Anwendungshinweisen
Oberflächenrauheit von Keramikteilen für Textilmaschinen/Messung der Oberflächenrauheit eines mikroskopisch kleinen Bereichs mit einem Lasermikroskop
Anwendungsbereich
Maschinen zur Herstellung von Bekleidungstextilien sind mit einer Vielzahl von Führungen zum Aufwickeln oder Führen des Fadens ausgestattet. Diese Führungen spielen eine wichtige Rolle, weil das Garn mit hoher Geschwindigkeit direkt mit ihnen Kontakt hat. Wenn die Oberfläche einer Führung zu rau ist, kann sich das Garn an der Führung verhaken und reißen oder die Qualität des Garns kann durch die Reibung und die dadurch verursachte Hitze beeinträchtigt werden. Die Oberflächenrauheit und die Unregelmäßigkeiten (sowohl mikroskopisch kleine als auch Kratzer) auf der Oberfläche der Führungen müssen quantitativ bewertet werden.
Die Führungen sind aus einem haltbaren Keramikmaterial gefertigt. Keramik weist kleine, aber raue Unregelmäßigkeiten auf der Oberfläche auf, die mit herkömmlichen berührenden Rauheitsmessgeräten oder 3D-Mikromessmaschinen wie Weißlicht-Interferometern schwer zu messen sind. Bis vor kurzem waren Mikromessmaschinen die einzigen verfügbaren Messinstrumente zur Messung der Oberflächenrauheit solcher Führungen, es fehlten aber Geräte zur Messung der Rauheit des sehr kleinen Bereichs, der mit dem Garn Kontakt hat.
Die Lösung von Olympus
Das LEXT 3D-Laser-Scanning-Mikroskop von Olympus ermöglicht eine berührungslose 3D-Formmessung mit hoher Auflösung und hoher Präzision. Anwender können damit die Oberflächenrauheit und die Tiefe (oder Höhe) von Unregelmäßigkeiten auf der Oberfläche genau messen. Das LEXT Mikroskop verwendet die gleichen (zweidimensionalen) Rauheitsparameter wie Mikroskope mit Messtaster und liefert Messergebnisse, die mit Mikroskopen mit Messtaster kompatibel sind. Das LEXT liefert auch dreidimensionale Rauheitsparameter gemäß der Norm ISO 25178, sodass durch die Oberflächenauswertung mit 3D-Bildern und numerischen Daten mehr Informationen als nur die lineare Rauheit verfügbar sind.
Oberfläche einer Stangenführung
Objektiv 10X, Zoom 1X
Objektiv 100X, Zoom 1X
Verwendete Produkte
LEXT OLS5500
Hybrides 3D-Oberflächenprofilometer
- Rückverfolgbare Oberflächenmessungen vom Nanometer- bis zum Mikrometerbereich
- Laser-Scanning-Mikroskopie (LSM), Weißlichtinterferometrie (WLI) und Fokusvariationsmikroskopie (FVM) in einer preisgekrönten Plattform vereint
- Erstes 3D Optical Profilometer, das für LSM- und WLI-Messungen eine garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit* bietet
- WLI-Modus ermöglicht bis zu 40-fach höheren Messdurchsatz im Vergleich zu herkömmlichem LSM
- Außergewöhnliche Präzision über alle Oberflächen hinweg dank firmeneigener, entwickelter Optiken
- Intuitive Benutzeroberfläche und intelligente Automatisierung für einen reibungslosen Betrieb – unabhängig vom Erfahrungsniveau des Anwenders
- KI-gestützte und hochdurchsatzfähige Workflows durch Integration der PRECiV™-Software
*Basierend auf internen Untersuchungen von Evident vom Oktober 2025. Die garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit geltennur, wenn das Gerät nach den Angaben des Herstellers kalibriert wurde und sich in einwandfreiem Zustand befindet. Die Kalibrierung muss von einem Evident Techniker oder einem von Evident autorisierten Spezialisten durchgeführt werden.
LEXT OLS5100
Das OLS5100 Laser-Mikroskop wurde für die Fehleranalyse und werkstofftechnische Forschung entwickelt und kombiniert hervorragende Messgenauigkeit und optische Leistung mit intelligenten Werkzeugen, die die Verwendung des Mikroskops vereinfachen. Schnelle und effiziente Messung der Form und Oberflächenrauheit im Submikrometerbereich ermöglichen einen vereinfachten Workflow mit zuverlässigen Daten.