Anwendungshinweisen
Oberflächenrauheit von Kaffeesahnebechern
Flächenformmessung im Mikrometerbereich mit Lasermikroskop
Kaffeesahnebecher
Anwendungsbereich
Viele Menschen geben zu Hause oder im Restaurant Sahne oder Sirup in ihren Kaffee. Einige dieser Flüssigkeiten sind in kleinen Plastikbechern für je eine Portion verpackt. Vor dem Befüllen werden die gestapelten Becher einzeln entnommen und dann befüllt. Wenn gestapelte Becher aus einer Maschine entnommen werden, muss sich jeder Becher leicht vom Stapel lösen lassen, um den Füllvorgang zu erleichtern. Daher muss die Oberflächenrauheit des konvexen Becherteils, der direkten Kontakt mit dem nächsten Becher im Stapel hat, gemessen werden, damit jeder Becher leicht aus der Maschine entnommen werden kann. Wenn die Oberfläche zu rau ist, können die Becher aneinander haften.
Die Lösung von Olympus
Mit dem LEXT 3D-Laser-Scanning-Mikroskop von Olympus lassen sich 3D-Formmessungen mit hoher Auflösung und hoher Präzision einfach durchführen, sodass eine genaue Profilmessung der Rauheit einer Oberfläche und der Tiefe (oder Höhe) von Unregelmäßigkeiten auf der Oberfläche möglich ist. Das LEXT Mikroskop erfasst die gleichen (zweidimensionalen) Rauheitsparameter wie Mikroskope mit Messtaster und liefert Messergebnisse, die mit Mikroskope mit Messtastern kompatibel sind. Das LEXT Mikroskop liefert auch dreidimensionale Rauheitsparameter gemäß der Norm ISO 25178, sodass durch die Oberflächenauswertung mit 3D-Bildern sowie numerischen Daten mehr Informationen als nur die lineare Rauheit verfügbar sind. Die genaue Messung des Bechers mit einem herkömmlichen Mikroskop mit Messtaster wäre schwierig, da es problematisch ist, den Messtaster auf die Oberseite des gewellten und konischen Bechers aufzusetzen. Rasterelektronenmikroskope, die in erster Linie zur Beobachtung eingesetzt werden, erfordern die Abscheidung einer Metallschicht und können die Rauheit quantitativ nur schlecht bewerten. Diese Herausforderungen werden mit dem LEXT Mikroskop bewältigt: Es erlaubt berührungslose Messungen bei geringer bis hoher Vergrößerung, ohne den kleinen zu messenden Bereich aus dem Fokus zu verlieren und ohne eine Metallabscheidung zu erfordern.
Rauheitsmessung
Verwendete Produkte
LEXT OLS5500
Hybrides 3D-Oberflächenprofilometer
- Rückverfolgbare Oberflächenmessungen vom Nanometer- bis zum Mikrometerbereich
- Laser-Scanning-Mikroskopie (LSM), Weißlichtinterferometrie (WLI) und Fokusvariationsmikroskopie (FVM) in einer preisgekrönten Plattform vereint
- Erstes 3D Optical Profilometer, das für LSM- und WLI-Messungen eine garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit* bietet
- WLI-Modus ermöglicht bis zu 40-fach höheren Messdurchsatz im Vergleich zu herkömmlichem LSM
- Außergewöhnliche Präzision über alle Oberflächen hinweg dank firmeneigener, entwickelter Optiken
- Intuitive Benutzeroberfläche und intelligente Automatisierung für einen reibungslosen Betrieb – unabhängig vom Erfahrungsniveau des Anwenders
- KI-gestützte und hochdurchsatzfähige Workflows durch Integration der PRECiV™-Software
*Basierend auf internen Untersuchungen von Evident vom Oktober 2025. Die garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit geltennur, wenn das Gerät nach den Angaben des Herstellers kalibriert wurde und sich in einwandfreiem Zustand befindet. Die Kalibrierung muss von einem Evident Techniker oder einem von Evident autorisierten Spezialisten durchgeführt werden.
LEXT OLS5100
Das OLS5100 Laser-Mikroskop wurde für die Fehleranalyse und werkstofftechnische Forschung entwickelt und kombiniert hervorragende Messgenauigkeit und optische Leistung mit intelligenten Werkzeugen, die die Verwendung des Mikroskops vereinfachen. Schnelle und effiziente Messung der Form und Oberflächenrauheit im Submikrometerbereich ermöglichen einen vereinfachten Workflow mit zuverlässigen Daten.