Mikroskoplösungen für
den Fertigungsprozess von Leiterplatten
Bohren von Löchern
Löcher in der Leiterplatte werden durch Bohren erzeugt. Diese werden als Durchgangsbohrungen bezeichnet.
Erkennen von Fremdkörpern nach dem Bohren von Löchern
Nach dem Bohrvorgang verbleiben manchmal Rückstände des Harzes (sog. Schlieren) im Inneren der Durchkontaktierung. Verschmutzungen verschlechtern die elektrische Leitfähigkeit, daher müssen sie von Prüfern erkannt und entfernt werden. Solche Schlieren haben eine Größe von einigen Mikrometern und können durch Fluoreszenzbeobachtung nachgewiesen werden.
Unsere Lösung
Unsere Fluoreszenzmikroskope der BX- oder MX-Serie können solche Schlieren erkennen.
3D-Abmessungen von Leiterplatten
Anwendungsbeispiele
Verwendung von Bildanalyse-Software zur Bestimmung der Streufähigkeit bzw. der Gleichmäßigkeit der Kupferschichtdicke von Leiterplatten