Anwendungsbeispiele

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Formauswertung eines auf einer Metalloberfläche eingeschlagenen Stempels / 3D-Formmessung mit Lasermikroskop

Anwendung

Eine Markierung soll bei Produkten oder Teilen die Identifizierung oder Rückverfolgbarkeit erleichtern. Es werden verschiedene Markierungsmethoden verwendet, darunter Tintenstrahldruck, Lasergravur und Stempel. Metallstempel sind ein Standardverfahren in vielen Industriezweigen; dabei wird mit einem sehr harten Material ein Muster in ein Metallstück gestanzt. Im Gegensatz zur Gravur hinterlässt das Stempeln eine semi-permanente Markierung, ohne dass Metallspäne entstehen. Die Sichtbarkeit einer Markierung hängt von ihrer Größe und Position ab, die Haltbarkeit von der Tiefe des Stempels. Diese Markierungen müssen ausgewertet werden, um sicherzustellen, dass sie sich an der richtigen Stelle befinden und in der richtigen Tiefe gestempelt sind.

Die Lösung von Olympus

Das LEXT 3D-Scanning-Lasermikroskop von Olympus besitzt durch seinen 405 nm-Halbleiterlaser eine hohe horizontale Auflösung, so dass Benutzer die Breite einer gestanzten Marke genau messen können. Das konfokale optische System des Mikroskops liefert genaue dreidimensionale Daten der Unregelmäßigkeiten einer Oberfläche im Mikrometerbereich. Mit dem LEXT können Anwender 3D-Bilder genau reproduzieren und zuverlässige Messungen in der Z-Achse durchführen. Mit der Stitching-Funktion werden mehrere scharf abgebildete Bilder nahtlos zu einem Panoramabild zusammengefügt, so dass es einfacher ist, eine Markierung vollständig zu sehen.

Auf einer Metallplatte eingestanzte Markierung

Objektivlinse 5X; 5×5-Stitching

Objektivlinse 5X; 5×5-Stitching

Objektivlinse 20X

Objektivlinse 20X

Objektivlinse 100X, Zoom 1X

Objektivlinse 100X, Zoom 1X

Objektivlinse 100X, Zoom 1X

Objektivlinse 100X, Zoom 1X

Verwendete Produkte

LEXT OLS5100

Das OLS5100 Laser-Mikroskop wurde für die Fehleranalyse und werkstofftechnische Forschung entwickelt und kombiniert hervorragende Messgenauigkeit und optische Leistung mit intelligenten Werkzeugen, die die Verwendung des Mikroskops vereinfachen. Schnelle und effiziente Messung der Form und Oberflächenrauheit im Submikrometerbereich ermöglichen einen vereinfachten Workflow mit zuverlässigen Daten.

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