表面粗糙度测量―评估参数

显微镜解决方案

概述

粗糙度评估参数

在以下情况下您会做什么?

或者

在某些情况下,使用常见的3D粗糙度评估参数(如SaSqSz)时,找不到不同样品之间的差异。出现这种情况时,关注其他参数可能会有所帮助。

在此,我们将详细介绍各种评估参数,并举例说明了每个参数的用途。

评估不均匀性(SqSaSzSpSv

不均匀性可以使用高度参数进行评估:SqSaSzSpSv。直方图内的高度参数存在如下关系。

Sq(根均方高度)相当于高度分布的标准差,是一个易于处理的统计参数。Sa(算术平均高度)是从平均平面起算的平均高度差。当高度分布为正态时,参数SqSa之间的关系变为Sa≒0.8*Sq。由于参数SzSqSv 使用最大和最小高度值,评估结果的稳定性可能会受到测量噪声的不良影响。

高度参数是一个完全由高度分布信息决定的参数。因此,这些参数不会反映水平特征的情况。

评估不均匀性(Sq、Sa、Sz、Sp、Sv)

应用说明:使用LEXT OLS5000激光显微镜对汽车车门开关压花进行3D评估

应用说明:测量5G印制电路板铜箔表面的粗糙度

评估高度分布(SskSku、直方图)

高度分布通常以直方图的形式进行评估。Ssk是一个参数,用于评估直方图中图形表现(分布)的不对称程度。

Ssk = 0表示高度差异分布均匀;参数为负值时,表示偏向较高的一侧;参数为正值时,表示偏向较低的一侧。 对于因滑动磨损而被削去较高特征的样品,Ssk值往往倾向于为负值。因此,该参数有时被用作滑动磨损程度的评估指标。

评估高度分布(Ssk、Sku、直方图)

评价光洁度(SalSdqSdr

Sal参数为相似结构密度提供以长度为单位的数字指标。数值越小,特征越光洁。

代表特征光洁度的间接指标包括局部梯度和表面积。Sdq是表面上存在的局部梯度的平均值,而Sdr是代表表面面积生长率的参数。如果SaSq等高度参数水平相当,则随着参数Sdq(梯度)和Sdr(表面面积)的增大,光洁度会变得更细。

评估光洁度(Sal、Sdq、Sdr)

应用说明:使用激光扫描3D显微镜以高精度评估车速表盖的防眩光性能

应用说明:使用LEXT OLS5000激光显微镜对汽车车门开关压花进行3D评估

应用说明:测量5G印制电路板铜箔表面的粗糙度

评估方向(StdStr、方向绘图)

方向绘图以角度图的形式显示表面特征的方向属性。绘制的峰形随着方向变得明朗而变得更加尖锐。方向强度经过归一化处理,因此最强的峰与最外层的圆接触。在方向绘图中,Std参数代表从最大峰值开始依次排列的峰值角度。

Str参数是代表方向强度的数值。Str<0.3表示(方向性)各向异性表面,而Str>0.5表示各向同性表面。

评估方向(Std、Str、方向绘图)

评估周期性(PSD)

功率谱密度(PSD)代表在相应空间频率下,表面不均匀性的程度。在具有周期性的样本中,PSD图表中会出现峰值(箭头)。通过确定峰值的横轴,可以获得周期性的频率(周期倒数)。

如果不存在周期性,则图表会显示总体向右侧下降的趋势。

评估周期性(PSD)

评估主要特征成分(PSD)

功率谱密度(PSD)代表在相应空间频率下表面不均匀性的程度,“渐变”、“细微”和类似特征的情况都反映在PSD图表中。

在渐变表面特征中,低频端的值(图表左侧)往往较大。在细微表面特征中,高频端的值(图表右侧)往往较大。

评估主要特征成分(PSD)

评估峰值的数量和峰尖结构(SpdSpc

表面上出现的峰值与物体的密切接触、摩擦、磨损和类似现象有关。

特征图像显示表面的分类形貌特征(峰、谷、脊线和航线)。Spd参数代表特征图像内分类为峰(粉红色)的表面特征的密度(单位面积的特征数量)。

Spc参数代表特征图像内分类为峰的表面特征的峰值平均曲率半径。

随着Spc值的增大,峰值的曲率会变小(更尖锐),而随着这个值的减小,曲率会增大(更钝)。

评估峰值的数量和峰尖结构(Spd、Spc)

评估磨损前后的变化(SkSpkSvk

一般来说,磨损从表面的最高位置开始。使用基于高度分布的参数可以有效地评估磨损状态。

随着磨损的不断增加,材料比率曲线上较高部分的曲线会向下移动,而较低部分的曲线会向上移动。

参数SkSpk的值会随磨损的增加而下降。

评估磨损前后的变化(Sk、Spk、Svk)

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