Inverses Mikroskop GX53
Das metallurgische Inversmikroskop GX53 bietet außergewöhnlich klare Bilder und hervorragende Auflösung bei starker Vergrößerung. Mit seinem modularen Design und Zubehör wie einem Objektivrevolver und Software lässt sich das Mikroskop auf einfache Weise an Ihre Anforderung anpassen.
GX53 Inversmikroskop für die Metallurgie
Schnelle Analyse dicker, großer Objekte
Konzipiert für den Einsatz in der Stahl-, Automobil-, der Elektronik- und anderen Fertigungsindustrien, liefert das Mikroskop GX53 gestochen scharfe Bilder, die mit herkömmlichen Mikroskopieverfahren schwierig aufzunehmen sind. In Kombination mit der PRECiV Bildanalyse-Software ermöglicht das Mikroskop die Rationalisierung des gesamten Prüfprozesses von der Mikroskopie über die Analyse bis hin zur Berichterstellung.
Schnelles Mikroskopieren, erweiterte Funktionen
Schnelle Prüfung, Messung und Analyse metallurgischer Strukturen
Erweiterte Analysehilfen
1. Kombinierte Mikroskopieverfahren ergeben außergewöhnliche Bilder
2. Einfaches Erstellen von Panoramabildern
3. Scharfe Bilder des gesamten Objekts
4. Darstellung sowohl dunkler als auch heller Bereiche
Optimiert für die Materialwissenschaft
1. Für die Materialwissenschaft konzipierte Software
2. Metallurgische Analyse in Übereinstimmung mit Industrienormen
Benutzerfreundlich
Selbst Einsteiger können problemlos mikroskopieren, Ergebnisse analysieren und Berichte erstellen.
1. Einfache Wiederherstellung von Mikroskopeinstellungen
2. Benutzerführung vereinfacht die erweiterte Analyse
3. Effiziente Berichterstellung
Erweiterte Imaging-Technologie
Bewährte Optik und Imaging-Technologie aus unserem Hause liefern scharfe Bilder und gewährleisten zuverlässige Prüfungen.
1. Zuverlässige optische Leistung: Wellenfront-Aberrationskontrolle
2. Klare Bilder: Helligkeitskorrektur
3. Gleichbleibende Farbtemperatur: hochintensive Weißlicht-LED-Beleuchtung
4. Präzise Messungen: Autokalibrierung
Modular
Wählen Sie die Komponenten, die Sie für Ihre Anwendung benötigen.
1. Stellen Sie sich das Mikroskop nach Ihren Wünschen zusammen: vollständig individualisierbares System mit einer Vielzahl optischer Komponenten
Mikroskopie
Erweiterte Analysehilfen
Die vielfältigen Mikroskopiefunktionen des GX53 Mikroskops ermöglichen die Aufnahme klarer, scharfer Bilder, auf denen sich Defekte von Objekten zuverlässig erkennen lassen. Die von der PRECiV Bildanalyse-Software unterstützten neuen Beleuchtungsverfahren und Bildaufnahmeoptionen bieten mehr Auswahl bei der Beurteilung von Objekten und der Dokumentation von Befunden.
Mit hoher numerischer Apertur und großem Arbeitsabstand
Objektive bestimmen maßgeblich die Leistung eines Mikroskops. Die neuen MXPLFLN-Objektive erweitern die MPLFLN-Serie für die Bildgebung mit EPI-Beleuchtung, da sie gleichzeitig die numerische Apertur und den Arbeitsabstand maximieren. Höhere Auflösungen bei 20- und 50-facher Vergrößerung bedeuten in der Regel kürzere Arbeitsabstände, so dass die Probe oder das Objektiv beim Objektivwechsel zurückgefahren werden müssen. In vielen Fällen ist der Arbeitsabstand von 3 mm der MXPLFLN-Serie die Lösung für dieses Problem: Die Untersuchungen können schneller durchgeführt werden und es besteht kaum die Gefahr, dass das Objektiv die Probe berührt.
Das Unsichtbare wird sichtbar: MIX-Technologie
Die MIX-Technologie kombiniert Dunkelfeldbeleuchtung mit einem anderen Kontrastverfahren wie Hellfeld oder Polarisation und ermöglicht so die Prüfung von Objekten, die mit herkömmlichen Mikroskopen schwierig zu untersuchen sind. Die kreisförmige LED-Lichtquelle bietet eine gerichtete Dunkelfeldfunktion, die es möglich macht, zu einem gegebenen Zeitpunkt immer nur einen oder mehrere Quadranten zu beleuchten. Auf diese Weise kann die Lichthofbildung reduziert und die Oberflächenbeschaffenheit besser dargestellt werden.
Querschnitt einer Leiterplatte
Hellfeld
Die Substratschichten und die Durchgangsbohrung sind nicht sichtbar.
Dunkelfeld
Die Spuren sind nicht sichtbar.
MIX: Hellfeld + Dunkelfeld
Alle Komponenten sind deutlich dargestellt.
Edelstahl
Hellfeld
Die Oberflächenbeschaffenheit ist nicht erkennbar.
Dunkelfeld-Quadrant
Die Farbinformationen sind nicht verfügbar.
MIX: Hellfeld + Dunkelfeld-Quadrant
Sowohl die Farbe als auch die Oberflächenbeschaffenheit des Materials sind sichtbar.
Einfaches Erstellen von Panoramabildern: Instant MIA
Mithilfe von Multiple Image Alignment (MIA) können Bilder durch einfaches Betätigen der XY-Knöpfe am manuellen Tisch zusammengefügt werden – ein motorischer Tisch ist optional. Die PRECiV Software nutzt Mustererkennung zur Erstellung von Panoramabildern, mit denen der Zustand von Metallflüssen oder von Metallteilen nach dem Carburieren geprüft werden kann.
Metallfluss eines Bolzens
Einstellen der Tischposition mit dem XY-Knopf.
Die Beschaffenheit des gesamten Metallflusses ist sichtbar.
Scharfe Bilder des gesamten Objekts: EFI
Mit der Funktion Extended Focus Imaging (EFI) der PRECiV Software lassen sich Bilder von Objekten aufnehmen, deren Höhe die Schärfentiefe des Objektivs übersteigt. Mit EFI können diese Bilder zu einem einzelnen Bild zusammengefügt werden, in dem das ganze Objekt scharfgestellt ist. Selbst bei der Analyse einer Querschnittsprobe mit unebener Oberfläche ergibt EFI vollständig scharfgestellte Bilder.
EFI funktioniert sowohl mit einer manuellen oder einer motorischen Z-Achse und ergibt Höhenkarten für die Darstellung von Strukturen.
Gießharzteile
Stellen Sie die Höhe des Objektivs mit dem Fokussiertrieb ein.
Mit EFI können automatisch mehrere Bilder aufgenommen und zu einem einzelnen Bild gestapelt werden, in dem das ganze Objekt im Fokus ist.
So erhält man ein vollständig scharfgestelltes Bild.
Gleichzeitige Aufnahme von dunklen und hellen Bereichen mit HDR
Durch moderne Bildverarbeitung gleicht die HDR-Funktion Helligkeitsunterschiede in Bildern aus, um Lichtreflexe zu reduzieren. Sie verstärkt außerdem den Kontrast in kontrastarmen Bildern. HDR kann zur Prüfung winziger Strukturen in elektrischen Geräten und zur Identifizierung der Grenzen von Metallkörnern eingesetzt werden.
Goldplatte
Einige Bereiche zeigen Lichtreflexe.
Sowohl dunkle als auch helle Bereiche werden mit HDR klar dargestellt.
Chrom-Diffusionsbeschichtung
Wenig Kontrast und unscharf.
Verstärkter Kontrast mit HDR.
Anwendungen
Dies sind nur einige Anwendungsbeispiele der verschiedenen Kontrastverfahren.
Polierte Probe von AlSi (Hellfeld / Dunkelfeld)
Hellfeld
Dunkelfeld
Hellfeld: ein häufig verwendetes Mikroskopieverfahren zur Beobachtung des von einem Objekt unter senkrechter Beleuchtung von oben reflektierten Lichts Dunkelfeld: Beobachtung des von einem Objekt gestreuten oder gebeugten Lichts, ermöglicht die klare Darstellung feinster Kratzer oder Fehler
Kugelgraphitgusseisen (Hellfeld / DIC)
Hellfeld
DIC-Kontrastverfahren
Differenzieller Interferenzkontrast (DIC): ein Kontrastverfahren, bei dem die Höhe eines Objekts als Relief sichtbar ist, ähnlich einem 3D-Bild mit verbessertem Kontrast. Es eignet sich für Prüfungen von Objekten mit sehr geringen Höhenunterschieden, einschließlich metallurgischer Strukturen und Mineralien.
Aluminiumlegierung (Hellfeld / polarisiertes Licht)
Hellfeld
Mikroskopie im polarisierten Licht
Polarisiertes Licht: ermöglicht die Betonung der Textur und des Kristallzustands eines Materials zur Darstellung metallurgischer Strukturen, wie z. B. des Wachstumsmusters von Graphit in Kugelgraphitgusseisen und von Mineralien.
Elektrisches Gerät (Hellfeld / MIX-Kontrastverfahren)
Hellfeld
MIX: Hellfeld + Dunkelfeld
MIX-Kontrastverfahren: kombiniert Hellfeld und Dunkelfeld zur Darstellung der Farbe und der Struktur eines Objekts
Das oben dargestellte, mit dem MIX-Kontrastverfahren aufgenommene Bild zeigt deutlich die Farbe und die Oberflächenbeschaffenheit des Geräts sowie den Zustand der Klebstoffschicht.
Analyse
PRECiV Software – Optimiert für die Materialwissenschaft
In Verbindung mit der PRECiV Software unterstützt das GX53 Mikroskop metallurgische Analyseverfahren entsprechend den verschiedenen Industrienormen. Mit der Schritt-für-Schritt-Benutzerführung können Objekte auf schnelle und einfache Weise analysiert werden.
> Klicken Sie hier, um Einzelheiten zu PRECiV zu erfahren
Partikelanalyse – Lösung zum Zählen und Messen
Die Lösung zum Zählen und Messen trennt mit modernen Schwellenwertverfahren Merkmale wie Partikel und Kratzer zuverlässig vom Hintergrund. Mehr als 50 verschiedene Objektmess- und -klassifizierungsparameter werden unterstützt, darunter Form, Größe, Position und Pixeleigenschaften.
Herkömmliche Software
Unklare Korngrenzen
Gefüge von geätztem Stahl
(Originalbild)
PRECiV
Klare Erkennung von Korngrenzen
Ergebnisse der Kornklassifizierung
Bestimmung der Korngröße in einer Gefüge
Messung der Korngröße und Analyse des Gefüges von Aluminium, der Gefügearten von Stahl wie Ferrit und Austenit sowie von anderen Metallen.
Unterstützte Normen: ISO, GOST, ASTM, DIN, JIS, GB/T
Gefüge von ferritischen Körnern
Korngrößenbestimmung nach dem Linienschnittverfahren
Planimetrische Lösung zur Korngrößenbestimmung mit Sekundärphase
Beurteilung der Kugelgraphitbildung
Beurteilung der Nodularität und des Gehalts von Graphit in Gusseisenproben (Kugel- und Vermikulargraphit). Klassifizierung der Form, Verteilung und Größe von Kugelgraphit
Unterstützte Normen: ISO, NF, ASTM, KS, JIS, GB/T
Duktiles Gusseisen mit Kugelgraphit
Lösung für Gusseisen
Bestimmung des Anteils an nichtmetallischen Einschlüssen in hochreinem Stahl
Klassifizierung nichtmetallischer Einschlüsse unter Verwendung des Bildes mit dem schlechtesten Feld oder schlechtesten Einschluss, das bei der manuellen Untersuchung der Probe gefunden wurde.
Unterstützte Normen: ISO, EN, ASTM, DIN, JIS, GB/T, UNI
Stahl mit nichtmetallischen Einschlüssen
Einschluss des schlechtesten Feldes
Vergleich von Bilder der Probe mit Referenzbildern
Einfacher Vergleich von Live- und Standbildern mit autoskalierten Referenzbildern. Diese Software-Lösung enthält verschiedenen Normen entsprechende Referenzbilder (zusätzliche Referenzbilder können separat erworben werden). Mehrere Modi wie Live-Überlagerungsanzeige und Gegenüberstellung werden unterstützt.
Unterstützte Normen: ISO, EN, ASTM, DIN, SEP
Stahl mit nichtmetallischen Einschlüssen
Mikrogefüge mit ferritischen Körnern
Spezifikationen für Materiallösungen
Gemeinsame Nutzung
Einfache und effiziente Prüfungen
Mit dem GX53 Mikroskop in Kombination mit der PRECiV Software lassen sich Bilder von unterschiedlichsten Objekten aufnehmen, diverse Analysen durchführen und professionelle Berichte erstellen.
> Klicken Sie hier, um Einzelheiten zu PRECiV zu erfahren
Wiederherstellung der Mikroskopeinstellungen: Codierte Hardware
Über codierte Funktionen werden die Hardware-Einstellungen des Mikroskops mit der PRECiV Bildanalyse-Software integriert. Das Mikroskopieverfahren, die Beleuchtungsintensität und die Vergrößerung können mit den zugehörigen Bildern aufgezeichnet und gespeichert werden. Die Einstellungen lassen sich einfach reproduzieren, sodass verschiedene Prüfer Prüfungen derselben Qualität durchführen können – bei begrenzter Einarbeitungszeit.
Verschiedene Anwender verwenden unterschiedliche Einstellungen.
Mit der PRECiV Software können Sie die Geräteeinstellungen abrufen.
Alle Prüfer können dieselben Einstellungen verwenden.
Die Benutzerführung vereinfacht die erweiterte Analyse.
Die Software führt den Prüfer Schritt für Schritt durch den Prüfprozess entsprechend der gewählten Industrienorm. So kann er erweiterte Analysen ausführen, in dem er einfach die Anweisungen auf dem Bildschirm befolgt.
Effiziente Berichterstellung
Die Erstellung eines Berichts dauert oft länger als die Bildaufnahme und die Messungen selbst. Die PRECiV Software bietet intuitive Werkzeuge für die wiederholte Erstellung detaillierter Berichte auf der Grundlage vordefinierter Vorlagen.
Spezifikationen
Manueller Wechsel zwischen Leuchtfeldblende und Aperturblende mit Zentrierung
Lichtquelle: Weißlicht-LED (mit Light Intensity Manager), Halogenlampe 12 V/100 W, Quecksilberlampe 100 W, Lichtleiterquelle
Mikroskopieverfahren: Hellfeld-, Dunkelfeld-, Differentialinterferenzkontrast- (DIC)*1, einfache Polarisationsmikroskopie*1, MIX-Beleuchtung (4-direktionales Dunkelfeld)*2
*1 Nur für dieses Mikroskopieverfahren ist ein Schieber erforderlich. *2 MIX-Kontrastverfahren erforderlich.
Integriertes LED-Netzteil für Auflichtbeleuchtung
Wählscheibe für gleichbleibende bzw. variable Lichtintensität
Nenneingang 5 V DC, 2,5 A (Netzteil 100–240 V, AC 0,4 A, 50 Hz/60 Hz)
Durchlichtbeleuchtung (erfordert das optionale BX3M-PSLED Netzteil)
Wählscheibe für gleichbleibende bzw. variable Lichtintensität (Spannung)
Nenneingang 5 V DC, 2,5 A (Netzteil 100–240 V, AC 0,4 A, 50 Hz/60 Hz)
Externe Schnittstelle (erfordert das optionale Steuergerät BX3M-CBFM)
Codierter Anschluss für den Objektivrevolver × 1
Anschluss für MIX-Schieber (U-MIXR-2) × 1
Anschluss für das Handgerät (BX3M-HS) × 1
Anschluss für das Handgerät (U-HSEP) × 1
1 RS-232C-Anschluss, 1 USB-2.0-Anschluss
Manuell, Grob- und Feintrieb mit koaxialem Griff; Fokushub 9 mm (2 mm über und 7 mm unter der Tischoberkante)
Hub des Feintriebs pro Umdrehung: 100 μm (min. Schritt: 1 μm)
Hub des Grobtriebs pro Umdrehung: 7 mm
Mit Drehmoment-Einstellungsring für grobes Scharfstellen
Mit oberem Anschlag für grobes Scharfstellen
Positionen für Hellfeld/Dunkelfeld: 5 bis 6, Typ: manuell/codiert, Zentrierung: aktiviert/deaktiviert
Flexibler Tisch mit rechtsseitigem Trieb, Tisch mit kurzem linksseitigem Trieb (X/Y-Verfahrweg jeweils: 50 × 50 mm, max. Belastbarkeit 1 kg)
Gleittisch (max. Belastbarkeit 1 kg)
Gruppe von tropfenförmigen und Langlöchern
・Umgebungstemperatur 5 °C bis 40 °C
・Maximale relative Luftfeuchtigkeit 80 % bei Temperaturen bis 31 °C (kondensationsfrei)
Bei Temperaturen über 31 °C verringert sich die relative Luftfeuchtigkeit linear auf 70 % bei 34 °C und auf 60 % bei 37 °C
und auf 50 % bei 40 °C.
・Verschmutzungsgrad 2 (nach IEC60664-1)
・Installation/Überspannungskategorie II (nach IEC60664-1)
・Schwankungen der Versorgungsspannung: ± 10 %
Informationsmaterialien
Anwendungsbeispiele
Video
Improving Materials Analysis Inspections with MX Plan Semi-Apochromat Objectives