评估存储卡的表面粗糙度

使用激光显微镜测量微米级形状的目标

存储卡

（1）应用

存储卡的大小各异，并被广泛地用作数码相机、手机、记录仪等设备的存储介质。在使用这些存储卡时，要将卡插入到这些设备的插槽中，因此存储卡表面的粗糙度会影响是否可以顺利完成插卡操作。由于存储卡平滑的表面有助于提升其商业价值，因此在质量控制过程中，测量存储卡表面的粗糙度是一个重要的环节。使用常规粗糙度检测仪进行质量控制会在测量过程中受到某些限制，因为这些检测仪需要与被测表面进行接触，而且一般只能沿着单一运动轨迹测量卡表面上凸起的高度（粗糙度）。

（2）解决方案

奥林巴斯的LEXT OLS5000 3D激光扫描显微镜，可以在无需接触被测表面的情况下，完成高分辨率和高精度的3D剖面测量。这款显微镜通过使用共聚焦光学系统，可使用户获得清晰的高分辨率图像。共聚焦光学系统采用符合ISO 25178标准的三维粗糙度参数，对表面区域进行非接触式评估。与沿着单一轨迹进行测量的常规粗糙度检测仪相比，这种大面积表面评估功能更适合检测看似随机的不规则目标，而且还可以提供更多的测量信息。OLS5000显微镜提供标准的自动载物台功能，通过记录测量坐标并使用成像拼接功能，可以顺利地完成多点数据采集操作。

图像

（1）样品A（目镜：20X； 有效视场：640 µm）

（2）样品B（目镜：20X；有效视场：640 µm）