Oberflächenrauhigkeitsbewertung von Speicherkarten

Formmessung im Mikrometerbereich mit einem Lasermikroskop

Speicherkarte

(1) Anwendung

Speicherkarten variieren in der Größe und werden häufig als Speichermedium für Digitalkameras, Mobiltelefone, Recorder usw. verwendet. Die Speicherkarten werden in Steckplätze dieser Geräte eingeführt, und wie reibungslos das funktioniert, hängt von der Oberflächenrauheit der Karte ab. Da die Oberflächenrauheit der Speicherkarten ihren Handelswert beeinflusst, ist sie ein wichtiges Messkriterium in der Qualitätskontrolle. Die Qualitätskontrolle mit herkömmlichen Rauheitsmessgeräten erlaubt nur eingeschränkte Messungen, da diese Geräte den Kontakt mit der zu prüfenden Oberfläche benötigen und typischerweise nur die Höhe (Rauheit) entlang einer einzigen Bewegungslinie messen.

(2) Lösung

Das 3D-Scanning-Lasermikroskop LEXT OLS5000 von Olympus ermöglicht eine hochauflösende und hochpräzise 3D-Profilmessung ohne Kontakt mit der untersuchten Oberfläche. Der Anwender erhält klare, hochauflösende Bilder mit einem konfokalen optischen System. Das System verwendet dreidimensionale Rauheitsparameter nach ISO 25178 für eine berührungslose Oberflächenbewertung. Die großflächige Auswertung ist besser für scheinbar zufällige Unregelmäßigkeiten geeignet und liefert mehr Messinformationen als herkömmliche Rauheitsmessgeräte, die entlang einer einzigen Linie messen. Das Mikroskop OLS5000 verfügt standardmäßig über die automatische Tischfunktion, die die Datenerfassung mehrerer Punkte auf der Oberfläche durch Registrierung der Messkoordinaten und die Verwendung der Panoramabildfunktion erleichtert.

Bilder

(1) Probe A (Objektiv: 20x. Effektives Sichtfeld: 640 µm）

(2) Probe B (Objektiv: 20x. Effektives Sichtfeld: 640 µm）