InSight
InSight
/zh/insights/capabilities-of-near-infrared-imaging-for-electronics-and-semiconductor-inspection
近红外成像在电子设备和半导体检测中的功能
作者 Robert Bellinger - 2023年 3月 21日
/zh/insights/acquiring-high-quality-images-through-silicon
硅片获取高质量图像不会损坏成品
作者 Robert Bellinger - 2017年 9月 12日
/zh/insights/identifying-breech-face-markings
弹道分析:激光扫描共焦显微镜帮助识别后膛面标记
作者 Robert Bellinger - 2017年 7月 11日
/zh/insights/automatically-detect-particles-in-cadmium-zinc-telluride
利用图像分析软件自动探测碲锌镉中的颗粒
作者 Robert Bellinger - 2017年 5月 16日
/zh/insights/benefits-of-fully-motorized-microscope-system
全电动显微镜系统的好处
作者 Robert Bellinger - 2016年 9月 13日