MX63-MX63L晶圆检测显微镜

MX63和MX63L显微镜系统经过优化，适用于最大300 mm晶圆的高质量检测。 它们的模块化设计兼容平板显示器、电路板和其他大型样品，让您可以选择所需的组件，根据自己的应用量身定制系统。