Anwendungshinweisen

Oberflächenprofil der Lichtleiterplatte für LCDs / Berührungslose 3D-Formmessung mit einem Lasermikroskop

Anwendungsbereich

Spezialfolien werden in einem optischen System zu einer Einheit laminiert, damit Flüssigkristallanzeigen (LCDs) gleichmäßig hell leuchten. Bei kleinen Displays lenkt eine Lichtleiterplatte das Licht durch das Display. Das Licht aus einer Lichtquelle, z. B. von LEDs an der Kante eines Displays, wird von der Lichtleiterplatte gestreut sowie wiederholt reflektiert, so dass es die Vorderseite der Lichtleiterplatte ausleuchtet. Die Dichte der Oberflächenunregelmäßigkeiten auf der Lichtleiterplatte ist so gewählt, dass die Streuung des Lichts mit zunehmender Entfernung von der Lichtquelle zunimmt. Das von der Lichtleiterplatte abgestrahlte Licht wird durch eine Diffusorplatte gleichförmig gemacht. Anschließend wird das Licht durch die Prismenplatte gesammelt, verstärkt und durch das TFT-Panel geleitet. Die Bewertung des Oberflächenprofils bzw. der Rauheit der Lichtleiterplatte erleichtert es, eine gleichmäßige Helligkeit bei LCD-Displays zu gewährleisten.

Die Lösung von Olympus

Mit dem LEXT 3D-Laser-Scanning-Mikroskop LEXT von Olympus können der Verjüngungswinkel der Lichtleiterplatte und die Dichte bzw. Höhe der Erhebungen und Vertiefungen mit hoher Auflösung und Wiedergabetreue gemessen werden. Dank dedizierter Objektive mit hoher numerischer Apertur und dem modernen optischen System, das optimal an die Eigenschaften des 405-nm-Lasers angepasst wurde, kann das LEXT Mikroskop LEXT das Profil unregelmäßiger, zuvor nicht erkennbarer Flanken erfassen, dreidimensionale Daten zuverlässiger erkennen und die Qualität von Lichtleiterplatten sicherstellen.

Dreidimensionales Oberflächenprofil einer Lichtleiterplatte

3D-Oberflächenprofil einer Lichtleiterpplatte

100X-Objektiv; 1x Zoom

Verwendete Produkte

LEXT OLS5500

Hybrides 3D-Oberflächenprofilometer

Rückverfolgbare Oberflächenmessungen vom Nanometer- bis zum Mikrometerbereich
Laser-Scanning-Mikroskopie (LSM), Weißlichtinterferometrie (WLI) und Fokusvariationsmikroskopie (FVM) in einer preisgekrönten Plattform vereint
Erstes 3D Optical Profilometer, das für LSM- und WLI-Messungen eine garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit* bietet
WLI-Modus ermöglicht bis zu 40-fach höheren Messdurchsatz im Vergleich zu herkömmlichem LSM
Außergewöhnliche Präzision über alle Oberflächen hinweg dank firmeneigener, entwickelter Optiken
Intuitive Benutzeroberfläche und intelligente Automatisierung für einen reibungslosen Betrieb – unabhängig vom Erfahrungsniveau des Anwenders
KI-gestützte und hochdurchsatzfähige Workflows durch Integration der PRECiV™-Software

^{*Basierend auf internen Untersuchungen von Evident vom Oktober 2025. Die garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit geltennur, wenn das Gerät nach den Angaben des Herstellers kalibriert wurde und sich in einwandfreiem Zustand befindet. Die Kalibrierung muss von einem Evident Techniker oder einem von Evident autorisierten Spezialisten durchgeführt werden.}

LEXT OLS5100

Das OLS5100 Laser-Mikroskop wurde für die Fehleranalyse und werkstofftechnische Forschung entwickelt und kombiniert hervorragende Messgenauigkeit und optische Leistung mit intelligenten Werkzeugen, die die Verwendung des Mikroskops vereinfachen. Schnelle und effiziente Messung der Form und Oberflächenrauheit im Submikrometerbereich ermöglichen einen vereinfachten Workflow mit zuverlässigen Daten.