + campo scuro)}

Campo scuro

_{Campo scuro}

Cubo a

_Fluorescenza

MIX (fluorescenza + campo scuro)

_{MIX (fluorescenza + campo scuro)}

Residuo di fotoresist su un wafer semiconduttore

La fluorescenza è impiegata per i campioni che emettono luce se illuminati con un filtro appositamente progettato. per il rilevamento di contaminazioni e residui fotoresistenti.

L'illuminazione MIX permette l'osservazione dei residui fotoresistenti e dello schema IC.

Luce trasmessa

_{Luce trasmessa}

MIX (Luce trasmessa + Campo chiaro)

_{MIX (Luce trasmessa + Campo chiaro)}

Filtro a colori LCD

Questa tecnica di osservazione è adatta per campioni trasparenti come LCD, plastiche e materiali vetrosi.

L'illuminazione MIX permette l'osservazione sia del colore del filtro sia del pattern del circuito.

Campo chiaro

_{Campo chiaro}

Contrasto interferenziale (DIC)

_{Contrasto interferenziale (DIC)}

Ghisa a grafite sferoidale

Il DIC è una tecnica di osservazione dove l'altezza del campione è visibile in rilievo, in modo simile alle immagini 3D con contrasto migliorato; è ideale per le ispezioni di campioni che hanno differenze minime di altezze come i minerali e le strutture metallurgiche.

Campo chiaro

_{Campo chiaro}

Luce polarizzata

_{Luce polarizzata}

Sericite

Il contrasto interferenziale (DIC) è una tecnica di osservazione dove l'altezza del campione, in genere non rilevabile nel campo chiaro, è visibile in rilievo, in modo simile alle immagini 3D con contrasto migliorato. È ideale per le ispezioni di campioni che hanno differenze minime di altezze come i minerali e le strutture metallurgiche.

Infrarossi (IR)

_{Infrarossi (IR)}

Piazzole di unione su uno schema IC

Gli IR vengono utilizzati per la ricerca di difetti all'interno dei chip IC e di altri dispositivi con strato di silicio.

Specifiche tecniche

SPECIFICHE TECNICHE DI CONFIGURAZIONE DEL BX53M PER USO GENE
			Entry		Standard		Advanced
Optical system			UIS2 optical system (infinity-corrected)
Main unit	Microscope frame		BX53MRF-S (Reflected)	BX53MTRF-S (Reflected/Transmitted)	BX53MRF-S (Reflected)	BX53MTRF-S (Reflected/Transmitted)	BX53MRF-S (Reflected)	BX53MTRF-S (Reflected/Transmitted)
	Focus		Stroke: 25 mm Fine stroke per rotation: 100 μm Minimum graduation: 1 μm With upper limit stopper, torque adjustment for coarse handle
	Max. specimen height		Reflected: 65 mm (w/o spacer), 105 mm (with BX3M-ARMAD) Reflected/Transmitted: 35 mm (w/o spacer), 75 mm (with BX3M-ARMAD)
	Observation tube	Wide field (F.N.22)	U-TR30-2-2 Inverted: trinocular
	Illumination	Reflected light Transmitted light	BX3M-KMA-S White LED, BF/DIC/POL/MIX FS, AS (with centering mechanism), BF/DF interlocking		BX3M-RLAS-S Coded, White LED, BF/DF/DIC/POL/MIX FS, AS (with centering mechanism), BF/DF interlocking
			－	BX3M-LEDT White LED Abbe/long working distance condensers	－	BX3M-LEDT White LED Abbe/long working distance condensers	－	BX3M-LEDT White LED Abbe/long working distance condensers
	Revolving nosepiece		U-5RE-2 For BF: Quintuple		U-D6BDRE For BF/DF: Sextuple			U-D6BDRES-S For BF/DF : Sextuple, Coded
	Eyepiece（F.N.22)		WHN10 WHN10X-H
	MIX observation		－					BX3M-CB Control box BX3M-HS Hand switch U-MIXR-2 MIX slider for reflected light observation U-MIXRCBL Cable for MIXR
	Condenser (Long working distance)		－	U-LWCD	－	U-LWCD	－	U-LWCD
	Power cable		UYCP (x1)					UYCP (x2)
	Weight		Reflected: approx.15.8 kg (microscope frame 7.4 kg) Reflected/transmitted: approx. 18.3 kg (microscope frame 7.6 kg)
Objectives	MPLFLN set		MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X BF/POL/FL observation		－
	MPLFLN BD set		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD, 100XBD BF/DF/DIC/POL/FL observation
	MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD set		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD BF/DF/DIC/POL/FL observation
	MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD set		－		MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD BF/DF/DIC/POL/FL observation
Stage (X x Y)	76 mm x 52 mm set		U-SVRM, U-MSSP Coaxial right handle stage / 76 (X) × 52 (Y) mm, with torque adjustment
	100 mm x 10 0mm set		U-SIC4R2, U-MSSP4 Large-size coaxial right handle stage / 100 (X) x 100 (Y) mm, with lock mechanism in Y axis
	100 mm x 100 (G) mm set		U-SIC4R2, U-MSSPG Large-size coaxial right handle stage / 100 (X) x 100 (Y) mm, with lock mechanism in Y axis (Glass plate)
	150 mm x 100 mm set		U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Large-size coaxial right handle stage / 150 (X) x 100 (Y) mm, with torque adjustment, with lock mechanism in Y axis
	150 mm x 100 (G) mm set		U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Large-size coaxial right handle stage / 150 (X) x 100 (Y) mm, with torque adjustment, with lock mechanism in Y axis (Glass plate)
Option	MIX observation set*		BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL				－
	DIC*		U-DICR
	Intermediate Tubes		U-CA, U-EPA2, U-TRU
	Filters		U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR
	Filter for condenser		43IF550-W45, U-POT
	Stage plate		U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65, U-WHP2
	Specimen holder		U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4
	Handle rubber		U-SHG, U-SHGT

_{*Cannot be used with U-5RE-2}

BX53M / BXFM ESD UNITS
Items	Microscope frame	BX53MRF-S, BX53MTRF-S
	Illuminator	BX3M-KMA-S, BX3M-RLA-S, BX3M-URAS-S, BX3M-RLAS-S
	Nosepiece	U-D6BDREMC, U-D6BDRES-S, U-D5BDREMC-ESD, U-5RES-ESD
	Stage	U-SIC4R2, U-MSSP4

SPECIFICATIONS OF BX53M SUGGESTED CONFIGURATION FOR DEDICATED USE
				Fluorescence		Infrared	Polarized
Optical system				UIS2 optical system (infinity-corrected)
Main unit	Microscope frame			BX53MRF-S (Reflected)	BX53MTRF-S (Reflected/ Transmitted)	BX53MRF-S (Reflected)	BX53MTRF-S (Reflected/Transmitted)
	Focus			Stroke: 25 mm Fine stroke per rotation: 100 μm Minimum graduation: 1 μm With upper limit stopper, torque adjustment for coarse handle
	Max. specimen height			Reflected: 65 mm (w/o spacer), 105 mm (with BX3M-ARMAD) Reflected/Transmitted: 35 mm (w/o spacer), 75 mm (with BX3M-ARMAD)
	Observation tube	Wide field (F.N.22)		U-TR30-2 Inverted: trinocular		U-TR30IR Inverted: trinocular for IR	U-TR30-2 Inverted: trinocular
		Polarized Light Intermediate Attachment (U-CPA)	Bertrand Lens	－		－	Focusable
			Bertrand Field Stop	－		－	ø3.4 mm diameter (fixed)
			Engage or disengage Bertrand lens changeover between orthoscopic and conoscopic observation	－		－	Position of slider ● in Position of slider ○ out
			Analyzer Slot	－		－	Rotatable Analyzer with Slot (U-AN360P-2)
	Illumination	Reflected light	FL observation	BX3M-URAS-S Coded universal reflected light, 4 position mirror unit turret, (standard: U-FWUS, U-FWBS, U-FWGS, U-FBF etc) With FS, AS (with centering mechanism), With shutter mechanism		－	－
			IR observation	－		BX3M-RLA-S 100W halogen lamp for IR, BF/IR, AS (with centering mechanism) U-LH100IR (Including 12V 10W HAL-L) 100W Halogen light source for IR TH4-100 100W power supply TH4-HS Hand switch U-RMT Extension cord	－
		Transmitted light	POL observation	－		－	BX3M-LEDT White LED Abbe/long working distance condensers
	Revolving nosepiece			U-D6BDRES-S For BF/DF : Sextuple, Coded		U-5RE-2 For BF : Quintuple	U-P4RE Quadruple, centerable attachable components 1/4 wavelength retardation plate (U-TAD), tint plate (U-TP530) and various compensators can be attached using plate adapter (U-TAD)
	Eyepiece（F.N.22)			WHN10X
				WHN10X-H			CROSS-WHN10X
	Mirror units			U-FDF For DF U-FBFL For BF, built-in ND filter U-FBF For BF, detachable ND filter U-FWUS For Ultra Violet-FL U-FWBS For Blue-FL U-FWGS For Green-FL		－
	Filter / Polarizer / Analyzer			U-25FR Frost filter		U-BP1100IR/U-BP1200IR Band path filters for IR	43IF550-W45 Green filter
				U-POIR Reflected polarizer slider for IR		U-AN360IR Rotatable analyzer slider for IR	U-AN360P-2 360° Dial-rotatable Rotatable minimum angle 0.1°
	Condenser			U-LWCD Long working distance		－	U-POC-2 Achromat strain-free condenser. 360°rotatable polarizer with swing-out achromatic top-lens. Click stop at position "0°" is adjustable. NA 0.9 (top-lens in) / NA 0.18 (top-lens out) Aperture iris diaphragm: adjustable from 2 mm to 21 mm diameters
	Slider / Compensators			－			U-TAD Slider (Plate adapter)
							U-TP530 Tint plate U-TP137 1/4 wavelength retardation plate
	Power cable			UYCP (x1)		UYCP (x2)	UYCP (x1)
	Weight			Reflected: approx.15.8 kg (microscope frame 7.4 kg)	Reflected/transmitted: approx. 18.3 kg (microscope frame 7.6 kg)	Approx.18.9 kg (microscope frame 7.4 kg)	Approx.16.2 kg (microscope frame 7.6 kg)
Reflected FL light source	Light guide			U-LGPS, U-LLGAD, U-LLG150, Light guide set		－	－
	Mercury lamp			U-LH100HGAPO1-7, USH-103OL (x2), U-RFL-T, U-RCV Mercury lamp set		－	－
Objectives	MPLFLN set			MPLFLN5X, 10X, 20X, 50X, 100X BF/DIC/POL/FL observation		－	－
	MPLFLN BD set			MPLFLN5XBD, 10XBD, 20XBD, 50XBD, 100XBD BF/DF/DIC/POL/FL observation		－	－
	MPLFLN-BD, LMPLFLN-BD set			MPLFLN5XBD, 10XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD BF/DF/DIC/POL/FL observation		－	－
	MPLFLN-BD, MXPLFLN-BD, LMPLFLN-BD set			MPLFLN5XBD, 10XBD, MXPLFLN20XBD, 50XBD, LMPLFLN20XBD, 50XBD, 100XBD BF/DF/DIC/POL/FL observation		－	－
	IR set			－		LMPLN5XIR,10XIR,LCPLN20XIR,50XIR,100XIR IR observation	－
	POL set			－		－	UPLFLN4XP,10XP,20XP,40XP POL observation
Stage (X x Y)	76 mm x 52 mm set			U-SVRM, U-MSSP Coaxial right handle stage / 76 (X) × 52 (Y) mm, with torque adjustment
	100 mm x 10 0mm set			U-SIC4R2, U-MSSP4 Large-size coaxial right handle stage / 100 (X) x 100 (Y) mm, with lock mechanism in Y axis
	100 mm x 100 (G) mm set			U-SIC4R2, U-MSSPG Large-size coaxial right handle stage / 150 (X) x 100 (Y) mm, with lock mechanism in Y axis (Glass plate)
	150 mm x 100 mm set			U-SIC64, U-SHG, U-SP64 Large-size coaxial right handle stage / 150 (X) x 100 (Y) mm, with torque adjustment, with lock mechanism in Y axis
	150 mm x 100 (G) mm set			U-SIC64, U-SHG, U-SPG64 Large-size coaxial right handle stage / 150 (X) x 100 (Y) mm, with torque adjustment, with lock mechanism in Y axis (Glass plate)
	POL set			－			U-SRP+U-FMP Polarizing rotatable stage + Mechanical stage
Option	MIX observation set*			BX3M-CB, BX3M-HS, U-MIXR-2, U-MIXRCBL
	DIC*			U-DICR
	Intermediate Tubes			U-CA, U-EPA2, U-TRU
	Filters			U-25ND6, U-25ND25, U-25LBD, U-25LBA, U-25Y48, U-AN360-3, U-AN360P, U-PO3, U-25IF550, U-25L42, U-25, U-25FR
	Filter for condenser			43IF550-W45, U-POT
	Stage plate			U-WHP64, BH2-WHR43, BH2-WHR65, U-WHP2
	Specimen holder			U-HRD-4, U-HLD-4, U-HRDT-4, U-HLDT-4
	Handle rubber			U-SHG, U-SHGT