Anwendungshinweisen
Bewertung des Oberflächenprofils von Passscheiben / berührungslose 3D-Formmessung mit Lasermikroskop
Anwendungsbereich
Eine Passscheibe wird als Abstandshalter verwendet, um die Höhe oder den Abstand von Produkten in Maschinenkomponenten, Kraftfahrzeugen und anderen Konstruktionen einzustellen. Dicke, Größe und Material solcher Passscheiben sind sehr unterschiedlich, die dünnsten Passscheiben sind etwa 5 μm dick. Die Passscheiben werden in der Regel aus Eisen, Edelstahl, Aluminium, Kupfer und Messing hergestellt.
Passscheiben sind hauptsächlich erforderlich, um einen Spalt zwischen Teilen einzustellen oder den Kontaktwiderstand zu stabilisieren. Eine Kriterium zur Bestimmung der Qualität ist das Oberflächenprofil der Passscheibe, das während des Herstellungsprozesses kontrolliert werden muss. Die Hersteller versuchen, Passscheiben zu produzieren, die so glatt wie möglich sind. Die Messung des Oberflächenprofils bewertet basiert auf einer Bewertung die der Oberflächenrauheit anstatt der herkömmlichen Linienrauheit.
Die Lösung von Olympus
Das LEXT 3D-Laser-Scanning-Mikroskop LEXT von Olympus ermöglicht eine berührungslose 3D-Formmessung mit hoher Auflösung und hoher Präzision. Die Anwender können das Profil der Tiefe (oder Höhe) von Oberflächenunregelmäßigkeiten und die Oberflächenrauheit genau messen. Da die Oberfläche der Passscheibe gleichförmig ist, kann die Linienr-Rauheit im Millimeterbereich als Längenprofil im Rauheitsmodus berührungslos gemessen werden. Die Rauheitsdaten der Längenmessungen lassen sich mit den Daten eines Rauheitsmessgerät mit Messtaster vergleichen. Darüber hinaus ist der Durchmesser der Laserstrahlspitze kleiner als der Durchmesser der Messtasterspitze, so dass die Anwender feinere Unregelmäßigkeiten genau messen können.
Oberfläche einer Passscheibe
Objektiv 100X, Zoom 1X
Verwendete Produkte
LEXT OLS5500
Hybrides 3D-Oberflächenprofilometer
- Rückverfolgbare Oberflächenmessungen vom Nanometer- bis zum Mikrometerbereich
- Laser-Scanning-Mikroskopie (LSM), Weißlichtinterferometrie (WLI) und Fokusvariationsmikroskopie (FVM) in einer preisgekrönten Plattform vereint
- Erstes 3D Optical Profilometer, das für LSM- und WLI-Messungen eine garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit* bietet
- WLI-Modus ermöglicht bis zu 40-fach höheren Messdurchsatz im Vergleich zu herkömmlichem LSM
- Außergewöhnliche Präzision über alle Oberflächen hinweg dank firmeneigener, entwickelter Optiken
- Intuitive Benutzeroberfläche und intelligente Automatisierung für einen reibungslosen Betrieb – unabhängig vom Erfahrungsniveau des Anwenders
- KI-gestützte und hochdurchsatzfähige Workflows durch Integration der PRECiV™-Software
*Basierend auf internen Untersuchungen von Evident vom Oktober 2025. Die garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit geltennur, wenn das Gerät nach den Angaben des Herstellers kalibriert wurde und sich in einwandfreiem Zustand befindet. Die Kalibrierung muss von einem Evident Techniker oder einem von Evident autorisierten Spezialisten durchgeführt werden.
LEXT OLS5100
Das OLS5100 Laser-Mikroskop wurde für die Fehleranalyse und werkstofftechnische Forschung entwickelt und kombiniert hervorragende Messgenauigkeit und optische Leistung mit intelligenten Werkzeugen, die die Verwendung des Mikroskops vereinfachen. Schnelle und effiziente Messung der Form und Oberflächenrauheit im Submikrometerbereich ermöglichen einen vereinfachten Workflow mit zuverlässigen Daten.