Anwendungshinweisen
Oberflächenprofilbewertung von Diffusorplatten für LCDs / Berührungslose 3D-Formmessung mit einem Lasermikroskop
Anwendungsbereich
Flüssigkristallanzeigen (LCDs) müssen eine gleichmäßige Helligkeit aufweisen. Dazu werden Spezialfolien als Teil eines optischen Beleuchtungssystems zu einer Einheit laminiert. Das Licht einer Lichtquelle, beispielsweise von LEDs am Rand einer Lichtleiterplatte, wird wiederholt reflektiert und in der Platte gestreut, so dass die Vorderseite der Platte ausgeleuchtet wird. Wenn das von der Platte abgestrahlte Licht durch die Diffusorplatte gleichförmig gemacht und durch eine Prismenplatte gesammelt wurde, ist es sehr hell. Dieses Licht tritt dann in das TFT-LCD-Display ein. Damit dieser Vorgang effektiv abläuft, muss die Oberfläche der Diffusorplatte einheitlich sein. Daher muss das Oberflächenprofil der Platte geprüft werden.
Die Lösung von Olympus
Mit dem LEXT 3D-Laser-Scanning-Mikroskop LEXT von Olympus können Anwender die Oberflächenrauheit der Diffusorplatte und die Streuung aufgrund zufälliger Unregelmäßigkeiten mit hoher Auflösung und hohem Kontrast beobachten. Das LEXT 3D-Laser-Scanning-Mikroskop LEXT vverfügt über dedizierte Objektive mit hoher numerischer Apertur und ein optisches System, das die Eigenschaften des 405-nm-Lasers zur Erfassung des Profils von unregelmäßigen, bisher schwer erkennbaren Flanken maximal nutzt und auf einfache Weise dreidimensionale Daten zuverlässiger erfassen kann.
Vorderseite einer Diffusorplatte in 3D
Objektiv 50X, Zoom 1X; 3×3-Stitching
Rückseite einer Diffusorplatte in 3D
Objektiv 50X, Zoom 1X; 3×3-Stitching
Verwendete Produkte
LEXT OLS5500
Hybrides 3D-Oberflächenprofilometer
- Rückverfolgbare Oberflächenmessungen vom Nanometer- bis zum Mikrometerbereich
- Laser-Scanning-Mikroskopie (LSM), Weißlichtinterferometrie (WLI) und Fokusvariationsmikroskopie (FVM) in einer preisgekrönten Plattform vereint
- Erstes 3D Optical Profilometer, das für LSM- und WLI-Messungen eine garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit* bietet
- WLI-Modus ermöglicht bis zu 40-fach höheren Messdurchsatz im Vergleich zu herkömmlichem LSM
- Außergewöhnliche Präzision über alle Oberflächen hinweg dank firmeneigener, entwickelter Optiken
- Intuitive Benutzeroberfläche und intelligente Automatisierung für einen reibungslosen Betrieb – unabhängig vom Erfahrungsniveau des Anwenders
- KI-gestützte und hochdurchsatzfähige Workflows durch Integration der PRECiV™-Software
*Basierend auf internen Untersuchungen von Evident vom Oktober 2025. Die garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit geltennur, wenn das Gerät nach den Angaben des Herstellers kalibriert wurde und sich in einwandfreiem Zustand befindet. Die Kalibrierung muss von einem Evident Techniker oder einem von Evident autorisierten Spezialisten durchgeführt werden.
LEXT OLS5100
Das OLS5100 Laser-Mikroskop wurde für die Fehleranalyse und werkstofftechnische Forschung entwickelt und kombiniert hervorragende Messgenauigkeit und optische Leistung mit intelligenten Werkzeugen, die die Verwendung des Mikroskops vereinfachen. Schnelle und effiziente Messung der Form und Oberflächenrauheit im Submikrometerbereich ermöglichen einen vereinfachten Workflow mit zuverlässigen Daten.