Anwendungsbeispiele
Konfokales OLS5000 Lasermikroskop von Olympus zur Messung der Oberflächenrauheit auf dem Metall von Zahnimplantaten
Hintergrund
Die Oberflächenrauheit des Zahnimplantatkörpers hat große Bedeutung, da die Rauheit die Gesamtoberfläche vergrößert, was wiederum die Stabilität des Implantats im Knochen erhöht. Bei Metallteilen von Zahnimplantaten wird die Rauheit oft in mehreren Bearbeitungsstufen erhöht, beispielsweise durch Strahlen, Säureätzen, anodische Oxidation und Polieren. Die optimale Oberflächenrauheit für Zahnimplantate liegt zwischen 1-10 μm. In Japan sind die Hersteller von Zahnimplantaten verpflichtet, die Messungen der Oberflächenrauheit mit einem konfokalen Lasermikroskop zu verifizieren. Eine unzureichende Rauheit kann zu einer schlechten Haftung des Implantats in der Mundhöhle des Patienten führen.
Die Lösungen von Olympus
Das konfokale LEXT Lasermikroskop von Olympus erlaubt die Messung der Rauheit von Zahnimplantatoberflächen mit außergewöhnlicher Genauigkeit und Präzision. Dank der hohen Auflösung des LEXT 3D-Lasermessmikroskops und seiner Fähigkeit, steile Flanken zu messen, lassen sich Formen unterschiedlicher Geometrie genau und präzise messen (Abbildung 1). Das Mikroskop verfügt über Objektive mit großem Arbeitsabstand, sodass größere Objekte, beispielsweise Zahnimplantate, geprüft werden können.
Merkmale des Produkts
Mit dem LEXT Lasermessmikroskop von Olympus können 3D-Beobachtungen mit ultrahochauflösenden Messungen und hoher Pixeldichte durchgeführt werden. Die unterschiedlichen Objektive ermöglichen eine flexible Einstellung des Arbeitsabstands, sodass sich auch größere Objekte, beispielsweise Zahnimplantate, beobachten lassen. Das LEXT Lasermessmikroskop zeichnet sich durch hohe Neigungsempfindlichkeit aus und kann daher auch komplexe und steilflankige Unregelmäßigkeiten genau messen.
Bild
Verwendete Produkte
LEXT OLS5500
Hybrides 3D-Oberflächenprofilometer
- Rückverfolgbare Oberflächenmessungen vom Nanometer- bis zum Mikrometerbereich
- Laser-Scanning-Mikroskopie (LSM), Weißlichtinterferometrie (WLI) und Fokusvariationsmikroskopie (FVM) in einer preisgekrönten Plattform vereint
- Erstes 3D Optical Profilometer, das für LSM- und WLI-Messungen eine garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit* bietet
- WLI-Modus ermöglicht bis zu 40-fach höheren Messdurchsatz im Vergleich zu herkömmlichem LSM
- Außergewöhnliche Präzision über alle Oberflächen hinweg dank firmeneigener, entwickelter Optiken
- Intuitive Benutzeroberfläche und intelligente Automatisierung für einen reibungslosen Betrieb – unabhängig vom Erfahrungsniveau des Anwenders
- KI-gestützte und hochdurchsatzfähige Workflows durch Integration der PRECiV™-Software
*Basierend auf internen Untersuchungen von Evident vom Oktober 2025. Die garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit geltennur, wenn das Gerät nach den Angaben des Herstellers kalibriert wurde und sich in einwandfreiem Zustand befindet. Die Kalibrierung muss von einem Evident Techniker oder einem von Evident autorisierten Spezialisten durchgeführt werden.
LEXT OLS5100
Das OLS5100 Laser-Mikroskop wurde für die Fehleranalyse und werkstofftechnische Forschung entwickelt und kombiniert hervorragende Messgenauigkeit und optische Leistung mit intelligenten Werkzeugen, die die Verwendung des Mikroskops vereinfachen. Schnelle und effiziente Messung der Form und Oberflächenrauheit im Submikrometerbereich ermöglichen einen vereinfachten Workflow mit zuverlässigen Daten.