Anwendungshinweisen
Messung der Oberflächenrauheit von flexiblen Leiterplatten mit dem konfokalen OLS4100 Laser-Mikroskop von Olympus
Hintergrund
Da Elektronikgeräte immer kleiner und komplizierter werden, steigt die Nachfrage nach miniaturisierten flexiblen Leiterplatten weiter an. Um eine flexible Leiterplatte herzustellen, werden eine oder mehrere Kupferfolienschichten auf ein dielektrisches Kunstharzsubstrat aufgebracht. Die Kupferfolie wird dann geätzt, um die gewünschten Leiterbahnen zu erzeugen. Vor dem Aufbringen auf das Substrat wird die Kupferoberfläche aufgeraut, um die Haftung zu verbessern. Wenn die Kupferoberfläche keine ausreichende Rauheit aufweist, haftet sie nicht stark genug an dem Kunstharz, um die Beanspruchungen des Herstellungsprozesses zu überstehen. Dies führt zu Defekten und zum Ausfall von elektronischen Geräten. Folglich muss die Rauheit der Kupferfolie genau gemessen werden.
Die Lösungen von Olympus
Das LEXT 3D-Lasermessmikroskop von Olympus kann die Oberflächenrauheit mit einer planaren Auflösung von 0,12 μm bzw. 5 nm messen. Das Mikroskop zeichnet sich durch eine ultrahohe Pixeldichte aus, sodass selbst kleinste Oberflächenunebenheiten genau gemessen werden. Da das LEXT Mikroskop die Rauheit berührungslos misst, wird die weiche Kupferfolie nicht beschädigt.
Merkmale des Produkts
Mit dem LEXT Mikroskop von Olympus lassen sich 3D-Beobachtungen mit ultrahoher Auflösung und hoher Pixeldichte durchführen. Das Mikroskop erlaubt dank seiner hohen Neigungsempfindlichkeit genaue Messungen an komplexen geometrischen Strukturen mit steilen Flanken. Die berührungslose Rauheitsmessung stellt sicher, dass empfindliche Kupferoberflächen bei der Messung nicht beschädigt werden.
Bild
Abbildung 1: Hochauflösendes Bild und 3D-Modell einer Kupferoberfläche
Verwendete Produkte
LEXT OLS5500
Hybrides 3D-Oberflächenprofilometer
- Rückverfolgbare Oberflächenmessungen vom Nanometer- bis zum Mikrometerbereich
- Laser-Scanning-Mikroskopie (LSM), Weißlichtinterferometrie (WLI) und Fokusvariationsmikroskopie (FVM) in einer preisgekrönten Plattform vereint
- Erstes 3D Optical Profilometer, das für LSM- und WLI-Messungen eine garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit* bietet
- WLI-Modus ermöglicht bis zu 40-fach höheren Messdurchsatz im Vergleich zu herkömmlichem LSM
- Außergewöhnliche Präzision über alle Oberflächen hinweg dank firmeneigener, entwickelter Optiken
- Intuitive Benutzeroberfläche und intelligente Automatisierung für einen reibungslosen Betrieb – unabhängig vom Erfahrungsniveau des Anwenders
- KI-gestützte und hochdurchsatzfähige Workflows durch Integration der PRECiV™-Software
*Basierend auf internen Untersuchungen von Evident vom Oktober 2025. Die garantierte Genauigkeit und Wiederholbarkeit geltennur, wenn das Gerät nach den Angaben des Herstellers kalibriert wurde und sich in einwandfreiem Zustand befindet. Die Kalibrierung muss von einem Evident Techniker oder einem von Evident autorisierten Spezialisten durchgeführt werden.
LEXT OLS5100
Das OLS5100 Laser-Mikroskop wurde für die Fehleranalyse und werkstofftechnische Forschung entwickelt und kombiniert hervorragende Messgenauigkeit und optische Leistung mit intelligenten Werkzeugen, die die Verwendung des Mikroskops vereinfachen. Schnelle und effiziente Messung der Form und Oberflächenrauheit im Submikrometerbereich ermöglichen einen vereinfachten Workflow mit zuverlässigen Daten.